DS610 DIODE SORTER使用说明.doc

DS-610DIODE SORTER使用说明前面板600系列按鍵使用說明EARTH 按键使用说明键盘是由25个按键以5x5方式组成。左边两列10个键为功能键。右边3列15个键为编辑用键。分别说明如下：1. 第 第 第 第 第一页 二页 三页 四页 五页此5个键为LCD显示画面选择键。按下此些键LCD则显示出相对应的页数画面。大部分的600系列测试机仅使用13页。一般而言，第一页为测试条件设定，第二页为分类条件设定，第三页为机械接口设定，第四页与第五页是在多个二极管测试时（如桥式整流子）使用。2. 编辑 0 1 9 输入 清除 要修改设定数据时请先按下所欲修改的画面页数键。然后按下编辑键。一个方块状闪动的光标会出现在该页的第一个可编辑字段。 若不更改此项数据，可按下输入键移到下一个字段或是按键可往回移一个字段。移到欲修改的字段，利用数字键输入新的数据。然后按下输入键即完成。若输入的数值超过允许之范围，则光标仍停在该字段，数据亦回复为旧数据让用户重新输入。若在按下输入键前想放弃所输入的新数据则可按下清除键该字段将回复为旧数据（并非清除为0）。3. 读取 储存用户所设定的数据是储存在一由电池供电之RAM内存，当电源关闭时，设定数据仍存在内存不会消失。除此之外系统另外提供一个EEPROM内存可储存多组设定数据。要将现在的设定数据储存到EEPROM时。请先按下储存键，LCD画面会自动切换显示第三页之数据。此时再按下编辑键，光标会出现在TYPE字段。输入所欲储存的组别号码，然后按下输入键。现在的设定数据将全部存入该组别号码记忆内。若该组别号码内已有数据则旧数据会被新数据所取代。欲读出所储存数据，请先按下读取键，LCD画面会自动切到第三页画面，再按下编辑键，光标会出现在TYPE字段，输入所欲读取的组别号码，然后按下输入键。现在的设定数据将被该组别号码内储存的数据所取代。4. 计数器 归零 各类别BIN累计的计数器可利用此键予以归零。归零时请先按下此归零键，然后再按输入键，所有的计数器都会被归零。5. 测试 测试1按下此键，测试机即以用户所设定的数据对待测物进行测试。测试读值与分类结果分别显示在LCD与LED上。由于这是手动触发测试，驱动机械接口的信号并不输出。600KEY1.0 二极管测试机DS-610可用来测试一般材料之二极管，可配合自动测试机械使用。测试项目包括VF、IR、IR。根据测试结果可分为七类（BIN BIN5，NOGO，CONTACT）。测试条件之设定由面板上的25KEY击键。资料在一16行*40字的背光LCD显示器，共有四个显示页：第一页为测试条件设定及测试结果显示；第二页为分类条件设定；第三页是与自动机械连接时之机械界面设定；第四页为指拨开关之功能设定说明。1.1 第一页画面如下： DIODE SORTER MODEL:DS-610W BIN TIME A C ( 1) ( 2) mS CONT. ( 3) ( 4) IF ( 5) A ( 6) mS VF ( 7)V POLAR ( 8) VRPULSE ( 9) mS VRT (10)V IRT (11)uA DIR (12) uA(13) mS DIRT (14)uA BIN1 BIN2 BIN3 BIN4 BIN5 NOGO (15) (16) (17) (18) (19) (20) （1） BIN：测试分类结果。 1 71：BIN15：BIN52：BIN26：NOGO3：BIN3 7：CONTACT（BAD CONTACT）4：BIN4（2） TIME：为测试总时间（依设定条件不同而异）（3） CONT A：在【AP，AS】测试点之接触阻抗。 0.000 4.000（4） CONT C：在【CP，CS】测试点之接触阻抗。 0.000 4.000（5） IF：测试VF顺向压降时所施加之电流源。0.010A 25.00A 此电源共有三档：1. .0100A .4000A2. .401A 4.000A3. 4.01A 25.00A（6） IF电流源脉波宽度。 0.1mS 9.9mS当IF电流大于10A时，脉波宽度最大不得超过2.0mS（7） VF：测得之VF读值。 0.000V 4.000V（8） POLAR：测得之待测物极性 1 2Polar显示1时极性方向为： Polar显示2时极性方向为： （9） VRPULSE：逆向漏电流测试时所施加之逆向电压源脉波宽度。 30.0mS 200.0mS（10）VRT：逆向漏电流测试时所施加之逆向电压源 0.00V 2200V（11）IRT：施加VRT（12）时测得之逆向漏电流读值 0.0000uA 9999uA电流读值共有四档：1. 0.000uA 4.000uA2. 4.001uA 40.00uA3. 40.10uA 400.0uA4. 401uA 9999uA（12）DIR：为IR上限值（仅符合第二页BIN1条件才会加测此项测试）0.000uA 9999uA（13）DELTA IR 测试时持续施加VRT电压的脉波宽度 20.0mS 200.0mS （14）DIRT：IR之测试读值IRDELAY-IR .0000uA 9999uA（15）（20）各类别个数计数器。