无损检测通用工艺规程

1、无损检测通用工艺规程编制： 张建涛 审核： 黄全军 批准： 日期： 昌吉州天力建设工程质量检测中心 目 录第1章 编制说明 .2第2章超声波检测通用工艺规程 .4第3章磁粉检测通用工艺规程 .12第4章渗透检测通用工艺规程 17第5章 工艺卡附表.21 第一章 编制说明1.1 范围本规程规定了对刚结构焊接接头进行超声检测、磁粉检测、渗透检测的基本要求。本规程适用于本公司刚结构产品的无损检测工作。1.2 引用标准和编制依据下列标准包含的条文，通过在本规程中引用而构成本规程的条文，在规程出版时，所有版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本规程的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。无损检测 焊缝

2、磁粉检测jb/t6061-2007无损检测 焊缝渗透检测jb/t6062-2007承压设备无损检测jb/t4730-2005q/js.ylrq-2008质量保证手册1.3 人员资格及职责1.3.1从事无损检测的人员必须持有国家质量监察机构颁发的并与其工作相适应的资格等级证书。1.3.2从事无损检测的人员校正视力不得低于5.0,从事磁粉、渗透检测工作人员，不得有色盲、色弱。1.3.3检测人员严格执行有关条例、规程、标准和技术规范，保证工作质量。1.3.4评片人员的视力应每年检查一次,要求距离400mm能读出0.5mm的一组印刷体字母。1.3.5检测操作人员必须按委托单要求并同时根据检测工艺规程进

3、行操作，做好检测记录及签发检测报告。1.3.3 无损检测责任工程师的职责见岗位职责。1.4 无损检测方法使用原则1.4.1 射线和超声检测主要用于设备的内部缺陷的检测；磁粉检测主要用于铁磁性材料制设备的表面和近表面缺陷的检测；渗透检测主要用于非多孔性金属材料和非金属材料制设备的表面开口缺陷的检测。1.4.2 铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。1.4.3 当采用两种或两种以上的检测方法对设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。1.4.4 采用同种检测方法按不同检测工艺检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。第2章 超声检测通用工艺规程2.1 适用范围 本规程适用于采

4、a型脉冲反射式超声波探伤仪，对金属原材料、零部件和焊接接头进行超声波检测。2.2 检测时机2.2.1有延迟裂纹倾向的材料其焊接接头应在焊接完成24小时后才能进行检测。2.2.2 锻件检测原则上应在热处理后，槽孔、台阶加工前进行。表面粗糙度ra6.3m。2.3 工件要求2.3.1 焊接接头探头移动区应由送检单位清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质，对咬边、较大的隆起和凹陷等应作适当的修磨至圆滑过渡。2.3.2 原材料及零件部、锻件应由送检单位打磨清除铁屑、锈蚀、油垢等其它杂质。检测表面应平整光滑、便于探头自由扫查，表面粗糙度ra应为6.3m。2.4 探伤仪、探头和系统性能2.4.1 探伤仪采用a型

5、脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为15mhz，仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。探伤仪具有80db以上的连续可调的衰减器，步进级每档不大于2db，其精度为任意相邻12db误差在1db以内，最大累计误差不超过1db。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%。2.4.2 探头a. 超声检测常用单直探头、单斜探头、双晶探头和聚焦探头等。b. 晶片有效面积一般不应大于500mm2，且任一边长不应大于25mm。c. 单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2，主声束垂直方向不应有明显的双峰。d. 双晶直探头性能应符合jb/t4730.3-2005附录a的要求。2.4.3 超声探伤仪和

6、探头的系统性能。a. 在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10db。b. 仪器和直探头组合的始脉冲宽度：对于频率为5mhz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为2.5mhz的探头，宽度不大于15mm。c. 直探头的远场分辨力应不小于30db，斜探头的远场分辨力应不小于6db。d. 仪器和探头的系统性能应按jb/t9214和jb/t10062的规定进行测试。2.5 超声检测一般方法2.5.1 检测覆盖率检测时，应尽量扫查到整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。2.5.2 所确定检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。2.5.3 探头的移动速度。 探头的扫

