SPC--统计制程管制.ppt

SPC-統計製程管制,講師:郭俊欽廠長,ISO9000精神:1.不斷改善;2.滿足客戶需求,(利潤)公司,科技(物),管理(系統),領導(人),勞力密集,資本密集,科技密集.內部稽核,管理審查,教育訓練,維持ISO9000之原動力.製程管製製程穩定分析製程能力提升.,製造的過程(Process),Manmaterialmethodmachinemeasurementmantin,產品,IQCIPQC,系統,有input后有ouput並透過feedback改善,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,2OF83,SPC精神:Qualityimprovement利用統計的原理與方法來針對製程上的變異加以分析和管制.StatisticalprocessControl.(分析並管制製造上的變異.)因延遲驗出不良品所付出之代價.,預防,進料失敗矯正,製程失敗矯正,出貨失敗再矯正,成本代價,時間(TIME),金額$,利用預防來了解現況並預測未來.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,3OF83,推行SPC的效益1.製程品質監控與管制2.預防不良與變異產生3.製程能力調查與分析4.適當的製程安排與規劃5.作為規格公差制定製程管制方案之修改6.滿足客戶之需求7.配合驗証機構之實施.統計=數據+計算系統=魚缸養魚,Inputouput,水,過濾(feedback),該做的都做了,但仍有問題(系統性變異)該做的都沒有做好,人,機器,條件都訂好了(特殊性變異),統計一有意義的情報:拉力的強度很好1.沒有數據;2.拉力平均3kg/cm2;3.大多數的拉力3士0.5%正確回答:良率99.7%,都是在規格3kg/cm2士0.5%以內,0.3%超出規格.,IncreasCapability,TeamworkQCC.TQC,QualitysystemISO9000,SPCprocesscontrol,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,4OF83,一,何謂統計製程管製SPCStatisticalProcessControlStatistical匯集,圖(表)表及分析數據Process一系列之操作(operations)每一個活動(activity)都是過程Control量測性能(performance),SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,5OF83,二,SPC的源起及發展SPC的源起:1924W.A.Shewhart在BelltelephoneLaboratories工作時,首次提出管製圖的概念1931.W.AShewhart出版EconomicControlofQualtyofManufacturedProduct,在此書中對統計製程管製的名稱的定義做了完整的敘述.theapplicationofstatisticalprinciplesandtech-niquesinallstagesofproduction,directedtowardsthemanufactureofaproductthatismaximllyuserulandhasamarket.19391945第二次世界大戰期間providedtheimpetusfortheappiicationofshewha-rt,sideas.1942.1944.1945.4946.分別舉辦為期8天的品質管理講習會.1946日本科技聯盟JUST成立(TheJapaneseunionofscientiscoandengineers),SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,6OF83,其成立的目的在振興日本戰后工業.偏好Shewhart理論.派最年青管理階層到西方世界拜訪工業界,學術界學習他人長處並帶回國使用.尋找海外專家,指導國內工業界,全新的可以促進日本工業界管理及改善的方法.1950Dr.Deming(戴明博士)訪問日本,舉辦為期8天的講習.1960S統計品質管製方法在日本廣為推行.從1960年代開始,日本的品質變得愈來愈好.在很多方面,日本成為市場領先地位.在訓練有素的工作人員及可以追朔的品質記錄.在生產製造現場維持非常簡單.