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文档简介
计算机标准化考试题答案一、填空1. 标识X射线谱中,对一定线系的某条谱线而言,其波长与原子序数的平方近似成反比 关系,这就是著名的 莫塞莱 定律。2. X射线衍射方法有劳厄法 、转动晶体法(转晶法) 、粉晶法 和衍射仪法 四种方法。3. 从粉末衍射线束强度的测量中,可以得到有关晶体结构 ,多相混合物中各物质的相对含量 等多种信息。4. 衍射仪的工作方式有连续扫描 和步进扫描 两种。11.电子显微分析是利用聚焦电子束 与试样物质相互作用产生的各种物理信号 ,分析试样物质的微区形貌 、晶体结构 和化学组成 。14. 透射电子显微镜的结构分为光学成像 系统、真空 系统和电气 系统。17. 电子探针X射线显微分析(EPMA)是一种显微 分析和成分 分析相结合的微区分析,是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有力的分析方法。其中常用的X射线谱仪有波谱仪 和能谱仪 两种。22. 红外光谱图一般都反应四个表象,分别为谱带的数目、吸收带的位置、谱带的形状、谱带的强度。23. 红外吸收光谱图中的横坐标一般标有两种量纲,即波长和波数,纵坐标则常用透过率或吸光度表示。24. 在一般红外光谱图中,所用的红外光波波长都在中红外区,更多地用 2.5-25m(400-4000cm-1) 范围,因为绝大多数的有机和无机化合物的分子振动频率处于此波长范围。二、判断题1 连续扫描无滞后及平滑效应,因此衍射峰位正确、分辨率好。错2 在确定衍射峰位时,切线法适用于线形尖锐的情况。错3 在进行定性物相分析时,d值的数据比相对强度的数据重要。对4 用谢乐方程可以计算颗粒尺寸。错12.电子波长与其加速电压平方根成正比,加速电压越高,电子波长越长,电子的能量越小。错13.电磁透镜是一种可变焦距或可变倍数的会聚透镜,这是它有别于光学玻璃凸透镜的一个特点。对14.弹性散射电子由于其能量等于或接近于入射电子能量E0,因此是透射电镜中成像和衍射的基础。对19.扫描电镜具有场深大(三百倍于光学显微镜)的特点,适用于粗糙表面和断口的分析观察。对20. 扫描电镜试样制备时要进行镀膜处理,其目的是避免在电子束照射下产生点和积累,影响图像质量,并可防止试样的热损伤。对21.二次电子像主要反映试样表面的形貌特征,像的衬度是形貌衬度,图像中凸尖和台阶边缘处二次电子发射最多,亮度最高;平坦部或凹谷发射的二次电子最少,亮度最暗。对22.能谱仪分析的元素范围广(4Be92U)、探测极限小、分辨率高,适用于精确的定量分析。错三、单项选择题3. X射线衍射仪的核心部件是 B A. X射线管;B.测角仪;C.探测器;D.高压电源。9. 分辨率(分辨本领)是电磁透镜的最重要的性能指标,它受到衍射效应、球差、色差和轴上像散等因素的影响,其中衍射效应和 A 是最主要的。A.球差;B.色差;C.轴上像散;D.畸变。11.无机非金属材料大多数为多相、多组分的非导电材料,直到60年代初产生了 D 后,才使无机非金属材料的薄膜制备成为可能。A.超薄切片方法;B.电解抛光方法;C.化学抛光方法;D.离子轰击减薄方法。12.适合透射电镜观察的试样是厚度小于 C 的对电子束“透明”的试样。A.50nm;B.100nm;C.200nm;D.500nm。四、多项选择题1. X射线衍射分析在无机非金属材料研究中可用于 ABCD 。A.物相分析;B.测定晶格常数;C.判定晶体的对称性和取向;D.测定晶粒大小。3. 在X射线衍射研究晶体的方法中,用于研究单晶体的方法是 AB A.劳厄法;B.转动晶体法;C德拜法;D.衍射仪法。7.在电子与固体物质相互作用中,从试样表面出射的电子有 ACD A.背散射电子;B.透射电子;C.二次电子;D.俄歇电子。11.多原子分子的振动模型的基本类型可分为:A,CA.伸缩振动;B.扭动;C.弯曲振动;D.摇摆。12. 伸缩振动的基本类型有:A,DA.对称伸缩振动;B.剪式弯曲振动;C.旋转振动;D.非对称伸缩振动。13. 多原子分子的弯曲振动可分为:A,B,C,DA.变形或剪式振动;B.摇摆或面内弯曲;C.摇摆或面外弯曲;D.扭动。16. 影响红外光谱图中谱带位置的因素有:A,B,C,DA.诱导效应;B.键应力;C.氢键;D.物质状态。17. 影响红外光谱图中谱带强度的因素有:A,CA.偶极矩的变化;B.物质的状态;C.能级的跃迁几率;D.键应力。22. 影响红外分光光度计测量准确度的主要因素有:A,B,CA.噪音;B.杂散光;C.仪器的动态响应;D.扫描速度。24. 光电子能谱测量中化学位移的解释有以下模型:A,B,CA.离子型化合物静电模型;B.分子电位电荷热能模型;C.等效原子核心等价电子壳层模型;D.振动模型。25. 光电子能谱仪由以下部分构成:A,B,DA.激发光源;B.光电子能谱分析器;C.电子倍增管;D.测试和记录系统。26. 以下选项中属于光电子能谱粉末试样制备方法的有:A,CA.压片法;B.点焊法;C.溶剂处理法;D.冷凝法。27. 光电子能谱可用于以下方面的分析:A,B,DA.化学分析;B.固体表面相的研究;C.形貌分析;D.化合物结构的鉴定。28. 俄歇电子能谱可以用于以下
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