超声波探伤论文.doc

目录第一章 器材选定设计1.1探伤仪器选择 041.2探头选择 041.3耦合剂的选择 05第二章 探测工艺设计2.1探测时间的选择 062.2探测方法的选择 062.3探测方向的选择 062.4扫查方式 072.5扫描速度 082.6声能损失差的测定 08第三章 缺陷回波评价3.1缺陷种类判别 103.2缺陷位置测定 103.3缺陷大小测定 123.4影响超声波探伤的主要因素12第四章 工艺验收和质量评级4.1焊缝质量评级 144.2工艺验收 144.3焊缝超声波探伤报告 154.4距离波幅曲线的绘制 154.5缺陷检测记录 16第五章 锻件超声波探伤5.1锻件概述 175.2轴类锻件超声波探伤 175.3饼类锻件超声波探伤及报告17第六章 设计小结 18参考文献 19第一章 器材选定设计1.1 探伤仪器选择超声波探伤仪是超声波探伤的主体设备，它的作用是产生点振荡并加于换能器上，激励探头发射超声波，同时将探头送回的电信号进行放大，通过一定的方式显示出来，从而得到被探工件内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。目前国内外探伤仪种类繁多，性能各异，探伤前应根据探测要求和现场条件来选择探伤仪。一般根据以下情况来选择仪器：（1）对于定位要求高的情况，应选择水平线性误差小的仪器。（2）对于定量要求高的情况，应选择垂直性好，衰减器精度高的仪器。（3）对于大型零件的探伤，应选择灵敏度余量高，性噪比高，功率大的仪器。（4）为了有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷，应选择盲区小，分辨力好的仪器。（5）对于室外现场探伤，应选择重量轻，荧光屏亮度好，抗干扰能力强的仪器。1.2 探头选择超声波探伤中，超声波的发射和接收都是通过探头来实现的。探头的选择包括探头型式，频率，晶片尺寸和斜探头K值的选择。（1） 探头型式选择常用的探头形式有纵波直探头、横波斜探头、表面波探头、双晶探头、聚焦探头。纵波直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。如锻件、钢板中的夹层、折叠等缺陷。横波斜探头是通过波形转换来实现探伤的。主要用于探测语探测面垂直或成一定角度缺陷。如焊缝中的未焊透、夹渣、未融合等缺陷。表面波探头用于探测工件表面缺陷，双晶探头用于探测近表面缺陷。聚焦探头用于水浸探测管材或板材。（1） 探头频率选择超声波探伤频率在0.510MHz之间，选择范围大。一般选择频率时应考虑以下因素。 由于波的绕射，使超声波灵敏度约为/2，因此提高频率，有利于发现更小缺陷。 频率高，脉冲宽度小，分辨力高，有利于区分相邻缺陷。 由=arcsin1.22/D可知，频率高，波长短，则版扩散角小，声束指向性好，能量集中，由利于发现缺陷并对缺陷定位。 由N=D/4可知，频率高，波长短，近场区长度大，对探伤不利。 由 =C Fd f ，频率增加，衰减急剧增加。实际探伤中要全面分析考虑各方面的因素，合理选择频率。一般在保证探伤灵敏度的前提下尽可能选用较低的频率。对于晶粒较细的锻件，轧制件和焊接件，一般选用较高频率，对于晶粒大的铸件，奥氏体钢宜选用较低频率。（1） 探头晶片尺寸的选择探头圆晶片尺寸一般为1030mm，晶片大小对探伤也有一定影响。选择晶片尺寸要考虑以下因素。 由=arcsin1.22/D可知，晶片尺寸增加，半扩散角减小，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。 由N=D/4可知，尺寸增加，近场区长度迅速增加，对探伤不利。 晶片尺寸大，辐射能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。实际探伤中，探伤面积范围大的工件时，为了提高探伤效率宜选用大晶片探头。探伤厚度大的工件时，为了有效地发现远距离的缺陷宜选用大晶片探头。