除NOGO为5位数外，其余均为6位 000000 999999数。计数器只在由外部触发测试时才计数，由面板TEST键做手动测试时不计数。1.2 第二页画面如下： BIN1 BIN2 BIN3 BIN4 BIN5 POLAR ( 1) CONT. ( 2) VFL ( 3) VFH ( 4) IR ( 5) VRL ( 6) VRH ( 7) 第二页是分类件设定。分类的次序为BIN1、BIN2、BIN3、BIN4、BIN5。各项参数说明如下：（1）POLAR：极性测试方式，可分为三种方式 0 20：任一极性均可。1：单一极性。 2：单一极性。 （2）CONT.：在测试片【AP，AS】两端及【CP，CS】两端测得之接触 0.000 4.000阻抗上限值（3）VFL：VF下限值。 0.000V 4.000V（4）VFH：VF上限值。 0.000V 4.000V（5）IR：IR逆向漏电流上限值。 0.000uA 9999uA（6）VRL：测量逆向漏电流时所施加之逆向电压源下限值 0.00V 2200V此电压源共有三文件：1. 0.00V 40.00V2. 40.1V 400.0V3. 401V 2200V（7）VRH：测量逆向漏电流时所施加之逆向电压源上限值 0.00V 2200V（请参考第5页第(6)项）1.3 第三页画面如下：TYPE (0-9): ( 1) PHOTO START(0=LOW/1=HIGH) ( 2) SOLEN BIN1 BIN2 BIN3 BIN4 BIN5 NOGO CONTSHIFT ( 3) DRIVE ( 4) AUX ( 5) ON/OFF( 6) 0=ON 1=OFF 2=PULSE TIME PCS/SEC K/HOUR ( 7) mS ( 8) pcs ( 9) K CONTACT A CONTACT C (10) (11) 第三页为与机械连接设定：(1) TYPE：所有的设定值（第1 第4页）均储存在一由电池供电之 0 9内存，所以电源关闭后设定数据仍然保存着不会消失。另有一EEPROM内存可储存10组设定数据， 编号0 9。此10组数据可经由储存与读取两键来存入与读取。当储存或读取EEPROM内之设定数据时在此处输入编号。 (2) PHOTO START：可设定由自动机械的触发测试信号（SOT）之动作 0 1极性1：正缘触发 LOW HIGH0：负缘触发 HIGH LOW(3) SHIFT：可选择驱动器在测试后是否移位才动作。 0 30（0表示不移位。最大可移30位。）(4) DRIVE：可选择各BIN要去驱动哪个驱动器。（共有7个DRIVER 1 7可选择。）输出信号由测试机背板上之Interface接头输出（请参考附件：测试机接口连接电缆线）(5) AUX：另一组辅助驱动器输出。即每一个BIN最多可驱动2个驱动器 1 7（使用例：有的机械可能同时须要2个驱动信号，GOOD与POLARITY）。(6) ON/OFF：驱动器动作方式。 0 20：当分类到此BIN时驱动器动作。1：当分类到此BIN时驱动器不动作，非此BIN时则动作。2：脉冲式输出。（移位不得设为0。）(7) 机械触发测试周期时间。(8) 机械速度，每秒钟之支数。(9) 换算为每小时之数量。(10) CONTACT A：只有测试片【AP，AS】接触不良时之计数器。 000000 999999(11) CONTACT C：只有测试片【CP，CS】接触不良时之计数器。 000000 999999当测试片【AP，AS】，【CP，CS】皆接触不良时则判定为空料，分类到 CONTACT且计数器不计数。1.4第四页画面如下 SKIP:(0=ON 1=OFF) ( 1) DIPSW0-1=ON CALIBRATION ( 2) -8=ON KEY UNLOCK 第四页为指拨开关之功能设定说明：(1) SKIP： 0 10 = 禁止外部测试。（此时面板灯全亮）1 = 允许外部测试。(2) 指拨开关说明：LLCMKEYPC板（左边数来第1片）DIP SW1 有8个开关，其功能设定如下：（*为出厂时默认值）SW1-1 = ON ： 校正模式（执行仪器校正时用）。*SW1-1 = OFF ： 正常测试模式。*SW1-8 = ON ： 开放键盘设定功能。SW1-8 = OFF ： 锁住键盘。不允许修改规格。 校正程序 使用FLUKE 8060A电表A. 将电源关闭。B. 将LCMKEYPC板（左方数来第1片）DIP SW SW1-1、SW1-8置于ON之位置。C. 抽出VFISOPC板（左方数来第5片）以延长板连接。1. 开启电源，将第一页IF之设定值设为 2.000A。以数字电表测量TP1与AGND间之电压应为2.000V。否则调整VR7使电压读值为 2.000V 0.1%。2. 将数字电表移至TP2与AGND两点。将SW3-3、SW3-4置于ON之位置。调整VR8使TP2与AGND间之电压为0.000V。3. 将 SW3-3 置于ON之位置。SW3-4置于OFF之位置。调整VR6使TP2与AGND之读值为2.500V 0.1%。4. 观查面板LCD显示器VF之读值是否为2.000V。