EN 60352-1-1997 无焊连接 第1部分缠绕连接 基本要求、试验方法与实用指南 中文版.doc

60352-1 IEC：1997CEI版权 IEC 版权所有，该出版物的使用受到限制。授权给西门子AG,CT SR,D-81730慕尼黑IEC国际标准 IEC60352-1第3版1997-08无焊连接 第1部分： 绕接连接 一般要求，测试方法和实用指南 参考号CEI/IEC 60352-1：1997编号从1997年元月1日起，所有的IEC出版物出版时在60000系列中指定一个编号。版权 IEC 版权所有，该出版物的使用受到限制。授权给西门子AG,CT SR,D-81730慕尼黑整理过的出版物可得到一些包括修订的IEC出版物整理过的版本。例如，版本号1.0，1.1，1.2分别指基本出版物，包括修订1的基本出版物和包括修订1和修订2的基本出版物。本出版物的有效性IEC出版物的技术内容始终保持在IEC的审查之下，这样可保证内容反映现行的技术。可从IEC目录中得到有关出版物再确认的日期信息。有关修订工作、修订版的发行和修改等的信息可从IEC国家委员会和以下IEC资料源得到：IEC公告IEC年鉴 可在网上访问*IEC出版物的目录 每年出版，定期更新 (可在网上访问*)术语，图形和字母符号对于一般的术语，请读者参考IEC 60050：国际电工技术词汇(IEV)。现行出版物所包含的术语和定义，要么是从IEV得到的，要么是为了该出版物而逐一特别批准的。对于经IEC批准的一般用途的图形符号、字母符号和记号，请读者参考IEC 60027：在电气工艺学中使用的字母符号，IEC 60417：在设备上使用的图形符号。单页的索引、概述和编辑和IEC 60617：图解用图形符号。由同一技术委员会准备的IEC出版物请读者注意本出版物的后面几页，列出了由准备本现行出版物的技术委员会出版的IEC出版物。*见扉页上给出的网址。CEI版权 IEC 版权所有，该出版物的使用受到限制。授权给西门子AG,CT SR,D-81730慕尼黑IEC国际标准 IEC60352-1第3版1997-08无焊连接 第1部分： 绕接连接 一般要求，测试方法和实用指南 CEI 1997版权版权所有 没有出版者的书面许可,不能采取任何手段或以任何形式(电子或机械的，包括影印和缩微拍摄)复制或利用本出版物的任何部分.国际电工技术委员会 瑞士，日内瓦rue de Varemb，3 传真：+41 22 919 0300 e-mail:inmailiec.ch IEC网站:http:/www.iec.ch国际电工技术委员会 价格代号 V价格见现行目录目 录页码 前言5引言7条文1. 范围和目标92. 引用标准93. 定义114. 要求154.1 工艺154.2 工具154.3 绕接柱174.4 绕接线254.5 绕接连接275. 测试315.1 试验315.2 型式试验315.3 试验计划376. 实用指南476.1 电流承载能力476.2 工具信息476.3 绕接柱信息516.4 导线信息596.5 连接信息61国际电工技术委员会无焊连接第1部分：绕接连接一般要求，测试方法和实用指南前言1) IEC(国际电工技术委员会)是由各国电工技术委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。IEC的目标是推进电气和电子领域所有关于标准化问题的国际合作。为此目的，在除其它活动之外，IEC还出版国际标准。标准的准备委托技术委员会进行；任何对所涉及的课题感兴趣的IEC国家委员会都可以参加该准备性工作。IEC与国际标准化组织(ISO)按照这两个组织之间的协议所确定的条件进行紧密的合作。2) IEC关于技术问题的正式决定或协议尽可能地表述为关于相关课题国际性的一致意见，因为每个技术委员会都有来自各个有关的国家委员会的代表。3) 所建立的文件具有推荐用于国际用途的形式，并以标准、技术报告或指南的形式出版，在这种意义上被国家委员会所接受。