JB-T7786-1995_电力半导体器件检验抽样方法

786规定子i、追加抽q,准适甩于括模块、组或逐批)检或周期)试验和带交收悦拉 ,飞引用标准1序及抽洋表序及抽作表任ay lu:T,二瓜么卜:;一橄器、司一越竺:_工玉士见互品肖一川侧蔺潺万戮乏立资,3。长:履;跳，一厂包含我:批)耀1车4-,粼k,抽取加于f', ;本单泣为全渗36、大:、;。每百单位产品听育苏合N、)一共龚粗3“过履平'. ; 抽样检查中，验用测量、试验或其它方法，把单位产品与技术要求对比的过程。定单位产品是合格品还是不合格品的检查。时间规定，也可按制造的单位产品数量规定)生产过程的稳定性是否符合规定要求，从逐批检查合格的某个批或若干批中抽取样本的检查。c, c)作出批合格判断，样本中所允许的最大不合格品数。e, r)作出批不合格判断，样本中所不允许的最小不合格品数。c, 。、r结合在一起组成的抽祥方案。注:一次抽样方案按检查的宽严程度，分为正常检查、L)提交检查批的批量与样本大小之问的等级对应关系。合格概率(一个批质量已知的批，抽样检查的程序。)明确或制订考核单位产品合格的判据;b)组成与提出检查批; 7786定合格质量水平(检查水平(d)确定样本大小字码;e)检索抽样方案(n, I)抽取样本)判定检查批合格或不合格。通过测试或试验实施。类型(基本型号、尺寸、主持性等)，售批或运输批，可以由几个生产批组成。产品性能参数或不合格(缺陷)的重要程度不同规定不同的值。确定关系到使用安全和可靠性的基本性能参数或属致命缺陷的b)重要性能参数或属严重缺陷的c)器件、组件或模块的d)分立器件的e)构成器件的零部件和附件的L)分为一般检查水平I、I、未指出或说明检查水平的等级，则应认为是一般检查水平I。特殊检查水平在批量小或需小样本时使用。 I、I、则上还应按产品性能参数或缺陷的重要程度分别规定。此外，在采用特殊检查水平时，应注意与合格质量水平协调一致，以防止较小到的最大样本的矛盾。抽样方案的检索a)除另有规定外，检验开始应使用正常检查一次抽样方案;b)由检查批的批量表1得出样本大小字码;c)由得到的样本大小字码在表2中查出对应的样本大小n;d)由祥本大小表2中查出判定数组于是得到了具体的抽样方案(n, 如表2中应使用箭头指向的第一个判定数组和此判定数组所在行的样本大小。当箭头指向的第一个判定数组对应的样本大小抽取样本和实施检查样本应从检查批中随机抽取，抽取方法应能代表批质量，当检查批由若千层组成时，样本应分层按层大小占批量的比例抽取，批的样本由批各层的抽徉组成。根据产品标准或订货合同对单位产品规定的21 7736率甲一$"样方案王要用甘电力半导袜器件的A +!F'沈、:表番澡珍了:、10n),置信度为97、于是由表3甘' %针次抽祥卜寺;A L 和样本大表给缤了:J w:种抽徉方奥浏于。的摘样方案表6给出_厂 试验和耐久性嘻鬓铸，二二二二,M /j,  2t'7 3:i f,f . #f 'J')*一。)进行牛>C;。则判批为不合:持与第一次抽样方案1样方案的合洛判定t,   (隽万而不丽二蔽一_1此。二:一泣沙甲阮厂一祥曰一。习不丁一R, A< R,A, R,。k, ,: .A, R、: Rk。一,'!A, c , R,布一!药一阵生一、1,下刃卜葵井户犷舀讹多二活抓一户一一今r:v:一仁引诊考<34、23毖3、 6:;卜5  5  7   87  R :10  111 7  d，。1几1:一。  7  $1u  11鹅;10" d14  11)一11人气，甲”1  2摄轰l  (粉淤囊:一:一:一、:8麟11)  :澎;:葬飞:14  ' .一、1:。11+夔1摘普娜攀断赓羹基曦象摆夔蒸鬓百照经日云石方、，:或大:方案殉招软乡巴热导压七l，、一。、查水平热翻庵辍蘸裘蒸戴芬谈琪攀粼落F，秘L  硕理给桑r;夏油纽乙鑫)三澎韶瀚舀戴霎粼袭霎蒙禽浅通忿:终只万< R,', 断户卜叭样灭书小一场黔卜、二子二产产，23 7786信度90%)表4批量小于或等于200的小批量超几何抽样方案24 7786)1!:.二，C=6506480100125;:6. 14. 44. 73. 42. 55. 81. 96. 75. 2:1. 45810826942837349398474494285745242857452438575524385755343867553448675534486755344867553448675534416202532402225191327211611272217128:37. 15. 99. 57.