实验指导书(修改)

1、实验一 清零程序一、实验目的（1）掌握汇编语言设计和调试方法；（2）熟悉MCS-51 单片机实验系统。二、实验内容把c000Hc0FFH的内容清零。三、程序框图 清零 四、实验步骤用连续或单步方式运行程序，检查C000C0FF中执行程序前后的内容变化。五、思考（1）对于清零程序，假使把C000HC0FFH中的内容改成FF，如何修改本程序？（2）如何用断点方式调试程序？实验二 拆字程序一、实验目的（1）掌握汇编语言设计和调试方法；（2）熟悉MCS-51 单片机实验系统。二、实验内容把C000H的内容拆开，高位送C001H低位，低位送C002H低位，C001H、C002H高位清零，一般本程序用于把

2、数据送显示缓冲区时用。三、程序框图 拆字 四、实验步骤程序一：用连续或单步方式运行程序，检查C000C002H中内容变化情况。程序二：单步或用断点方式运行程序，检查C002H内容变化情况。五、思考编写程序：把C000H、C001H的低位分别送入C002H高低位，一般本程序用于把显示缓冲区的数据取出拼装成一个字节。实验三 数据区传送程序（综合性）一、实验目的（1）掌握RAM中的数据操作；（2）熟悉8031(8051)指令系统，掌握程序设计方法。二、实验内容把R2、R3源RAM区首址内的R6、R7字节数据传送到R4、R5目的RAM区。三、程序框图数据区传送四、实验步骤在R2、R3中输入源首址（例如

3、c000H），R4、R5中输入目的地址（例如D000H），R6、R7中输入字节数（例如0FFFH），运行程序，检查C000CFFFH中内容是否和D000DFFFH中内容完全一致。实验四 P1口亮灯实验一、实验目的（1）学习P1口的使用方法；（2）学习延时子程序的编写。二、实验预备知识本实验中延时子程序采用指令循环来实现，机器周期（12/6MHz）*指令所需机器周期数*循环次数，在系统时间允许的情况下可以采用此方法。对于延时程序DELAY： MOV R6，#00HDELAY1：MOV R7，#80H DJNZ R7， DJNZ R6，DELAY1MOV、DJNZ指令均需用两个机器周期，而一个机器

4、周期时间长度为12/6.0MHZ，所以该段指令执行时间为：（80+1)×256+1)×2×(12÷6000000)=132.1ms。三、实验内容P1口作为输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。四、程序框图五、实验电路六、实验步骤A2区的P10P17用8芯排线连接到D1区的LED1LED8，运行程序后，观察发光二极管闪亮移位情况。七、思考（1）改变延时常数，使发光二极管闪亮时间改变；（2）修改程序，使发光二极管闪亮移位方向改变。实验五 定时器实验一、实验目的通过学习单片机定时器的定时操作，掌握单片机定时器初始化编程方法和基本应用。二、实

5、验内容利用单片机内部定时器产出精确的一秒定时，用其中的单片机的P1 口作为控制端口，使D1 区的LED 每隔一秒钟轮流亮。（晶振取6MHz）.三、实验原理图四、实验步骤用排线连接A2区P1口和D1区LED1LED8，编写定时控制程序，观察LED发光情况五、思考题1、如何改变定时时间。2、如何改变发光二极管闪亮移位方向。实验六 简单IO扩展实验一、实验目的（1）掌握P3口、P1口简单使用；（2）学习延时程序的编写和使用。二、实验内容1.P3口做输入口，外接一脉冲，每输入一个脉冲，P1口按十六进制加一。2.P1口做输出口，编写程序，使P1口接的8 个发光二极管D1D8按16进制加一方式点亮发光二极

6、管。三、实验说明P3口是准双向口，它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同，由准双向口结构可知：当P3口作为输入口时，必须先对它置高电平，使内部MOS管截止，因内部上拉电阻是20K40K，故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高，且原来是低电平，则MOS管导通，读入的数据是不正确的。四、实验程序框图 五、实验线路图 六、实验步骤A2区INT1用插针连至D1区SW1孔，A1区P10P17用排线连至D1区LED1LED8。连续运行程序。开关SW1每拨动一次，LED1LED8发光二极管按16进制方式加一点亮。 实验八 A/D接口实验一、 实验目的熟悉A/D转换的工作原理，学习使用并行模数转换芯片AD

7、C0809进行电压信号的采集和数据处理。二、 实验内容通过片外总线方式访问并行模拟数字转换器芯片ADC0809，掌握模拟电压的通用采集方法。三、 实验原理图四、 实验步骤1. 将ADC0809模块插入PARK2区2. 将D2区1K电位器的左端金属孔通过导线连接到该区的GND金属孔，而右端的金属孔通过导线连接到该区的VCC金属孔3. 将D2区1K电位器的中间金属孔链接到A7去的P2_IO2 金属孔4. 将A7区的P2_IO3P2_IO5分别连接到A2区的A2A0，P2_INT连接到A2区的INT0。5. 将A7区的P2_CS连接到A2区的A156. 运行程序，设置断点，观察转换值是否与万用表测试值相同。实验九 D/A接口实验一、 实验目的熟悉D/A转换的工作原理，学习使用并行数模转换芯片ADC0832进行数字信号到模拟信号的转换过程。二、 实验内容通过片外总线方式访问并行模拟数字转换器芯片ADC0832，掌握数字信号到模拟信号的转换方法。三、 实验原理图四、 实验步骤1. 将DAC0832模块插入PARK2区2. 将模块上的JP1跳线帽跳至右侧的VCC处3. 将A7区的P2_CS连接到A2区的A15