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文档简介

一. 利用一维驻相法推导天线的远场方向函数与柱面波谱,的关系式。先计算再计算所以同理可得:二分别采用直接求和与快速Fourier变换(FFT)两种方法计算出,并与理论计算结果比较,并比较两种方法所用时间。1.已知求 直接积分: (1-1)当很大时,取时, 故近似认为当时,即可以近似认为f(x)是一个谱宽有限得函数,带限为2,取,则由取样定理有令, 令则有 () (1-2)其中: (1-3)取N=2048,则1024*0.0055,2.附Matlab程序代码:clear allW=100;dx=1/(2*W);N=2048;n=0:N-1;w1=n./(N*dx);%理论值w=0:.001:WticFP=2./(1+(2*pi*w).2);toc%直接求和ticfor n1=0:N-1 FS1=0; for k=0:N-1; FS2=dx.*exp(-abs(k-N/2).*dx).*exp(i*2*pi*k*n1/N); FS1=FS2+FS1; end FS(1,n1+1)=(-1)n1.*FS1;endFS=abs(FS);toc%FFTk=0:N-1;w_=n./(N*dx);Fk=dx.*exp(-abs(k-N/2).*dx);ticFF=fft(Fk,N);FF=abs(FF);tocfigure(1)subplot(1,2,1)plot(w,FP,-r,w_,FS,og);grid on;title(求和结果与理论结果)legend(理论结果,直接求和计算结果)axis(0 10 0 5);subplot(1,2,2)plot(w,FP,-r,w_,FF,og);grid on;title(FFT计算结果与理论结果)legend(理论结果,FFT计算结果)axis(0 10 0 5);Matlab仿真图如下:Elapsed time is 0.093203 seconds.(理论值计算见式1-1)Elapsed time is 36.431527 seconds. (直接求和计算见式1-2)Elapsed time is 0.126736 seconds. (FFT见式1-3)3.计算结果分析:由计算结果图可以看出:用直接求和计算和FFT算法得到的结果均与理论结果吻合很好,而且几乎重合;由计算所用时间可以得出:FFT算法比直接求和法具有明显的优势,当N=1024时,直接计算需要N=1 048 576次乘法,而快速傅里叶变换(FFT)算法只需要次乘法,算法次数减小,自然能节约系统资源缩短计算时间,从而比直接求和法更实用。3. 实验报告1.实验目的通过软件计算角锥喇叭天线的理论E面和H面归一化远场方向图,并与实测结果进行比较。2.实验原理如下图所示,该实验所使用的天线是一个标准的角锥喇叭。角锥喇叭模型图近场天线测量系统图测量系统原理图显示,信号源输出的信号直接进入定向耦合器,定向耦合器将信号分为两路,一路作为参考信号进入网络分析仪,另一路进入待测天线;探头测得的天线辐射的信号幅值传入网络分析仪,网络分析仪将两者的比值送入计算机进行分析计算,并画出方向图;驱动器出来的五条线路用来控制探头和天线的移动。理论计算公式:角锥喇叭E面方向图和H面方向图分别为对应的E面扇形喇叭的E面方向图和H面扇形喇叭的H面方向图。E面方向图: 其中: H面方向图: 其中: 3.实验仪器PC机,FEKO软件,近场天线测量设备4.实验结果与分析图1为FEKO软件中建立的模型。图2和图3分别显示角锥喇叭天线E面H面的软件计算和测量值。图1 FEKO中的天线模型图2 E面归一化远场方向图图3 H面归一化远场方向图由图中可以看出,理论计算值和实测值在主瓣方向都有较好的匹配,但在主瓣之外,差距较为明显。误差分析:误差产生的原因可能有:1. 探头并非理想的无反射,它的存在必然存在散射产生耦合,及时考虑探头补偿修改公式也只是尽可能逼近。 2.抽样取值时的间隔和对于所取值的取舍必然丢掉一些信息,扫描面被人为截断因为无限大是不可能的,而这又必然对于实际值的提取造成一定的偏差。 3.由于机械结构的问题可能导致探头与AUT并非完全对准,因而存在一小角度的偏差,且扫描面上探头不能进行理想的精确定位。 4.尽管暗室布满吸波材料也不能保证没有散射。 5.系统误差。5.总结通过本学期的初步学习,我了解到近场天线测量这门课程是一门很实用的技术课,它其实是集电磁场与微波、信号处理、计算机matlab程序、c语言程序、机械结构等许多相关学科为一体的一门综合性学科,课上讲授的相关内容只是很粗浅的入门知识,要想今后在近场测量领域有所突破,我们还得要多看看这方面相关的参考资料,多动手去做相关的天线测量项目。当然还得具备扎实的数学功底,同时还要注重电磁理论与天线理论的积累以及相关交叉学科的学习。近场天线测量是一门实践性很强的一门课程,课程安排除了学习一些相关的理论知识,还参观了微波暗室及测量系统,这使得我们对这一块有一个比较清晰的轮廓。这样有助于我们对本门

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