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计算机标准化考试题答案一、填空1. 标识X射线谱中，对一定线系的某条谱线而言，其波长与原子序数的平方近似成反比 关系，这就是著名的 莫塞莱 定律。2. X射线衍射方法有劳厄法 、转动晶体法（转晶法） 、粉晶法 和衍射仪法 四种方法。3. 从粉末衍射线束强度的测量中，可以得到有关晶体结构 ，多相混合物中各物质的相对含量 等多种信息。4. 衍射仪的工作方式有连续扫描 和步进扫描 两种。11.电子显微分析是利用聚焦电子束 与试样物质相互作用产生的各种物理信号 ，分析试样物质的微区形貌 、晶体结构 和化学组成 。14. 透射电子显微镜的结构分为光学成像 系统、真空 系统和电气 系统。17. 电子探针X射线显微分析（EPMA）是一种显微 分析和成分 分析相结合的微区分析，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有力的分析方法。其中常用的X射线谱仪有波谱仪 和能谱仪 两种。22. 红外光谱图一般都反应四个表象，分别为谱带的数目、吸收带的位置、谱带的形状、谱带的强度。23. 红外吸收光谱图中的横坐标一般标有两种量纲，即波长和波数，纵坐标则常用透过率或吸光度表示。24. 在一般红外光谱图中，所用的红外光波波长都在中红外区，更多地用 2.5-25m（400-4000cm-1） 范围，因为绝大多数的有机和无机化合物的分子振动频率处于此波长范围。二、判断题1 连续扫描无滞后及平滑效应，因此衍射峰位正确、分辨率好。错2 在确定衍射峰位时，切线法适用于线形尖锐的情况。错3 在进行定性物相分析时，d值的数据比相对强度的数据重要。对4 用谢乐方程可以计算颗粒尺寸。错12.电子波长与其加速电压平方根成正比，加速电压越高，电子波长越长，电子的能量越小。错13.电磁透镜是一种可变焦距或可变倍数的会聚透镜，这是它有别于光学玻璃凸透镜的一个特点。对14.弹性散射电子由于其能量等于或接近于入射电子能量E0，因此是透射电镜中成像和衍射的基础。对19.扫描电镜具有场深大（三百倍于光学显微镜）的特点，适用于粗糙表面和断口的分析观察。对20. 扫描电镜试样制备时要进行镀膜处理，其目的是避免在电子束照射下产生点和积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。对21.二次电子像主要反映试样表面的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，图像中凸尖和台阶边缘处二次电子发射最多，亮度最高；平坦部或凹谷发射的二次电子最少，亮度最暗。对22.能谱仪分析的元素范围广（4Be92U）、探测极限小、分辨率高，适用于精确的定量分析。错三、单项选择题3. X射线衍射仪的核心部件是 B A. X射线管；B.测角仪；C.探测器；D.高压电源。9. 分辨率（分辨本领）是电磁透镜的最重要的性能指标，它受到衍射效应、球差、色差和轴上像散等因素的影响，其中衍射效应和 A 是最主要的。A.球差；B.色差；C.轴上像散；D.畸变。11.无机非金属材料大多数为多相、多组分的非导电材料，直到60年代初产生了 D 后，才使无机非金属材料的薄膜制备成为可能。A.超薄切片方法；B.电解抛光方法；C.化学抛光方法；D.离子轰击减薄方法。12.适合透射电镜观察的试样是厚度小于 C 的对电子束“透明”的试样。A.50nm；B.100nm；C.200nm；D.500nm。四、多项选择题1. X射线衍射分析在无机非金属材料研究中可用于 ABCD 。A.物相分析；B.测定晶格常数；C.判定晶体的对称性和取向；D.测定晶粒大小。3. 在X射线衍射研究晶体的方法中，用于研究单晶体的方法是 AB A.劳厄法；B.转动晶体法；C德拜法；D.衍射仪法。7.在电子与固体物质相互作用中，从试样表面出射的电子有 ACD A.背散射电子；B.透射电子；C.二次电子；D.俄歇电子。11.多原子分子的振动模型的基本类型可分为：A，CA.伸缩振动；B.扭动；C.弯曲振动；D.摇摆。12. 伸缩振动的基本类型有：A，DA.对称伸缩振动；B.剪式弯曲振动；C.旋转振动；D.非对称伸缩振动。13. 多原子分子的弯曲振动可分为：A，B，C，DA.变形或剪式振动；B.摇摆或面内弯曲；C.摇摆或面外弯曲；D.扭动。16. 影响红外光谱图中谱带位置的因素有：A，B，C，DA.诱导效应；B.键应力；C.氢键；D.物质状态。17. 影响红外光谱图中谱带强度的因素有：A，CA.偶极矩的变化；B.物质的状态；C.能级的跃迁几率；D.键应力。22. 影响红外分光光度计测量准确度的主要因素有：A，B，CA.噪音；B.杂散光；C.仪器的动态响应；D.扫描速度。24. 光电子能谱测量中化学位移的解释有以下模型：A，B，CA.离子型化合物静电模型；B.分子电位电荷热能模型；C.等效原子核心等价电子壳层模型；D.振动模型。25. 光电子能谱仪由以下部分构成：A，B，DA.激发光源；B.光电子能谱分析器；C.电子倍增管；D.测试和记录系统。26. 以下选项中属于光电子能谱粉末试样制备方法的有：A，CA.压片法；B.点焊法；C.溶剂处理法；D.冷凝法。27. 光电子能谱可用于以下方面的分析：A，B，DA.化学分析；B.固体表面相的研究；C.形貌分析；D.化合物结构的鉴定。28. 俄歇电子能谱可以用于以下