可靠性试验介绍

1、LED产品可靠性试验产品可靠性试验 Reliability Testing Kichler China 2/26/2013 概念：元件、产品、系统在一定时间内、在一定条 件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。 评估方式：产品在规定条件下、规定时间内，完成 规定功能的概率（能力） 可靠性 MTBF（Mean Time Between Failure) 指发生第一次失效，但是维修后可以继续使用到再 次失效的工作时间。 MTTF（Mean Time To Failure) 指发生失效到不可以维修的使用的工作时间 可靠性 影响产品可靠性的因素及其比率分配 内在可靠性 使用可靠性 产品可靠性 设计技术

2、 40% 零部件、原材料 30% 制造技术 10% 使用、操作 维修等 20% 产品可靠性是设计、制造、管理出来的产品可靠性是设计、制造、管理出来的 为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下 几方面 ： 1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定 指标的情况； 2. 生产阶段为监控生产过程提供信息； 3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收； 4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式 和失效机理； 5. 为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供 依据。 对于不同的产品，为了达到不同的目的，可

3、以选择不同的可靠性试验方法。 可靠性试验目的 国标（国家标准） 行标（行业通用标准） 国际标准 企业标准 客户特殊需求定制产品 可靠性设计和检测标准来源 可靠性常用试验 气候环境试验气候环境试验 l 高温负荷试验 l 高温贮存试验 l 恒定湿热试验 l 低温负荷试验 l 低温贮存试验 l 高低温交变试验 机械环境试验机械环境试验 l包装振动试验 l跌落试验 负荷（操作试验）：工作状态试验，供电并输入信号或负载工作。 贮存：仅放置在试验箱，不工作。 1.温度应力对产品的影响温度应力对产品的影响 2.湿度对产品的影响湿度对产品的影响 3.冷热温度冲击对产品的影响冷热温度冲击对产品的影响 4.机械冲

4、击和振动对产品的影响机械冲击和振动对产品的影响 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 1 温度应力对产品的影响温度应力对产品的影响 当讨论产品寿命时,一般采用规则的表达方式。具体应用时可以表 达为10规则等，当周围环境温度上升10时，产品寿命就会减少一半； 当周围环境温度上升20时，产品寿命就会减少到四分之一。这种规则 可以说明温度是如何影响产品寿命（失效）的。 高温对产品的影响：老化、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属 迁移、熔化、汽化变型等 低温对产品的影响：脆化、结冰、粘度增大和固化、机械强度的降低、 物理性收缩等 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 2 湿度对产品的影响湿度

5、对产品的影响 高温高湿条件作用试验样品上，可以构成水气吸附、吸收和扩散等作 用。许多材料在吸湿后膨胀、性能变坏、引起物质强度降低及其他主要 机械性能的下降，吸附了水气的绝缘材料不但会引起电性能下降，在一 定条件下还会引发各种不同的失效，是影响电子产品最主要的失效环境。 湿度对产品的影响：腐蚀、离子迁移、扩散、水解、爆裂、霉菌 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 湿度引起塑封半导体器件腐蚀的失效：湿度引起塑封半导体器件腐蚀的失效： 在硅片上集成有大量电子元件的集成电路芯片及其元件通过导线连接 起来构成电路。由于铝和铝合金价格便宜，加工工艺简单，因此通常被 使用为集成电路的金属线。从进行集成

6、电路塑封工序开始，水气便会通 过环氧树脂渗入引起铝金属导线产生腐蚀进而产生开路现象，成为品质 工程最为头痛的问题。人们虽然通过各种改善包括采用不同环氧树脂材 料、改进塑封技术和提高非活性塑封膜为提高产品质量进行了各种努力， 但是随着日新月异的半导体电子器件小型化发展，塑封铝金属导线腐蚀 问题至今仍然是电子行业非常重要的技术课题。 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 铝线中产生腐蚀过程：铝线中产生腐蚀过程： 水气渗透入塑封壳内湿气渗透到树脂和导线间隙之中 水气渗透到晶片表面引起铝化学反应 加速铝腐蚀的一些因素（加速铝腐蚀的一些因素（铝金属导线腐蚀反应随着是否施加偏压而变化） 树脂材料与晶片

