无损检测仪器设备的期间核查方法

1、无损检测仪器设备的期间核查方法一、 射线检测1、 曝光曲线的核查方法1.1核查周期射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。1.2准备 准备一块阶梯试块（图1）和2块补充试块，材料与被透照工件相同或相近。其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10（mm）。胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。图1 制作曝光曲线的阶梯试块1.3 透照 各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次，曝光时其他参数（曝光时间、焦距）与制作曝光曲线时一致。得到一组胶片。 表一 管电压（KV）机型低中高16056010014020058

2、0130180250512018023030051402102801.4 暗室处理：按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。1.5 测定：分别测定底片黑度为3.0（该黑度值与曝光曲线一致）时，对应的阶梯试块厚度。1.6 核查结果判定：当上述测定的三个厚度值，与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在2mm范围内，曝光曲线合格。否则为不合格，应重新制作。1.7 曝光曲线核查记录，按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL120”的表格进行记录。2、黑度计（光学密度计）的核查方法2.1. 适用范围本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验，使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。

3、黑度计应每6个月校验一次，标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。2.2. 校验需用标准器具检定合格的标准黑度片一个。2.3 操作步骤2.3.1 接通黑度计电源和测量开关，预热10min 左右。2.3.2 用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。2.3.3 按3.2的规定反复测量三次。2.3.3 计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。2.3.4 对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过0.05，否则黑度计应校准、修理或报废。2.4 记录及标识校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按黑度计校验报告内

4、容对测试数据认真记录并评价结论。2.5 黑度计核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL121”的表格进行记录。3、观片灯的亮度和均匀度的核查方法3.1核查周期观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查。3.2 技术要求3.2.1亮度观片灯应具有按照照相底片的黑度进行亮度选择的装置。观片灯亮度要求的最小值见表二。 表二底片黑度观片灯亮度（cd/m2）1.03004.0100000透过射线照相底片的亮度，当底片黑度2.5时，应不小于30 cd/m2；当底片黑度2.5时，应不小于10 cd/m2。3.2.2均匀系数观察屏各部分应有均匀照明，均匀系数应大于0.5。3.3 核查方法3.3.1一般要

5、求所有的光度测定均在暗室进行，照明光度计必须放在测定范围的中心，而且即使当观察屏完全被遮住后，从观片灯漏出的光不影响测定。3.3.2核查设备 试验时所用设备须持有国家计量单位签发的有效证书，测量光学参数时所用的亮度计应符合JJG 221的要求。3.3.3 亮度测定 观片灯亮度测定用亮度计进行。3.3.4均匀系数测定 照明均匀系数测定用亮度计进行。把观察屏分成若干正方形，正方形每边长3.5cm，分别测定每个正方形的亮度。找出四个最大亮度值和四个最小亮度值，并计算出Lmax和Lmin亮度的算术平均值，均匀系数g=Lmin/Lmax。3.4 观片灯的亮度和均匀度核查记录按“文件编号：YTHNDT/Q

6、M04C-JL122”的表格进行记录。二、超声检测1 试块的核查方法1.1 初次使用的标准试块、对比试块，应有有效的合格证书。1.2 标准试块、对比试块每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查；每4年应采用经校准的器具对其半径及其他尺寸进行核查。1.3 超声试块的核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL123”的表格进行记录。2 水平线性和垂直线性核查方法水平线性和垂直线性核查方法见我公司“超声波探伤系统校验规程”，每隔3个月应核查一次。垂直线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL124”的表格进行记录。水平线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-J

7、L125”的表格进行记录。3 探头使用前主要参数核查方法探头使用前，应进行前沿距离（入射点）、K值与双峰、主声束偏离等主要参数核查。3.1前沿距离的核查方法3.1.2测试设备探伤仪及CSK-IA试块。3.1.3测试方法 将斜探头压在试块上如图2 所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。使声束朝向R100 mm的曲面，并在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，至曲面回波的幅度达到最大。图2读出试块上R100 mm圆心标记线所对应的探头侧面刻度，此刻度位置即斜探头的入射点，读数应精确到0.5 mm。前沿距离：用刻度尺测量入射点到探头前沿距离，读数应精确到0.5 mm。3.2

