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文档简介

班级： 姓名: 学号： 实验报告（一）TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试1 测试TTL集成与非门74LS20的逻辑功能，测试结果记录如下表：输 入输出AnBnCnDnYn111101111011110111102. 74LS20主要参数的测试ICCL（mA）ICCH（mA）Iil(mA)IOL（mA）NO=3. 电压传输特性测试Vi(V)00.40.70.91.01.11.21.31.42.03.04.0VO(V)4. 画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。实验报告（二）CMOS电路1用所给的集成电路（CD4007）实现F=,将实验结果填入真值表中，并测出高、低电平（真值表自拟，测试步骤自拟）。2. 用所给的集成电路实现F=（真值表自拟，测试步骤自拟）。3. 用所给的集成电路，构成图2-2反相器。（a）测最大灌电流IOL(VOL=0.1V,接通图2-2中的虚线框)。（b）测最大拉电流IOH(VOH=4.9V,断开虚线框，接通虚线框。4. 构成如图2-3所示的反相器，测最大灌电流IOL。实验报告（三）组合逻辑电路实验分析与设计(1) 写出由与非门组成的半加器电路的逻辑表达式(2) 根据表达式列出真值表，并画出卡诺图判断能否简化ABZ1Z2Z3SC00011011实验：1. 测试由与非门组成的半加器电路的逻辑功能ABSC000110112. 测试用异或门74LS86和与非门74LS00组成的半加器的逻辑功能ABSC00011011实验报告（四）集成译码器及其应用174LS138功能验证结论；2. 逻辑函数F的真值表；3. 用74LS138和74LS20实现下述逻辑函数，画出原理图并接线测试列出真值表。 L（A，B，C）=AB+AC+BC；实验报告（五）数据选择器功能测试及其应用电路的设计与调试1. 74LS151功能测试结论；2. 74LS151按规定连接的逻辑函数发生器数据及功能实验报告（六）触发器及其应用1.测试JK触发器的逻辑功能JKCLKQ*Q=0Q=10001100101101001101101102.测试D触发器的逻辑功能DCLKQ*Q=0Q=100110101103. 说明触发器的触发方式实验报告（七）计数器及其应用1. 画出实验线路图，记录、整理实验现象及实验所得的有关波形。对实验结果进行分析。2. 总结使用集成计数器的方法。实验报告（八）555定时基础电路及其应用1 定量绘出单稳态触发器观测到的波形。2 定量绘出多谐振荡器观测到的波形。实验报告（九）移位寄存器及其应用1.总结移位寄存器74LS194的逻辑功能并写入表格功能总结一栏中CPCRS1S0SRSLQ3 Q2 Q1 Q0功能0111101010111010101011011100110111
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