7、框架接口之间连接不够好（由于各种材料之间存在膨 胀率的差异）。 封装时，封装材料掺有杂质或者杂质离子的污染（由于杂质离子的 出现）。 非活性塑封膜中所使用的高浓度磷。 非活性塑封膜中存在的缺陷。 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 冷热温度冲击对产品的影响冷热温度冲击对产品的影响 高温和低温的失效都会反映在冷热温度冲击试验中，冷热冲击试验 只是加速了高温和低温失效的产生。下面归纳了实际生产或使用环境 中存在的具有代表性的冷热温度冲击环境，这些冷热冲击环境常常是 导致产品失效的主要原因。 1温度的极度升高导致焊锡回流现象出现； 2启动马达时周围器件的温度急速升高，关闭马达时周围器件会出现

8、温度骤然下降； 3设备从温度较高的室内移到温度相对较低的室外，或者从温度相对 较低的室外移到温度较高的室内； 4设备可能在温度较低的环境中连接到电源上，导致设备内部产生陡 峭的温度梯度。在温度较低的环境中切断电源可能会导致设备内部产 生相反方向陡峭的温度梯度； 5设备可能会因为降雨而突然冷却； 6当航空器起飞或者降落时，航空器机载外部器材可能会出现温度的 急剧变化。 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 气候环境试验条件气候环境试验条件 检验项目技术要求 高温试验 恒温恒湿试验箱：展台小件类。温度为50，应能持续工作8h，检查样品功能应正 常。注：交互式大屏只做50。 高温老化房：白板大件

9、类。温度为60，应能持续工作8h，检查样品功能应正常。 低温试验在温度为-20下，储存6小时。在0下能持续工作2h，检查样品功能应正常。 湿热试验 在温度为50，相对湿度20%的条件下持续工作4h ，检查样品功能应正常。 在温度为35，相对湿度95%的条件下持续工作4h ，检查样品功能应正常。 高温老化房：白板大件类。在室温25，相对湿度95%的条件下持续工作4h，检查 样品功能应正常。 高低温 交变试验 在温度为-15下搁置2h，然后0.5h内升温至0，再0.5h内升温至50，在50下 保持2h,然后再1h内降温至-15结束试验，最后升温600.5h，样品恢复常温后做 全功能的检查应正常。

10、机械冲击和振动对产品的影响机械冲击和振动对产品的影响 机械冲击和振动主要是针对处于剧烈振动环境中的车用电子设备。可 是最近由于一般电子设备也因为其便携化而变得易受振动，因此机械应 力的应用范围也广泛了。 机械应力所造成的失效主要是连接器、继电器等连接部件，当然对装 配工艺不合理的设计也容易引起元器件的脱落和引线短裂，对元器件内 部工艺不良的产品会引起开路、短路、间歇连接。 环境应力与失效的关系环境应力与失效的关系 机械环境试验条件机械环境试验条件 检验项目技术要求 振动试验 速度：150-200转/分钟；振动时间：4小时；振动幅度：25.4mm 试验后，检查样品外观、结构应正常，应能正常工作。

11、 跌落试验 针对跌落实验国家有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，跌落的高度是根据产品 重量而定，有分90cm、76cm、65cm几个等级。包装货物重量 落下高度 。如下： 0.459.5476.20 9.5518.6360.96 18.6427.72 45.72 27.7345.4530.48 加速寿命试验的目的加速寿命试验的目的 半导体工艺技术的创新在近几年快速的推进。 此外，由于最近要求缩短产品开发时间 产品可靠性处于相同的情况，必须在短时间内知道可靠性特征。 基于这种情况下加速的寿命试验是通过最小样品尺寸和最短的测试时间 来知道可靠性的方法。国际标准定义“加速试验”是“