管理階層的支持與參與.1974美國成立品管圈1981Deming在電視上發表IfJapancan,whycannotwe?,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,7OF83,Generalmotors,Ford等著名大公司邀請Deming演講.距離Deming到日本講學37年之后,美國人開始接受及實踐Deming理論(PDCA循環),並且目前愈來愈來愈盛.SPC的發展從SQC到SPC1920S美國W.A.shewhart首創SQC理論.1970美國發展出SPC理論與實際應用.SQC與SPC的區別:(1)SPCitselfisnew,butmessageitcarriesisnot.(2).SQCisproduct-basedandSPCisprocess-based.(3).SQCislimitedtomanufacturingapplications.(4).SQCisoperatedbythequalitydepartmentwithnodirectreferencetotheoperator.(5).SPCimpliesoperatorcontrolingenuinecompany-wideprogram.(6).SPCisaprevention-basedsystemoperatingatanearlystagethanSQC.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,8OF83,(7).Whilstsomeofthetechniquesarethesame,SPCdoesintroduceanextradimensionofdefiningtheprocesscontrollingitandthenimprovingit.三,SPC的觀念與應用品質(Quality):符合顧客的需求.供應商的製品及其品質,能合乎購買者需求,且其品質均勻,可受顧客信賴,同時價格亦公道合理能使消費者樂意付出相當之代價.變異(Variation):偏離規格.沒有兩種完全相同的工業品,產品間之差異是正常現象,在生產製造過程當中,產品產生變異可歸諸于下列兩種原因之一.特殊的變異原因(Assignablecauses)又可稱為非機遇性原因-可歸咎于某一種特殊地點.機器或操作工,變異的原因是可以確認,因此可以被消除的.共同的變異原因(Chancecause)又可稱為機遇性原因-變異是由全部的機器,全部的操作工,全部的作業員,全部的各單位,共同變異的原因,不規則的存于自然界中,並且不能完全的被消除.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,9OF83,生產線上品質管製,診斷和調整,預測和修正,量測和處置,製程管製(IPQC),產品管製(OQC),成本管製(出貨),損失管製(退貨),SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,10OF83,解決品質問題的七種常用工具一,查檢表二,柏拉圖三,特性要因圖四,層別法五,散佈圖六,直方圖七,管製圖,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,11OF83,解決問題的方法與順序一,查檢表與(管製圖)二,柏拉圖三,特性要因圖四,層別法與(散佈圖)五,直方圖,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,12OF83,(一)查檢表(CHECKLIST),1,何謂查儉表:查檢表是一種為了便于收集數據而設計的表格,在對于工作現場之事物加以觀查,記錄及收集數據,如:作業前點檢,設備操作點檢,機器保養點檢,管理月點檢,生產狀況查核等,對于查檢製造方法,了解什么地方問題最多,或每日工作重點必須要固定做到以防遺漏,調查產品的那一方面不良最嚴重等,都有很大的幫助,並可利用此表作為日后管理及改善的工具.,2,查檢表分類:查檢表依用途可分為:,a.收集數據用查檢表b.調查異常(不良)原因用查檢表c.點檢用查檢表,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,13OF83,2.1收集數據用查檢表:,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,14OF83,I.班別不良率:早班=d/p=14.5%;夜班=d/p=15.54%II.機台不良率:A台=d/p=16.93%;B台=d/p=13.2%III.缺點別:以電鍍針孔占最多60.6%.IV.夜班不良率比日班高1.04%,A機台比B機台高3.73%.,2.3.