安规测试说明书1.doc

4.4 显示器讯息 4.4.1 交耐压测试: 4.4.1.1 测试中止(Abort) 1. 假如交耐压测试正在进之中，而按RESET开关或使用遥控装置中断测试，液 晶显示器会显示如下: ACW Abort XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 2. 假如交耐压测试正在进之中，而按RESET开关或使用遥控装置中断测试时， 其中断测试的时间在本分析仪到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示: ACW Abort XXX.X s 或 ACW Abort XXX.X s MXX-X -.- - KV - -.- - mA MXX-X X.XX KV - -.- 4.4.1.2 缓升测试 (Ramp Up) 1. 如交耐压测试设定有缓升 (Ramp Up) 测试程序，在本分析仪读到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下: ACW Ramp XXX.X s MXX-X -.- - KV - -.- - mA 2. 交耐压测试在缓升时间之中进耐压测试时，测试的结果会断的被新，液晶显示 器会显示如下: ACW Ramp XX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX mA 4.4.1.3 耐压测试(Dwell) 1. 在交耐压测试进时，测试的结果会断的被新，液晶显示器会显示如下: ACW Dwell XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX mA 2. 如交耐压测试的缓升测试时间非常短，而在本分析仪到第一笔测试结果之前，液晶 显示器会显示如下: ACW Dwell XXX.X s MXX-X -.- - KV - -.- - mA 4.4.1.4 电电上限(HI-Limit) 1. 如被测物在做交耐压测试时的电电超过上限设定值，会被程式判定為电电 上限造成的测试失败，如果其电值仍然在本分析仪的测范围内，液晶显示器会显示 如下: ACW HI-Limit XX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 2. 如被测物在做交耐压测试时的电电超过上限设定值，会被程式判定為电电 上限造成的测试失败，如果其电值超出本分析仪的测范围，液晶显示器会显示如下: ACW HI-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV 40 4.4.1.5 短(Short) 如被测物在做交耐压测试时，电电远超过本分析仪可以测的范围之外，再加上本分析仪特殊的短判定电动作，会被程式判定為短造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: ACW Short XXX.X s MXX-X -.- - KV 40 mA 4.4.1.6 耐压崩溃(Breakdown) 如被测物在做交耐压测试时的电电远超过本分析仪可以测的范围 ，并且电弧的 电也远超过本分析仪所能够测的正常值之外，会被程式判定為耐压崩溃造成的测 试失败，液晶显示器会显示如下: ACW Breakdown XXX.X s MXX-X X.XX KV 40 4.4.1.7 电电下限 (LO-Limit) 如被测物在做交耐压测试时的电电低於下限设定值，会被程式判定為电电下 限造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: ACW LO-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 4.4.1.8 电弧测试失败 (Arc Fail) 如被测物在做交耐压测试时的电电在设定的电电上限值以内，但是电弧的电 超过电弧电的设定值，并且本分析仪的电弧侦测判定功能被设定為 ON 时，造成的 测试失败，会被程定判定為被测物的电弧造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: ACW Arc-Fail XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 4.4.1.9 测试通过 (Pass) 假如被测物在做交耐压测试时的整个过程都没有任何常的现象发生时，被认定為通过 测试，液晶显示器会显示如下: ACW Pass XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 4.4.2 直耐压测试: 4.4.2.1 测试中止(Abort) 1. 如直耐压测试正在进之中，而按 RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，液晶显示器会显示如下: DCW Abort XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 2. 如直耐压测试正在进之中，而按 RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，其中断 测试的时间在本分析仪到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示: DCW Abort XXX.X s DCW Abort XXX.X s 或 MXX-X -.- - KV - - - - A MXX-X X.XX KV - - - - A 4.4.2.2 缓升(Ramp Up)测试 1. 如果直耐压测试设定有缓升 (Ramp Up)测试程序，在本分析仪到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下: DCW Ramp XXX.X s MXX-X -.- - KV - - - - A 2. 直耐压测试在缓升时间之中进耐压测试时，测试的结果会断的被新，液晶显示器会显示如下: DCW Ramp XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 4.4.2.3 耐压测试 (Dwell) 1. 