12、为了缩短测试时 间执行比标准条件更严酷的条件下进行的测试”。在严酷的条件下进行 测试可用少点样品在短时间内预测市场失效率，因而减少要求的时间和 费用证实可靠性。 加速寿命实验加速寿命实验 4.3.2 温度加速温度加速 温度对半导体的寿命影响是很大的，因此使用温度加速寿命的加速试验 的最常见的方法。 温度应力基于的反应是由空气统一，空气模型被广泛用于半导体产品寿 命预测 这种空气模型公式表示如下： ：寿命 Ea：活化能 (eV) T ：绝对温度 (K) A：常量 k ：波尔兹曼系数 上述公式显示半导体寿命取决于半导体受到的温度。 加速的测试利用这一特性被称为温度加速测试不过例如一些因为热载体 的

13、影响导致的失效(高能源载体产生的电场捕捉的栅氧化膜的现象)可能有 负面的活化能值。当加速这些类型的失效，作为温度测试增加试验效果 是减少的。 加速寿命实验加速寿命实验 4.3.3 温湿度加速温湿度加速 大规模集成电路在高温高湿环境为了解暴露在高温、 高湿下进行测试半 导体的寿命。 高温高湿偏压测试，蒸汽压力测试，温湿度环境应力高加速试验等，通常 都被用于湿度加速试验。湿度很少被用作确认防潮的唯一加速因子，而一 般应用温度和湿度应力的组合。这为了促进湿度 （水） 的反应，并导致 增加湿度寿命的加速。 湿度相关寿命的一半公式表示如下： ： 寿命A, n：常量 一直没有关于湿度相关寿命的标准化公式，

14、与每个制造商使用他们自己的 特征常数对加速的寿命计算结果。 特别是与湿度加速度增加至约 100%为加速目的相对湿度可能会导致样品 冷凝，使它不可能确定原始的抗潮湿寿命。因此必须给予温湿度控制做过 的关注。 加速寿命实验加速寿命实验 4.3.4 电压加速电压加速 根据器件特征电压加速试验有很大的不同（MOS 双极和其他过程，电路 配置).对 MOS 集成电路和通常用于评估栅氧化膜的抵抗来说电压加速试 验是有效的。然而很难对双极大型集成电路做电压加速。 电压加速寿命公式表示如下: ：寿命 ：常数V：电压 加速寿命实验加速寿命实验 4.3.5 温差加速温差加速 半导体包括各种各样的材料的组合，并且这

15、些材料的热膨胀系数也广泛的 变化。每次器件经历温差因每种材料的热胀系数之间的差异导致损坏 （内部力量） 累积 （或突然崩溃），导致最终失效。根据温度区别的加 速测试被用于知道寿命。 应用对试验器件是有效的比那些通常遇到更大的温度差的温度循环加速测 试评价由温度差异所引起的损坏。 当暴露于高低温，温度循环试验用于评估器件抵抗的测试，和抗暴露于在 两个极限温度的温度变化的能力。这些测试允许确认半导体产品抗市场上 温度的应力。(例如,经历白天到夜间汽车内遗留的设备所经历的温度变化， 电源开启或关闭器件从高温到自身温度的冷却。). 有关温差的寿命由Coffin-Manson模式定义，, 且表示如下：

16、：寿命A, m：常量 这公式表明加速的测试可以通过提供达到温差建立温度循环寿命。 加速寿命实验加速寿命实验 环境试验环境试验目的目的影响影响 具有代表的具有代表的 试验条件例、其他试验条件例、其他 温度 耐寒 性 调查电子零部件、机器的耐 寒性和低温储藏特性。观察 由于结冰造成体积膨胀后的 特性劣化、功能 性能劣化 、由于收缩形成的机械性特 性 由于膨胀 收缩造成的 热性的、机械性的变形 。软化、脆化的促进、 润滑性的低下、密封、 龟裂、水分的结冰 -85室温 温度分布： 0.51 程序自动运转 LST/ LOT 耐热 性 调查电子零部件、机器的热 性变化。调查有源元件在高 温下的动作或者通电