否则请调整ADC14A板（左方数来第3片）上的VR1使显示数值为2.000V 0.1%。5. 关闭电源，取出延长板。将VFISOPC板上SW3-3、SW3-4置于OFF之位置。并将此基板插回机架中。D. 将VRIRHIGHPC板（左方数来第7片）以延长板连接。* 危 险！ 注 意 高 压 * 1. 开启电源，将第二页BIN1之VRL设为2000V，VRH设为0。其他BIN之VRL与VRH均设为0。以数字电表测量TP1与AGND间电压应为2.000V。否则调整VR1使读值为2.000V0.1%。 2. 将第二页BIN1之VRL设为1000V，VRH设为0。其他BIN之VRL与VRH均设为0。调整VR2使VRTP与VRGND间之电压读值为1000V 0.2%。 3. 关闭电源，取出延长板。并将VRIRHIGHPC板插回机架插槽中。E. 将VRIRLOWPC板（左方数来第6片）以延长板连接。* 危险！ 注意高压*1. 打开电源。将第二页BIN1之VRL设为200.0V，VRH设为0。其他BIN之VRL与VRH均设为0。调整VR1使TP1与AGND间之电压读值为2.000V 0.1%。2. 调整VR2使VRTP与VRGND间之电压为 200.0V 0.2%。3. 将第二页BIN1之VRL设为 20.00V，VRH设为0。其他BIN之VRL与VRH均设为0。调整VR3使VRTP与VRGND间之电压读值为20.00V 0.2%。4. 关闭电源，取下延长板。并将VRIRLOWPC板插回机架插槽中。F. 将LCMKEYPC板上的DIP SW SW1-1置于OFF位置。打开电源。1. 取一10 0.1%精密电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将IF设定值设为 .2000A。脉波宽度设为 .3mS。按下测试键。观查LCD上的VF读值应在1.980V2.020V之间。2. 取一1 0.1%精密电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将IF设定 值设为2.000A。按下测试键。观查LCD上的VF读值应在1.980V2.020V之间。3. 取一0.1 0.1%精密电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将IF设定值设为20.00A。 按下测试键。观查LCD上的VF读值应在1.980V2.020V之间。4. 取一1G 0.5%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为2000V。IR设定值设为2.000uA。其他BIN之VRL与IR均设为0 将第一页之VRPULSE脉波宽度设为40mS。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在1.960uA2.040uA之间。5. 取一100M 0.5%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为2000V。IR设定值设为20.00uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。 观查LCD上的IRT读值应在19.60uA20.40uA之间。6. 取一10M 1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为2000V。IR设定值设为200.0uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在196.0uA204.0uA之间。7. 取一1M 0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为1000V。IR设定值设为1000uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在980uA1020uA之间。8. 取一100M 0.5%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为200V。IR设定值设为2.000uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在1.960uA2.040uA之间。9. 取一10M 1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为200V。IR设定值设为20.00uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在19.60uA20.40uA之间。10. 取一1M 0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为200V。IR设定值设为200.0uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在196.0uA204.0uA之间。