4) 为了推进国际统一，IEC国家委员会承诺在他们的国家或地区标准中尽最大可能公开应用IEC国际标准。任何的在IEC标准和相应的国家或地区标准之间的分歧，应在后者中清楚地指出。5) IEC不提供任何标识过程表示其认可，也不能对任何声称符合其标准之一的设备负责。6) 应注意本国际标准的某些部分可能是专利权的课题。IEC不负责鉴定任一或所有此类专利权。国际标准IEC 60352-1由第48号IEC技术委员会：“电子设备的机电组件和机械结构”的子委员会48B：“连接”准备。本第3版取代了1983年出版的包含一个技术修订的第2版。本标准的文本基于以下的文件：FDIS投票报告48B/590/FDIS48B/635/RVD在上表所述的投票报告中可找到关于该标准批准投票的所有信息。1998年10月勘误表的内容已包括在这次的文本中。引言IEC 60352的本部分包括要求、测试和实用指南信息。提供了两个试验计划。基本试验计划适用于符合第4节所有要求的绕接连接。这些要求从这种绕接连接成功应用的经验中得出。完全试验计划适用于不完全符合第4节所有要求的绕接连接，例如，采用不包括在第4节中所述的材料或光饰制作的绕接连接。这种方法使得可以进行具有成本和时间效益的性能验证，对确定的绕接连接采用有限的基本试验计划，而对需要更进一步性能确认的绕接连接采用扩展的完全试验计划。无焊连接第1部分：绕接连接一般要求，测试方法和实用指南1. 范围和目标IEC 60352的本部分适用于用最小公称直径为0,16mm的单根固体圆导线和适当设计的绕接柱做成的绕接连接，用于通信设备和采用类似技术的电子装置中。除测试过程之外，还包括材料和行业经验数据的信息，使得在指定的环境条件下能提供稳定的电气连接。本标准的目标是确定在指定的机械、电气和大气条件下绕接连接的适宜性，并提供一种当用于制作连接的工具具有不同的设计和制造工艺时，对试验结果进行比较的手段。2. 引用标准下列标准文件包含通过在标准中引用而构成IEC 60352本部分条款的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有的标准文件都会被修订，鼓励基于IEC 60352本部分的协议各方探讨使用下列标准最新版本的可能性。IEC和ISO的成员保有当前有效国际标准的记录。IEC 60050(581)：1978，国际电工技术词汇(IEV)第581章：用于电子设备的机电组件IEC 60068-1：1988，环境试验第1部分：总则和指南修订1(1992)IEC 60352-5：1995，无焊连接第5部分：无焊压入连接一般要求，测试方法和实用指南IEC 60512-1：1994，用于电子设备的机电组件基本测试过程和测量方法第1部分：总则IEC 60512-2：1985，用于电子设备的机电组件基本测试过程和测量方法第2部分：一般检查，电的连续性和接触电阻测试，绝缘实验和电压应力试验修订1(1994)IEC 60512-6：1984，用于电子设备的机电组件基本测试过程和测量方法第6部分：耐候试验和焊接试验IEC 60512-8：1993，用于电子设备的机电组件基本测试过程和测量方法第8部分：连接器测试(机械)以及接触、终端的机械试验IEC 60979：1989，用于导线绕接的导线IEC 468：1982，表面粗糙度指定要求的参数及其数值和一般规则IEC 1337：1980，精炼铜(至少含99,85%的铜)化学成分和精炼产品的形式IEC 6507-1:1982，金属材料硬度试验维氏试验第1部分：HV 5至HV 1003. 定义对于IEC 60352的本部分，包括在IEC 60050(581)和IEC 60512-1中的术语和定义以及以下附加的术语和定义适用。3.1 绕接柱：通常是带尖角的矩形端子，用于承担绕接连接。IEV 581-03-34，已修正3.2 绕接连接：通过将一个固体导体环绕在一个绕接柱上形成的无焊连接(见图1)。