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文档简介

,专题:用光干涉极值法动态测定膜厚,一、引言:,薄膜光学是物理学领域近期发展出来的一个分支,它主要研究光在分层介质中的传播规律,如介质的折射率、反射、吸收及色散变化的规律等。,对于厚度小于10nm的膜,其光学特性(如折射率和吸收系数)与膜厚有显著的关系。在各种不同的应用中,对薄膜厚度的要求是十分严格的,所以不论何种形式的镀膜设备都需对膜厚进行监测。,思考与讨论:,(1)图中反射光的光程差是多少?,(2)透射光的光程差又是多少?,分组讨论2分钟,分组讨论3分钟,这两束透射的相干光的光程差是:,干涉条件可写为:,思考与讨论:,光强每经过一个周期的变化,膜层的厚度增加多少?,分组讨论2分钟,这种方法的优点是可实现镀膜过程中,膜厚的动态控制。,应用:可用于制作增透膜、增反膜的膜厚控制等。,

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