材料分析方法重点.docx

X射线基本知识:1. 产生条件:3点2. 射线管构造: 阳极靶 阴极灯丝 聚光管3. X射线的本质: 电磁波，波粒二象性两个式子4. X射线谱：1） 连续X：影响因素：管电压，管电流，阳极原子序数短波限的解释2） 特征X：产生原因；莫塞来定理；KK意义5. 相互作用1） 散射相干散射：概念非相干散射：概念，为什么不相干2） 透射与吸收：线吸收系数，意义 质量吸收系数，意义，与波长、原子序数的关系 吸收限，吸收谱3） 光电效应：对吸收限的解释 荧光X射线概念4） 俄歇效应X射线衍射方向：1. 劳埃方程的缺点：繁琐2. 布拉格方程: 推导 是必要条件，不是充分条件，因为还有系统消光 讨论，d：xx一定，另两个的变化，说明什么问题3. X射线衍射法：3种，注意区别：单晶/多晶，变/不变，变/不变4. 倒易空间：倒易矢量方向和长度 会画倒易点阵：Fcc/Bcc 注意消光5. 爱瓦尔德球X射线衍射强度1. 知道有几个因子，都叫什么，与什么有关2. 基本思路：一个电子散射（极化因子）一个原子（原子散射因子）一个晶胞（结构因子）3. 多重性因子：100等同晶面有多少种？四方晶系的多重性因子4. 角因素：包括极化因子和洛伦兹因素洛伦兹因素：衍射的积分强度（半高宽，最高峰） 参加衍射的晶粒数目 单位弧长的衍射强度5. 吸收因子6. 温度因子圆柱试样（德拜法）的5.6因子抵消重点掌握结构因子，多重性因子和角因子的物理意义，什么叫温度因子、吸收因子德拜谢乐照相法1. 底片安装方法：3种，偏装法最好2. 选材阳极靶：要求不激发二次X射线Z阳Z样+1滤波片：要求滤过除K的x射线（吸收限与特征X射线波长关系）Z样40,Z阳=Z样-2管电压：3-5倍K系临界激发电压特征谱线与连续谱线比值最大曝光时间3. 误差来源与修正试样吸收误差底片收缩误差4. 立方晶系德拜像的标定过程XRD构造1. 测角仪: 光源与计数管保持角度1:2联动2. 狭缝有哪些，作用是什么X射线物相分析1. 定性分析为什么能够实现定性分析？两点1.每种结晶物质都有其特定的结构参数。 每种物质的多晶体衍射线条数目、位置以及强度是 该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。 2.多相物质的衍射花样互不干扰，相互独立，只是机械地叠加。索引：两种方法：数字，字母分析过程：谱2sinsin平方sin平方比值确定结构（sc，bcc，fcc注意前两者的区分:第一峰是最强锋则为bcc，第二峰为最强锋则为sc）sind，hkla2. 定量分析：4种方法：外标，内标，参比，直接对比3. 点阵参数的测定：3种方法：图解外推，最小二乘（最准），标样对比宏观应力测定1. 三种宏观应力，是什么，如何影响X谱线2. 宏观应力测定的原理和过程电子显微学1. 像差：3种，成因，球差不能被消除 2. 分辨率：2方面决定，与孔径半角关系衍射效应球差3. 景深和焦长概念 TEM1. 结构：3部分其中电子光学系统，3部分（从上到下位置）3种电磁透镜，各自作用2. 样品台、电子枪、消像散器、偏转线圈3. 3种光阑：位置、作用（聚光镜光阑3个作用，物镜光阑3个作用，选取光阑一个作用） 4. 点分辨率，晶格分辨率，放大倍数电子衍射1. 电子衍射和x射线衍射的区别：4点2. 倒易点阵扩展：2/t3. 基本公式：rd=L=K4. 选区电子衍射步骤：3步5. 衍射图样标定：测RR平方R平方相除确定结构hkl任意hkl注意自洽求晶带轴测Rd+hkla衍射衬度成像1. 质厚衬度：与厚度t和原子序数Z有关2. 衍射衬度概念3. 薄膜样品制样过程：3步4. 明场暗场中心暗场成像操作5. 消光距离概念 6. 衍射运动学两个基本假设两个途径两个近似方法等厚条纹，随t改变；等倾条纹，随s改变7. 应变场衬度（位错） SEM1. 电子与物体的几种作用产生的信号，产生原因，强度取决于，应用5种电子：背散射（分辨率小于二次），二次（不能用于成分分析），吸收，透射，俄歇 特征X2. SEM结构：3部分其中电子光学系统：3部分其中电磁透镜作用不是放大成像，而是聚焦3. 分辨率的影响因素3个，测量方法4. 放大倍数5. 二次电子成像原理