IEV 581-03-10，已修正X细节气密区IEC 1 019/97图1绕接连接3.3 传统的绕接连接：通过将一个固体导体环绕在一个绕接柱上形成的无焊连接，没有任何的导线绝缘层与绕接柱接触(见图2a)。IEV 581-03-453.4 改进的绕接连接：通过将一个固体导体环绕在一个绕接柱上形成的无焊连接，导线绝缘层至少在三个角上包裹在绕接柱上(见图2b)。IEV 581-03-443.5 导线的一圈：导线环绕绕接柱360形成的单个螺旋环。IEV 581-03-653.6 参考角：绕接柱上的一个角，在该角上已剥去绝缘层的导线在绕接柱上形成第一个压痕，并开始计算绕接圈数(见图2)。IEV 581-03-38图2参考角俯视图 参考角(见第3.6节) 带绝缘层的导线 剥去绝缘层的导线导线绝缘层在三个角与绕接柱接触导线绝缘层在四个角与绕接柱接触IEC 1 020/97 IEC 1 021/97图2a传统的绕接连接 图2b改进的绕接连接3.7 尾端：绕接连接中导线最后一圈的结尾部分，该部分延伸超出与绕接柱接触的最后一个角(见图3)。IEV 581-03-54图3尾端尾端尾端3.8 气密区：在给定条件下不受气体影响的接触区(见图1)。IEV 581-03-643.9 剥去力：沿绕接柱的长轴线施加于绕接连接打破气密区的力。IEV 581-03-55注连接沿绕接柱产生的最初位移打破气密区。3.10 有效绕接长度：绕接柱中适合于并能用于所有要求都已明确的绕接连接的部分。IEV 581-03-603.11 绕接柱总长度：绕接柱从安装面到顶部的长度。IEV 581-03-613.12 箍应力：由环绕操作引起、由导线连接在绕接柱的角上而维持的导线中的张力。IEV 581-03-504. 要求4.1 工艺连接应以细致、精巧的方式按照较好的现行实践进行制作。4.2 工具工具应按照制造厂给出的说明进行使用和检查。4.2.1 绕接工具绕接工具应能在其使用寿命期限内制作一致可靠的连接。在最后一圈应能制作出整洁的闭合，不会引起绕接线或绕接柱的不适宜的毁损。工具中孔的深度应足以容纳绕接柱的总长度(见第6.2.1节和第节)。工具的评定通过测试用该工具制作的用于评定的绕接连接完成。4.2.2 解开工具解开工具应不损坏绕接柱并应从绕接柱上完全移除解开的导线(见第6.2.2节)。4.3 绕接柱4.3.1 材料应采用按照ISO 6507-1进行测试，维氏硬度为95 HV 5至220 HV 5的铜合金。合适的合金为黄铜、磷青铜、银镍合金。当需要测量绕接柱的硬度，而由于凹痕的尺寸要求导致不能采用维氏硬度时，可采用其它合适的方法，例如金刚石锥硬度或努氏硬度。注在包括绕接柱的母线中主要使用硬度范围95 HV 5至120 HV 5。4.3.2 横截面表1列出了11组绕接柱规格以及与每组绕接柱相关的导线规格。表1绕接柱和导线规格绕接柱规格导线规格对角线组2)mm优先选用规格（公称）mm公称导体直径，mm0,160,260,320,40,50,650,81,0最大绝缘层直径1)，mm0,270,70,91,171,271,321,51,780,41-0,4310,30,3改进型/3)0,46-0,510,40,4改进型改进型/0,5-0,5650,40,4改进型改进型/0,69-0,770,50,5/改进型/0,76-0,860,60,6/改进型改进型改进型或传统型/3)0,77-0,8250,6350,635/改进型改进型改进型或传统型/0,84-0,910,6350,635/改进型改进型改进型或传统型/0,95-1,200,80,8/改进型改进型改进型或传统型/1,35-1,781,01,00,81,40,81,6/改进型或传统型改进型或传统型改进型或传统型改进型或传统型/1,6-1,861,21,21,21,4/改进型或传统型改进型或传统型改进型或传统型改进型或传统型改进型或传统型2,3-2,90,82,4/改进型或传统型改进型或传统型/注改进型表示改进的绕接连接。