17、后的劣 化特性。观察润滑特性的劣 化。 促进氧化、扩散等的化 学反应。膨胀、软化、 蒸发、氧化、粘度低下 龟裂、扩散、液体泄漏 室温300 温度分布： 0.51 程序自动运转 HST/ HOT 温度 循环 调查电子零部件、机器的耐 热性应力。对汽车、飞机用 的零部件进行筛选。加速使 用环境利用热容量较大的液 体在短时间内评价热应力的 影响。 由于膨胀收缩造成的变 形、剥离、龟裂、由于 内部水分的蒸发引起的 龟裂、疲劳、加工面的 开裂以及机械的变位造 成的电气特性的变化基 本同上 -65150 程序自动运转 TCO/ DHCT O 热冲 击 观察由于热膨胀系数不同引 起的尺寸变化，以及伴随而 来

18、的材料特性和密闭性的变 化。 以及造型零部件等的龟 裂、端子密封部的评价 、剥离、机械性的变形 等 -65150 试样的异动为5 秒 程序自动运转 TST 环境试验环境试验目的目的影响影响 具有代表的试验具有代表的试验 条件例、其他条件例、其他 湿度 耐 湿 性 调查电子零部件、机 器的湿度引起的劣化 特性。评价绝缘材料 的吸湿特性、储藏、 低温度条件下的干燥 特性。 绝缘低下、促进腐蚀的电解 、结露、膨胀、漏泄电流增 加、变形、特性变化、弯曲 85%RH95%RH 10%RH40%RH 程序自动运转 AHT/ AHTO 湿 度 循 环 除了加速结露特性、 吸湿特性，其它同上 。 呼吸作用、结

19、露、结冰、I M 40 80 20%RH95%RH DHCTO 结露循环 评价由于伴随温湿度 变化发生结露造成的 对材料、零部件、装 置的特性变化和耐热 冲击特性 I M、腐蚀、短路、绝缘不 良、涂膜层的剥离 -3585 60%RH90%RH 切换时间为5秒 温度稳定20秒 Dew Test HAST （PCT） 耐热特性的加速试验 。 观察湿度的浸透 扩 散造成的影响。 IC等膜型的龟裂、密封不良 、封口的剥离、粘接特性、 变形、腐蚀、绝缘劣化、开 裂、粘和剥离 125 /85%RH （121 、100%） 可以进行饱和、不饱和试 验 气压 观察在高空、真空中 、高压条件下零部件 、材料、以

20、及组件的 耐电压等的特性。 电气性耐压的低下、密封（ 气密）不良、接点的寿命低 下、材料的介电系数的变化 、热传导率的变化、绝缘劣 化 133Pa10KPa 环境试环境试 验验 目的目的影响影响 具有代表的试验具有代表的试验 条件例、其他条件例、其他 盐水喷 雾 电子零部件导线处的生锈、腐 蚀以及耐蚀性的加速试验和被 覆、涂装、电镀等的评价。 腐蚀、锈、绝缘低下、 接触阻抗增加、剥离、 变形 35、5%NaCI 35 干燥 湿润 有些可以做铜催化乙酸试验。50 5%盐水+氯化铜+冰醋酸 耐候性 试验 观察由于紫外线以及其它放射 线造成的零部件、材料的特性 劣化 褪色、脆弱化、高分子 材料的龟裂

21、、变形、密 封不良 太阳光等价 有毒气 体复合 试验 H S/SO 评价由大气污染和材料所发生 的腐蚀性气体等对导线、金属 部的耐腐蚀环境特性的加速试 验 由腐蚀性气体造成的腐 蚀、生锈、绝缘低下、 接触不良、断线、接触 阻抗增大 单独或者复合气体 SO , H S、NO , CI 0.001ppm100ppm 酸性雨观察酸性雨造成的影响同上 PH=46 沙尘、 尘埃 观察由于侵入龟裂、接触部可 动部造成的接触不良引起的功 能 性能的劣化。气密性、绝 缘、腐蚀 误动作、腐蚀、表面的 磨耗、堵塞、带电、绝 缘低下、磨灭、漏泄 沙、棉、灰尘 臭氧 零部件、材料、产品的特性劣 化 变形、开裂、氧化、