7、查速度不应超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。2.5.4 扫查灵敏度不得低于基准灵敏度。2.5.5 耦合剂 采用机油、浆糊、水等透声性好且不损伤检测表面的耦合剂。2.5.6 灵敏度补偿a. 耦合补偿在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的能量损耗进行补偿。b.衰减补偿在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。c.曲面补偿对于检测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近（0.91.5）的参考试块，对比进行曲率补偿。 2.6 系统校准和复核2.6.1 一般要求系统校准应在基准试块上进行，校准中应使超声波主声束垂直对准反射体的轴线，以获得

8、稳定的和最大的反射信号。2.6.2 仪器校准 在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性按jb/t10061的规定进行测定。在使用过程中，每隔3个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测，定并作好记录（表2924）。2.6.3 探头测定 新探头使用前应按jb/t10062的有关规定进行前沿距离、k值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力的测定。2.6.4 仪器和斜探头系统，检测前应测定前沿距离、k值、主声束偏离，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。2.6.5 仪器和直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。3.6.6 使用过程中遇有下述情况应对仪器和探头系统进行

9、复核：a. 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时；b. 检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时；c. 连续工作4小时以上时；工作结束时。2.5.6、检测结束前仪器和探头系统的复核每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复核。. 每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。一般对距离波幅曲线的校核不应少于3点。如曲线上一点幅度下降2db，则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复核；如幅度上升2db，则应对所有的记录信号进行重新评定。2.5.7、校准、复核的有关注意事项 校准、复核和对

10、仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的控制器都应放在“关”的位置或处于最低水平上。2.6.7 扫描量程的复核如果距离波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%。则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以标明。2.6.8 距离波幅曲线的复核复核时，校核应不少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2db，则应对上一次以来所有的检测结果进行复检；如幅度上升2db，则应对所有的记录信号进行重新评定。2.6.9 注意事项校准、复核和线性检验时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。2.7 试块2.7.1 试块应采用与被检工件相同或相近似声学性能的材料制成

11、。该材料用直探头检测时，不得有大于2mm平底孔当量直径的缺陷。2.7.2 根据不同的被检工件采用下列标准试块:a.钢板用标准试块: cb、cb；b.锻件用标准试块: cs、cs；c.焊接接头用标准试块: csk-a、csk-a、csk-a。2.7.3 对比试块的外形尺寸应能代表被检工件特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度应由其最大厚度来确定。2.9对接焊接接头超声检测和质量分级使用a型脉冲反射式超声波探伤仪,以单斜探头接触法为主进行探伤。焊接件对接处厚度8400mm的钢制承压设备对接焊缝的超声波探伤。探伤流程图见图2图 2 ut

12、操作流程图2.9.1 a级仅适用母材厚度为8mm46mm的对接焊接接头。可用一种k值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面单侧进行检测。一般不要求进行横向缺陷的检测。2.9.2 b级检测：a） 母材厚度为8mm46mm时，一般用一种k值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面双侧进行检测。b） 母材厚度大于46mm120mm时，一般用一种k值探头采用直射波法在焊c） 接接头的双面双侧进行检测，如受几何条件限制，也可要焊接接头的双面单侧采用两种k值探头进行检测。d） 母材厚度大于120mm400mm时，一般用两种k值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折

13、射角相差应不小于10。e） 应进行横向缺陷的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成1020作两个方向的斜平行扫查。如焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查。2.9.3 c级检测：采用c级检测时应将焊接接头的余高磨平，对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材区域要有直探头进行检测a）母材厚度为8mm46mm时，一般用两种k值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头单面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10，其中一个折射角为45。b）母材厚度大于46mm400mm时，一般用两种k值探头采用直射波法在焊接 接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差