传统型表示传统的绕接连接。/表示不可能或不允许的绕接连接空白表示该绕接连接可以采用但相关的尺寸组合不推荐也不广泛采用。1) 关于允许的最大绝缘层直径，见第6.3.6节。2) 相关的工具应由用户选择。3) 对角线组指经倒角的绕接柱，即：绕接柱的两个角被倒角，另两个角符合第4.3.7节的要求。4.3.3 绕接柱的公差绕接柱的尺寸应保证满足表1给出的对角线极限要求。对角线包括角半径和毛刺的影响。绕接柱的公差应符合该组件的相关详细技术说明。注因为绕接柱将装入绕接工具的圆孔中，所以有必要保证其对角线在可接受的极限范围内。几种横截面可能落入一个对角线范围内，但对角线的公差比宽度和厚度或其公差更为重要。4.3.4 长度绕接柱的长度应按照相关详细技术说明的指定。注大家认为有必要使绕接柱的有效绕接长度能容纳最多三个绕接连接(见第6.3.5节)。4.3.5 平行度所有的绕接柱应保证其棱角的平行度在整个有效绕接长度范围内在0,05mm每10mm之内。4.3.6 直线度所有的绕接柱应没有会妨碍绕接柱自由进入绕接工具孔内的弯曲。4.3.7 角半径在进行了表面光饰之后，绕接柱的任何部分应至少有两个角满足表2的要求。表2角半径对角线(mm)角半径(最大)(mm)1,30,0 角半径的确认角半径的确认应采用图4定义的光学测量规进行测试，通过比较放大的影象进行确认。测试的绕接柱，其横截面影象应采用至少50倍的放大倍数进行准备。应准备一个图4所定义玻璃主盘作为光学测量规。半径值r应按照表2的尺寸进行选择。注对于玻璃主盘，表2的半径r应乘以影象的放大系数。测试的绕接柱影象放在光学测量规上时，应使影象最平的一边位于基准线上，而待测角的另一边通过基准点。要求：a) 通过基准点的一边应在角度极限范围(2)内；b) 棱角应在光学测量规定义的区域(1)范围内。如果棱角位于区域(3)内，则另外还应满足第4.3.8节的条件。注图5给出了一个合格的半径示例。图4玻璃主盘图5合格半径示例绕接柱横截面基准点基准线IEC 1 022/97472/834.3.8 棱角毛刺在完成了表面光整之后，毛刺应不超过下列值(表3)。表3棱角毛刺对角线(mm)棱角毛刺(最大)(mm)1,30,054.3.9 尖端的形状绕接柱的尖端应为锥形或斜角形(见图6)，以方便插入绕接工具中。当绕接柱准备与使用固定式工具的自动或半自动接线机一起使用时，以下的尺寸(表4) 应适用于两个轴(图6)。表4尖端的形状对角线(mm)c最大(mm)最小(mm)1,30,40,05注关于尖端的长度，见表13。图6 尖端的形状IEC 1 023/97绕接柱轴尖端轴4.3.10 安装绕接轴应可靠地安装，使其能承受在绕接过程中可能遇到的力和扭矩。绕接轴的安装在力施加于工具的方向应能承受表5所述的轴向力。绕接轴的安装应能承受表5所述的扭矩。表5安装强度对角线(mm)轴向力(N)扭矩(Nm)1,3400,06当绕接柱准备与使用固定式工具的自动或半自动接线机一起使用时，以下的条件应适用：在同一面板内组装的所有绕接柱的基础应平、直，允差在0,3mm之内；应采用表6所述的安装尺寸。图7实际位置公差带理论位置IEC 1 024/97实际位置公差带表6安装公差对角线(mm)实际位置公差带z (mm)y1) (mm)1,30,81) 位置公差可能在详细技术说明中给出限定，或者在其它应用，例如压入端子(见IEC 60352-5)中给出限定。4.4 绕接线应只采用符合IEC 60979的单根固体圆导线作为绕接线；不允许采用绞合导体。采用某一系列的导线材料和直径并使用合适的工具可制作稳定的连接。4.4.1 导体材料导体应如表7所述。表7导体材料公称导体直径(mm)材料断裂时的延长率(%)0,4铜合金70,5符合ISO 1337的无氧铜(Cu-OF)150,5铜20如果计划使连接长期在超过90的温度下运行，则绕接线应采用一种适当的材料，使其没有铜那样易于受高温的影响而产生应力松弛。