點檢用查檢表:,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,15OF83,3.查檢表使用目的:3.1.為了日常管理:對品質管製項目的查檢,作業前的查檢,設備安全的查檢,作業標準的要求與遵守.3.2.為了特別調查:品質異常問題需要調查,重點調查,不良原因調查及發現改善點的查檢.3.3.取得記錄:為了要報告,調查需取得記錄,做成統計表以便分析.,4.查檢表使用方法:4.1.查檢內容要使工作現場的人員了解,並能作在職訓練(OJT)4.2.需明確查檢責任者由誰來做.4.3.對事實,現物的觀察要客觀,詳細.4.4.發現的現況要當場記錄.4.5.根據記錄作成數據及統計圖.4.6.盡快將發現的事況,向主管階層報告.4.7.了解現況要馬上采取行動.4.8.查檢的結果,有關人員必須了解.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,16OF83,二,管製圖(CONTROLCHART),1.何謂管製圖:一種用于調查製造程序是否在穩定狀態下,或者維持製造程序在穩定狀態下所用之圖.2.管製圖的種類:2.1.計量值管製圖:其所依據之數據,均屬由量具實際量測而得知,如:長度,重量,成份等特性均為連續性者,最常用為下列四種:2.1.1.平均值與全距管製圖(-RCHART)2.1.2.平均值與標準差管製圖(-CHART)2.1.3.中位值與全距管製圖(-RCHART)2.1.4.個別值與移動全距管製圖(X-RmCHART)2.2.計數管製圖:其所依據之數據,均屬以單位計數者,如:不良數,缺點數等間斷數據均屬此類,最常用為下列四種:2.2.1.不良率管製圖(PCHART)2.2.2.不良數管製圖(PnCHART),SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,17OF83,2.2.3.缺點數管製圖(CCHART)2.2.4.平均缺點數管製圖(CHART)3.管製圖的功能:3.1.可判定製程的變異是屬偶然原因或異常原因3.2.可做製程能力解析3.3.依據製程精密度,可做下列判斷及處理,4.管製圖之原理:4.1.管製圖是以3個標準差為基礎,換言之只要群體是常態分配,從群體抽樣時每1000次約有3次機超出士3范圍,在平均埴()加減3個標準差范圍以外之機會非常少即千分之三,也即所謂機遇原因,而不予以檢討.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,18OF83,不良率P管製圖,一,製品如無法直接測定其特性時,可以分別數其良品與不良品之數目,並以不良率表示其品質,如:電燈泡廠將燈泡分為亮與不亮,食品廠將罐頭分為漏氣與不漏氣,電容器廠將電容量分為合格與不合格.等,其公式為:P=不良品個數/檢驗數=d/n二,P管製圖適合以下之情況使用:1.僅能以不良品表示品質特性.2.大量篩選將產品分為合格與不合格時.3.產品用通與不通量具來判定合格與不合格時.4.要研究某製造工程有多少廢品時.5.樣本數(n)在非一定數時.其公式為:P=d/n=(d1+d2+d)/(n1+n2+n)=不良品數總和/檢查數總和.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,19OF83,三,PCHART建立步驟:1.選擇管製項目.2.搜集數據3.分組四,PCHART公式(平均不良率P以小數表示時)1.CL=P=d/n2.UCLP=P+3P(1-P)/nLCLP=P-3P(1-P)/n(平均不良率P以百分率表示時)1.CL=P=d/n2.UCLP=P+3P(100-P)/nLCLP=P-3P(100-P)/n,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,20OF83,例:某PCB工廠,每兩個小時抽取100件來檢查,將檢查所得之不良品數據,列于如下表,試利用此項資料,采用不良率管製圖,對其品質加以管製.(本例系樣本數不相同),解:1.計算管製界限,CLP=P=125/2500=0.05=5%UCLP=P+3P(1-P)/n=0.1154=11.54%LCLP=P-3P(1-P)/n=0,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,21OF83,2.點繪管製圖(如下圖):,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,22OF83,Pn管制圖的作法,幾乎與P管制圖相同,但只用于n為一定時,當組的大小每組均時,必須使用Pn管制圖.