电晶体之认识与v-i特性曲线之测量

實習四 電晶體之認識與V-I特性曲線之測量,4-1 PNP與NPN之判別 4-2 E、B、C之判別 4-3 值測試 4-4 IE、 IB、 IC之關係 4-5 輸出特性曲線,總目錄,4-1 PNP與NPN之判別,NPN型電晶體 PNP型電晶體 判別電晶體的類型與好壞電晶體的外型、編號與規格,目錄,4-2 E、B、C之判別,NPN型電晶體 PNP型電晶體,目錄,4-3 值測試,使用 hFE測試棒使用 hFE測試座,目錄,4-4 IE、IB與IC的關係,電晶體的工作區域 電流增益電流增益電流增益,目錄,4-5 輸出特性曲線,圖4-18 電晶體的輸出特性曲線,目錄,電晶體的規格,目錄,判別電晶體的類型與好壞,判別電晶體的類型（NPN型或PNP型） 判別電晶體的好壞,目錄,NPN型電晶體,NPN型電晶體是由兩層較厚的N型半導體夾著一層很薄的P型半導體所組成。,節目錄,(a)結構,(b)電路符號,PNP型電晶體,PNP型電晶體則是由兩層較厚的P型半導體夾著一層很薄的N型半導體所組成 。,節目錄,(a)結構,(b)電路符號,電晶體的工作區域,節目錄,電晶體IE、IB與IC的關係,節目錄,電流增益,是集極電流IC與射極電流IE的比值 。,節目錄,電流增益,是集極電流IC與基極電流IB的比值，又稱為hFE 。,節目錄,電流增益,是射極電流IE與基極電流IB的比值 。,節目錄,電晶體的外型,圖4-5各類電晶體的外型,節目錄,電晶體的接腳,圖4-6各類電晶體的接腳,節目錄,日本系列電晶體的編號,節目錄,美國系列電晶體的編號,節目錄,歐洲系列電晶體的編號,節目錄,判別電晶體的類型（NPN型或PNP型）,步驟1將三用電表撥至11k檔 ，並作歸 零調整。步驟2任選電晶體的兩個接腳，將測試棒接觸此兩個 接腳，使三用電表指針大幅偏轉，此時這兩個 接腳中必有一個接腳為基極。,節目錄,步驟3將任一個測試棒移至空接的接腳，此時若三 用電表指針仍然大幅偏轉，表示電晶體B-E接 面與B-C接面皆為順向偏壓，則測試棒未移動 的那隻接腳即為基極（B），如圖4-3(a)所 示。反之，如果將測試棒移至空接的接腳時， 若三用電表指針未偏轉，則測試棒移動的那隻 接腳即為基極（B），如圖4-3(b)所示。,4-3(a),4-3(b),節目錄,步驟4若接觸基極（B）的測試棒為黑色，則此電晶 體為NPN型，如圖4-4(a所示，反之，接觸基 極（B）的測試棒為紅色，則此電晶體為PNP 型，如圖4-4(b)所示。,節目錄,4-4(a),4-4(b),判別電晶體的好壞,用三用電表測量B、E接腳或B、C接腳時， 均順向導通、逆向不通（如同二極體的特 性），表示電晶體是良好的。若順向、逆向皆導通，或順向、逆向皆不導 通，則表示電晶體是損壞的。,節目錄,NPN型電晶體,步驟1先自行假設集極（C）與射極（E）接腳後， 如圖4-7所示。將三用電表黑棒接於假設的集 極（C），紅棒接於假設的射極（E）後，以 手指當作電阻接於基極（B）與集極（C）之 間，再記錄LI的刻度值。,節目錄,圖4-7 C、E 接腳假設正確(NPN型),步驟2 再將先前假設的集極（C）與射極（E）接腳 對調後，如圖4-8所示。將三用電表黑棒接於 假設的集極（C），紅棒接於假設的射極 （E）後，以手指當作電阻接於基極（B）與集 極（C）之間，再記錄LI的刻度值。,節目錄,圖4-8 C、E 接腳假設錯誤(NPN型),PNP型電晶體,步驟1先自行假設集極（C）與射極（E）接腳後， 如圖4-9所示。將三用電表黑棒接於假設的射 極（E），紅棒接於假設的集極（C）後，以 手指當作電阻接於基極（B）與集極（C）之 間，再記錄LI的刻度值。,節目錄,圖4-9 C、E 接腳假設正確(PNP型),步驟2再將先前假設的集極（C）與射極（E）接 腳對調後，如圖4-10所示。將三用電表黑 棒接於假設的射極（E），紅棒接於假設的 集極（C）後，以手指當作電阻接於基極 （B）與集極（C）之間，再記錄LI的刻度 值。,節目錄,圖4-10 C、E 接腳假設錯誤(PNP型),步驟3比較步驟1與步驟2的LI刻度值，較大 者為假設正確。,節目錄,使用 hFE測試棒,步驟1先判別電晶體的類型、好壞與電晶體的E、 B、C三隻接腳。步驟2將三用電表撥至11k檔 ，並作歸零調整。步驟3將 hFE 測試棒中的黑色測試夾接於電晶體 的基極（B），紅色測試夾接於電晶體的集極 （C），如圖4-11所示。,節目錄,圖4-11 hFE測試棒,節目錄,步驟4若電晶體為NPN型，如圖4-12(a)所示，則 hFE 測試棒接於三用電表的端，並將接在三用 電表+端的黑色測試棒接於電晶體的射極（E） 後，直接讀取刻度中的數值。反之，若電晶體 為PNP型，如圖4-12(b)所示，則 hFE測試棒 接於三用電表的+端，並將接在三用電表端的 黑色測試