探伤表面不太平整，曲率较大的工件时，为了减少耦合损失宜选用小晶片探头。（2） 横波斜探头K值的选择在横波探伤中，探头的K值对工件探伤灵敏度、声束轴线方向、一次性声程由较大影响。在实际探伤中。当工件厚度较大时，应选用较小的K值，以减小声程过大，引起的衰减，便于发现深度较大处的缺陷。在焊缝探伤中，还要保证主声束能扫查整个寒风截面。对于单面焊根未焊透，还要考虑端角反射问题。1.3 耦合剂的选择耦合剂的作用在于排除探头与工件表面之间的空气，使超声波能有效地传入工件，达到探伤的目的。此外耦合剂还有减小摩擦的作用。一般耦合剂的选择应满足以下要求：（1） 能润湿工件和探头表面，流动性、粘度和附着力适当，不难清洗。（2） 声阻抗高，透声性能好。（3） 来源广，价格便宜。（4） 对工件无腐蚀，对人体无害，不污染环境。（5） 性能稳定，不易变质，能长期保存。第二章 探测工艺设计2.1探测时间的选择锻件超声波探伤应在热处理后进行，因为热处理可以细化晶粒，减少衰减。此外，还可以发现热处理过程中产生的缺陷。对于带孔、槽和台阶的锻件，超声波探伤应在孔、槽、台阶加工前进行。因为孔、槽、台阶对台阶不利，容易产生各种非缺陷回波。当热处理后材质减少较大且对于探测结果有较大影响时，应重新进行热处理。其它不同材质的材料，应根据其制作工艺来选择探测时间。而电渣焊热量大，应延迟一天再进行探测。2.2探测方法的选择对于材料中不同性质的缺陷危害不同，探伤要求和方法也不一样。对于堆焊层内的缺陷，一般采用纵波双晶直探头从堆焊层侧或母材侧进行探伤。利用纵波双晶直探头从堆焊层侧进行探测时，这是母材厚度T至少应为堆焊层厚度的两倍。从母材侧进行探测时，此时试块厚度与母材厚度只差不超过25mm。探测钢板时，一般采用多次底波反射法，即在示波屏上显示多次底波。这样不仅可以根据缺陷波来判定缺陷情况，而且还可根据底波衰减情况来判定缺陷情况。只有当板厚很大时，采用一次底波法或二次底波法。一次底波法示波屏上只出现钢板界面回波与一次底波，只记界面回波与底波B 之间缺陷波。复合材料探伤与一般钢板的探伤方法基本相同，常用单直探头或联合双直探头进行纵波探伤，探伤频率为2.55.0MHz，探头直径为2030mm。当从复合材料一侧探伤时，需根据复合界面反射波宽度L和底波B 高度来判别复合是否良好。若工件复合界面反射波宽度L 小于试块上的反射波宽度L ，且工件底波高于试块底波，则复合良好。当从母材探伤时，需要根据复合界面反射波S和底波B 高于试块中B ，则复合良好。而对于堆焊层与母材间的未结合缺陷的探测，一般采用纵波直探头从母材侧进行探测或采用纵波双晶直探头从堆焊层侧进行探测。实际探伤中，一般选择其中一种方法探测即可。直探头探测时，探头在工件母材侧进行扫查探测。纵波双晶直探头探测时探头在工件堆焊层侧进行探测，缺陷检出率高。2.3 探测方向的选择对于焊缝缺陷探测方向的选择如下：（1）纵向缺陷：为了发现纵向缺陷，常采用以下三种方式进行探测。a. 板厚T=846mm的焊缝，以一种K值探头用一、二次波在焊缝单面双侧进行探测。b. 板厚46T120mm的焊缝，以一种或两种K值探头用一次波在焊缝两面双侧进行探测。c. 板厚T100mm的焊缝，除以两种K值探头用一次波在焊缝两面双侧进行探测外，还应加用K1.0探头在焊缝单面双侧进行串列式探测。（2）横向缺陷：为了发现横向缺陷，常采用以下三种方式探测。a. 在已磨平的焊缝及热影响区表面以一种（或两种）K值探头用一次波在焊缝两面作业正、反两个方向的全面扫查。b. 用一种（或两种）K值探头的一次波在焊缝两面双侧作斜平行探测。声束轴线与焊缝中心线夹角小于10 。c. 对于电渣焊中人字型横裂，可用K 探头在45 方向以一次波在寒风两面双侧进行探测。2.4扫查方式（1）锯齿形扫查：探头沿锯齿形路线进行扫查。扫查时，探头要作10 15 转动，这是为了发现与焊缝倾斜的缺陷。此外，每次前进齿距d不得超过探头晶片直径。这是因为间距太大，会造成漏检。