CPK制程能力介ppt课件

1、Page12021/10/21CPK 制程能力介紹制程能力介紹Prepared by: PID-ENGBudd Page22021/10/21ContentsPage32021/10/21CPK CPK 製程能力製程能力C Capability apability P Process rocess I Indexndex製程能力指數製程能力指數( (綜合指數綜合指數) )CPKCPK讓我知道什麼？讓我知道什麼？-不良率可以量化不良率可以量化-可以確認可改進的機會可以確認可改進的機會-確認制程發生問題的本質確認制程發生問題的本質CPKCPK是什麼？是什麼？Page42021/10/21CPKCP

2、K的手工計算方式？的手工計算方式？(1)CpK值之計算式有兩種B. 單邊規格時:A. 雙邊規格時:%規格容許差規格中心實績中心 Ca%2/)(TX63規格公差規格容許差Cp雙邊單邊 X-SL 3 只有規格下限:Cpl=3Su-X 只有規格上限:Cpu=CpCaCpK)1(3)(,3)(LUSXXSMinCpKPage52021/10/21l当当USL与与LSL为为X 正负正负6，即，即USL=X+6 LSL=X-6l且（且（USL-LSL）/2时，时，即實際值即實際值=規格中心值規格中心值lCp=Cpk。l這個能力我們稱之為這個能力我們稱之為sigma水平水平,但实际上，但实际上，Cp=2 是

3、可以做到的，而是可以做到的，而CPK=2是是基本上做不到的，因而人们普遍采用基本上做不到的，因而人们普遍采用Cp-0.5=Cpk的这一摩托罗拉公司的假设，的这一摩托罗拉公司的假设，既把既把Cp=2 且且Cpk=1.5 看作看作6 Sigma.CPK是如下两个值中较小的一个Page62021/10/21CPK VS Defective Yield VS SigmaCPK VS Defective Yield VS Sigma 我們常用產品品質特性的常態分配與規格相比較,以決定產品的不良率.如右圖所示產品品質特性的常態分配.規格上限:USL (Upper Specification Limit)規

4、格下限:LSL (Lower Specification Limit)落在規格上,下限外的斜線面積即為產品的不良率.-3-2-1+3+2+168.27%95.45%99.73%0.135%0.135%C C p pk k V V a al l u ue eD D e ef fe ec ct t i i v ve eY Y i i e el l d dD D i i s st t r ri i b bu ut ti i o on n12700ppm99. 73%+/-3 Sigm a1. 3363ppm99. 9937%+/-4 Sigm a1. 670. 57ppm99. 999943%+/-

5、5 Sigm a2. 000. 002ppm99. 9999998%+/-6 Sigm a概率密度 區間寬度LSLUSL Remark: 3*SigmaCPKPage72021/10/21CPKCPK手工計算實例？手工計算實例？Page82021/10/21Cpk是總合Ca(k)和Cp二值之指數，其計算式為: 當Ca =0時，Cpk =Cp 單邊規格時，Cpk即以Cp值計，但需取絕對值。CPKCPK的判斷基准是什麼？的判斷基准是什麼？等級A1.33 CpK1.67BCDCpK值1.00 CpK1.330.67 CpK1.00CpK0.05證明此數據為常態分布，可用於計算CPK如果P值小於0.0

6、5怎麼辦呢？Page112021/10/21MinitabMinitab計算方式計算方式22菜單操作菜單操作Page122021/10/21CPKCPK的操作步驟的操作步驟Subgroup Size該填什麼數據？Subgroup Size是指對據如何分組？如：每次抽取8個數據，連續抽10天，共有80個數據，此值應該填多少？又如：一個模具有四穴，每小時抽一模，共取20小時數據一共有多少數據？此值又填多少？MinitabMinitab計算方式計算方式33數據的輸入數據的輸入Page132021/10/21CPKCPK的圖示解說的圖示解說99908172635445LSLUBProcess Data

7、Sample?N200StDev(Within)3.42122StDev(Overall) 3.31891LSL38Target*UB100Sample Mean55.1429Potential (Within) CapabilityCCpk1.67Overall CapabilityPp*PPL1.72PPU*PpkCp1.72Cpm*CPL1.67CPU*Cpk1.67Observed PerformancePPM?UB0.00PPM?Total0.00Exp. Within PerformancePPM?UB*PPM?Total0.27Exp. Overall PerformancePP

