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文档简介

1,一、透射电子显微镜简介二、FEIF20的基本结构及软件三、FEIF20的操作使用四、透射电子显微镜的样品制备,主要内容：,2,一、透射电子显微镜简介,3,透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscopy),4,阿贝成像原理,5,TEM与光学显微镜比较,6,光学显微镜的分辨率,7,TEM与光学显微镜性能对比,8,电子激发样品可获得各种信号,9,质厚衬度,10,衍射衬度,11,相位衬度（HRTEM）,12,Z衬度（STEM像）,13,两个基本模式,14,二、FEIF20的基本结构及软件,15,品牌：美国FEI型号：TecnaiG2F20用途：TEM-形貌观察SAD-晶体结构EDS-微区元素分析,技术指标：加速电压：200KV电子枪：FEG点分辨率：0.24nmFEG最小束斑0.3nm放大倍数：25-1000k样品最大倾角：S-TWIN+/-40Gatan832CCD相机，分辨率4K*2.7K,16,TecnaiG2F20型TEM外观说明,17,18,软件说明,19,20,三、FEIF20的操作使用,21,TecnaiG2F20型TEM的操作使用,22,讲在上机自主操作前,23,1、实验前检查,24,25,2、装入样品杆（此操作限高级用户使用）,26,样品杆清零,27,28,29,3、电镜合轴,30,31,32,33,34,35,4、电镜实验,36,37,38,39,40,41,42,43,44,45,46,47,48,49,50,5、拔出样品杆,51,52,53,小结,54,四、透射电子显微镜的样品制备,55,TEM送样的几点说明,56,1、粉末样品,57,58,59,2、
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