在直耐压测试进时，测试的结果会断的被新，液晶显示器会显示如下: DCW Dwell XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX .2. 如直耐压测试的缓升测试时间非常短，而在本分析仪到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下: DCW Dwell XXX.X s MXX-X -.- - KV - - - - 4.4.2.4 缓衝电(Ramp-HI) 在直耐压测试的模式下，而缓衝电的模式被设定為 ON 时，在缓衝期的时间之内，如 果被测物的电电超过 12mA时，会被程式判定為缓衝电测试失败，液晶显示器会显 示如下: DCW Ramp-HI XXX.X s MXX-X X.XX KV 9999 4.4.2.5 最低充电电 (Charge-LO) 在直耐压测试的模式下，而最低充电电的模式被设定為 ON 时，在缓衝期的时间之内，如果被测物的电电低於最低充电电值时，会被程式判定為最低充电电测试失败，液晶显示器会显示如下: DCW Charge-LO XXX.X s MXX-X X.XX KV XXX.X. 4.4.2.6 电电上限 (HI-Limit) 1. 如被测物在做直耐压测试时的电电超过上限设定值，会被程式判定為电电 上限造成的测试失败，如果其电值仍然在本分析仪的测范围内，液晶显示器会显示 如下: DCW HI-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 2. 假如被测物在做直耐压测试时的电电超过上限设定值，会被程式判定為电 电上限造成的测试失败，如果电值超出本分析仪的测范围，液晶显示器会显示如下: DCW HI-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV 9999 4.4.2.7 短(Short) 假如被测物在做直耐压测试时的电电远超过可以测的范围之外，再加上本分析 仪特殊的短判定电动作，会被程式判定為短造成的测试失败，液晶显示器会显示如 下: DCW Short XXX.X s MXX-X -.- - KV 9999 4.4.2.8 耐压崩溃(Breakdown) 如被测物在做直耐压测试时的电电在设定的电电上限值以内，但是电弧的电 超过电弧电的设定值，并且本分析仪的电弧侦测判定功能被设定為 ON 时，造成的 测试失败，会被程定判定為被测物的电弧造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: DCW Breakdown XXX.X s MXX-X X.XX KV 9999 4.4.2.9 电电下限 (LO-Limit) 如被测物在做直耐压测试时的电电低於下限设定值，会被程式判定為电电下 限造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: DCW LO-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV XXX.X 4.4.2.10 电弧侦测判定(Arc Fail) 如被测物在做直耐压测试时的电电在设定的电电上限值以内，但是电弧的电 超过电弧电的设定值，并且本分析仪的电弧侦测判定功能被设定為 ON 时，所造成 的测试失败，会被程定判定為被测物的电弧造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: DCW Arc-Fail XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.X 4.4.2.11 测试通过 (Pass) 如被测物在做直耐压测试时的整个过程都没有任何常的现象发生时，被认定為通过测 试，液晶显示器会显示如下 : DCW Pass XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 4.4.3 绝缘电阻测试 4.4.3.1 测试中止(Abort) 1. 如绝缘电阻测试正在进之中，而按 RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，液晶显示器会显示如下: IR Abort XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 2. 假如绝缘电阻测试正在进之中，而按 RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，其中 断测试的时间在本分析仪到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示: IR Abort XXX.X s 或 IR Abort XXX.X s MXX-X - - - - V - - - - M MXX-X XXXX V - - - - 4.4.3.2 延迟时间(Delay) 1. 在绝缘电阻测试刚开始时，测试电压正逐步上升的期间之中，此时本分析仪尚未到第 一笔测试结果，液晶显示器会显示如下: IR Delay XXX.X s MXX-X - - - - V - - - M 2. 在绝缘电阻测试进时，於延迟测试期间之中，测试的结果会断的被新，液晶显示器会显示如下: IR Delay XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 4.4.3.3 最低充电电(Charge-LO) 在绝缘电阻测试的模式下，在缓衝期的时间之内，如果被测物的充电电低於最低充电电值时，会被程式判定為最低充电电测试失败，液晶显示器会显示如下: IR Charge-LO XXX.X s MXX-X - - - - V - - - - M 4.4.3.4 绝缘电阻上限(HI-Limit) 1. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值超过上限设定值，会被程式判定為绝缘电阻上限 造成的测试失败，如果其电阻值仍然在本分析仪的测范围内，液晶显示器会显示如下: IR HI-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 2. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值超过上限设定值，会被程式判定為绝缘电阻上限造成的测试失败，如果其电阻值超出本分析仪的测 范围之外，液晶显示器会显示如下: IR HI-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V 9999 4.4.3.5 绝缘电阻下限(LO-Limit) 1. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值低於下限设定值，会被程式判定為绝缘电阻下限 造成的测试失败，如果其电阻值仍然在本分析仪的测范围内，液晶显示器会显示如下: IR LO-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 2. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值低於下限设定值，会被程式判定為绝缘电阻下限 造成的测试失败，如果其电阻值低於本分析仪所能测的最低范围之内，液晶显示器会显示如下: IR LO-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V 600 m 4.4.4.4 交接地电阻下限(LO-Limit) 如被测物在做交接地电阻测试时的接地电阻值低於下限设定值，会被程式判定為接地电 阻下限造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: GND LO-Limit XXX.X s MXX-X XX.XX A XXX 4.4.4.5 测试通过 (Pass) 假如被测物在做交接地电阻测试时的整个过程都没有任何常的现像发生时，被认定為 通过测试，液晶显示器会显示如下: GND Pass XXX.X s MXX-X XX.XX A XXX 4.5 操作程序及步骤 7400 系的耐压测试器主要是设计供生產线自动化以及品质分析和检验使用，可以外接RS232 或 GPIB (IEEE-488) 介面控制，也可以外接印介面，将本分析仪所测试到的结果 即时印出，其操作和设定都非常简。合的设定和操作会给予声短暂嗶的警告，同时退回原设定的态。请依照下程序和步骤操作本分析仪。 1. 在将本分析仪输入电源线的插头接到市电电源以前，请先关闭本分析仪的输入电源开 关，并将背板上的电压选择开关换到正确的输入电压位置上，同时检查保险丝的规 格是否正确。然后再将地线接到本分析仪背板上的接地端子上。 2. 请将输入电源线分别接到本分析仪和电源插座上，但是要先将测试线接到本分析仪 的输出端子上。 3. 先将被测物或其测试治具端的测试线全部接妥，然后再将回线 (Return) 接到本分析仪的回端子上，再将接地电阻测试的电回测试线 (7440 机型) 或被测物接地线测试的测试线 (7430 机型) 接到本分析仪的端子上，最后才将高压测线接到本分析仪的高压端子上，并检查所有的测试线是否全部接妥。 4. 然后开啟本分析仪的输入电源开关 ，此时全部的指示灯都会一起而显示器会即出现如下：在指示灯全时，请即检查指示灯是否正常。然后程式会自动出现本分析仪最后一次测试时的记忆组和测试资，并进入待测和设定模式，此时显示 器会显示下四个划面的其中一个划面： EXTECH 74XX Ver : X.X ACW Set XXX.X s DCW Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 或 MXX-X X.XX KV XXXXX IR Set XXX.X s 或 GND Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX MXX-X XX.XX A XXX 註明：如果记忆组 MXX-X_ 时，表示该步骤测试完成后，会自动接到下一个测试 步骤。 请先考一般测试设定的明，将本分析仪的一般测试，PLC 遥控 (PLC Remote)、GPIB 位址 (GPIB Address)、LCD 反衬 (LCD Contrast)、警报音 (Volume)、接地电电阻测试的电阻/电压錶 (GND Meter)、测试失败停止 (Fail Stop)，自动印 (AUTO Print)、印方式 (Print Mode)、印号码 (Print Code Number) 设定完成.如果安装有 GPIB 介面卡时，程式才会出现 GPIB 位址设定，如果安装有印介面卡程式才会出现自动印 (AUTO Print)、印方式 (Print Mode) 和印编号 (Print Code Number) 的设定。 5. 如果要重新设定测试，请按 SET 键，进设定模式，重新设定测试，详细的设定方式、程序和步骤，请考测试设定的明。如果键盘被锁定，请先照键盘锁定的明，先将键盘解锁定，才能进测试设定。 请在这里输入您要转换的文字或语句. 6. 如果要选择记忆组内的测试进测试时，请按 MEMORY 键，程式会进入记忆组 的选择模式，液晶显示器会显示如下： Memory = X X Range ： 1 - 50 请用字键将要选择作為测试的程式记忆组的代表字输入程式内，记忆组选择完成 后，再按 ENTER键将记忆组的输入程式内，程式会自动叫出将该记忆组的测试并回到等待测和设定模式。以下是以交耐压测试，液晶显示器会显示如下: ACW Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 7. 如果要重新选择记忆组内测试步骤的进测试时，请按 STEP键，程式会进入记忆 组步骤的选择模式，液晶显示器会显示如下： ACW Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 请用字键将要选择程式记忆组内测试步骤的代表字输入程式内，测试步骤為 18 共八个步骤。如果要将测试步骤接到下一个步骤作接测试时，请考“测试设定的明，将 Connect 选择為 ON 。如果在第八测试步骤选择為“ON时，测试步骤会被接到下一被选择的记忆组的测试步