14、应不小于10。对于单侧坡口角度小于5的窄间隙焊缝，如有可能应增加对检测与坡口表面平行缺陷的有效检测方法。c）应进行横向缺陷的检测。检测时，将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向 的平行扫查。2.10仪器、探头2.10.1仪器和探头性能符合5.1.3和5.1.4规定2.10.2探头k值选取符合表16要求表16 推荐采用的斜探头k值板厚t，mmk值6253.02.0(7260)25462.51.5(6856)461202.01.0(6045)1204002.01.0(6045)2.10.3试块2.10.3.1 采用的标准试块为csk-a、a、a。2.10.3.2 csk-a、csk-a适用于壁厚8-

15、120mm焊接接头探伤。2.10.3.2 在满足灵敏度要求的情况下,也可采用其它形式的等效试块。2.10.4检验2.10.4.1 表面准备2.10.4.2 母材金属 焊缝两侧的母材表面移动区域不应有干扰检验的飞溅、锈蚀和油垢等外来杂物，表面粗糙时，应打磨平滑。2.10.4.3焊缝金属对于能干扰检验的焊缝表面应按照检验所需的要求进行制备。2.10.5耦合剂及耦合剂补偿2.10.5.1检验和校验时所用的耦合剂要一致，可使用机油、浆糊或甘油。2.10.5.2耦合补偿可实测或按表17的经验数据。表17表面状况致密氧化皮ra6.3微米表面粗砂轮打磨补偿值（db）0262.10.6扫查要求2.10.6.1

16、斜射波扫查a）采用一次反射法检测时,探头移动区应不小于1.25p;b）采用直射法检测时，探头移动区应不小于0.75p;2.10.6.2直射波扫查时邻近母材时,以找出影响评定斜射波扫查结果的分层或其它种类缺陷,但这个扫查不能作为验收或拒收检验,检测要点是:采用2mhz-5mhz、晶片直径10mm-25mm的直探头，将母材无缺陷处二次底波100%波幅高作为灵敏度，每个超过20%波幅高的缺陷反射体，均应在工件表面作出标记，并记录下来。2.10.6.3距离波幅曲线的绘制2.10.6.4距离波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成。2.10.6.5距离波幅曲线的复核复核时,校准应不少于3点,如

17、果曲线上任何一点幅度下降2db,则应对上一次以 来所有的检测结果进行复核;如果幅度上升2db,则应对所有的记录信号进行重新评定。2.10.6.6注意事项校准、复核和对仪器线性检验时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在”关”的位置或最低水平上。2.10.6.7灵敏度按表18的规定表18试块型式板厚mm评定线定量线判废线csk-a646240-18db240-12db240-4db46120240-14db240-8db240+2dbcsk-a81516-12db16-6db16+2db154616-9db16-3db16+5db4610016-6db1616+10db2.10

18、.7检测方法2.10.7.1平板对接焊缝根据不同检测技术等级选用一种k值接头或两种k值接头2.10.7.1.1为检测焊缝及热影响区的横向缺陷，应进行平行和斜平行扫查。为确定缺陷的位置、方向和形状等，可采用前后、左右、转角和环绕四种探头扫查方式。2.10.7.2 曲面工件对接焊缝2.10.7.2.1可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测。2.10.7.2.2纵缝检测时，对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应不小于10%a） 探头修磨后，用曲率试块实测探头入射点和k值；b） 选择探头k值时，要确保声束能扫查到整个焊缝；c） 曲面半径大于w2/4时，可采用平面对比试块调节仪器，但要注意指示荧屏指示

19、的缺陷深度或小于距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的误差，必要时应进行修正。2.10.7.2.3环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的0.91.5倍。2.10.8缺陷的定量检测2.10.8.1灵敏度应调到定量线灵敏度。2.10.8.2对所有波幅超过定量线的缺陷，应确定其位置、最大反射波幅、缺陷当量和指示长度l。2.10.8.3当用直探头检测时，缺陷当量直径以平底孔直径表示可采用公式计算，用斜探头检测时，用距离波幅曲线和对比试块来确定当量尺寸。2.10.8.4缺陷指示长度l的测定采用端点6db。2.10.9 缺陷的评定2.10.9.1应注意超过评定线的信号是否具有裂纹等危害性

