数字实验一TTL门电路的逻辑功能测试实验报告.doc_第1页
数字实验一TTL门电路的逻辑功能测试实验报告.doc_第2页
数字实验一TTL门电路的逻辑功能测试实验报告.doc_第3页
全文预览已结束

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

学生实验报告院别电子信息学院课程名称 电子技术实验班级无线技术12实验名称实验一TTL门电路的逻辑功能测试姓名欧迪实验时间 2014年4 月24 日学号33指导教师 文毅报 告 内 容一、实验目的和任务1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。2.了解测试的方法与测试的原理。二、实验原理介绍实验中用到的基本门电路的符号为：在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。三、实验内容和数据记录1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86。A B L000011101111A B L000010100111 74LS08 74LS32AB0110A B L001011101110 74LS04 74LS00A B L001010100110 74LS02 A B L000011101110 74LS86四、实验结论与心得只要认真一点，识别元件管脚分布，就能完成实验。成绩教师签名 批改时间年 月 日
人人文库> 全部分类> 应用文书 > 作业报告

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论