这种导线的延展性可能与经完全退火的铜导线不同。4.4.2 导体光饰导体光饰层应为银、锡、锡合金或无镀层。其表面应没有污染物和腐蚀。4.4.3 直径导体的直径应为公称直径在0,16mm至1,0mm的范围内。关于导体直径和绕接柱尺寸之间的关系，见表1。4.4.4 绝缘绝缘层应能容易地从导体上剥离，而不改变导线的物理特性。对于改进型绕接连接，绝缘层应足够的壁厚(一般应超过导体直径的40%)。绕接连接的制作者应保证导线外径与设计用于制作改进型绕接连接的绕接工具之间的配套性。4.5 绕接连接4.5.1 总则a) 工具、绕接柱和导线的组合应配套。b) 导线各圈应靠紧绕接，且不要互相重叠。相邻圈之间可能出现的间隙应不大于导体公称直径的一半。(见图15、图16和表13)。c) 已做完的连接应不能再扰乱，不应试图用钳子等工具整理末端或“拉紧”连接。如果有必要，尾端可以包入，但只能用绕接工具。d) 绕接连接应完全处于有效绕接长度范围内。e) 同一绕接柱上按相同方向绕接所做的相邻连接，可以互相接触但相邻连接之间不能有重叠(见图15、图16和表13)注大家认为有必要使绕接柱的有效绕接长度能容纳最多三个绕接连接。4.5.2 传统的绕接连接对于传统的绕接连接，最小圈数应如表8所述。绝缘层应尽可能紧靠绕接柱开始，以避免与临近的绕接连接或导体发生短路。4.5.3 改进的绕接连接改进的绕接连接应常用于公称直径小于或等于0,32的导体(见表1)。已剥去绝缘层的导线最小圈数应如表8所述。带绝缘层的绕接导线部分应至少包裹绕接柱的三个角。表8已剥去绝缘层的导线最小圈数公称导体直径(见表1)mm已剥去绝缘层的导线最小圈数退火铜铜合金或其等效物0,16880,26750,32750,4650,5540,65440,8441,0434.5.4 连接的重绕拆开一个已绕接的连接时，绕接导线应采用合适的工具仔细地解开，且不能剥落，以保持绕接柱的角完好，用于新的绕接连接。注表14给出了一个合适的工具示例。不允许对先前绕接在绕接柱上，然后又解开的一部分导体进行重绕，但允许在先前已绕接过一个连接的绕接柱上绕接一个新的连接，只要该绕接柱和连接能满足这里指定的要求。注对角线小于或等于1,3mm的绕接柱可重绕至少5次，对角线大于1,3mm的绕接柱可重绕至少10次。4.5.5 焊接连接和绕接连接的结合应避免在同一个连接柱上同时使用焊接连接和无焊连接，但当不可避免时，它们彼此之间应尽可能地离得远，而且焊料应不能散落到绕接连接上。在焊接过程中应采取防范措施避免对临近的绕接连接造成损坏。注建议当在一个连接柱上做了一个焊接连接时，同一个连接柱上的所有临近连接都采用焊接。5. 测试5.1 试验5.1.1 总则如引言中所说，有两个试验计划，根据以下的条件进行应用：满足第4节所有要求的绕接连接应按照基本试验计划的要求进行试验并满足基本试验计划的要求，见第5.3.2节；除绕接线或绕接柱的尺寸或材料之外，其它条件满足第4节所有要求的绕接连接应按照完全试验计划的要求进行试验并满足完全试验计划的要求，见第5.3.3节。5.1.2 试验的标准条件除非另有指定，所有的试验应在IEC 60512-1所指定的标准条件下进行。进行测量时所在的环境温度和相对湿度应在试验报告中加以表述。当对试验结果有争议时，试验应在IEC 60068-1的仲裁条件之一下重做。5.1.3 预处理当有指定时，连接应按照IEC 60512-1在试验的标准条件下进行预处理24小时。5.1.4 恢复如果有指定，应允许试样在处理后，在试验的标准条件下恢复1小时至2小时。5.1.5 试样的安装当试样在试验中需要安装时，应采用常规的安装方法进行安装，除非另有指定。5.2 型式试验5.2.1 一般检查应按照IEC 60512-2的“测试1a：目视检查”和“测试1b：尺寸和质量检查”进行测试检查。目视检查试验可采用约5倍的放大倍数进行。所有的绕接连接都应检查，以确保满足第4.3节至第4.5节的适用要求。