20、缺陷特征，如有怀疑时，应改变探头角度，增加检测面，观察动态波形并结合结构工艺特点作出判定，如不能判断时，应辅以其它检测方法作出综合判定。2.10.9.2缺陷指示长度小于10mm时按5mm计。2.10.9.3相邻两缺陷在同一直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为指示长度。2.10.10 缺陷等级的评定2.10.10.1不允许存在下列缺陷：a) 反射波幅位于判为线及区的缺陷。b) 检测人员判定为裂纹等危害性缺陷。2.10.10.2最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷，均评为级。2.10.10.3不合格的缺陷应予以返修，返修后仍按本规程进行检测和评定。2.1

21、0.11 报告检测报告应至少包括以下内容:a) 委托单位、报告编号；b) 工件名称、编号、材质、热处理状态、检测表面的粗糙度；c) 探伤仪、探头、试块和检测灵敏度；d) 超声检测区域应在草图上予以标明，如有因几何形状限制而检测不到的部位、也应加以说明；e) 缺陷的类型、缺陷等级评定及检测标准名称；f) 检测人员和责任工程师签字及其技术资格；g) 检测日期；第3章 磁粉检测通用工艺规程焊接接头磁粉检测通用工艺规程3.1适用范围本部分适用于铁磁性材料制设备的原材料、零部件和焊接接头表面，近表面缺陷的检测，不适用于奥氏体不锈钢和其它非铁磁性材料的检测。其检测程序见流程图。 mt 操作流程图3.1.1

22、磁化方法3.1.1.1磁轭法本规程用磁轭法。3.2、设备要求3.2.1、磁粉检测设备应符合jb/t8290标准的要求。3.2.2、当使用磁轭最大间距时，交流电磁轭至少应有45n的提升力，交叉磁轭至少应有118n的提升力。3.2.3、辅助器材一般应包括下列器材： a) a1型、c型、d型和m1型试片和磁场指示器；b) 磁悬液浓度沉淀管；c) 210倍放大镜；d) 白光照度计；e）磁场强度计。 3.3、磁粉、载体及磁悬液3.3.1、磁粉应具有高磁导率、低矫顽力和低剩磁，并应与被检工件表面颜色有较高的对比度。磁粉粒度和性能的其他要求应符合jb/t6063的规定。3.3.2、湿法采用水或低粘度油基载体

23、作为分散媒介。若以水为载体时，应加入适当的防锈剂和表面活性剂，必要时添加消泡剂。油基载体的运动粘度在38时小于或等于3.0mm2/s，使用温度下小于或等于5.0mm2/s，闪点不低于94，且无荧光和无异味。3.3.3、磁悬液浓度应根据磁粉种类、粒度、施加方法和被检工件表面状态等因素来确定。一般情况下，非荧光磁粉的磁悬液浓度范围：配制浓度：10-25g/l；沉淀浓度（含固体量）：1.2-2.4ml/100ml。测定前应对磁悬液进行充分的搅拌。3.4、标准试件3.4.1、标准试片主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能，了解被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。标

24、准试片有a1型、c型、d型和m1型，其规格、尺寸和图形应符合jb/t4730.4的要求。a1型、c型和d型标准试片应符合jb/t6065的规定。3.4.2、磁粉检测时一般应选用a1-30/100型标准试片。当检测焊缝坡口等狭小部位，由于尺寸关系，a1型标准试片使用不便时，一般可选用c-15/50型标准试片。为了更准确的推断出被检工件表面的磁化状态，当用户需要或技术文件有规定时，可选用d型或m1型标准试片。3.4.3、标准试片使用方法：a) 标准试片适用于连续磁化法，使用时，应将试片无人工缺陷的面朝外。为使试片与被检面接触良好，可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上，并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺

25、陷。b) 标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。3.4.4、磁场指示器是一种用于表示被检工件表面磁场方向、有效检测区以及磁化方法是否正确的一种粗略的校验工具，但不能作为磁场强度及其分布的定量指示。3.5通电方法3.5.1磁悬液必须在通电时间(13秒)内施加完毕,为保证磁化效果,应至少反复磁化二次,停施磁悬液至少1s后方可停止磁化。3.6磁化方向第一区域应至少分别进行两次检验，在第二次检验中，磁通线的方向应大致与第一次检验区域所采用的方向垂直。3.7电流类型采用交流电。3.8表面制备3.8.1零件表面状态：磁粉检验之前应对受检零件进行外观检查，受检表面及其相邻至少25毫米的区域

26、内不应有松散的锈蚀、氧化皮、焊渣、飞溅物或油污等妨碍检验的物质，如有这类物质，应打磨清理干净后再作磁粉检验。3.8.2在磁粉检验之前，被检验的表面扩所有邻近至少25mm的区域内应是干的，并且没有任何污垢、油脂、纤维屑、锈皮、焊剂和焊接飞溅，或其它能防碍检验的外来物。3.8.3可使用去污剂、有机溶剂、除锈剂、去漆剂、蒸汽除油、喷砂或超声波清洗等方 法达到清洗的目的。3.9检测时机 通常焊缝的检测安排在焊接工序完成后进行，对于有延迟裂纹倾向的材料，磁粉检测应安排在焊后24小时进行。除非图纸或其它技术文件中另有规定,任何零件均应在精加工表面状态,或最终机加工表面状态和最终热处理状态后进行磁粉探伤。3

27、.10磁粉的施加3.10.1湿粉法采用湿粉法时,应确认整个检测面能被磁悬液良好的湿润后,再施加磁悬液。磁悬液的施加可采用喷浇等方法，不可采用刷涂法，无论采用哪种方法均不应使检测面上磁悬液的流速过快。3.10.2磁悬液的施加必须在磁化过程中完成，必须注意，已形成的磁痕不要被流动的悬浮液破坏。3.11灵敏度试片及使用方法a型灵敏度试片用于对被检工件表面有效磁场强度和方向,有效检测区及磁化方法是否正确的测定,磁化电流应能使试片显示清晰的磁痕,使用时应将试片无人工缺陷的面朝外,并紧贴被检面。c型灵敏度试片的作用和用法与a型相同，但当检测焊缝坡口等狭小部位，使用a型灵敏度试片不便时，可用c型灵敏度试片。

28、磁场指示器（八角试块）可用于测试被检工作表面磁场方法检测区以及磁化方法是否正确的一种粗略的校验工具，不可作为磁场其分布的定量指示。使用时，将其平放在被检面上，与工件同时磁化其表面施加磁悬液，以是否出现“*”形磁痕来判定工件是否适当磁化。3.12磁轭法3.12.1磁化电流应根据灵敏度试片或提升力校验来确定。3.12.2磁轭的磁极间距应控制在75-200mm之间，检测的有效区域为两极连线两侧各50mm的范围内，磁化区域每次应有不少于15mm的重叠。3.12磁痕评定与记录3.13.1除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成外,其它一切磁痕显示均作为缺陷磁痕处理.3.13.2长度与宽度之比

29、大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理;长度与宽度之比小于或等于3的缺陷磁痕按圆形处理。3.13.3缺陷磁痕长轴方向与工件轴线或母线的夹角大于或等于30时作横向缺陷处理，其它按纵向缺陷处理。3.13.4两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距小于或等于2mm时，按一条缺陷处理，其长度为两条缺陷之和加间距。3.13.5长度小于0.5mm的缺陷磁痕不计。3.13.6所有磁痕的尺寸、数量和产生部位均应记录并图示。3.13.7磁痕的永久性应在可见采用胶带法、照相法以及其它适当方法。3.13.8磁痕的评定应在可见光下进行，工件被检表面处可见光照度不小于500lx。3.13.9当辨认细小缺陷磁痕时，应用2-10

