X荧光光谱仪原理

X 荧光光谱仪原理当能量高于原子内层电子结合能的高能 X 射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-1210-14s ，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁.当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关.当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生 X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X 射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。K 层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为 K 系谱线：由 L 层跃迁到 K 层辐射的 X 射线叫 K 射线，由 M 层跃迁到 K 层辐射的 X 射线叫 K 射线同样，L 层电子被逐出可以产生 L 系辐射。如果入射的 X 射线使某元素的 K 层电子激发成光电子后 L 层电子跃迁到 K 层，此时就有能量 E 释放出来，且 E=EK-EL，这个能量是以 X 射线形式释放，产生的就是 K 射线，同样还可以产生 K 射线，L 系射线等。莫斯莱（H.G.Moseley）发现，荧光 X 射线的波长 与元素的原子序数 Z 有关，其数学关系如下：=K（Z-S）-2 这就是莫斯莱定律，式中 K 和 S 是常数，因此，只要测出荧光 X 射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光 X 射线定性分析的基础.此外，荧光 X 射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。X 射线的产生利用 X 射线管，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极（对阴极）从而产生 X 射线。从设计上分为横窗型（side window type）和纵窗型（end window type）两种 X 射线管，都是设计成能够把 X 射线均匀得照射在样品表面的结构。X 射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极（也叫做：靶材）则多使用是钨（W） 、铑（Rh） 、钼（Mo） 、铬（Cr）等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。如何利用荧光 X 射线进行定量分析在包含某种元素1的样品中，照射一次 X 射线，就会产生元素1的荧光 X 射线，不过这个时候的荧光 X 射线的强度会随着样品中元素 A 的含量的变化而改变。元素 1的含量多，荧光X 射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光 X 射线强度，就可以推算出样品中元素 A 的含量。利用荧光 X 射线进行定量分析的时候，大致分为 3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法） 。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光 X 射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光 X射线，从而得到浓度值。另一个方法是理论演算的基础参数法（FP 法） 。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光 X 射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光 X 射线强度的组成一致。NBS-GSC 法也称作理论 Alpha 系数法。它是基于荧光 X 射线激发的基本原理，从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征 X 射线荧光强度的。基于此再计算 Lachance 综合校正系数，然后使用这些理论 系数去