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南京理工大学分析测试中心仪器设备展示X射线光电子能谱仪(XPS)简介1.仪器名称：全自动聚焦扫描微区光电子能仪(XPS) 2.产品型号：PHI Quantera3.品 牌：日美纳米表面分析仪器公司4.产 地：日本5.主要技术指标系统到达真空 510-10 torr；Ag样品XPS光电子能量分辨率 Ag 3d 5/2 峰半高宽 FWHM 0.50 eV ；PET 样品XPS光电子能量分辨率 C 1s的O=C-O峰半高宽 FWHM 0.85 eV ；最小X射线斑束9.0m 在x方向； 15kcps 10.0 m能量分辨率5.0 A 5 kV ；6.仪器使用范围电子能谱仪可以对固体样品的表面元素组成进行定性和定量分析，还可以对样品表面原子的化学态及分子结构进行分析研究。利用氩离子深度剖析技术和角分辨XPS技术，可以获得样品表面不同深度的组成变化情况。利用小束斑X射线，可以对样品表面进行微区分析和元素及化学态成像分析。利用原位处理反应池，可在不同温度及压力下对样品进行不同气氛的处理，以获得实际使用气氛对样品表面组成及状态变化的动态影响信息。适用于高分子材料、催化、电化学、半导体、金属、合金以及生物医学材料等。管 理 员：白华萍X射线衍射仪（XRD）一 仪器型号： D8 ADVANCE二 制造厂商： 德国布鲁克公司三 主要技术指标： 测量精度：角度重现性0.0001； 测角仪半径200mm，测角圆直径可连续改变； 最小步长0.0001； 角度范围（2）：-110168； 最大扫描速度或最高定位速度：1500/分； 温度范围：室温900； 环境压力：1mbar-10bar； 最大输出：18KW； 稳定性：0.01%； 管电压：2060kV(1kV/1step)； 管电流：10300mA四 功能及应用范围： 仪器功能：X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。 应用范围：对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析，大部分晶体物质的定量、半定量分析；晶体物质晶粒大小的计算；晶体物质结晶度的计算等。 使用范围：金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；无机材料：陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃；复合材料：碳纤维、纤维大分子、工业废弃物；有机材料：医药品、工程塑料、各种树脂等。管 理 员：李健生仪器名称：扫描电子显微镜仪器型号：JEOLJSM-6380LV生产厂家：日本电子株式会社主要技术性能指标：高真空模式分辨率：3.0nm低真空模式分辨率：4.0nm放大倍数：*5 *300，000加速电压：0.5kv 30kv低真空度：1 270Pa高、低真空切换：图形菜单设定样品台：大尺寸、超级对中样品台（可装直径150mm样品），三轴马达驱动：X:800mm Y:40mm T:-10 +90度 R：360度 Z:5 48mm配套仪器名称：X射线能谱仪仪器型号：GENESIS 2000生产厂家：美国EDAX公司主要技术性能指标：元素分析范围：能够探测到低至铍Be4(包括铍）的所有元素有效探测器面积：10m能量分辨率：优于等于132cV信噪比/峰背比：20，000：1可处理最大计数率：500，000CPS可输出最大计数率：100，000CPS数字图像最大清晰度：8192x1600定性定量成份分析设备用途及主要技术特点：扫描电子显微镜镜与X-射线能谱联用，构成一种多功能、多用途的显微分析系统。带有X射线能谱仪的扫描电子显微镜可同时对固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布、晶体样品的晶粒取向分析，取向关系分析等。扫描电子显微镜具有立体感强，放大倍数高、范围广，制样简单的特点。可广泛应用于化工、高分子材料、生物医学、冶金、金属材料等领域的分析测试。管 理 员：刘孝恒透射电子显微镜透射电子显微镜由日本电子株式会社生产，型号为JEM2100，可在化学化工，材料科学、生命科学等领域的教学和科研工作中得以广泛应用。 该设备可搭载windows操作界面，操作更简单。并可与STEM，EDS,CCD和EELS等实现一体化控制。该设备可配制高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3维重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察。压电陶瓷控制样品台也独具优势。这些都为该设备使用功能的多元化和深度开发奠定了良好基础。 该设备采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。主要特点1、五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO2、稳定的操作系统3、最小束斑尺寸：0.5nm4、良好的扩展性技术参数1、点分辨率：0.19nm2、线分辨率：0.14nm3、加速电压：80、100、120、160、200kv4、倾斜角：255、EDS：131.仪器名称：Evolution 220紫外可见分光光度计2.型号规格：Evolution 220 3.生产厂家：赛默飞世尔（美国） 出厂时间：2011.10.15（这个要看设备后面的名牌上的日期为准）4.主要技术性能指标：光谱带宽: 1 nm，2nm光源: 氙灯(使用寿命10年 ，3年保修 )检测器: 硅光二极管波长范围: 190 1100 nm；波长精度: 0.8 nm (全波长) ；波长重复性: 0.1 nm扫描速度: 3.5 Abs吸光度精度: 0.5 A: 0.004A;1A: 0.006A; 2A: 0.010A;噪音: 0A: 0.00015 A; 漂移: 0.0005 A/小时 杂散光: KCl, 198 nm: 1%；NaI, 220 nm: 400000:1速度精度：好于设置点的0.1%温度范围：室温400摄氏度温度控制：4段，PID温度控制：+/-0.1摄氏度压力传感器精度：好于满量程的0.5%二、仪器用途 RH2200型双头毛细管流变仪主要用于测定聚合物熔体的流变性能，它可以直接提供有关聚合物熔体的剪切粘度（1+100 1*107 1/s范围）、拉伸粘度（1*100 1*104 1/s范围）、弹性、降解特性、流动/不流动、熔体破裂/流动不稳定性和应力松弛等定量信息。三、技术特点1.操作界面直观。实验过程可实时观察挤出进程和图示测试过程数据信息。2.数据处理功能强。可以表格输出数据和绘制各种曲线（包括剪切应力或粘度-剪切速率、拉伸粘度-拉伸速率、剪切应力或粘度-时间、压力-温度、应力松弛等曲线）。管 理 员：周伟良NOVA1000比表面积测试仪制造商：美国QUANTA CHROME公司测试原理：固体表面的气体吸附理论。本仪器采用氮吸附法。测试系统在程序控制下实现自