22、有 机材料的脆化 0.0120mg/m 环境试验环境试验目的目的影响影响 具有代表的试具有代表的试 验验 条条 件例、其他件例、其他 振动Vibration 用于电子零部件的疲劳试验 、产品的加振试验。另外用 于同样目的还可以观察电子 零部件材料装置的包装物在 运输以及各项处理时对振动 的构造强度 由机械性松动、疲劳破坏、 断线、共振造成的破损、插 口接触不良、结合部的磨耗 、共振破坏、导线的断线、 干扰、异常振动的发生、开 裂 22000Hz 60G 冲击Shock 同上观察针对冲击的构造强 度 基本同上 101000G/ 160ms 碰撞 Bump观察零部件、材料、产品等 在运输中所受的疲

23、劳强度 基本同上 40G/6ms、 20G/11ms 牵 拉/ 弯曲 Bend/ Pell 观察产品材料的伸张特性等 的机械强度切断、折断、变形、伸张 一次或多次重 复 霉菌 促成霉菌的发生所造成的材 料特性的变化 绝缘低下、短路、腐蚀、生 锈、侵蚀、污浊、光学部分 透过率低下 焊接耐热 观察电子零部件的焊接性能 、强度以及耐热特性、接续 性 焊锡龟裂、卷线端子部松动 、零部件的热特性变化、绝 缘物的软化、变形 200400 带电、电磁诱导 、静电气 干燥时的静电故障、电子零 部件、装置的耐静电特性、 噪声容限 电波干扰、绝缘破坏、垃圾 附着、误动作、半导体及其 它零部件破坏、继电器的寿 命评

24、价、动作停止失常 10KV30KV 高温试验高温试验 低温试验低温试验 温度循环温度循环 温度冲击温度冲击 恒温恒湿恒温恒湿 交变潮热（湿热）交变潮热（湿热） 环境试验内容环境试验内容 v机械振动，跌落机械振动，跌落 v冲击和碰撞冲击和碰撞 v高压蒸煮试验高压蒸煮试验 v盐雾试验盐雾试验 v气体腐蚀试验气体腐蚀试验 v其他试验其他试验 高温试验高温试验 产品寿命遵循10规则，因而高温试验作为最常用的试验，用于元器件 和整机的筛选、老化试验、寿命试验、加速寿命试验、评价试验、同时在 失效分析的验证上起重要作用。 高温试验的技术指标包括：温度、时间、上升速率。 注意产品和元器件的最大耐受温度极限。

25、 样品放入试验箱内为保持样品的受热均匀性，样品距离箱壁的距离最少为 5cm GB/T 2423.2中高温的试验方法分：散热样品的温度渐变，非散热样品的温 度渐变 试验结束后需要将样品在箱体内恢复至稳定状态，或将样品放置在常温常 湿环境下进行恢复至稳定状态。 环境试验内容环境试验内容 高温试验设备 环境试验设备环境试验设备 可程式恒温恒湿箱 内部尺寸：1000X1000X1000mm 温度范围：-70150 烘箱 内部尺寸： 温度范围：常温200 充氮烘箱 内部尺寸： 温度范围：常温30000 低温试验低温试验 低温试验用于考核产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性，常用于产 品在开发阶段的型式

26、试验、元器件的筛选试验。 低温试验的技术指标包括：温度、时间、上升速率。 注意产品从低温箱取出时由于温度突变会产生冷凝水。（对温度循环、温 度冲击、湿热试验均适用） 样品放入试验箱内为保持样品表面温度的均匀性，样品距离箱壁的距离最 少为5cm GB/T 2423.1中低温的试验方法分：散热样品的温度渐变，非散热样品的温 度渐变 试验结束后需要将样品在箱体内恢复至稳定状态，或将样品放置在常温常 湿环境下进行恢复至稳定状态，在特定环境下会要求对样品吹稍热的风进 行解冻再进行升温至稳定状态。 环境试验内容环境试验内容 低温试验设备 环境试验设备环境试验设备 可程式恒温恒湿箱 内部尺寸：1000X10