（2）左右扫查和前后扫查当用锯齿形扫查发现缺陷时，可用左右扫查和前后扫查找到回波的最大值，用左右来确定缺陷沿焊缝方向的长度，前后扫查来确定缺陷的水平距离或深度。(3)转角扫查：利用它们可以推断缺陷方向。(4)它可用于推断缺陷的形状。环绕扫查时，回波高度几乎不变，则可判断为点状缺陷。(5)平行或斜平行扫查为了检验焊缝或热影响区的横向缺陷，对于磨平的焊缝可将斜探头直接放在焊缝上作平行移动，对于有加强层的焊缝两侧边缘，使探头与焊缝一定夹角（10 45 ）作平行或斜平行移动。(6)串列式扫查在后半焊缝探测中，与探伤面垂直的内部未焊透、未熔合等缺陷用单位斜探头很难探出。一般采用两种探头探伤，即小K值探头和大K值探头。有时还要采用串列式扫查才能发现缺陷，但这种方式会由探测不到的区域，对于死区，可以用单斜探头探测。2.5 扫描速度探伤前应根据范围来调节扫描速度，以便在规定的范围内发现缺陷并对缺陷定位。调节扫描速度的一般方法是根据探测范围利用已知尺寸的试块或工件上的两次不同反射波的前沿分别对准相应的水平刻度值来实现。不能利用一次反射波和始波来调节，因为始波与一次反射波的距离包括超声波通过保护膜、耦合剂或有机玻璃斜楔的时间，这样调节扫查速度误差大。纵波探伤：一般按纵波声程来调节扫描速度。具体方法是：将纵波探头对准厚度适当的平地面或曲底面，使两次不同的底波分别对准相应的水平刻度值。（1）表面波扫描速度的调节表面波探伤一般也是按声程调节扫描速度，具体调节方法基本上与纵波相同。只是表面波不能在同一反射体上形成多次反射。调节时要利用两个不同的反射体形成的两次反射波分别对准相应的水平刻度值来调节。（2）横波扫描速度调节声程调节法：声程调节法是使示波屏的水平刻度值T与横波声程x成比例，即T：x=1：n 。这时仪器示波屏上直接显示横波声程。按声程调节横波速度可在w, csk，w ，半圆试块以及其他试块或工件上进行。水平调节法：水平调节法是指示波屏上水平刻度值T与反射体的水平距离l成比例，即T:l=1：n。这时示波屏水平刻度值直接显示反射体真的水平投影距离，多用于薄板工件焊缝横波探伤。按水平距离调节横波扫描速度可在CSK-A试块、半圆试块、横空试块上进行。深度调节法：深度调节法是使示波屏上水平刻度值T与反射体深度d成比例，即T:d=1;n。常用于较厚工件焊缝横波探伤。按深度调节横波扫描速度可在CSK-IA试块、半圆试块、横波试块撒谎那个进行调节。2.6声能损失差的测定（1）薄板焊缝声能损失差的测定制作与被检工件材质相同，厚度相同的平面型试板，用同型号两个斜探头沿探伤方向置于工件上，在相同条件下，用与上述相同方法，将两探头置于平面型试板上3p处，调节衰减器，使其在最大穿透波幅也为了格高，此时工件与试板衰与减dB差，即为薄板焊缝的声能损失差。（2）中厚板焊缝声能损失差的测定试块与工件材质厚度相同：作平面型试板，A面粗糙度与被检工件相同，B面粗糙度与CSK-A试板相同，用同型号的两个斜探头沿探伤方向置于焊缝两侧的探测面上，作一发一收测试，在同样条件下，将探头置于平面型试板上，调节衰减器，使其最大穿透波幅也为了格高，此时工件探测面与试件衰减dB差，即为上表面耦合声能损失差。重复上述步骤，测出被检工件与平面型试板A面的衰减dB差，因探伤时声束两次触及下表面，取其dB差的两倍，即为下表面的反射声能损失差。当工件厚度小于试块厚度时，图（a）中R1、R2为工件上一倍跨距（IS)和的两倍跨距（2S）测试点的底面反射波高，R为试块上一倍跨距（IS）测试点底面反射波高，在R1、R2两波峰之间连一直线，则用衰减器测得的R与R1R2连线高度差dB即为二者的声能损失差。当工件厚度大于试块厚度时，图(b)中R1、R2分别为试块上IS和2S测试点上的底面反射波高，R为工件上1S测试点上底面反射波高，则R1R2连线与R的高度差即为二者的声能耦合差。第三章 缺陷回波评价3.1缺陷种类判别（1）根据加工工艺判别缺陷工件内所形成的各种缺陷与加工工艺密切相关，例如焊接过程中可能产生气孔、夹渣、未融合、未焊透和裂纹等缺陷。