光模块原理和测试基础

光模块原理,Editor:RogerLiDate:2017/7/17,内容,模块协议模块封装模块分类模块结构模块框图模块参数8472协议,光模块协议,IEEE802.3baIEEE802.3ahIEEE802.3aeSFF-8472SFF-8431SFF-8436SFF_INF8077i,光模块封装,SFF（焊接，不可带电热插拔）SFPSFP+GBICXFPQSFPQSFP28X2CFPCFP2CFP4,*SFP与SFP+相比，外观尺寸相同，SFP+能传输10G速率的信号，对电磁信号屏蔽要求更高SFP由GBIC演变过来SFP+由XFP演变过来,光模块封装尺寸比较,趋势，体积更小，密度更高，功耗更低,光模块分类,SFP光模块波长：850、1310、1490、1550、CWDM、DWDM速率：0-10Gbit/sSFP电模块接口：RJ45，COPPER速率：10/100/1000M自适应，强制1000MXFP模块波长：850、1310、1270、1330、CWDM、DWDM速率：10Gbit/sSFP+光模块波长：850nm,1310nm,1270nm,1330nm,CWDM,DWDM速率：10Gbit/sCFP，CFP2和CFP440Gbit/s,100Gbit/sQSFP2840Gbit/s,100Gbit/s,光模块结构,SFF和SFP为列,光模块典型功能框图（直接调制）,LD电流周期变化,光模块典型功能框图（间接调制）,LD电流恒定不变,光模块典型功能框图（接收）,光模块典型功能框图（收发一体）,光模块典型功能框图（XFP）,光模块发端参数定义,AOPEROMA,光模块参数换算关系,特别注意：P0不是0电平,光模块眼图的测试,光模块眼图的获取,大量数据通过周期性采样、叠加形成,光模块眼图能获取的主要参数,波型参数消光比抖动眼高眼宽交叉点等等模板测试标准验证模板冗余度,眼图余量测试,误码率的定义,从码型发生器发出测试码型给被测器件.在误码分析仪内部产生与预期从被测器件发出的码型相同的码型对比码型发生器发送的码型与码型分析仪接收的码型，找出不一致的码型个数,误码测试的可信度,误码率测试总是一个概率问题，不能得到100%的确定结果,误码测试的效率1,不同速率下满足95%可信度的测试时间,误码测试的效率2,由被测设备接收机所收到的光功率和误码率的关系图来递推是一个粗略而非精确的评估方法,压力眼测试,VECP=10*Log(OMA/Ao),8472协议,是一份定义了光模块数字监控量接口的多元协议五个监控量：用途：预测光模块寿命故障定位兼容性测试,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,思考：什么是8B/10B？8B/10B与NRZ的区别是什么？8B/10B与PRBS的关系,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,内校准：InternalCalibration外校准：ExternalCalibration,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,SFF-8472协议,思考：RX监控预留多