27、00X1000mm 温度范围：-70150 温度冲击温度冲击 温度冲击试验目的是为了在较短的时间内确认产品特性的变化，以及由 于构成元器件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。这些变化 可以通过将元器件迅速交替地暴露于超高温和超低温的试验环境中观察 到。 冷热冲击试验不同于环境模拟试验，它是通过冷热温度冲击发现在常温 状态下难以发现的潜在故障问题。决定冷热温度冲击试验的主要因素有： 试验温度范围、暴露时间、循环次数、试验样品重量及热负荷等。 温度冲击设备有：两箱法、三箱法和液槽式三种，其中设备内湿度不能 超过50%RH即20g/m。 公司常做的快捷温度冲击的条件：-65，150，停留时间1

28、4min，循环 次数：300个（如下图为此试验单个循环的温度曲线） 注意产品试验结束后应对样品有12小时的恢复期。 环境试验内容环境试验内容 温度冲击试验设备 环境试验设备环境试验设备 温度冲击箱（德国 weiss） 内部尺寸：300X485X450mm 两箱式，提篮式 温度范围：-70165 温度冲击箱（富奇） 内部尺寸： 两箱式，提篮式 温度范围：-70165 冷热冲击试验与温度循环试验的区别冷热冲击试验与温度循环试验的区别 环境试验内容环境试验内容 冷热冲击试验冷热冲击试验温度循环试验温度循环试验 温度变化速率温度变化速率 急剧2030/min 缓慢15/min 循环次数循环次数 510

29、个循环（多至1000循环） 510个循环（多至1000循环） 热平衡热平衡 正好到达（液槽式为到达） 到达 试验时间试验时间 短长 用途用途1.膨胀系数不同引起的连接部剥离 2.膨胀系数不同龟裂后水分进入 3.水分渗入导致腐蚀及短路现象发 生的加速试验 1.通过长期试验发现腐蚀倾向 2.长时间地多次循环观察应力疲劳现象 3.调查分析市场失效的相关性 使用设备使用设备冷热冲击试验箱高低温试验箱 恒温恒湿恒温恒湿 产品失效因为湿度的影响占40以上，因此湿度试验在环境试验中是必 不可少的。常用于寿命试验、评价试验和综合试验，同时在失效分析的 验证上起重要作用。尤其对含有树脂材料的产品在产品开发和质量

30、评估 时该试验是必须的。 恒温恒湿的技术指标包括：温度、相对湿度、试验时间 注意产品试验结束后应对样品有12小时的恢复期。 常做的双85指定就是温度85，湿度85 环境试验内容环境试验内容 高低温试验设备 环境试验设备环境试验设备 可程式恒温恒湿箱 内部尺寸：1000X1000X1000mm 温度范围：-70150 温湿度箱（德国 weiss） 内部尺寸： 温度范围：-40120 湿度范围：1098%RH 交变潮热（湿热）交变潮热（湿热） 模拟热带雨林的环境，确定产品和材料在温度变化，产品表面产生凝露 时的使用和贮存的适应性。常用于寿命试验、评价试验和综合试验。 交变湿热的技术指标包括：温度、

31、相对湿度、转换时间、交变次数。 注意试验结束后应对样品有12小时的恢复期。 环境试验内容环境试验内容 交变湿热试验设备 环境试验设备环境试验设备 温湿度箱（德国 weiss） 内部尺寸： 温度范围：-40120 湿度范围：1098%RH 温变率：3/min 机械振动机械振动 描述： 振动试验，英文：Vibration Test，在试验中，模拟产品在于制造、组 装、运输、及使用执行阶段中所遭遇的各种振动环境，用以鉴定产品是 否忍受环境振动的能力。 机械振动试验用来确定机械的薄弱环节，产品结构的完好性和动态特性、 常用于型式试验、寿命试验、评价试验和综合试验。 机械振动试验中有一类故障的发生，不是