11. 取一100K 0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为200V。IR设定值设为2000uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。 观查LCD上的IRT读值应在1960uA2040uA之间。12. 取一1K 0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。将第二页BIN1之VRL设定为9.00V。IR设定值设为5000uA。其他BIN之VRL与IR均设为0。按下测试键。观查LCD上的IRT读值应在8820uA9180uA之间。G. 校正完成。f7cc21eef4e312931ddcdc269b1ef802.pdf維明企業股份有限公司BS-612第 1 頁维明企业股份有限公司WEI MIN INDUSTRIAL CO., LTD.TEL:04-25344669 FAX:04-25342341AC VDC VSERIAL NO.: Program Revision:DS-610 Diode Tester Calibration RecordEquipment required:Humidity: 65%15%A.Temp.2521.Fluke 8060A Multimeter9.Standard Resistor100KW 0.1%, 1/2W2.Standard Resistor10W 0.1%, 4W10.Standard Resistor1KW 0.1%, 1/2W3.Standard Resistor1W 0.1%, 4W4.Standard Resistor0.1W 0.1%, 4W5.Standard Resistor1GW 0.5%, 5KV6.Standard Resistor100MW 0.5%, 2KV7.Standard Resistor10MW 1%, 1/2W8.Standard Resistor1MW 0.1%, 1/2WSample CheckItemSampleTest ConditionMin.Max.Check Value110W ResistorIF=0.2000A1.980V2.020V21W ResistorIF=2.000A1.980V2.020V30.1W ResistorIF=20.00A1.980V2.020V41GW ResistorVR=2000V ,IR=2.000uA1.960uA2.040uA5100MW ResistorVR=2000V ,IR=20.00uA19.60uA20.40uA610MW ResistorVR=2000V , IR=200.0uA196.0uA204.0uA71MW ResistorVR=1000V , IR=1000uA980uA1020uA8100MW ResistorVR=200.0V , IR=2.000uA1.960uA2.040uA910MW ResistorVR=200.0V , IR=20.00uA19.60uA20.40uA101MW ResistorVR=200.0V , IR=200.0uA196.0uA204.0uA11100KW ResistorVR=200.0V , IR=2000uA1960uA2040uA121KW ResistorVR=9.00V , IR=5000uA8820uA9180uACalibrationItemDescriptionTest PointTrimmerMin.Max.Factory Adjust1IF DAC Adj.PC5 TP1-AGNDPC5-VR71.998V2.002V2VF Buffer Offset Adj.PC5 TP2-AGNDPC5-VR80.000V0.001V3VF Buffer Gain Adj.PC5 TP2-AGNDPC5-VR62.497V2.503V4ADC Adj.PC3 DisplayPC3-VR11.998V2.002V5HV DAC Adj.PC7 TP1-AGNDPC7-VR11.998V2.002V6VR Adj.PC7 VR-VRGNDPC7-VR2998V1002V7LV DAC Adj.PC6 TP1-AGNDPC6-VR12.002V2.002V8200V Adj.PC6 VRTP-VRGNDPC6-VR2200.4V200.4V920V Adj.PC6 VRTP-VRGNDPC6-VR320.04V20.04VCheck By: Date:Cal. By:Date: DIODE TESTER MODEL：DS-610 BIN1 BIN2 BIN3 BIN4 BIN5 NOGO CONTACT 132 第一頁 第四頁6549870清除輸入測試 1測試編輯儲存讀取 計數器歸 零 第五頁 第三頁 第二頁WEI MIN INDUSTRIAL CO., LTD.前面板1DRIVER19DRIVER GROUND2DRIVER210DRIVER COM. +24V3DRIVER3114DRIVER4125D