8、 K值的核查方法 测试设备同3.1.2。将斜探头压在试块上的不同位置，如图5a）和图5b），中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。a） b） c）图3a）当K值为1.01.5 时，探头放在图3a）的位置，使用50 mm孔的回波进行测定。b）当K值为2.03.0 时，探头放在图3b）的位置，使用50 mm孔的回波进行测定。在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，使回波达到最大。从探头入射点在试块侧面所对应的刻度值即可直接读出斜探头的K值。3.3 双峰的核查方法 探头双峰用CSK-IA深度15mm的1.5横通孔来测定。如图4a）所示。探头对准横孔，并前后平行移动，当显示屏上出现图4b

9、）所示的双峰波形时，说明探头具有双峰现象。图43.4主声束偏离的核查方法测试设备同3.1.2。将探头置于CSK-IA标准试块25mm厚的表面上，其中，对于K1的探头，测试时用试块上端面；如图5（a），对于K1的探头，测试时用下端面，如图5（b），前后移动和左右摆动探头，使所测试端面回波幅度最高，然后用量角器测量探头侧面与试块端面法线的夹角，如图5（c）。夹角表示主声束偏离，读数精确到0.5。 图53.5 探头使用前核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL126”的表格进行记录。4 超声检测系统使用前主要参数核查方法4.1斜探头主要参数核查方法斜探头前沿距离、K值及主声束偏离核查方法

10、同3条。4.2 直探头主要参数核查方法4.2.1 始脉冲宽度4.2.1.1测试设备 探伤仪、标准试块CSK-IA、对比试块DB-P(Z20-2)。4.2.1.2测试步骤 a)调节探伤仪的发射强度，使被测探头阻尼电阻值接近其等效电阻。 b)将被测探头置于CSK-IA标准试块上厚度100mm处，调节探伤仪，使第一次底波B1前沿对准水平刻度“5”，第二次底波B2前沿对准水平刻度“10”，并使B2的幅度为垂直刻度的50%80%,如图6（a）。 c）将探头置于对比试块DB-P(Z20-4)上，移动探头使孔波最高，调节（衰减器）使孔波幅度为垂直刻度的50%，再把（衰减器）的衰减量减少12dB，然后读取从刻

11、度板的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离W1如图6（b），W1为负载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示。图6 d）将探头置于空气中，摖去其表面油层，读取从刻度板的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离W0，W0为空载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示。4.2.2 灵敏度余量4.2.2.1测试设备 探伤仪、对比试块DB-P(Z20-2)。4.2.2.1方法 a)探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其他调整取适当值，最好选取在随后检测工作中将使用的调整值。 b)将仪器的增益调至最大，但如电噪声较大时应降低增益（调节增益控制器或衰减器），使电噪声电平降至10%满刻度。设此时衰

12、减器的读数为s0。 c）将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，移动探头，使平底孔回波最大，调节衰减器，使平底孔回波高度降至50%满刻度。设此时衰减器的读数为si。 d）超声检测系统的灵敏度余量s=si-s0。4.2.3 分辨力4.2.3.1测试设备 探伤仪、CSK-IA试块。4.2.3.1方法 a)探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其他调整取适当值。b)将探头压在试块上如图7所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。调整仪器的增益并左右移动探头，使来自A、B两个面的回波幅度相等并约为20%30%的满刻度，如图7中h1。c）调节衰减器：使A、B两波峰间的波谷上升到原来波

13、峰高度，此时衰减器所释放的dB数（等于用衰减器的缺口深度h1/h2之值）即为以dB值表示的超声检测系统的分辨力X。图7 直探头的分辨力测试和回波显示4.2.4 直探头主要参数核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL127”的表格进行记录。三、磁粉检测1 提升力核查方法 磁粉探伤机的提升力，至少每半年应采用经校准的提升力重力试块进行核查。在磁轭损伤修复后应重新核查。 当使用磁轭最大间距时，交流电磁轭至少应有45N的提升力；直流电磁轭至少应有177N的提升力；交叉磁轭至少应有118N的提升力（磁极与试件表面间隙为0.5mm）。 磁粉探伤机提升力核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM0