製作的步驟與P管制圖相同.計算公式如下:中心線:CL=Pn=d/kP=d/(k*100)管制上限:UCL=Pn+3Pn(1-P)管制下限:LCL=Pn+3Pn(1-P)(例1)某PCB工廠對于電鍍不良,搜集25組檢查結果記錄如下表,繪製一張Pn管制圖.,解:1.計算管制界限(d:缺點數;k:組數)CL=Pn=d/k=65/25=2.6P=d/(k*100)=0.026(因n值為一定數,故取組數為分母,此為與P管制圖最大不同點)UCL=Pn+3Pn(1-P)=2.6+4.8=7.4LCL=Pn-3Pn(1-P)=2.6-4.8=-2.2(管制下限不予考慮),SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,23OF83,LCL,CL,UCL,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,24OF83,2.點繪管制圖,缺點數管制圖(C管制圖),一,有些產品雖然有缺點,但不致因為有少數之缺點,使該產品成為廢品,只是缺點之多少影響其品質之高低而已,因而用缺點之數目,表示其品質,在這種場合,常用缺點數管制圖.二,用途:C管制圖應用在同大小的樣本組內所含缺點數的管制,自同一大小單位(可以為單件製品或一組製品,例如:一台電視機或幾台電視機)的缺點數為C群體(即送驗批),隨機抽取同一大小單位的樣本所出現的缺點數(C)的分配為卜氏分配,分配的平均值(UC)等于C,分配的標準差(c)等于C-群體單位缺點C未知時因此C管制圖的中心線與管制界限公式為:CLC=C/K=CUCLC=C+3CLCLC=C-3C使用C管制圖的工作例子為:(1)玻璃所含的氣泡數(2)一匹布內的跳紗數,斑點數等等(3)一張紙上的污點數,破損數等等.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,25OF83,(4)一定長度漆包線的針孔(pinhole)數.,三,管制圖製作實例:例:某PCB廠用C管制圖管制其產品品質,下列表中每批PCB之缺點之記錄,計有20組樣本繪製C管制圖.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,26OF83,C=84,CLC=C=C/K=84/20=4.22.代入公式求得UCLC及LCLCUCLC=C+3C=4.2+34.2=4.2+6.15=10.35UCLC=C-3C=4.2-34.2=4.2-6.15=0,解:(1)先計算樣本缺點數的平均值(C),SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,27OF83,平均值與全距管制圖(X-RCHART),一,在計量管制圖中X-RCHART系最實用之一種品質控制工具,仍系XCHART與RCHART之合並使用.平均值管制圖系管制平均值的變化,即分配之集中趨勢變化.全距管制圖則管制變異之程度,即分配之散布狀況,離中趨勢.均可協助我們判斷製造工程之實際狀況,藉以明瞭品質變化之趨勢.二,用途:X-R用在管制分組之計量數據,每組同時取數個數據,如:長度,重量,內,外徑,濃度,抗張力,深度等.三,取樣法:此管制圖系由樣本之數據,推測製造工程是否在穩定之管制狀態中選取樣本,須有代表性,原則上以在各工作線上按不同機器,操作人員,原料分別取樣,樣本數據為4-5件.N=4或5K=25組以上,X1,XC2,X3,X4,X5,X樣組間變異X,製程,組內變異,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,28OF83,四,建立步驟:(1)搜集25個以上的數據(依測定時間順序或群體數據依序排列)(2)把2-6個(一般採4-5個)數據分為一組.(3)把數據記入數據表.(4)計算各組平均值X.(5)計算各組的全距R.(6)計算總平均X=X/K(K=組數)(7)計算全距平均R=R/K(K=組數)(8)計算管制界限(此為u與未知狀況)X管制圖:中心線CLX=X上限UCLX=X+A2R下限LCLX=X-A2RR管制圖:中心線CLR=R上限UCLR=D4R下限LCLR=D3R,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,29OF83,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,30OF83,解:1.將每樣組之X及R算出記入數據表內.2.求X與RX=X/K=1254/25=50.16R=R/K=120/25=4.83.