铸造过程中可能产生气孔、缩孔、疏松和裂纹等缺陷。锻造过程可能产生夹层、折叠、白点和裂纹等缺陷。（2）根据缺陷特征判别缺陷缺陷特征是指缺陷的形状、大小和密集程度。对于平面型缺陷，在不同的方向上探测，其缺陷回波高度显著不同。在垂直于缺陷方向探测，缺陷会波高；在平行于缺陷方向探测，缺陷回波低，甚至无缺陷回波。一般的裂纹、夹层、折叠等缺陷就属于平面型缺陷。对于点状缺陷，在不同的方向探测，缺陷回波无明显变化。一般的气孔、小夹渣就属于点状缺陷。对于密集缺陷，缺陷波密集互相彼连，在不同的方向上探测，缺陷回波情况类似。一般白点、疏松、密集气孔属于密集型缺陷。（3）根据缺陷波形判别缺陷缺陷内含物的声阻抗对缺陷回波高度有较大影响。白点、气孔等内含气体，声阻抗很小、反射回波高。非金属夹渣声阻抗较大，反射回波低。气孔与夹渣、气孔表面较平滑、界面反射率高、波形陡直尖锐。而夹渣表面粗糙，界面反射率低，波形宽度大并带锯齿。白点对探头移动很敏感，只要探头稍一移动，缺陷波立刻此起彼伏，十分活跃，但夹渣对探头移动不太敏感，探头移动，缺陷波变化迟缓。（4）根据底波判别缺陷当缺陷波很强，底波消失时，可以为是大面积缺陷，如夹层，裂纹等。当缺陷波与底波共存，可以为是点状缺陷（气孔、夹渣）等缺陷。当缺陷波为互相彼连，底波明显下降时，可以为是密集缺陷，如白点、疏松、密集气孔和夹渣等。当缺陷波和底波都很低，或两者都消失时，可以为是大而倾斜缺陷或是疏松。3.2缺陷位置测定（1）纵波探伤时缺陷定位仪器按1：n调节扫描速度，缺陷波前沿所对的水平刻度值为Tf，则缺陷至探头的距离Xf为：Xf=nTf.表面波探伤时，缺陷位置的确定方法基本同纵波，只是缺陷位于工件表面，并正对探头中心轴线。（2）横波探伤时缺陷定位a.按声程调节扫描速度时，缺陷波水平刻度为Tf。一次波探伤时，则缺陷在工件中水平距离If和深度df为：二次波探伤时，则缺陷在工件中水平距离If和深度df为：b.按水平调节扫描速度仪器按水平距离1：n调节扫描速度，缺陷波水平刻度值为Tf，采用K值直探头探伤。一次波探伤时，缺陷在工件中水平距离If和深度df为：二次波探伤时，缺陷在工件中水平距离If和深度df为：c.按深度调节扫描速度仪器按深度1：n调节扫描速度，缺陷波水平刻度值为Tf，采用K值直探头探伤。一次波探伤时，缺陷在工件中水平距离If和深度df为：二次波探伤时，缺陷在工件中水平距离If和深度df为：(3)波周向探测圆柱面时缺陷定位外圆周向探测缺陷位置由深度H和弧长 来确定。内壁周向探测内壁周向探圆柱曲面时，缺陷位置由深度H和弧长 来确定。33缺陷大小测定缺陷可根据当量法、底波高度法和测长法来确定其大小。当量法和底波高度法用于缺陷的尺寸小于声束截面的情况，测长法用于缺陷尺寸大于声束截面情况。（1）当量试块比较法加工制作一系列含有不同声程不同尺寸人工缺陷试块，将工件中自然缺陷回波与试块上人工缺陷回波进行比较，当同声程处的自然缺陷回波与其人工缺陷回波高度相等时，该人工缺陷的尺寸就是此自然缺陷的当量大小。试块比较法仅在x3n的情况下或精确定位时使用。当量计算法当x3n时，根据 或不同平底孔 来计算缺陷大小。当量AVG曲线法利用通用AVG或实用AVG曲线来确定工件中缺陷当量大小。（2）测长法相对灵敏度测长法a.6dB法移动探头找到缺陷的最大反射波（不能达饱和），然后沿缺陷方向左右移动探头，当缺陷波高降低一半时，探头中心线之间距离就是缺陷指示长度。b.端点6dB法：当缺陷各部分反射波高有很大变化时，采用此法。当发现缺陷后，探头沿着缺陷方向左右移动，找到缺陷两端的最大反射波，分别以这两个端点反射波高为基准，继续向左、向右移动探头，当端点反射波高降低一半时，探头中心线之间的距离即为缺陷指示长度。绝对灵敏度测长法仪器在一定条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷波高降到规定位置时，探头移动距离，即为缺陷指示长度。