14、4C-JL128”的表格进行记录。2电流表精度核查方法 电流表在探伤机上与电流互感器或分流器一起校验，至少半年校验一次。当设备进行重要电气修理、周期大修或损坏时，应进行校验。 （a）交流电流表核查方法 使用标准交流电流表（指已校验过的精度高一级的电流表）和标准电流互感器在探伤机上校验交流电流表的电路如图8-1所示。如果探伤机的额定周向磁化电流为9000A，则可选用9000/5的标准电流互感器和5A的标准交流电流表进行校验。将一长为500mm，直径至少25mm的铜棒穿在电流互感器中，夹持在探伤机的两夹头之间通电，至少应在可使用的范围内选三个电流值，比较标准电流表与探伤机上电流表的读数值，误差小于

15、10%为合格。磁粉探伤机交流电流表精度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL129”的表格进行记录。 图8-1 校验交流电流表的电路 图8-2 校验直流电流表的电路（b）直流电流表核查方法 使用标准直流电流表（指已校验过的精度高一级的电流表）和标准分流器在探伤机上校验直流电流表的电路如图8-2所示。将标准分流器夹持在探伤机的两夹头之间进行通电，至少应在可使用的范围内选三个电流值，比较标准电流表与探伤机上电流表的读数值，误差小于10%为合格。 磁粉探伤机直流电流表精度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL130”的表格进行记录。3测量仪器核查 黑光辐照计、照度计、磁场

16、强度计、豪特拉斯计和袖珍式电秒表应每年送计量部门校验一次。4 设备内部短路核查设备内部短路检查至少每年检查一次。检查方法是：将磁化电流调节到经常使用的范围的最大电流，当探伤机两夹头之间不夹持任何导体时，通电后电流表的指针如果不动，说明无短路。此检查仅适用于磁化夹头通电的固定式探伤机。其他类型探伤机不需要做该项核查。设备内部短路检查核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL131”的表格进行记录。 5 电流载荷核查 探伤机的电流载荷核查至少每年核查一次。电流载荷指探伤机额定输出的周向磁化电流值。核查方法是将一长为400mm，直径为2538mm的铜棒夹持在探伤机的两夹头之间通电，观察电流

17、表指示值。将磁化电流值调节到最小和最大值，检查最小电流值是否是零或足够小，不至于在检验小工件时烧伤工件；检查最大电流值能否达到探伤机的额定输出，如果达不到，应挂标签说明实际可到达的磁化电流值范围。 探伤机的电流载荷核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL131”的表格进行记录。6 通电时间核查 在三相全波整流磁粉探伤机上，用时间继电器来控制磁化电流的持续时间，要求通电时间控制在0.51s之内。可使用袖珍式电秒表测量，至少每年核查一次。 通电时间核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL131”的表格进行记录。7磁粉检测系统综合性能核查 磁粉检测综合性能试验，应在每次检测前

18、进行。综合性能试验合格后，才能开始进行磁粉检测工作。将标准试片贴在被检工件表面，按所采用的工艺进行磁化，按工艺要求的灵敏度等级，如果磁痕能清晰显示，综合性能试验合格。 磁粉检测综合性能核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL132”的表格进行记录。8 检测环境核查 检测环境核查应每次检测前进行。a） 可见光照度 可见光照度采用照度计进行测量。采用非荧光磁粉检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000lx。若现场由于条件限制，无法满足时，可以适当降低，但不低于500lx。b） 黑光辐照度 在荧光磁粉检测时，黑光辐照度采用黑光辐照计测量。在工件表面的黑光辐照度应大于等于1000u

19、W/cm2。c） 环境光照度 环境光照度采用照度计测量。采用荧光磁粉检测时，暗室或暗处的白照度应不大于20lx。 磁粉检测环境核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL133”的表格进行记录。四 渗透检测 1 黑光辐照计、荧光亮度计、照度计核查黑光辐照计用来测量紫外线辐照强度，波长范围为320400mm，峰值应为365nm。荧光亮度计用于测定和比较荧光渗透剂的荧光亮度。波长范围为430600nm，峰值为500520nm。照度计用于测量白光照度，照度范围应为01600lx或06450lx。黑光辐照计、荧光亮度计、照度计应每年由计量部门校验一次。 2 黑光灯的核查黑光灯的紫外线辐照强度应