30、倍放大镜进行观察。3.14复验当出现以下情况时,必须进行复验:a）检测结束时,用灵敏度试片检证检测灵敏度不符合要求;b）发现检测过程中,操作方法有误或技术条件改变时;c）供需双方有争议,认为其它需要时;d）经返修后的部位。3.15缺陷等级的评定3.15.1下列缺陷不允许存在a） 任何裂纹和白点；b） 紧固件和轴类零件不允许任何横向缺陷显示。3.15.2缺陷显示累积长度的等级评定按下表：等级线性缺陷磁痕圆形缺陷磁痕(评定框尺寸为35mm100mm)不允许d1.5,且在评定框内不大于1个不允许d3.0,且在评定框内不大于2个l3.0d2.5,且在评定框内不大于4个大于级注：l表示线性缺陷磁痕长度，

31、mm；d表示圆形缺陷磁痕长径，mm。3.16检验后清理磁粉材料会干扰后续加工或使用时，检验时，检验后应进行必要的清理。3.17检验报告检验报告至少应包括以下内容：a） 委托单位、工件名称、编号；b） 被检工件材质、热处理状态及表面状态；c） 检验装置的名称、型号；d） 磁粉种类及磁悬浮液浓度；e） 施加磁粉的方法；f） 磁化方法及磁化规范；g） 检验灵敏度检验及试片名称；h） 缺陷记录及工件草图（或示意图）；i） 检验结果及缺陷等级评定、检测标准名称；j） 检测人员和责任工程师签字及其技术资格。第4章 渗透检测通用工艺规程4.1适用范围4.1.1本守则适用于金属材料制成的承压设备及其零部件表面

32、开口缺陷的渗透检测方法和缺陷等级评定,其检测程序见流程图.pt 操作流程图4.1.2本守则采用溶剂去除型着色渗透检测方法. 4.2材料及使用要求4.2.1采用表24的渗透检测剂名称牌号制造厂商预清洗剂dpt-5上海苏州美柯达探伤器材有限公司渗透剂dpt-5上海苏州美柯达探伤器材有限公司清洗剂dpt-5上海苏州美柯达探伤器材有限公司显像剂dpt-5上海苏州美柯达探伤器材有限公司4.2.2所应用的各种类型渗透检验用喷罐，必须由同一厂家生产，不得将不同生产厂生产的渗透剂同检测剂混合使用。4.2.3污染物的控制对于镍基合金材料，一定量检测剂蒸发后残渣中的硫元素含量的重量比不得超过1%，如有更高要求，可

33、由共需双方另行商定。对于奥氏体钢和钛合金材料，一定量检测剂蒸发后残渣中的氯、氟元素含量的重量比不得超过1%；如有更高要求，可由共需双方另行商定。4.2.4对于易燃或放出有毒体的材料，应注意生产厂家的说明和要求。4.2.5用于液体渗透检验的溶液可以是易燃和有少量毒害的，在进行检验时，应采用的通风措施，禁止用火。4.2.6如渗透检验是在容器内进行，需采取防毒措施，以防操作人员中毒。4.3 表面准备4.3.1 被检工件表面不得有铁锈、氧化皮、焊接飞溅、毛刺以及各种防护层。4.3.2被检工件机加工表面粗糙度ra12.5m，被检工件非机加工表面粗糙度可适当放宽,但不得影响检验结果。4.3.3表面准备范围

