阵列感应资料处理培训ppt课件

1、12345阵列感应MIT5530仪器67电源带通滤波前置放大线圈系压力平衡发射驱动数据采集处置与控制阵列感应MIT5530配套100KBPS遥测处置软件刻度安装1.1 MIT5530阵列感应仪器总体组成阵列感应仪器总体组成MIT5530阵列感应仪器线圈系构造阵列感应仪器线圈系构造1.2 MIT5530阵列感应线圈系构造阵列感应线圈系构造1.2 MIT5530阵列感应线圈系构造阵列感应线圈系构造MIT5530原始丈量信号原始丈量信号1.3 MIT5530阵列感应丈量信号阵列感应丈量信号1.3 MIT阵列感应呼应特性阵列感应呼应特性012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.

2、54.04.5 RGF (1/m) (m) 子 阵列1 子 阵列2 子 阵列3 子 阵列4 子 阵列5 子 阵列6 子 阵列7 子 阵列8012345-0.10.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.0 IRGFR (m) 子 阵列1 子 阵列2 子 阵列3 子 阵列4 子 阵列5 子 阵列6 子 阵列7 子 阵列8-5-4-3-2-1012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.0 VGF (1/m)z (m) 子 阵列1 子 阵列2 子 阵列3 子 阵列4 子 阵列5 子 阵列6 子 阵列7 子 阵列81.4 MIT5530阵列感应技术目的阵

3、列感应技术目的1.5 MIT5530阵列感应仪器顺应范围阵列感应仪器顺应范围MIT55305530短阵列丈量误差较大nMIT55305530最正确任务范围：Rt 在0.2-100m， Rt/Rm应在白色区域内。nMIT5530阵列感应仪器适用最正确井眼条件：钻头直径在6150cm- 12(300cm)，当井眼尺寸大于12时，合成的误差能够较大。MIT55305530一切阵列丈量误差较大1.6 MIT5530阵列感应仪器优点阵列感应仪器优点v监控曲线监控曲线QCQC断定断定v测井曲线合理性断定测井曲线合理性断定 QCQC曲线断定：曲线断定：MIT5530MIT5530仪器质量监控曲线仪器质量监控

4、曲线QCQC数值变化范围应小于数值变化范围应小于1010。且。且QCQC曲线无突变。否那么需重新加电测井。曲线无突变。否那么需重新加电测井。 原始曲线合理性断定：原始曲线合理性断定： MIT5530MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合实际呼应。其典型原始曲线在典型地层情况下应符合实际呼应。其典型地层主要有：均质地层呼应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低地层主要有：均质地层呼应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下实际呼应。在判别原始曲线关系时，应选择典型厚侵厚层情况下实际呼应。在判别原始曲线关系时，应选择典型厚层进展曲线关系分析，假设与实际图版相符，即仪器任务形状正层进展曲线关系分

5、析，假设与实际图版相符，即仪器任务形状正常。常。0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfLMIT5530均质地层呼应MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器预热缺乏刻度文件加载错误测井遇卡硬件缺点3.1 MIT5530阵列感应曲线命名规范3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响 MIT5530测井影响要素: 温度影响 井眼影

6、响 趋肤效应 围岩影响4.2 趋肤效应影响趋肤效应影响0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfL偏心度偏心度dhdh井眼直径井眼直径RFRFMudMudRMRM深度深度=0.25m, =0.25m, 分辨率分辨率=0.3m=0.3m深度深度=0.50m, =0.50m, 分辨率分辨率=0.6m=0.6m深度深度=0.75m, =0.75m, 分辨率分辨率=1.2m=1.2m深度深度=1.5m, =1

7、.5m, 分辨率分辨率=1.5m=1.5m深度深度=2.25, =2.25, 分辨率分辨率=1.8m=1.8m4.5 MIT5530预处置预处置4.6 MIT5530井眼校正井眼校正的，探测深度深必定分辨率低，探测深度浅那么分辨率高。4.7 MIT5530合成处置合成处置AT90n四英尺匹配 AF10、AF20、AF30、AF60、AF904.8 MIT5530反演反演处置环节质量控制处置环节质量控制 处置环节质量控制主要是断定处置过程中参数处置环节质量控制主要是断定处置过程中参数选取能否适宜，井段的选择应以井眼相对规那么的选取能否适宜，井段的选择应以井眼相对规那么的大段泥岩段作为判别点，结合

8、浸透层曲线进展综合大段泥岩段作为判别点，结合浸透层曲线进展综合判别；处置效果可以经过井眼校正曲线和真分辨率判别；处置效果可以经过井眼校正曲线和真分辨率聚焦曲线来综合断定。聚焦曲线来综合断定。图20正演模拟无侵地层合格的处置效果 图21正演模拟无侵地层过校正效果图正演模拟无侵地层欠校正效果图 吉林红井合格的处置效果吉林红井过欠校正处置效果 在井眼相对规那么的大段泥岩段，合格的井眼校正曲线经过真分辨率聚焦，其聚焦曲线关系应与其分辨率关系相一致。即合成浅探测曲线分辨率高，合成深探测分辨率低。在非浸透层即出现短阵列在长阵列左右摆动的景象。这是由于其分辨率差别导致。 井眼相对规那么的大段泥岩段，井眼校正过校正或欠校正那么在其合成曲线中会出现短阵列在长阵列左侧或右侧的景象。此景象为校正不当，需求适当调整处置参数。 MIT5530匹配曲线关系：匹配曲线关系：MIT5530匹配曲线在在典型浸透层低阻环带除外情况下应匹配曲线在在典型浸透层低阻环带除外情况下应满足：满足：当当Rmf Rw 时：时： AX10=AX20=AX30=AX60 Rw时：时： A