20、每周检查一次。黑光灯辐照强度用黑光辐照计测量，测量方法如下：开启黑光灯20min后，将黑光辐照计置于黑光灯下，调节黑光辐照计到黑光灯灯泡的距离为380mm，读出黑光辐照计上的读数，读数值应大于1000 uW/cm2。实际使用黑光灯时，要测量紫外线辐照的有效区，其测量方法如下：首先，将黑光灯置于平时检验时的高度位置，开启预热20min；然后，将黑光辐照计置于黑光灯下，水平移动，使检测仪读数达最大位置为止。在工作台上读数最大点位置画相互垂直的两条直线，见图9。再将黑光辐照计置于交点处，沿每条直线按150mm的间隔点依次检测，并记下读数，直到测得读数为1000 uW/cm2读数点为止。记下这些点，将

21、这些点连接成圆形。这个圆内区域就是黑光灯辐照有效区。工件检验应在上述有效区内范围进行。黑光灯使用较长时间后，输出功率将降低，如果降低25%以上，黑光灯应更换。可使用黑光辐照计进行测量，方法如下：将新黑光灯打开20min后，在暗室里将黑光辐照计置于黑光灯一定的距离处，记下读数；黑光灯使用一段时间后，对同一黑光灯在同一距离测得第二个读数。比较两次读数，如果输出功率降低25%以上，则需更换黑光灯。 图9黑光灯核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL135”的表格进行记录。3 检测环境核查 检测环境核查应每次检测前进行。a） 可见光照度 可见光照度采用照度计进行测量。采用着色渗透检测时，被

22、检工件表面的可见光照度应大于等于1000lx。若现场由于条件限制，无法满足时，可以适当降低，但不低于500lx。b） 黑光辐照度 在荧光渗透检测时，黑光辐照度采用黑光辐照计测量。在工件表面的黑光辐照度应大于等于1000uW/cm2。c） 环境光照度 环境光照度采用照度计测量。采用荧光磁粉检测时，暗室或暗区的白光照度应不大于20lx。 渗透检测环境核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04C-JL134”的表格进行记录。五、涡流检测1 试样的核查方法1.1 初次使用的标准试样、对比试样，应有有效的合格证书。1.2 标准试样、对比试样每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查；每4年应采用经校

23、准的器具对其尺寸进行核查。2 检测能力核查方法2.1 使用ED-试样进行测试。图1 ED-试样2.2 开启涡流探伤系统电源，预热1520min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运转。根据试件的材质、规格、状态选择合适的检测频率、相位、滤波档次和报警档次。 2.3 将检测线圈穿过ED-试样，同时要让试样人工缺陷由小至大依次通过检测线圈，调节增益，使试样人工缺陷信号显示在屏幕上。记录幅值占屏幕满刻度的50%的最小人工缺陷和此时的增益值G1。 2.4 再将检测线圈穿过ED-试样，调节增益至噪声显示占屏幕满刻度的50%，读取此时增益值G2，则检测能力表示为:S/N(ED-)=| G2- G1|式中

24、: S/N检测能力，dB； ED-试件代号，其中是幅值为50%的最小孔的直径，mm； G1人工缺陷显示为50%时的增益值，dB； G2噪声显示50%时的增益值，dB。3 周向灵敏度差核查方法3.1 使用EZ-d试样进行测试。 图2 EZ-d试样3.2开启涡流探伤系统电源，预热1520min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运转。根据试样的材质、规格、状态选择合适的探测频率、相位、滤波档次和报警档次。 3.3 将检测线圈穿过EZ-d试样，调节增益，使试样上沿圆周分布的互为120的三个通孔的信号显示在屏幕上的幅值最小值为50%。记录此时增益值G3。3.4 再将检测线圈穿过EZ-d试样，以1dB的差值调节增益，直至三个通孔的信号显示在屏幕上的幅值全部低于50%。记录其增益值G4，则周向灵敏度差表示为: =| G3- G4|式中: 周向灵敏度差，dB。4 端部盲区核查方法4.1 使用EZ-d试样进行测试。4.2 在周向灵敏度差测试之后，将增益恢复到G3位置，然后将检测线圈穿过试样，测量管端各通孔的输出信号，当屏幕满刻度的35%以上范围能明显地得到某一个通孔的指示信号时，则该孔到试件端部的距离表示端部盲区。5 分辨力核查方法5.1 使用EF-B试样进行测试。 图3 EF-B试样5.2 开启涡流探伤系统电源，预热1520min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运转。根据试样