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文档简介

1. RE_TEST(Radiated emission limits)Frequency(MHz)Limit(dBV/m)Comment120.11008043.50167.90627343.50361.83424946.00723.59609246.00在361.8,723.6MHz频点超过指标要求。2. 依据PCB布局,芯片手册,天线原理追踪原因如下:(1) 电源部分;(2) 芯片(ADM2582E)PCB布局;3. 测试验证及解决方案(1) 验证是否是AP辐射超限:抽样1.测试数据如下:抽样2.测试数据如下:抽样3.测试数据如下:测试过程中,AP烧录出厂程序,接通电源利用天线进行测试无线接收,可以测试到抽样的三个AP在362MHZ附近产生了杂散信号,断开电源即AP不工作时测试不到上述强度的杂散信号。(2) 电源部分影响及解决方案直流48V供电测试 AC-DC_48V测试 上述测试分别采用直流和AC-DC_48V电源分别给AP供电,用频谱仪外接天线,在AP电路板周围逐步移动,频谱仪设置参数不变情况下,AP没有辐射杂散信号。直流48通过经N1给AP供电测试 AC-DC_48V通过N1给AP供电测试 直流48V及AC-DC_48V两种方式都给N1供电,再经网线给AP供电,测试过程中都能在362MHz附件收到杂散信号。 芯片周围布局影响验证及解决方案排除电源(用直流电供电)影响基础上,验证芯片布局影响:用频谱仪外接天线,在AP电路板周围逐步移动,频谱仪设置参数不变情况下,在芯片ADM2582布局区域,接收到杂散信号,和FCC-part15测试到频点一致。362MHZ频点杂散信号在芯片ADM2582区域进行屏蔽处理后再进行接收测试,取样的两块儿AP已经得到改善即杂散已经被衰减掉。测试数据如下: 芯片屏蔽后测试数据该方法在找EMI源头非常

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