5.2.2 机械试验 剥离力注本试验是破坏性试验，在从组件上切下的已绕接的绕接柱上进行。剥离力试验应按照IEC 60512-8的“试验16k：剥离力”进行。绕接连接的圈数应为表8中“最小圈数”指定的数量。移除连接所需的最大载荷应不小于表9所述的值。表9剥离力公称导体直径(见表1)mm最小剥离力N0,1670,26130,32170,4220,5280,65350,8451,05 解开解开试验应按照IEC 60512-8的“试验16m：解开”进行。在从组件上切下的已绕接的绕接柱上进行。连接应能解开，导线调直后不能断裂。注可采用其它可选的解开方法。当关于试验结果有争议时，应采用“试验16m”所详述试验方法作为仲裁方法。 绕接柱的自激振动绕接连接应位于已进行刚性安装的绕接柱的基础上。使绕接柱垂直于最宽的面，每10mm的长度产生0,3mm的位移，并快速释放，由此产生振动。接触电阻的变化应按照IEC 60512-2的“试验2c：接触电阻变化”进行测量。在绕接柱的自激振动过程中，应对接触电阻进行监控。应确定电阻的最大变化，而且电阻的最大变化应不超过0,5m。5.2.3 电气试验 接触电阻接触电阻试验应根据相关的技术说明书，按照IEC 60512-2的“试验2a：接触电阻，毫伏级方法”或者“试验2b：接触电阻，指定测试电流方法”进行。应根据适用的原则，采用图8所示的试验布置图之一。测试电流测试电流IEC 1 025/97IEC 1 026/97图8a传统的绕接连接图8b改进的绕接连接图8接触电阻表10给出了测量条件和要求。表10接触电阻公称导体直径(见表1)mmL1mm对试验2b对试验2a和2b指定的测试电流A最大初始接触电阻m两个串联的绕接连接在进行气候、动力学或电气调节后，电阻的最大变化m0,16300,55050,26301,0181,60,32301,5101,20,4302,271,20,5503,371,00,65505,061,00,8506,531,01,0507,531,0注本表给出的接触电阻包括两个绕接连接的电阻和带绝缘层的导线长度L的电阻。如果由于接线的需要，必须增加L的长度，则应适当考虑相应的电阻增加。 电的过载对绕接连接应加载相关导体直径指定测试电流的1,5倍电流达1小时，然后加载表10指定的测试电流的4倍电流达1分钟。5.2.4 耐候试验 温度的快速改变试验应按照IEC 60512-6的“试验11d：温度的快速改变”进行。除非另有指定，以下的细节说明应适用：低温： TA 55(LCT)高温： TB +125(UCT)暴露的持续时间：t1 15分钟循环周期数： 气密性绕接连接应承受IEC 60512-6的“试验11n：气密性”。 箍应力松弛绕接连接应承受可导致50%箍应力松弛的温度/时间组合。应采用图18确定一个合适的组合。对于采用镀锡的完全退火的铜导线制作的传统绕接连接，优先选用+125的温度。对于改进型绕接连接，合适的温度取决于所使用的绝缘层的类型。应在相关的技术说明书中加以指定。5.3 试验计划5.3.1 总则在试验之前，应准备好第5.3.2节和第5.3.3节所述的样本。样本为：a) 双型样本，由两个连接绕接在两个绕接柱上组成，并按图8的详细说明互连。按照第节测量接触电阻时，有必要使用双型样本；b) 单型样本，由一个连接绕接在一个绕接柱上组成，单型样本用于剥离力试验和解开试验。在进行样本准备之前，应确认：使用了正确的绕接柱和导线；使用了正确的工具和绕接器；工具能正确地工作；操作者有能力制作符合第4.5节要求的连接。表11需要的样本的数量试验计划子条款测试绕接连接时，所有情况下需要的数量单型样本双型样本基本试验计划..250-完全试验计划..501255.3.2 基本试验计划当基本试验计划适用时(见第5.1.1节)，应准备好表11指定的样本数量，并按照第节进行初始检查。初始检查在准备好绕接连接之后，所有的样本应承受IEC 60512-2的“试验1a：目视检查”，以确保满足第4.5节的适用要求。 