华为耳机外观检验标准.doc

文档名称文档密级华为耳机外观检验标准1 检验环境、要求：1.1 温度、湿度：温度，15-35；湿度，20%-75%。1.2 距离人眼与被测物表面的距离为300mm-350mm 1.3 位置 初始时，产品与桌面成45度，检视角度垂直于产品检视面，随后产品上下左右各转动45度. 1.4 照明。冷白荧光灯（光源在检测者正上方），光照度为700-1000 Lux 1.5 检视时间外观表面标准检视时间为105S。允许最长检视时间15S。在这15S内缺陷仍不可见，则此检视件视为合格. 建议一级面检视时间为7s，二级面检视时间为5s，三级面检视时间为3s。1.6 检视人员要求检视人员视力需在1.0以上（含矫正视力）1.7 检验工具：直尺/卷尺，测试工装，菲林片，塞规。2 缺陷代码表代码名称（单位）代码名称（单位）N数目（个）D直径(mm)L长度(mm)H深( 或高)度(mm)W宽度(mm)DS距离(mm)S面积(mm2)3 缺陷总数要求单一零部件每个面允许有1个允收缺陷种类，但色差等缺陷不计入种类统计。A类标准外观总缺陷不超过2个，B类标准外观总缺陷不超过3个。4 终端 耳机产品外观检验标准外观不良项A级标准B级标准备注同色点D0.25,N2,DS15D0.30,N2,DS15（1）两个及两个以上的点缺陷之间距离不能小于15mm；（2）0.1D0.15缺陷点的数量N3时定义为麻点。异色点D0.20, N2,DS15D0.25, N2,DS15麻点单位面积（100mm2）表示内N=3时允许有1处，大于3时不允许。在10mm10mm的单位面积内，D0.1的缺陷点的数量N3则不计。单位面积（100mm2）表示内N=3时允许有1处，大于3时不允许。在10mm10mm的单位面积内，D0.1的缺陷点的数量N3则不计。细划伤耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键L3.0,W0.05, N1耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键L3.0,W0.10, N1（1）当w0.02mm时，细划伤忽略不计；（2）划伤之间距离不能小于15mm；当碰伤以点状形式存在时，以点缺陷规格要求。插头、插头端子L1.0,W0.05, N1插头、插头端子L1.0,W0.10, N1线缆L5.0,W0.15, N3线缆L10.0,W0.15, N3硬划伤耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键不允许耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键不允许插头、插头端子不允许插头、插头端子不允许线缆L5.0,W0.10,N1线缆L5.0,W0.10, N1压痕（线缆）点状D0.6,DS25,N3点状不管控/线状L3,W1.0,DS25,N2线状不管控扎带痕允许但需依据签样。扎带痕允许但需依据签样。修饰不良（合模线、毛边等）1.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体：H0.1且不刮手2.插头外模壳/SR（老鼠尾）：H0.151.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体:H0.1且不刮手2.插头外模壳/SR（老鼠尾）：H0.15/脏污不可擦除脏污：不允许可擦除脏污：脏污比例5%(抽检比例) 不可擦除脏污：不允许可擦除脏污：脏污比例15%(抽检比例)/断裂、变形、生锈、氧化不允许不允许如插头、PIN针等色差参照ID签样或限度样参照ID签样或限度样/粗细不均（印刷或镭雕）|W1- W 2|0.1W1，即对标准W1允许的文字的不均匀度为10%（W1为设计尺寸，W2为实际尺寸）/图文倾斜倾斜不超过1.5度/其他缺陷若有争议，可参照签样。/4.1 终端耳机整机外观检验要求4.1.1 间隙要求：A类标准B类标准备注耳塞胶套与耳塞骨架（不含美工间隙）0.15mm0.20mm不能看到喇叭缺口耳塞胶套与耳塞骨架台阶0.15mm0.20mm测量时耳塞与眼睛在同一高度，耳塞背部(L或R一面)正对眼睛。耳塞上下壳0.15mm0.20mm/咪壳上下壳0.15mm0.20mm/咪壳与SR（老鼠尾）0.20mm0.25mm测量时耳麦正常放置在水平桌面上插头注塑外模与连接器0.15mm0.15mm适用于20pin插头耳机4.1.2 段差要求：A类标准B类标准备注装配0.10mm0.20mm软胶塞比耳机胶塞座直径大超声波(高度差)0.20mm0.20mm/溢胶（高度差）0.10mm0.10mm