查系數A2,D4,D3.A2=0.58,D4=2.11,D3=負值(以0代表)4.求管制界線X管制圖CLX=X=50.16UCLX=X+A2R=50.16+0.58*4.8=52.93LCLX=X-A2R=50.16-0.58*4.8=47.39R管制圖CLR=R=4.8UCLR=D4R=2.11*4.8=10.13LCLR=D3R=0*4.8=0,解:1.將每樣組之X及R算出記入數據表內.2.求X與RX=X/K=1254/25=50.16R=R/K=120/25=4.83.查系數A2,D4,D3.A2=0.58,D4=2.11,D3=負值(以0代表)4.求管制界線X管制圖CLX=X=50.16UCLX=X+A2R=50.16+0.58*4.8=52.93LCLX=X-A2R=50.16-0.58*4.8=47.39R管制圖CLR=R=4.8UCLR=D4R=2.11*4.8=10.13LCLR=D3R=0*4.8=0,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,31OF83,5.將管制界限繪入管制圖.6.點圖.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,32OF83,7.檢討管制界限觀察上圖得知所有點子均在管制界限內隨機跳動故判斷製程為安定.五,使用注意事項:1.如產品界限之寬度比規格界限寬時,表示製程能力不足,對原數據應按原料別,機械別,時間別,人員別加以層別,分別檢討其分配情況找出變異.2.如技術或經濟上之限制無法改善製程能力,則應檢討規格界限是否可以放寬,以獲較經濟之生產.3.XCHART上有點超限,則顯示製程平均發生變化或變異增大RCHCART上有點超限,則顯示製程變異增大.4.管制圖持續使用一段時間之后應重新再搜集資料,重新計算管制界限以符合製程現況.5.看管制圖時先看離中趨勢RCHART,再看集中趨勢XCHATRT.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,33OF83,管制圖之管制界限公式,a.用于製程之管制,較靈敏,很容易調查事故發生原因,因此可以預測將發生之不良狀況.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,34OF83,柏拉圖(PLATO),1.何謂柏拉圖:柏拉圖為意大利經濟學家所發明,系根據收集之數據,項目,而按其大小順序,自左而右排列的圖.從柏拉圖中可看出那一項目有問題,其影響程度如何,以判斷問題的徵結點,並可針對問題點采取改善措施.2.柏拉圖作法:2.1.決定調查事項,收集數據.(1).決定收集期間,方法,分類.(2).原因別分類:材料,機械,作業者,作業方法別等.內容別分類:不良項目,場所,工程,時間別等.(3).收集數據的期間,考慮發生問題的狀況,一星期,一個月或一季.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,35OF83,2.2.整理數據,計算累積數及比率(1)各項目依數據的大小順序排列,其他排在最后一項,並求其累積數.(2)求各項目數據的比率及累積比率.,2.3.繪柱狀圖表(1)用方格紙繪成柱狀圖表.(2)橫軸:項目名稱.縱軸:不良數或金額等等.(3)橫軸,縱軸比例最好為1:1.(4)依數據大小項目自左向右排列,其他項排在最后.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,36OF83,2.4.繪累積曲線(1)各項目累計數打點;(2)用折線連接.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,37OF83,2.5.繪累積比率線(1)右端縱軸加繪折線終點為100%(2)0100%間之定規10等分的刻度,2.6記入必要事項(1)目的(2)期間,數據合計,工程名(3)作成者,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,38OF83,例:工程名:外觀檢查射出部品外觀不良柏拉圖,期間:3/6-3/10;製作者:XXX,3.柏拉圖看法:柏拉圖是以數據.項目分類,如:不良損失金額,不良件數,缺點數(X軸),以及要因別,現象別,製程別,品種別等(Y軸),依其大小順序排列的條圖,對現場管理及監督而言,由柏拉圖可看出下列各項問題:3.1那一項目問題最大3.2.問題大小排列一目瞭然.3.3.各項目對整體所占份量及其影響程度如何.3.4.