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文档简介

仪器和报告的实际使用分析x射线荧光光谱分析实验学生编号：学生姓名：讲师：学校：专业课：实验日期：中南大学冶金与环境学院实验中心真正的名字是x光荧光光谱分析实验一、实验目的(1)通过本实验，了解X射线荧光分析仪的原理和实验技术；(2)掌握X射线荧光分析样品的制备；(3)掌握粉末样品和薄膜样品中元素的检测方法；(4)通过实验掌握设备的开关；(5)培养和提高学生的实践能力和创新能力。二、实验原理该仪器的工作原理是元素的原子被高能辐射X射线激发，引起内层电子的跃迁，并发射特定波长的X射线。根据莫斯勒定律，荧光X射线的波长与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：=K(Z-S)2，其中K和S是常数。因此，只有通过测量荧光x光的波长才能知道元素的类型。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以对元素进行定量分析。三。实验仪器和设备本实验是日本岛津公司生产的XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪。主要配置单元包括：X射线发生系统、X射线管冷却装置、光谱系统、计数控制系统、数据处理软件等附件。该仪器广泛应用于有色冶金、钢铁、环境、化工、地质矿产、电子、石油、陶瓷、水泥、农业等多学科领域。它是快速定性和定量分析样品中所有元素、分析薄膜厚度和成分以及微区分布成像分析的重要测试手段。配套设备是压力样机。图1和图2分别是实验设备的示意图。图1 X光荧光光谱仪(岛津XRF-1800)四.实验步骤(1)仪器准备在使用仪器之前，一定要检查外部冷却水系统的水压是否为0.2-0.4兆帕，X射线荧光光谱仪的主板表面是否有错误灯，或者计算机接口是否显示错误。仪器运行环境：室温：235，湿度70%，室内无明显振动和灰尘。(2)样品制备用压机原型压制样品，样品要求如下：a不接受样品(有机样品、高挥发性物质、低熔点物质和下落粉末等。)和可能污染仪器的磁性样品。仪器B的元素检测范围为00。如果样品中含有0之前的元素(如碳、硼等。)，建议使用其他检测方法。如果样品可能含有少量贵金属，如银、钯等。样品应清晰标记。粉末样品过200目筛，必须彻底干燥。样品量约为2g。如果E粉末样品具有重量轻、粘在样品袋上的特点，则在送样前应将其与一定比例的纯硼酸混合均匀并进行分析，并应清楚地注明样品与硼酸的质量比。不需要预制的样品表面必须平整、光滑、无缺陷。(3)软件操作打开电脑桌面上的“PCXRF”软件。单击“初始化”，单击主菜单上的“维护”项目，然后单击“组件控制”列中的“X射线发生器”。“控制”选择“正常”，“x光”选择“开”，输入“电压”20KV和“电流”5MA，点击“开始”。控制面板上的x光指示灯和“x光”指示灯同时亮起。此时可以进行日常分析了！(4)样品测试单击“分析”和“分析”设置检测条件并输入相应的样品序列号。单击仪器上的“开始”按钮测试样品。(5)结束操作测试完成后，需要及时将x光管降低到20kV和5mA的低能
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