32、在一个特定条件下就不会发生， 或不在这种特定条件中这种故障不会轻易地被测量出来，或是故障的再 现性很差（即很难预测到它何时会发生），因此机械振动试验在许多情 况下，产品是需要处于工作状态并连续测试的。例如继电器、连接器等。 环境试验内容环境试验内容 机械振动机械振动 分类： 按试验样品可分为：单机振动，包装振动（一般为随机振动） 按振动试验类型分类： 正弦振动（Sinusoidal Vibration)、 随机振动(Random Vibration) 、正弦拍 频振动（Sine-beat Method)、时间历程振动(Time-history Method） 一、正弦振动（Sinusoidal

33、 Vibration) 试验参数: 频率范围、 振幅值（加速度值）、 试验持续时间、 振动方向 正弦振动试验由以上3个参数共同确定。 一般低于交越频率由振幅确定，大于交越频率由加速度值（G值）确定。 注意振动幅值的峰值Vp和峰峰值Vpp是不同的。 二、随机振动 试验参数: Grms 均方根加速度、频率（点）、ASD 加速度频谱密度、 试 验持续时间、振动方向 随机振动试验由以上4个参数共同确定。实际上通过频率（点）和ASD可 以计算出 Grms值。 环境试验内容环境试验内容 机械振动设备 环境试验设备环境试验设备 振动机 频率范围：52000HZ 位移：25mm 台面大小：500X500X50

34、0mm 承受的力：300N 跌落试验跌落试验 描述： 跌落试验，又名drop test。 用来模拟产品在搬运期间可能经受到的跌落等。 包括 （1）非包装状态产品在搬运期间可能经受的自由跌落，样品通常按 照规定的姿态从规定的高度跌落到规定的表面上。 （2）模拟负载电缆上的连接器、小型遥控装置等在使用中可能经受 的重复自由跌落。 （3）包装跌落 主要参数 1、 跌落高度 2、 跌落次数 3、 跌落表面 受限制因素： 1、 高度 2、.样品外形（针对自由跌落） 环境试验内容环境试验内容 跌落实验设备 环境试验设备环境试验设备 跌落机 高度范围： 台面大小： 承受的重量： 冲击和碰撞冲击和碰撞 许多产

35、品在使用、装卸、运输过程中都会受到冲击。冲击的量值变化很 大并具有复杂的性质。因此冲击和碰撞试验适用于确定机械的薄弱环节， 考核产品结构的完整性。 机械冲击试验，又名mechanical shock.试验目的用来揭露机械弱点和（或） 性能下降情况。 冲击试验的技术指标包括：峰值加速度、脉冲持续时间、速度变化量 （半正弦波、后峰锯齿波、梯形波）和波形选择。冲击次数无特别要求 外每个面冲击3次共18次。 碰撞试验的技术指标包括：峰值加速度、脉冲持续时间、速度变化量 （半正弦波）、每方向碰撞次数。 注意冲击和碰撞的方向应是6个面，而不是X、Y、Z 三方向。 环境试验内容环境试验内容 冲击实验设备 环

36、境试验设备环境试验设备 高压蒸煮试验（高压蒸汽恒定湿热试验）高压蒸煮试验（高压蒸汽恒定湿热试验） 高压蒸煮试验采用高压高湿条件，考核塑料封装的半导体集成电路等电 子器件的综合影响，是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力， 常用于产品开发、质量评估、失效验证。 压力试验的技术指标包括：大气压力、相对湿度（饱和或非饱和） 、温 度、试验时间。 环境试验内容环境试验内容 恒温恒湿实验设备 环境试验设备环境试验设备 高温高湿箱（无锡克隆） 内部尺寸：300X485X450mm 温度范围：-10100 湿度范围：常湿98%RH 温湿度箱（德国 weiss） 内部尺寸： 温度范围：-40120 湿度