減少不良項目對整體效果的預測及評估.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,39OF83,柏拉圖用法:4.1.掌握問題點:雖然分類很多,但實際上影響較大的只不過是,2-3項,因此很容易找出問題出在那裡.4.2.發現原因:從結果到原因,可查出結果如:不良項目別,場所別,工程別,原因別:原料別(Maetrial),機械別(Machine),方法別(Mothode),人為別(Man),測量別(Measurement).4.3.報告與記錄:只看數據是無法知道分類項目的影響,但柏拉圖就能正確的把內容表示出來,可用在報告及記錄上.4.4.確認改善效果:把改善前與改善后的柏拉圖排列在一起,可評估出改善效果.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,40OF83,C.改善前,后查檢表統計比較:,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,41OF83,改善后統計,特性要因圖(CHUSEANDEFFECTDIAGRAM),1,何謂特性要因圖:工廠的目的就是要生產產品,然而在生產的過程,一定會有很多問題發生,有了問題出現,我們就必需馬上解決,否則就不能達到預期的品質水準,當我們面臨一項問題時,倘若仍如往昔自己單獨閉門苦思對策或許所得到的,還是事倍功半的下下之策,尤其目前在現場工作上所發生的問題可謂“千頭萬續”若非借助一群人或小組的智慧,知識及經驗來共同探討其原因,並尋求解決對策是很難“對症下藥”的.所以這種利用團體力量來共同控討其結果(特性)與(原因)之間的關系表示在一張圖上,謂之特性要因圖.(因其形狀類似魚骨頭故又稱魚骨圖,它為日本石川馨博士所發明亦稱石川圖).2.特性要因圖作法:2.1.決定要討論的品質特性,用查檢表收集資料,再以柏拉圖統計出數據決定之.2.2.在紙上劃一橫線,將要討論的品質特性寫在箭頭旁(指明特性),品質特性,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,42OF83,2.3.將影響品質特性的大要因以框起來,再劃一條成60斜線,斜線指向橫線,大要因可以4M(人,機械,材料,方法)來分類,製程特性則依各大要因分析出次要因,劃在小骨上.,品質特性,其他,機械,人,材料,2.4.討論為何機械組不良率偏高?2.4.1.指明特性2.4.2.決定大要因(4-6項)2.4.3.找出小要因(根據大要因發掘問題點)2.4.4.決定解決順序(評價問題點的重要度或影響度,選擇改善要項),方法,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,43OF83,機械組不良率高,作業條件未注明,方法,公差錯誤,作業程序顛倒,自行變更作業程序,不熟練,作業疏忽,硬度不符規定,尺寸過大,震動不穩,控制迴路故障,精度不夠,潤滑不良,作業者,材料,機械,2.5.討論為何最近客戶抱怨常混錯料?,混料,倉儲,標籤貼錯,資料,作業,標示不清,出錯貨,客戶採購資料錯,購錯料,未依生產計劃,拿錯規格書,不專心,入庫錯,放錯儲位,未檢驗,修理品,改線混錯料,領錯標籤,標籤未區分,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,44OF83,3.特性要因圖作法注意事項:3.1.使用腦力激盪(B.S)發掘出問題點.3.2.特性要明確什么為什么較易激發聯想.3.3.以事實為依據,依自由發言方式把要因記上.3.4.收集多數人的意見,綜合相關人員一起討論.3.5.對所提要因,何者影響較大,由大家輪流發言經多數人同意后用紅筆將要因圈上.3.6.無因果關系之要因,不須歸類.3.7.對原因徹底加以深入分析.3.8.層別區分(工程別,部品別,現象別)3.9.圖上需標示:工程別,品名,製作日期,製作人.4.特性要因圖的用法:4.1.改善解析用:改善品質,提高效率,以降低成本為目示,進行現狀解析掌握重要問題點.4.2.製定標準用:為製定或修改作業方法,管理項目及管理方法使用.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,45OF83,4.3.尋找對策用:在特性要因圖上標出不同影響程度記號,在各主要因都能掌握后,再作追求對策要因圖.4.4.追查原因且:客戶生抱怨或有不良品(異常)時,作為尋找原因,採取消除措施用.4.5.教育訓練用:透過討論學習別人的經驗和技術.