触发器实验.doc

姓名：刘强 学号：20111060189 专业：电子信息工程触发器实验1、 实验目的 1、熟悉并掌握RS、D、JK触发器的构成，工作原理和功能测试方法。2、学会正确使用触发器集成芯片。3、了解不同逻辑功能触发器FF相互转换的方法。2、 实验仪器及材料 1、双踪示波器 2、器件： 74LS00 二输入端四“与非”门 1片 74LS74 双D触发器 1片 74LS112 双JK触发器 1片3、 实验内容 1、基本 RS 触发器（RS-FF）功能测试 两个 TTL 与非门首尾相接构成的基本 RS-FF 的电路如图 4.1 所示。 （1）、试按下面的顺序在Sd、Rd端加信号： 观察并记录FF的状态，将结果填入表4.1中，并说明在上述各种输入状态下，FF执行的是什么功能。 表4.1SdRdQQd逻辑功能0110置1功能1110保持功能1001置0功能1101保持功能 (2) 、Sd端接低电平，Rd端加脉冲。(3) 、Sd端接高电平，Rd端加脉冲。(4) 、连接Sd、Rd，并加脉冲。 记录并观察（2）、（3）、（4）三种情况下，Q、Qd端的状态。从中你能否总结出基本RS-FF的Q或Qd端的状态改变和输入端Sd、Rd的关系。 Q、Qd端的状态与Sd、Rd端所加信号的关系 当Rd=0,Sd=1时，无论触发器原来处于什么状态，其次态一定为0状态 当Rd=1,Sd=0时，无论触发器原来处于什么状态，其次态一定为1状态 当Rd=1,Sd=1时，触发器保持原来状态不变 （2）、（3）结果如表4.2，（4）结果为表4.3。表4.2 表4.3SdRdQQd010011101101Sd、RdQQd1011（5） 、当Sd、Rd都接低电平时，观察Q、Qd端的状态，当Sd、Rd同时由低电平跳为高电平时，注意观察Q、Qd端的状态，重复3-5次看Q、Qd端的状态是否相同，以正确理解“不定”状态的含义。 当Sd、Rd都接低电平时，两个与非门输出均为1（高电平）。当Sd、Rd同时从0变化为1，由于门的延迟时间不一致，因此触发器的次态不确定。2、 维持阻塞型D-FF功能测试 双D型正边沿维持阻塞型触发器74LS74的逻辑符号如图4.2所示。图中Sd、Rd端为异步置1端、置0端（或称异步置位、复位端）。CP为时钟脉冲端。 试按下面的步骤做实验 （1）、分别在Sd、Rd端加低电平，观察并记录Q、Qd端的状态。 （2）、令Sd、Rd端为高电平，D端分别加高、低电平，用单脉冲作为CP，观察并记录当CP为L、H、时，Q端状态的变化。 （3）、当Sd=Rd =H、CP=0（或CP=1），改变D端信号，观察Q端的状态是否变化。整理上述的实验数据，将结果填入表4.4中。（4） 、令Sd=Rd =H，将D和Qd端相连，CP加连续脉冲，用双示波器观察并在图4.3种记录Q相对于CP的波形。 表4.4Sd RdCPDQnQn+10 101111 000101 1000101 110111 3、负边沿JK触发器功能测试 双JK负边沿触发器74LS112的逻辑符号如图4.4所示。 （1） 、自拟实验步骤，测试其功能，并将结果填入表4.5中。 实验步骤 将Sd、Rd端分别接0、1，观察输出。 令Sd、Rd端为高电平，J、K端分别接00、10、01、11，CP端加连续脉冲，观察不同现态的次态输出。（2）、若令J=K=1时，CP端加连续脉冲，用双踪示波器观察Q-CP波形，并记录在图4.3中。JK-FF这个Q-CP的波形和D-FF的D和Qd端相连时观察到的Q端的波形相比较，有何异同。 J=K=1，CP端加连续脉冲和D-FF的D和Qd端相连时实现的功能都是反转，不同之处在于JK-FF这个Q-CP的波形在下降沿反转，D和Qd端相连时观察到的Q端的波形在上升沿反转。 表4.5SdRdCPJKQnQn+1011100110000111110011011111101104、触发器功能转换 （1）、将D-FF和JK-FF转换成T触发器，列出表达式，画出实验电路图。 （2）、接入连续脉冲，观察个触发器CP及Q端波形，比较两者关系。 D-FFT触发器电路如图所示SdRdCPQnQn+111101101 JK