单型样本的测试在完成初始检查之后，25个单型样本应承受测试阶段P1，而其它25个单型样本应承受测试阶段P2。测试阶段测试应进行的测量要求名称子条款名称IEC 60512的试验蝙号子条款P1剥离力16kP2解开16m5.3.3 完全试验计划当有必要执行完全试验计划时(见第5.1.1节)，应准备好表11指定的样本数量，并按照第节进行初始检查。初始检查在准备好绕接连接之后，所有的样本应承受IEC 60512-2的“试验1a：目视检查”，以确保满足第4.5节的适用要求。 单型样本的测试在完成初始检查之后，30个单型样本应承受测试阶段SP1，而其它20个单型样本应承受测试阶段SP2。测试阶段测试应进行的测量要求名称子条款名称IEC 60512的试验蝙号子条款SP1剥离力16kSP2解开16m 双型样本的测试在完成初始检查之后，125个双型样本应承受以下的测试。测试阶段测试应进行的测量要求名称子条款名称IEC 60512的试验蝙号子条款DP1接触电阻2a或2bDP2箍应力松弛DP3接触电阻2a或2b然后应将样本分为三组，A至C。每一组的所有样本都应经受对该组指定的所有测试。.1 测试组A应对25个双型样本进行测试。测试阶段测试应进行的测量要求名称子条款名称IEC 60512的试验蝙号子条款AP1气密性目视检查1a.3.3.2 测试组B应对50个双型样本进行测试。测试阶段测试应进行的测量要求名称子条款名称IEC 60512的试验蝙号子条款BP1绕接柱的自激振动接触电阻的变化2cBP2接触电阻2a或2bBP3电的过载BP4接触电阻2a或2b.3 测试组C应对50个双型样本进行测试。测试阶段测试应进行的测量要求名称子条款名称IEC 60512的试验蝙号子条款CP1温度的快速改变CP2接触电阻2a或2b5.3.4 流程图为了快捷起见，将第5.3.2节和第5.3.3节中已祥述的试验计划在图9和图10所示的流程图中进行重述。零部件的检查绕接柱和绕接线的一般检查：5.2.150套零部件目视检查 测试1a尺寸和质量检查 测试1b样本的准备绕接连接的初始检查： 50个样本目视检查 测试1a测试25个单型样本剥离力： 试验16k25个单型样本解开： 试验16m图9基本试验计划(见第5.3.2节)IEC 1 027/97零部件的检查绕接柱和绕接线的一般检查：5.2.1175套零部件目视检查 测试1a尺寸和质量检查 测试1b样本的准备绕接连接的初始检查： 50个单型样本，125个双型样本目视检查 测试1a测试125个双型样本接触电阻： 试验2a/2b箍应力松弛： 接触电阻： 试验2a/2b50个单型样本50个双型样本50个双型样本25个双型样本30个单型样本解开： 试验16m20个单型样本剥离力： 试验16k组C组B气密性： 组A自激振动： 接触电阻： 试验2a/2b电的过载 接触电阻： 试验2a/2b温度的快速改变接触电阻：试验2a/2bIEC 1 028/97图10完全试验计划(见第5.3.3节)6. 实用指南6.1 电流承载能力一般地，按照本标准制作的绕接连接的气密区横截面面积的和应比所使用导线的横截面面积大。因此，导线的电流承载能力将通常成为制约因素，而绕接连接的电流承载能力将至少等于所使用的导线的电流承载能力。6.2 工具信息6.2.1 绕接工具有很多种类的绕接工具，从手工驱动的到动力驱动的(气动或电动)，工具的位置由手工控制或由完全自动化的机器控制。但，工具的作用部分的基本原理如下：一个旋转器在一个套筒内旋转，将导线绕到绕接柱上。旋转器带有一个孔用于装入绕接柱。该孔应与绕接柱的实际对角线相匹配。工具制造厂提供有关适合绕接柱和导线尺寸的旋转器和套筒的广泛选择。旋转器采用两种不同的设计。 带常规旋转器的工具在旋转器上有一个槽，在该槽内插入要绕到绕接柱上的导线部分，导线应剥去绝缘层至相应的长度。剥去绝缘层的长度取决于导线尺寸和绕接柱尺寸。