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,46OF83,層別法(STRATIFICATION),1.何謂層別法:發生品質變異的原因很多,有時很單純,有時很複雜,但影響其品質的要因不外乎是原材料,機器設備,或是操作人員,亦有可能在操作方法,要找出原因,出自何處,就有分開觀察而搜集數據的必要.如果能找出何種原料,那一台機器或那一位操作員有問題后再加以改善,而杜絕不良品的發生.這種以分層別類的搜集數據,以找出其間差異的方法,謂之層別法.2.層別法作法:2.1.層別的目的要明確2.1.1.時間別:小時別,日期別,周別,月別,上下午別.2.1.2.作業員別:班別,組別,新舊人員別.2.1.3.設備別:機台別,機型別.2.1.4.原料別:供應商別,批別.2.1.5.生產線別:A,B,C線別.2.1.6.作業條件別:作業場所,溫度,壓力,速度,溫度,流量,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,47OF83,2.2.利用查檢表搜集數據.2.3.根據數據繪成推移圖層別之2.4.例:某生產主機板廠,同A,B,C三家PCB廠進料,根據IQC之進料檢驗記錄試比較三家供應商品質狀況.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,48OF83,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,49OF83,例:有兩台生產PE薄膜押出機,作業人員每一小時量測一次,得到下列數據,試比較兩機台差異作改善.,3.層別時注意事項:3.1.數據的性質分類要明確3.2.收集數據如:品質(不良率),效率(工時),成本(費用)之各項日報,周報,月報中去發掘問題.3.3.同一問題有很多項目在一起應層別.3.4.層別所得資料要能與對策相連接.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,50OF83,散佈圖(SCATTERDIAGRAM),1.何謂散佈圖:在分析獨立數據時,用直方圖,柏拉圖就可找到改善著眼點,但如果解析兩個變量X,Y之間的相關性時,就需使用散佈圖,將X與Y的兩組數據繪在方格紙上,可看出X,Y之間相關情形的圖謂之散佈圖.如:鋼的粹火溫度和硬度,鏍絲的轉距和抗張力,油的溫度與粘度,玻璃中含鉛量與抗輻射.2.散佈圖作法:2.1.先搜集兩種對應相關數據,至少要30組以上(如:硬度與抗張力,添加量與柔軟度.即為成對資料).2.2.求出數據中X,Y的最大值與最小值.2.3.在橫軸(X)與縱軸(Y)上各列出品質要因(特性).2.4.把兩種對應數據點在座標圖上.2.5.兩組數據相同時另作記號表示.2.6.圖上加入品名,工程別,日期,製表人.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,51OF83,4.散佈圖重點:4.1.可發現原因與結果的關系:收集原因的數據,與結果的數據,相對比較.4.2.繪出散佈圖,對結果可一目瞭然:在散佈圖內,將原因和結果的數據點入.4.3.可判斷是有關聯或是沒有關聯:由散佈圖可以清楚瞭解兩組數據間的關系.4.4.收集到的數據在圖上無法判定:則應先予層別,再行點入繪成散佈圖.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,52OF83,直方圖(HISOGRAM),1.何謂直方圖:直方圖就是將匯集的數據區分成數個相等區間,將各區間內該數據的出現次數累計,用柱形劃出的圖形.2.直方圖使用目的:2.1.測知製程能力2.2.調查是否混入兩個以上不同群體2.3.測知分配中心或平均值2.4.測知分散范圍或差異2.5.與規格比較計算不良率2.6.測知有無假數據2.7.訂定規格界限,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,53OF83,3.直方圖作法:3.1.收集樣本(50組以上,整數值)3.2.決定組數K=n3.3.計算全距(范圍)全距(R)=最大值-最小值組距(H)=R/K=全距/組數3.4.計算組界組界精密度=測定值的單位/2(方便次數分配使用)下組界=最小值-組界精密度上組界=前一組下組界+組距3.5.組距中心點=(上組界+下組界)/23.6.平均值(X)=X0+UF/F*H3.7.變異(2)=U2F-(UF)2/F*H*(1/F)3.8.標準差(S)=注:X0=中位數,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,54OF83,3.9.