FAI及CPK基础知识 华冠品保部

2010CymMetrik yyyy mm ddv r 1 FAI CPK基礎知識 華冠品保部 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 3 規格對品質的意義 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 4 大綱 1 FAI簡介及製做2 CPK概念介紹3 CPK製做 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 5 基本概念 FAI及CPK意義 FAI 全尺寸測量報告 CPK 制程能力指數 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 6 FAI製做流程 看明白圖紙 將所有的尺寸逐 編號找出該客戶的表樣 輸入圖紙尺寸及公差草測所有尺寸 檢查是否有錯 正式輸入電腦檔 檢查電腦檔公式顯示情況 再檢查圖面公差尺寸 正式輸入電腦檔 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 7 FAI格式 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 8 什么是Cpk Cpk的定义 制程能力指數 Cpk的意义 制程水准的量化反映 用一个数值来表达制程的水准 1 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好 可靠性水平高的产品 2 制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法 其实质作用是反映制程合格率的高低 和Cpk相关的几个重要概念1 单边规格 只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格 如考试成绩不得低于80分 或浮高不得超过0 5mm等 此時數據越接近上限或下限越好 双边规格 有上下限與中心值 而上下限與中心值對稱的规格 此时数据越接近中心值越好 如標籤长规格60 0 2mm 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 10 USL Upperspecificationlimit 即規格上限LSL Lowspecificationlimit 即規格下限C 规格中心X X1 X2 Xn n平均值 n為樣本數 T USL LSL規格公差 n 1 和Cpk相关的几个重要概念2 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 11 什么是Ca 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 12 Ca等级评定及处理原则 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 13 Cp 制程精密度 CapabilityofPrecision Cp衡量的是 規格公差寬度 與 製程變異寬度 之比例 对于只有规格上限和规格中心的规格 对于只有规格下限和规格中心的规格 对于双边规格 3 s USL X Cpu 什么是Cp Cp等级评定及处理原则 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 15 Cpk Cp 1 Ca Cpk Cp Cpk是Cp和Ca的綜合表現 Cpk計算公式 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 16 Cpk計算公式 CpK值之計算式有兩種 B 單邊規格時 A 雙邊規格時 製程能力靶心圖 Ca好 Cp差 Cp好 Ca差 Cpk好 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 18 Cpk等級評定及處理原則 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 19 Cpk和制程良率換算 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 20 我們常用產品品質特性的常態分配與規格相比較 以決定產品的不良率 如右圖所示產品品質特性的常態分配 規格上限 USL UpperSpecificationLimit 規格下限 LSL LowerSpecificationLimit 落在規格上 下限外的斜線面積即為產品的不良率 StandardDeviationfrommean Cpk和制程良率換算 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 21 Cpk和制程良率換算 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 22 總結 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 23 Cpk的計算實例1 某工序的規格要求為10 0 1mm 實際測出50個樣本值如下 計算出該工序的Cpk 2010CymMetrik yyyy mm ddv r 24 X 10 036 s 0 027 Ca x C T 2 10 036 10 0 1 0 36 Cp 10 0 1 1