晶体光学-第六章系统鉴定

1,第六章 透明矿物的系统鉴定,2,偏光显微镜下对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名。透明矿物薄片的系统鉴定，一般要配合手标本观察。在系统测定光学性质之前，首先要观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、条痕、解理、断口、次生变化及共生组合等，并需了解矿物的野外产状。如经系统鉴定后，仍不能准确定出矿物名称，则需配合其他方法，做进一步鉴定。,3,一 系统鉴定的内容,（一）单偏光镜下的观察晶形 观察晶体的完整程度、结晶习性。根据各方向切面形态，初步判定晶体形状及可能属于那个晶系。解理 观察解理的完全程度，根据不同方向切面上的解理，判断解理的组数。如为两组解理，需要测定解理夹角。并尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。突起 观察矿片的边缘、糙面及突起的明显程度，结合贝克线移动规律确定其突起等级，估计矿物折射率的大致范围。颜色、多色性 观察矿片有无颜色，如有颜色，则观察有无多色性及多色性变化情况。并在定向切片上测定多色性公式及吸收性公式。此外，还应观察有无包裹体，包裹体的排列与分布情况。有无次生变化，变化情况及变化产物。,4,（二）正交偏光镜下的观测,干涉色 观察矿片的最高干涉色级序，在平行光轴或平行光轴面的切片上详细测定干涉色级序。双折率 根据矿片的最高干涉色级序（光程差）、薄片厚度，确定双折射率值。消光类型 根据不同方向切片上的消光情况，确定矿物的消光类型。消光角 斜消光的矿物，在定向切片上测定消光角。延性符号 对一向延长的矿物，测定其延长方向的光率体椭圆半径名称，确定延性符号。双晶 观察矿物有无双晶，确定双晶类型。,5,（三）锥光镜下的观察根据有无干涉图区分均质体与非均质体。根据干涉图特征确定轴性（一轴晶或二轴晶 ）、切片方向。测定光性符号、光轴角大小。,6,二、定向切片的特点及用途,上述光学性质中，通常都需要在定向切片上测定（如多色性公式、干涉色级序、双折率大小、消光角大小、光轴角大小等）。常用的定向切片有垂直光轴切片和平行光轴（或平行光轴面）切片。,7,（一）垂直光轴切片特点：1、光率体切片为圆切面，半径等于No或Nm；2、具多色性的矿物，单偏光镜下不显多色性；3、正交偏光镜下全消光；4、锥光镜下显垂直光轴切片干涉图。可以测下列光学性质：1、No或Nm的颜色及主折射率值； 2、确定轴性、测定光性符号；3、二轴晶估计2V大小。在薄片中如果找不到垂直光轴的切片，一轴晶可以用近于垂直光轴的切片代替，二轴晶可以用垂直光轴面的斜交光轴切片代替。,8,（二）平行光轴或平行光轴面的切片椭圆切面（一轴晶Ne、No；二轴晶Ng、Np）特征：1 单偏光镜下多色性最明显；2 正交偏光镜下干涉色级序最高；3 锥光镜下显瞬变干涉图。可测下列光学性质：1 观察多色性的明显程度，测定Ne、 No或Ng、Np的颜色；2 测定主折射率值Ne、No或Ng、Np，某些矿物观察闪突起，3 测定最高干涉色级序及最大双折率值；4 测定消光角（适用于单斜晶系，Nm与Y晶轴一致的矿物）。,9,（三）二轴晶垂直Bxa的切片,正光性测定Nm、Np的大小和颜色，负光性测定Nm、 Ng的大小和颜色。测定矿物的轴性、光性符号和2V角的大小。（四）二轴晶垂直Bxo的切片正光性测定Nm、Ng的大小和颜色，负光性测定Nm、 Np的大小和颜色。测定矿物的轴性、光性符号和2V角的大小。,10,透明矿物薄片系统鉴定的程序,（一）区分均质体与非均质体均质体矿物各个方向的切片，在正交偏光镜下均为全消光，锥光镜下无干涉图。非均质体矿物只有垂直光轴的切片在正交偏光镜下全消光，其他方向切片四次消光，并产生干涉色；在锥光镜下产生各种干涉图。,11,（二）均质体的鉴定在单偏光镜下观察：晶形、解理、颜色及突起等级，包裹体及次生变化特征。（三）非均质体的鉴定单偏光镜下观察：晶形、解理、测定解理夹角、颜色、突起等级、包裹体特征等；正交偏光镜下观察：消光类型、消光角、延性符号、双晶类型等；,12,一轴晶矿物 选择一个平行光轴的切片，在正交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率。在单偏光镜下测定多色性公式及吸收性公式，观察有无闪突起现象。二轴晶矿物 选择一个平行光轴面的切片，在正交片光镜下测定最高干涉色级序，最大双折率消光角大小（单斜晶系，NmY轴）。确定Ng与Np的方向。在单偏光镜下观察多色性、吸收性及闪突起现象。并结合垂直光轴切片上观察的N颜色，写出多色性公式和吸收性公式。,13,实验