导线的其它部分保持不动，例如通过套筒上的一个凹槽使其保持不动。剥去绝缘层的导线将以指定的拉紧力绕到绕接柱上。 带切剥线旋转器的工具为了省去预先剥去绝缘层的工序，可使用切剥线工具(切剥线旋转器)。在旋转器上槽的开始位置装有一个剥线刀片。旋转器的槽在套筒的切断窗口位置结束。剥线刀片适合于导体的直径和绝缘层的外径。插入的带绝缘层的导线将在切断窗口位置被切断，绝缘层在剥线刀片处被剥离。绝缘层将停留在旋转器的槽内，在下一个导线插入时从套筒的窗口处被推出。剥线刀片与切断窗口之间的距离取决于对导线指定的剥去绝缘层的长度。图11切剥线工具剥线刀片切断窗口带绝缘层的导线IEC 1 029/97用于切剥线工具的导线规格应如下：导体 铜线，断裂点的最小延长率为20%；导线镀层 镀锡或镀银导体。导线的镀层表面应光滑；绝缘层的同心度：最小80%(最薄壁厚与最厚壁厚的比值)；绝缘材料： 固体热塑性材料；剥去力： 给定长度的绝缘层剥去力应不超过工具制造厂给出的值。如果导体和绝缘层之间的粘着力太大，则导体会被切剥线旋转器拉得过长，这将形成脆弱的连接。旋转器图12工具的正面476/83装入绕接柱的孔保持导线不动的凹槽套筒接纳导线的槽旋转器中孔的深度应足以容纳绕接柱的总长度(见图13)。表12给出了常用的孔深。图13旋转器孔的深度477/83孔深表12孔深对角线mm孔深mm1,3256.2.2 解开工具当有必要分离一个已绕接的连接时，绕接导线应仔细地解开，且不能从绕接柱产生剥落。为此目的，可采用合适的解开工具。图14表示了一个典型的工具。解开工具应能使导线从绕接柱上完全移除而不损坏绕接柱。图14解开工具478/836.3 绕接柱信息以下的信息基于行业经验。6.3.1 材料绕接柱通常具有维氏硬度120 HV 5至220 HV 5，但硬度低至95 HV 5的材料用于特殊用途，例如包括绕接柱的母线。如果连接将承受可能导致明显的箍应力松弛的高温，应注意确保用作绕接柱的材料硬度比用作导线的材料硬度高。在选择材料时，还应注意，选择用作导体和用作绕接柱的材料在金属的电镀性系列中尽可能地靠近。6.3.2 表面光饰可采用没有附加表面光饰或电镀的绕接柱，但必要时可增加表面光饰以保护绕接柱。合适的表面光饰包括锡、锡-铅或金。当采用镀锡时，应考虑表面光饰层与绕接柱材料的兼容性。太厚的镀层厚度可能会减少剥离力，这是应避免的。6.3.3 表面粗糙度增加绕接柱的表面粗糙度通常会增加剥离力，因此可能会削弱甚至丧失对连接质量的控制。建议按照ISO 468，表面粗糙度(包括表面光饰)最大不超过Ra=2m。6.3.4 横截面绕接柱的横截面面积应至少比导线的横截面面积大50%，且绕接柱的横截面的短边应不小于导线的直径。对于具有矩形截面的绕接柱，建议其宽度与厚度的比不超过：2:1，对导线直径不大于0,4mm的情况；3:1，对导线直径等于或大于0,4mm的情况。当材料厚度不足以形成绕接柱必需的刚度时，可采用压花的横截面。6.3.5 长度 有效绕接长度，传统的绕接连接一个准备用作传统型绕接连接的绕接柱应具有如下的有效绕接长度：其中图15有效绕接长度表示所需数量连接的绕接长度，不包括尖端和底部的构造或端子长度的公差；表示需要在端子上做出的连接的数量；表示每个连接中剥去绝缘层的导线的最大圈数；表示剥去绝缘层的导线的公称直径；表示一个连接中相邻圈之间的间隔容许量；表示两个相邻连接之间的间隔容许量。479/8 有效绕接长度，改进的绕接连接一个准备用作改进型绕接连接的绕接柱应具有如下的有效绕接长度：其中LB 表示所需数量连接的绕接长度，不包括尖端和底部的构造或端子长度的公差；N 表示需要在端子上做出的连接的数量；n1 表示每个连接中剥去绝缘层的导线的最大圈数；n2 表示每个连接中带绝缘层的导线的最大圈数；d1 表示剥去绝缘层的导线的公称直径；d2 表示带绝缘层的导线的公称直径；s 表示一个连接中相邻圈之间的间隔容许量；S 表示两个相邻连接之间的间隔容许量。 绕接柱总长度用于