34、包括检测部位及四周向外扩展25mm的区域。4.4 对比试块4.4.1采用镀铬对比试块。4.4.2渗透检验剂开始用时，或对其性能有怀疑时，均应用试块来验证。4.4.3每次对工件实施检验前，或当环境湿度有较大的变化时，均应采用试块验证操作工艺的可靠性。4.5检验程序4.5.1预清洗被检工件表面清理后,再进行预清洗,以除去检测表面的污垢,可用溶剂、洗涤剂进行清洗.4.5.2清洗后的干燥清洗后让工件充分干燥是很重要的，可空气吹干，或者自然干燥。4.5.3施加渗透剂4.5.3.1工件经清洗、干燥并冷却到环境温度（10-50）后，采用喷涂或涂刷方法，对被检工件表面施加渗透剂，使被检表面均匀地覆盖上渗透剂。

35、5.5.3.2应严格控制渗透时间以保证足够的渗透时间，可遵照渗透剂生产厂的指示，一般不少于10mim。4.5.4清除多余的渗透剂应采用干净而不脱毛的布料进行擦拭，尽可能多地去除多余的渗透剂，然后再用干净而不脱毛的布稍微蘸一些清洗剂擦拭表面，直至表面上所有多余的渗透剂都被清除掉。要特别小心地注意避免使用过量的清洗剂，也不得往复擦拭，以便能尽可能减少把缺陷中渗透剂清洗掉的可能，在施加渗透剂之后和显像之前禁止使用清洗剂冲洗被检表面。4.5.5干燥多余的渗透剂被清除之后，应自然干燥（不得加热干燥），干燥时间一般为5-10min。4.5.6显像4.5.6.1多余的渗透剂被清除并且工件经过5-10min的

36、干燥后，应尽快地施加显像剂，应采用喷涂施加到工件表面，禁止用浸没或倾倒法施加，喷涂现场应有适当的通风。4.5.6.2喷涂时应保证工件受检表面能完全均匀地覆盖上一层薄的显像剂薄膜，不可在同一处反复多次施加，喷涂前应将显像剂均匀摇动，喷嘴距工件表面300-400mm成30-40喷射角，然后进行自然干燥或用暖风吹干。4.5.6.3显像时间从工件表面显像剂涂层干燥后立即起算，不得少于7分钟。4.5.7检验4.5.7.1为了保证能有适量的渗透剂从缺陷中渗透到显像剂中涂层中，渗透剂渗出后的760分钟内作出最终判断。如果受检表面太大，无法在规定时间内完成检验，要则应将表面分成若干个部分进行检验，施加显像剂的

37、同时要密切观察工件表面，注意渗透剂渗出扩散的显示特征，这样有助于评定显示的显像。4.5.7.2可用自然光或者用人工白光进行检验，要有足够的照明。4.6复验4.6.1当出现下列情况时必须进行复验:a)检测结束时,用试块验证检测灵敏度不符合要求;b)发现检测过程中操作方法有误,或技术条件改变时;c)共需双方有争议或认为有其它需要时;d)经返修后的部位。4.6.2对复验部位必须进行彻底清洗干净后，按4.6.1条的规定进行复验。4.7后处理检测结束后，为防止残留的显像剂腐蚀被检工件表面或影响其使用，应清除被检工件表面残余显像剂，清除方法可用刷洗、水洗、布或纸擦除等方法。4.8 缺陷显示迹痕分类4.8.1除确认显示迹痕是由于外界因素功操作不当所造成的之外,其它任何大于或等于0.5mm的显示迹痕应作为缺陷处理。4.8.2长宽比大于3的缺陷显示迹痕按线性缺陷处理：长宽比小于或等于3的缺陷迹痕按圆形缺陷处理。4.8.3缺陷显示迹痕长轴方向与工件轴线或母线的夹角大于或等于30时，按横向缺陷处理，其它按纵向缺陷处理。4.8.4两条或两条以上缺陷显示迹痕在同一直线上间距小于或等于2mm时，按一条缺陷处理，其长度为显示迹痕长度之和加间距。4.9 缺陷显示迹痕等级评定4.9.1下列缺陷不允许存在:a) 任何裂纹和白点;b) 紧固件和轴类零件不允许任何横向缺陷显示。4.9.2缺陷显示累积长度