37、范围：1098%RH 温变率：3/min 太阳辐照试验太阳辐照试验 紫外光耐气候：紫外光耐气候： 试验目的：光老化试验就是评 定户外无遮蔽使用和储存的设备经受太阳辐射 热和光学效应的能力。 试验参数：温度，湿度，灯型波长，辐照强度，光照黑暗周期，持续时间 氙氙灯耐气候：灯耐气候： 试验目的：光老化试验就是评定户外无遮蔽使用和储存的设备经受太阳辐射 热和光学效应的能力。 试验参数：温度，湿度，辐照强度，光照黑暗周期，持续时间 紫外与氙灯的区别：主要是使用的光源不一样，其中： 紫外灯的波长是指定的UVA / UVB 340/400nm 氙灯的波长是290800nm。 环境试验内容环境试验内容 太阳

38、辐射试验设备 环境试验设备环境试验设备 紫外灯耐气候试验箱 内部尺寸： 灯型：UVA,UVB 温度范围：常温100 湿度范围：常湿98%RH 网址：http:/ 氙灯耐气候试验箱 内部尺寸： 波长范围：290800nm 辐射强度：5501120w/m 温度范围：常温100 湿度范围：常湿98%RH 盐雾试验盐雾试验 盐雾试验模拟海洋或含盐潮湿地区气候的环境，用于考核产品、材料及 其防护层抗盐雾腐蚀能力。有盐雾试验和交变盐雾试验两种试验。常用 于在特殊条件下的质量评估、失效验证。 种类： 中性盐雾试验（NSS），醋酸盐雾试验 (ASS)，铜盐醋酸加速盐雾试验 (CASS) 盐雾试验的技术指标包括

39、：盐溶液浓度、相对湿度、温度、盐雾时间、 贮存时间、试验周期，集雾量，PH值。 各种盐雾试验参数的区别： 注意试验结束后试验样品需立即冲洗干净。 环境试验内容环境试验内容 盐雾试验设备 环境试验设备环境试验设备 盐雾试验箱 箱体尺寸： 可做盐雾种类：中性盐雾试验（NSS），醋酸 盐雾试验 (ASS)，铜盐醋酸加速盐雾试验 (CASS) 气体腐蚀试验气体腐蚀试验 气体腐蚀试验主要应用于接触点和连接件，试验后的评定标准是接触电 阻变化，其次是外观变化。主要的腐蚀气体为二氧化硫和硫化氢 气体腐蚀试验的技术指标包括：浓度、相对湿度、温度、流速、试验时 间。 环境试验内容环境试验内容 气体腐蚀试验设备

40、环境试验设备环境试验设备 其他试验其他试验 霉菌试验、低气压试验、沙尘试验、水试验（淋雨试验）、恒加速试验 （离心试验） 综合环境试验: 温度/湿度/高度、温度/湿度/振动 环境试验内容环境试验内容 淋雨试验设备 环境试验设备环境试验设备 老化试验设备 老化试验设备老化试验设备 高压、中压、常压、低压、高温、漫游、波动等电压区的老练 可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例 高温试验： 主要测试设备：高温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。 主要测试项目：高温低压启动、高温高压安全运行。 测试数量：10个。 测试方法：把待测产品放进高温箱，连接电路，把调压器的输出 电压调至产品额定电压的80%（调压

41、器仅给待测产品供电），打 开恒温箱电源，把温度设定在60，待箱内的温度升至60时打 开灯具的电源，观察产品是否正常工作，然后把调压器的输出电 压升至产品额定电压的115%，让其工作24小时，观察实验结果。 若发生产品损坏材料受热变形等异常现象时则该项试验为不合格。 可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例 高温高压冲击启动试验： 主要测试设备：高温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。 主要测试项目：高温启动性能和可靠性 测试数量：10个。 测试方法：接上项试验。在高温状况下，把调压器的输出电压升 至产品额定电压的115%，开关三次，每次间隔不少于30秒钟（间 隔30秒钟是要待产品内的电容全部放电，减少相互干扰），在此 过程中，产品不应损坏，否则将视为不合格。 可靠性试验规范可靠性试验规范示例示例 低温试验： 主要测试设备：低温箱、温度计、调压器、电压表和时钟。 主要测试项目：低温低压启动。 测试数量：10个。 测试方法：把待测产品放进低温箱，连接电路，把调压器的输出 电压调至产品额定电压的80%（调压器仅给待测产品供电），打