CMOS反相器的分析与设计_第1页
CMOS反相器的分析与设计_第2页
CMOS反相器的分析与设计_第3页
CMOS反相器的分析与设计_第4页
CMOS反相器的分析与设计_第5页
已阅读5页,还剩53页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

第3章CMOS反相器的分析与设计,第3章CMOS反相器的分析与设计,3.1CMOS反相器的结构和基本特性3.2CMOS反相器的直流特性3.3CMOS反相器的瞬态特性3.4CMOS反相器的设计,2,3.1CMOS反相器的结构和基本特性,NMOS管的衬底接地,PMOS管的衬底接VDD。输入端栅极输出端?极如何判断分析器中NMOS和PMOS器件的源漏区?是否有衬偏效应?,3,4,CMOSInverter,特点:Vin作为PMOS和NMOS的共栅极;Vout作为共漏极;VDD作为PMOS的源极和体端;GND作为NMOS的源极和体端,反相器的逻辑符号,3.1CMOS反相器的结构和基本特性,若输入为“1”(Vin=VDD):VGSN=VDD,VGSP=0VNMOS导通,PMOS截止输出“0”(Vout=0V),5,3.1CMOS反相器的结构和基本特性,若输入为“0”(Vin=0V):VGSN=0V,VGSP=VDDNMOS截止,PMOS导通输出“1”(Vout=VDD),6,3.1CMOS反相器的结构和基本特性,无比电路数字电路中作为开关使用(导通电阻、截止电阻)NMOS下拉开关,PMOS上拉开关,7,3.2CMOS反相器的直流特性,3.2.1直流电压传输特性3.2.2直流转移特性3.2.3直流噪声容限,8,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,输出电平与输入电平之间的关系:直流电压传输特性(VTC)NMOS与PMOS可以同时导通:并始终有如下关系:,9,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,Vin=VTN的垂直线:NMOS截止/导通Vin=VDD+VTP的垂直线:PMOS导通/截止VinVTN=Vout的斜线:NMOS饱和区/线性区VinVTP=Vout的斜线:PMOS线性区/饱和区,10,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,(1)0VinVTN,NMOS截止,PMOS线性Vin在一定范围变化(0VTN),Vout始终保持VDD。,11,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,(2)VTNVinVout+VTP,NMOS饱和,PMOS线性Vout随Vin的增加而非线性地下降,Kr=KN/KP为比例因子。,12,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,(3)Vout+VTPVinVout+VTN,NMOS饱和,PMOS饱和,13,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,(3)Vout+VTPVinVout+VTN,NMOS饱和,PMOS饱和Vit:逻辑阈值电平(转换电平),VTC垂直下降如果VTN=-VTP,KN=KP,则Vit=VDD/2,Vout/Vin趋向于无穷大。,14,3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性,(4)Vout+VTNVinVTP时,PMOS线性:Vout从VTP上升到V90%的时间:总上升时间:,35,3.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间,(2)阶跃输入的下降时间NMOS的导通电流是对负载电容放电的电流:VoutVDDVTN时,NMOS饱和:VoutVDDVTN时,NMOS线性:,36,3.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间,(2)阶跃输入的下降时间总的下降时间:若参数对称,则两时间相等。两时间主要由负载电容和导电因子决定。,37,3.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间,(3)非阶跃输入情况负载电容的充电或放电电流是NMOS和PMOS电流之差:计算复杂,很难给出解析解。上升/下降时间不仅与反相器的参数有关,还与输入信号的波形有关。,38,3.3.3CMOS反相器传输延迟时间的计算,tPHL,tPLH,,39,3.3.3CMOS反相器传输延迟时间的计算,近似认为tPLH内只有PMOS导通,tPHL内只有NMOS导通:用最大导通电流的一半作为平均电流:对称设计时:,40,41,提高反相器的速度,增加器件的宽长比会同时增加导电因子和器件的栅电容和漏区电容对于固定的大负载电容可以通过增加器件尺寸提高速度对于小负载,反相器速度不会随着尺寸出现明显增加,42,瞬态响应:仿真波形,tpLH,tpHL,3.3.4电路的最高工作频率,必须维持输入信号的时间大于电路的延迟时间。若输入信号的占空比为1:1,则其周期需要满足:对称设计有利于提高电路的工作频率。,43,3.3.4电路的最高工作频率,使用环形振荡器测量电路的工作频率及延迟时间:普遍规律:其中n是反相器的级数,应为奇数。,44,45,3.4CMOS反相器的设计,完成能够实现设计要求的集成电路产品设计要求:功能可靠性速度面积功耗,46,噪声容限:逻辑阈值点把Vit做为允许的输入高电平和低电平极限VNLM=VitVNHM=VDD-VitVNLM与VNHM中较小的决定最大直流噪声容限,1、反相器的可靠性,47,可靠性:噪声容限,面向可靠性最优的设计目标,噪声容限最大就是使得VitVDD/2在反相器的设计中通过器件尺寸的设计保持电路满足噪声容限的要求利用噪声容限的设计要求可以得到Wp和Wn的一个方程,48,2、反相器的速度,一般用反相器的平均延迟时间表示速度也可以分别用上升和下降延迟时间表示利用速度的设计要求可以得到Wp和Wn的一个方程,49,3、反相器的面积,减小器件的宽度可以减小面积例如最小面积的要求可以采用最小尺寸的器件尺寸利用面积的设计要求可以得到Wp和Wn的一个方程,50,4、反相器的功耗,增加器件宽长比会增加电容电路速度增加也会提高功耗电源电压的增加功耗暂时不作为反相器设计的约束,51,反相器设计:综合,利用可靠性、速度和面积约束中的两个就可以得到一组Wp和Wn对称反相器:对于NMOS和PMOS阈值基本相等的工艺,设计Kr1对称反相器具有最大的噪声容限和相等的上升和下降延迟,在没有具体设计要求情况下是相对优化的设计,例子,设计一个CMOS反相器,使(1)最大噪声容限不小于0.44VDD,(2)且驱动1pF负载电容时上升、下降时间不大于10ns,设VDD=5V,VTN=0.8V,VTP=-0.9V,KN=PCox=12010-6A/V2,KP=nCox=6010-6A/V2问题:在给定工艺水平下,如何选择MOS管的尺寸来满足2个要求,先考虑瞬态特性要求,根据,得到:,同理:,取L=0.6m,则Wn=6.9m,Wp=14.28m考察直流特性,反相器的最大噪音容限均满足要求。,思考题,如果根据瞬态特性设计,使Vit=2.1V,应如何调整器件尺寸满足噪声容限要求?如果根据瞬态特性设计,使Vit=2.9V,应如何调整器件尺寸满足噪声容限要求?,此时,VNHM小于2.46V,要适当增大NMOS管的沟道宽度Wn,从而减小Vit。,此时,VNLM小于2.46V,要适当增大PMOS管的沟道宽度Wp,从而增大Vit。,3.4CMOS反相器的设计,为获得最佳性能,常

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论