标准解读

《GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范》这一标准详细规定了HCMOS（高性能互补金属氧化物半导体）数字集成电路的性能要求、测试方法以及合格判定条件，特别针对54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列家族。然而，您提供的比较对象不完整，无法直接对比具体变更内容。

若要分析该标准相较于某一特定前版或其他相关标准的变更，通常需要详细比对两个版本之间在以下几个方面的差异：

  1. 电气特性: 新版标准可能对输入高电平、低电平电压范围、输出高电平、低电平电压、输入电流、输出电流等电气参数进行了调整，以适应技术进步和应用需求的变化。

  2. 功耗: 随着工艺技术的发展，新标准可能会对集成电路的静态功耗和动态功耗提出新的要求，旨在提高能效。

  3. 温度范围: 可能更新了工作温度范围或存储温度范围，以扩大集成电路的应用场景。

  4. 封装形式: 标准可能新增或淘汰某些封装类型，以适应不同的安装和使用环境。

  5. 测试方法和条件: 更新测试流程、测试信号的定义、测试点的选择以及容差范围，以确保测试结果的准确性和可重复性。

  6. 兼容性与互换性: 新标准可能会对不同系列之间的兼容性和互换性做出明确规定，便于用户在设计中灵活替换。

  7. 可靠性要求: 加强对集成电路长期工作稳定性的要求，如增加寿命测试项目、提高抗干扰能力等。

  8. 安全与环保: 随着行业规范和法律法规的变化，新版标准可能会增加关于电磁兼容性(EMC)、有害物质限制(RoHS)等方面的规定。

由于缺乏具体的比较基准，以上仅为一般性说明。若需了解具体的变更详情，需提供完整的标准名称或版本号进行精确对比。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1997-10-07 颁布
  • 1998-09-01 实施
©正版授权
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文档简介

ICS31.200L55中华人民共和国国家标准GB/r170231997idtIEC748-2-2:1992QC790109半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectiontwo-FamilyspecifieationforHCMOSdigitalintegratedeireuitsseries54/74HC.54/74HCT.54/74HCU1997-10-07发布1998-09-01实施国家技术监督局发布GB/T17023-1997前本标准等同采用国际电工委员会标准IEC748-2-2:1992半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第二篇一-HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族舰范及其修改单1(1994）,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流本标准引用的国家标准GB/T4937-1995等同采用IEC749（1984)及修改单1（1993）本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标淮由全国集成电路标准化分技术委员会归门本标准起草单位：电子工业部东北微电子研究所、电子工业部标准化研究所、本标准主要起草人：毕思庆、李燕荣GB/T17023-1997IEC前言1）IEC（国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所游及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议，以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可。3）为了促进国际上的统一.IEC希各国家委员会在本国条件许可的情况下.采用IEC标准的文本作为其国家标准。JEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明。本标准是由SC47A(集成电路)和IECTC47(半导体器件）制定的。本标准是HCMCXS数字集成电路54/74HC、54/,4HCT、54/74HCU系列的族规范本标准文木以下列文件为依据：入个月法表决报告47A（CO）18947A（C0）217表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阁。在本标准封面的QC编号是JEC电子元器件质量评定体系(IECQ)的规范号。本标准引用下列IEC标准：63-2-17(1978）环境试验第2部分：试验武验Q富封747-10(1991）半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范748-2（1985），半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路修改单1（1991）748-2-3（1991）半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第三篇-HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范748-11（1990）半导体器件-集成电路第11部分：半导休集成电路分规范(不包括混合电路）749（1984)半导体器件机械和气候试骏方法修改单1(1991)中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2部分：数宇集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCUGB/T17023-1997系列族规范idtIEC748-2-2:19920C790109SemiconductordeviccsIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectiontwo-FamilyspeciticationforHCMOSdigitalintegratedcircuitsseries54/74HC.54/74HCT,54/74HCU引言IEC电子元器件质量评定体系遭循IEC的章程，并在IEC授权下进行工作。这个体系的目的是确定质量评定程序，使得由一个成员国根据相应规范要求认为合格而放行的电子元器件，在所有其他成员国内不需要再进行检验就能同样地承认其合格。本族规范是与半导体器件有关的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。IEC747-10/QC700000半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范IEC748-11/QC790100半导体器件集成电路第11部分半导体集成电路分规范(不包括混合电路）要求的资料本页和下页括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，应填写在相应的栏中详细规范的识别L1授权发布详细规范的国家标准化机构名称。2详细规范的IECQ编号。L3总规范、分规范的编号及版本号。【4详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他
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