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文档简介
.,1,ESD保护简介,.,2,Concept,ESD:Electro-Staticdischarge静电放电如果MOS晶体管的栅氧化层上有很大的电压,会造成氧化层击穿,使器件永久破坏。随着器件尺寸减小,栅氧化层不断减薄,氧化层能承受的电压也不断下降tox5nm时,VGm=5V由于MOS晶体管的栅电容很小,积累在栅极上的杂散电荷就能形成很大的等效栅压,引起器件和电路失效,这就是ESD问题(ElectrostaticDischarge)ESD给电子器件环境会带来破坏性的后果。它是造成集成电路失效的主要原因之一。,.,3,ESDModel,ESD模型常见的有三种人体模型(HBM,HumanBodyModel)、充电器件模型(CDM,ChargeDeviceModel)机器模型(MM,MachineMode)其中以人体模型最为通行。一般的商用芯片,要求能够通过2kV静电电压的HBM检测。对于HBM放电,其电流可在几百纳秒内达到几安培,足以损坏芯片内部的电路。,.,4,人体模型,人体模型(HBM)的等效电路。人体的等效电阻为1.5k。,.,5,测试模式,进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I/O引脚会进行以下六种测试:PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有IO引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;引脚对引脚反向模式:引脚施加负的ESD电压,其余所有IO引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。VDD引脚只需进行(1)(2)项测试,.,6,ESD保护电路,ESD保护电路的设计目的就是要避免工作电路成为ESD的放电通路而遭到损害,保证在任意两芯片引脚之间发生的ESD,都有适合的低阻旁路将ESD电流引入电源线。这个低阻旁路不但要能吸收ESD电流,还要能钳位工作电路的电压,防止工作电路由于电压过载而受损。这条电路通路还需要有很好的工作稳定性,能在ESD发生时快速响应,而且还不能对芯片正常工作电路有影响。ESD通过PAD导入芯片内部,因此I/O里所有与PAD直接相连的器件(具体到I/O,就是与PAD相连的输出驱动和输入接收器)都需要建立与之平行的ESD低阻旁路,将ESD电流引入电压线,再由电压线分布到芯片各个管脚,降低ESD的影响。根据对ESD低阻放电通路的要求,上面六个模式的通路必须保证在ESD发生时,形成与保护电路并行的低阻通路,旁路ESD电流,且能立即有效地钳位保护电路上的电压。而在这两部分正常工作时,不影响电路的正常工作。,.,7,输入端ESD保护电路,双二极管保护电路PS:D2击穿NS:D2导通PD:D1导通ND:D1击穿栅极电位钳制在,.,8,输入端ESD保护电路,对深亚微米CMOS集成电路,栅氧化层的击穿电压很小,常规二极管的击穿电压较大,不能起到很好的保护作用。因此可以增加离子注入提高二极管衬底浓度,来降低二极管的击穿电压。用场区MOS管作输入保护,输入端有较大的正脉冲电压时场区MOS管导通,使ESD电流旁路用栅接地的NMOS管和栅接VDD的PMOS管共同构成输入保护电路。源漏区pn结起到二极管的保护作用,.,9,输入端ESD保护电路,特征尺寸的缩小对ESD保护电路的挑战I/O管脚数目增加,需减小保护电路的面需降低保护电路的钳位电压,加快电荷泄放速度。采用垂直双极晶体管(VerticalBipolar,V-BIP)做保护电路。输入电压过高时,D被击穿,电阻R使V-BIP发射结正偏,双极晶体管导通,为ESD提供很大的放电电流。,.,10,电源的ESD保护电路,ESD应力电压加在电源和地的管脚之间对缩小到深亚微米尺寸的电路,这种ESD应力更容易对电路造成损害,应在电源和地之间增加ESD保护电路。用栅接地的NMOS管做电源的ESD保护能为静电释放提供足够大的电流,器件的面积较大钳位电压较高,可能在自己被击穿之前内部器件已损坏,.,11,电源的ESD保护电路,具有ESD变化探测功能的保护电路正常工作时,ESD保护电路与内部电路相隔离受到ESD冲击时,VX缓慢上升,使MP导通,VG达到一个正电压,从而使钳位NMOS管导通设计适当的RC常数,使钳位NMOS管的导通时间满足要求,.,12,输出端ESD保护电路,芯片的脱片输出级都是尺寸很大的MOS管构成的反相器,其漏区和衬底形成的pn结就相当于一个大面积的二极管,可以起到ESD保护作用。一般输出级不用增加ESD保护器件。对芯片的输出级MOS管尺寸不够大或者对可靠性要求很高的情况,也要在输出端增加保护二极管。,.,13,ESD保护电路原理,在正常工作情况下,NMOS横向晶体管不会导通。当ESD发生时,漏极和衬底的耗尽区将发生雪崩,并伴随着电子空穴对的产生。一部分产生的空穴被源极吸收,其余的流过衬底。由于衬底电阻Rsub的存在,使衬底电压提高。当衬底和源之间的PN结正偏时,电子就从源发射进入衬底。这些电子在源漏之间的电场的作用下,被加速,产生电子、空穴的碰撞电离,从而形成更多的电子空穴对,使流过n-p-n晶体管的电流不断增加,最终使NMOS晶体管漏极和衬底发生二次击穿,此时的击穿不再可逆,则NMOS管损坏。,.,14,ESD保护的实现,.,15,.,16,一般IOPAD的ESD保护电路,二极管ND是NMOS漏极与P型衬底形成
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