8、M?UB*PPM?Total0.12WithinOverallProcess Capability of C1標准差標准差（Short Term)規格上規格上限限規格目規格目標值標值樣本均樣本均值值樣本數樣本數標准差標准差（Long Term)樣本樣本Yield母體母體Yield母體長期母體長期Yield低于規格低于規格下限的不下限的不良數良數/百萬百萬(USL-LSL)/6*StDev(O)(USL-Mean)/3*StDev(O)(Mean-LSL)/3*StDev(O)Min(PPU,PPL)(USL-LSL)/6*StDev(W)(USL-Mean)/3*StDev(W)(Mean-L

9、SL)/3*StDev(W)Min(CPU,CPL)MinitabMinitab計算方式計算方式44圖示解說圖示解說Page142021/10/21注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題1SLLSLProcess Capability Analysis for MTFPPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM 25Page152021/10/21注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題2 2-100102030USLUSLProcess Capability Analysis for Delta_C_15USLTargetLSLMeanSam

10、ple NStDev (Within)StDev (Overall)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPM USLPPM TotalPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total30.0000 * * 4.95131284.011975.85232 *2.08 *2.08 * *1.43 *1.43 *0.000.00 *0.000.00 *9.349.34Process DataPotential (Within) CapabilityOverall CapabilityObserved PerformanceExp. Within Performance

11、Exp. Overall PerformanceWithinOverall右側圖表數據出現右側圖表數據出現雙波峰雙波峰應該找到應該找到Root Cause:物料不同批物料不同批不同測試站不同測試站不同測試員不同測試員不同班別不同班別1.Page162021/10/21注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題3 3403020100USLLBProcess Capability Analysis of Current for MP+CIF PPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM LBPpkPPLPPUPpCpmCpkCPLCPUCpStDev (Overall)StD

12、ev (Within)Sample NMeanLower BoundTargetUSL83023.9183023.91 *67945.8967945.89 * 0.00 0.00 0.000.46 *0.46 * *0.50 *0.50 *0.6290180.5842025039.1288 0.0000 *40.0000Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall CapabilityPotential (Within) CapabilityProcess DataWithinOverall

13、右側圖表數據右側圖表數據較集中較集中但偏但偏向規格一邊向規格一邊導致導致Cpk較低。較低。Page172021/10/21注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題4 4260240220200180160140120100USLLSLProcess Capability Analysis for Red_15PPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM LSLPpkPPLPPUPpCpmCpkCPLCPUCpStDev (Overall)StDev (Within)Sample NMeanLSLTargetUSL22231.7916484.75 5747.0436676.

14、6426022.7310653.91 0.00 0.00 0.000.710.840.710.78 *0.650.770.650.7125.752428.266950185.084120.000 *240.000Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall CapabilityPotential (Within) CapabilityProcess DataWithinOverall右側圖表數據右側圖表數據較分散較分散標准標准差偏大差偏大導致導致Cpk較低。較低。Page182021/10/

15、21注意事項注意事項工具應用常見問題工具應用常見問題1 10.850.800.750.700.650.600.550.50LSLLSLProcess Capability Analysis for MTF CenterPPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM LSLPpkPPLPPUPpCpmCpkCPLCPUCpStDev (Overall)StDev (Within)Sample NMeanLSLTargetUSL0.00 *0.000.00 *0.000.00 *0.00 5.14 5.14 * * *52.2052.20 * *0.01823310.00179

16、66500.7813340.500000 * *Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall CapabilityPotential (Within) CapabilityProcess DataWithinOverall右側圖表右側圖表Cpk計算異常計算異常原原因是數據經過因是數據經過按大小排序后按大小排序后才導入才導入MINTAB分析。分析。Page192021/10/21注意事項注意事項工具應用常見問題工具應用常見問題2 220151050USLLSLProcess Capabilit

17、y Analysis for Sleep CurrenPPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM LSLPpkPPLPPUPpCpmCpkCPLCPUCpStDev (Overall)StDev (Within)Sample NMeanLSLTargetUSL152140.18 0.00152140.18104690.36 0.00104690.36 0.00 0.00 0.000.340.342.881.61 *0.420.423.511.972.071451.6952550 2.128 0.000 *20.000Exp. Overall PerformanceExp

18、. Within PerformanceObserved PerformanceOverall CapabilityPotential (Within) CapabilityProcess DataWithinOverall右側圖表右側圖表Cpk很低很低與實際與實際結果不符結果不符原原因是因是0不應該作不應該作為電流的下限為電流的下限而是而是Low Boundary。正確結果參閱正確結果參閱下頁。下頁。Page202021/10/21注意事項注意事項工具應用常見問題工具應用常見問題2-22-220151050USLLBProcess Capability Analysis for Sleep CurrenPPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM LBPpkPPLPPUPpCpmCpkCPLCPUCpStDev (Overall)StDev (Within)Sample NMeanLower BoundTa