同时还可以根据底波高度法中f/bf法、f/bg法、bg/bf法来测缺陷的大小。3.4影响超声波探伤的主要因素(1)仪器的影响仪器水平线性：仪器水平线性好坏对缺陷定位有一定影响。仪器水平刻度精度：当仪器水平刻度不准时，缺陷定位误差增大。（2）探头影响探头影响包括声束偏离、探头双峰、斜楔磨损、探头指向性等因素。（3）工件影响工件影响包括工件表面粗糙度、工件材质、工件表面形状、工件边界、工件温度、工件中缺陷情况等因素。（4）操作人员影响操作人员影响包括仪器时基线比例、入射点、K值，定位方法不当等因素。影响定量因素其包括探测性能、耦合与衰减、试件几何形状和尺寸和缺陷等因素影响。第四章 工艺验收和质量评级4.1焊缝质量评级缺陷的大小测定后，要根据缺陷的当量和指示长度结合有关标准的规定评定焊缝质量级别。JB473094标准将焊缝级别质量级别分为、等三级，其中级质量最高，级质量最低。具体分级规定如下：（1）焊缝中不允许存在以下缺陷：A. 反射波幅位于区者。B. 检验人员判定为裂纹者等危害性缺陷者。（2）位于区的缺陷按表jb473094区评定表评定表评定焊缝质量级别。（3）位于区的非危害性缺陷评定为级。GB1134589标准将焊缝质量分为、等四级，其中级质量最高、级质量最低，具体分级规定如下：（1）级焊缝：存在以下缺陷时评为级a.反射波高位于区的缺陷者b.反射波超过评定线，检测人员判定为裂纹等危害性缺陷者。c.位于区的缺陷指示长度超过表JB473094中级者。（2）、级焊缝a.位于区的缺陷按表GB1134589评定其级别。b.位于区的非危害性缺陷评为级。4.2工艺验收探伤工艺验收分为验收规程和工艺卡两种。验收规程包括以下内容：（1）总则：该规程的适用范围、所用法规、标准的名称代号、对检验人员的要求。（2）仪器：探头、试块和耦合剂、探伤仪规格型号名称。主要性能指标：探头类型、晶片尺寸、频率、耦合剂型号名称。（3）被检工件：工件材质、形状、尺寸，热处理状况，表面情况等。（4）检验方法：检验时机、检测方法、探测方向、扫查方式、仪器时基线比例和探伤灵敏度调整等。（5）缺陷的测定与评价：工件质量级别评定、工件是否合格、返修方法等。在返修中，补焊前，缺陷必须彻底清除干净。补焊后，24小时后应重新进行超声波检查，要求焊后热处理的工件，补焊后要进行热处理。热处理后24小时才探伤，避免延迟裂纹的漏检。同一位置返修次数不超过三次。4.3焊缝超声波探伤报告焊缝超声波报告见表14.4距离波幅曲线的绘制缺陷波高与缺陷大小及距离有关，大小相同的缺陷由于距离不同，回波高度也不相同。描述某一确定反射体回波高度随距离变化的关系曲线称为距离波幅曲线。它是AVG曲线的特例。距离波幅曲线定量线、判废线和评定线组成。如下图：距离波幅曲线有两种形式。一种是波幅用dB值表示作为纵坐标，距离作为横坐标，称为距离dB曲线。另一种是波幅用毫米（或%）表示作为纵坐标，距离作为横坐标，实际探伤中将其绘在示波屏面板上，称作面板曲线。（1）距离dB曲线（设板厚T=30mm）的绘制a.测定探头的入射点和K值，并根据板厚按水平或深度调节扫描速度一般为1：1.b.探头置于CSKA试块上，衰减48dB(假定)，调增益使深度为10mm的16孔的最高回波达基准60%高，记下这时衰减器读数和孔深。然后分别探测不同深度为16孔，增益不动，用衰减器将各孔的最高回波调至60%高，记下相应的dB值和孔深，并记录下板厚T=30mm对应定量线、判废线和评定线的dB值。c.根据以上数据，以孔深为横坐标，以dB值为纵坐标，在坐标纸上描点绘出定量线、判废线和评定线，标出、区，并注明所用探头的频率晶片尺寸和K值。d.用深度不同的两孔校验距离波幅曲线，若不相符，应重测。(2)面板曲线绘制a.测定探头的入射点和K值，根据板厚按深度或水平调节扫描速度，这里按1：1调节。b. 探头对准CSKA试块上神为10mm的16横孔找到最高回波，调至满幅度的100%（但不饱和），在面板上标记