例:某鋼線廠生產之鋼線缺拉強度其規格為81.00士2.55kg/cmspec=78.4583.55kg/cm試繪成直方圖:,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,55OF83,3.9.5.決定組間的界限(組界)組間的界值以最小測定單位值之1/2來決定.(或取比測定單位小)故第一組下限=最小值-最小測定單位/2第一組上限=第一組下限+組距第二組下限=第一組上限第二組上限=第二組下限+組距(餘類推)例:第一組下限=77.5-0.1/2=77.45第一組上限=77.45+0.5=77.95(組距0.5)第一組為77.4577.95(組距0.5)第二組為77.9578.45(組距0.5)第三組為78.4578.95(組距0.5)3.9.6.求出組中點X組中點=(組下限+組上限)/2例:第一組組中值=(77.45+77.95)/2=155.4/2=77.7,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,56OF83,3.9.7.作成數據的次數表(F):,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,57OF83,4.平均值和標準差求法:直方圖繪成后要計算其平均值.標準差.,4.1.作成次數表(F)例:數據100個.4.2.決定U欄U=(各組中點-組數中位值)/組距U=(X-X0)/H例:U=(77.7-80.2)/0.5=5(第2-3組之U值照上例計算求出)4.3.求出UF合計U*F值記入UF欄例:組數1UF=(-5)*2=-102.UF=(-4)*3=-12.11UF=5*1=5UF=(-10)+(-12)+.+5=-8,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,58OF83,4.4.求出U2F的合計U*UF值記入U2F欄內U2F的合計求出U2F例:組數1U2F=(-5)*(-10)=502U2F=(-4)*(-12)=48.11U2F=5*5=25U2F=50+48+.+25=4044.5.計算平均值XX=X0+UF/UF*HX0=中位數(U=0)=組數中位數+UF合計/數據數*組距例:X=80.2+(-8)/100*0.5=80.2+(-4)/100=80.2-0.04=80.164.6.計算標準差SS=H*U2F-(UF)2/N/F-1例:S=0.5*404-(-8)2/100/F-1=0.5*(404-0.64)/F-1=0.5*403.36/F-1=0.5*2.018=1.014.7.直方圖上記:數據值N平均值X標準差S,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,59OF83,4.8.決定橫軸:(1).中心值刻度.(2).各組上,下限刻度.決定縱軸:與橫軸成正方形,做次數刻度.,4.9.記入規格值,數據數(n)另計算記入平均值(X),標準差(S)4.10.記入必要事項如:製品名,工程名,期間,作成日期,作成者.備注:1.直方圖用紙:一般圖表用紙為1mm方格紙.2.繪上柱形間隔要相等.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,60OF83,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,61OF83,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,62OF83,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,63OF83,*此圖顯示製程能力分散過大,應對人員的變動與作業方法加以追查.,SPC講義,講師,DAVIDKUO,頁數,64OF83,直方圖分布形態解析1.正常型計量值的相關特性都處于安定的狀態之下,製品工程狀況良好.2.雙峰型如繪成之直方圖呈雙峰型,則製程為兩種不同之分配組合,亦即可能混合兩個不同群體,如不同機器製造出來的製品,或使用不同的原料,或不同的操作員.3.削壁型削壁型的直方圖,往往是因工程能力不夠,但為求產品合乎規格,而實行全數檢驗所常見的型態.4.缺齒型係因測定值或換算方法有偏差,次數分配不妥當所形成的.5.左偏態型是規格值無法取得某一數值以下所產生之.如治工具的松動或磨損也會出現拖尾巴的情形.6.高原型是因為不同平均值的分配混合在一起引起.7.離島型有異常原因混入.,SPC講義,講師,DAVIDKUO