质量统计技术培训

质量统计技术培训,本培训内容如下：一、统计技术简述二、X-R图三、Cpk统计分析四、排列图、因果分析图五、MSA测量系统分析六、FMEA潜在失效模式分析,统计技术简述：1）目的:确定、收集、分析数据、证实质量管理体系的适宜性、寻求持续改进的机会。2）程序3）常用统计技术(QC七大手法)层别法（分层法)查检法（检查表）柏拉图（排列图）因果图（特性要因图、鱼骨图或石川图）推移图散布图直方图,统计技术,数据收集,分析整理,获取信息,有效利用,a)标准化b)决策c)纠正预防,a)抽样b)统计,a)问题点b)改善点c)侧重点,收集测量监视记录、历史资料、顾客满意竞争对手相关信息,X-R图应用用于大批量产品电感量等电性能参数的控制用于对特殊产品尺寸的控制用于测量系统分析Cpk图应用用于对过程能力的控制和分析(电感量等特性参数),SPC：统计过程控制,1、监控过程维持在稳态，剔除异常因素对过程的影响。2、在稳态的情况下计算过程能力指数，评价过程能力。,X-R图的作用是什么？A、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程质量变化的信息。B、帮助我们分析过程变化的原因。C、对于超出控制界限的点采取整改行动。D、根据样本数据可以对过程性质作出评价。E、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。,二X-R图（均值和极差图）,1、收集数据：这些数据是以样本容量恒定的小子组形式报出的，这种子组通常包括2-5件连续的产品，并周期性地抽取子组。（例每1小时抽取一次，每班抽样两次等）2、计算每个子组的极差,二、X-R图（均值和极差图）,1、对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值差的2倍。对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。,二、X-R图（均值和极差图）,二、X-R图（均值和极差图）,计算控制限：,二、X-R图（均值和极差图）点链有下列现象之一表明过程已改变或出现趋势出现任何超出控制限的点。连续7点全在中心线之上或之下。连续7点上升或下降。中心点一侧出现众多点（11点有10点，14点有12点，17点有14点，20点有16点）明显的非随机图形。,三、Cpk统计分析Cpk过程能力指数：是现代企业表示制程能力的指标。公司用于对过程能力的控制和分析(电感量等特性参数)。过程能力仅适用于统计稳定的过程，是过程固有变差的6范围，式中通常由计算而得。Cpk值的大小代表了过程合格，Cpk值越大，合格率越高；反之亦然。Cpk很高并不代表没有不合格品，也许存在异常因素对过程的影响。,三、Cpk统计分析过程量度定义：指数,二、Cpk统计分析过程量度定义：比值标准偏差计算：,二、Cpk统计分析,X平均數,.CP与制程能力的判斷,四、排列图、因果分析图,1、排列图是什么？排列图又称主次因素分析法、帕洛特图法，它是找出影响产品质量主要因素的一种简单而有效的图表方法。排列图是根据“关键的少数和次要的多数”的原理而制做的。是质量管理工作中常用的一种统计工具。公司用于主要不良项目的统计分类。2、因果图（鱼骨图）是什么？鱼骨图是一种发现问题“根本原因”的方法，它也可以称之为“因果图”。公司用于对不合格品的原因分析。,四、排列图、因果分析图,案例题：1、如某陶瓷厂一批产品中发现次品250件，有关质量管理人员整理资料做出表8-2和图8-3。,表8-2陶瓷厂次品分布表,四、排列图、因果分析图,在排列图8-3中，用横坐标表示影响产品质量的因素，并按频率高低从左到右排列。图中有两个纵坐标，左边的纵坐标是度量质量问题大小的坐标，表示质量问题这一事件出现的频数，或质量问题造成的费用损失等；右边的纵坐标是累计百分比坐标。直方块代表有影响的因素，直方块的高度表示各因素影响的大小。折线为排列线，又称为帕累特曲线，其各折点表示该点以前各因素影响的累计百分比。因素分析时，通常把因素分成三类：将累积百分比080%、80%90%、90%100%的因素分别称为A、B、C类因素，A类因素是主要因素，B类因素是次要因素，C类因素是一般因素。从排列图中的帕累特曲线（ABC折线）可以看出，产生次品的主要因素是烧成（80%），其次是成型，因为这两个原因导致了90%的次品。,五、MSA测量系统分析,R&R：量具重复性与再现性如果重复性比再现性大，原因可能是：量具需要维修；应重新设计量具使其更精密；应改进量具的夹紧或定位装置；零件内变差太大；如果再现性大于重复性，则可能存在以下原因：需要对操作员进行如何使用量具和读数的培训；量具表盘上的刻度值不清楚；可能需要某种形式的夹具来帮助操作者更为一致地使用量具。,五、MSA测量系统分析,R&R：量具重复性与再现性可接受的条件：误差10%_-量具系统可接受误差为10%到30%之间_-考虑到应用的重要性、量具的成本以及维修的费用等可能是可接受的。误差大于30%_-量具系统需要改进，应努力找到问题所在并纠正。,EV：重复性或设备变差