电子元器件检验规范标准书

1、部分电子元器件检验规范标准书（一）IC类检验规范1. 目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。2. 适用范围适用于本公司所有IC之检验。3. 抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）:； 次要缺点（MI）:.5. 参考文件无检验项 目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可

2、接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积 不超过0.5mm2,且未露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；f. 元件脚弯曲，偏位，缺损或少脚，均不可接受；目检或10倍以上 的放大镜检验时，必 须佩带静电带。备注：凡用于真空完全密闭方式包装的 IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印

3、章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH寸应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。（二） 贴片元件检验规范（电容，电阻，电感）1. 目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2. 适用范围适用于本公司所有贴片元件（电容 ，电阻，电感-）之检验。3. 抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0；主要缺点（MA）:；次要缺点（MI）:.5. 参考文件LCR数字电桥操作指引数字万用表操作指引检验项 目缺陷属性缺陷描述检验

4、方 式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接 受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mn2,且未露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受

5、；目检10倍以上 的放大镜检验 时，必须佩 带静电带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差范围内.LCR测试 仪数字万用 表检验 时，必须佩 带静电带。二极管类型检测 方 法LED二极选择数字万用表的二极管档，管不合格。注：有标记的一端为负极。正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该其它二极 管选择数字万用表的二极管档，注：有颜色标记的一端为负极。正向测量，读数需小于1,而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。备注抽样计划说明：对于 CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的 每盘中取35pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法

6、见"LCRB字电桥测试仪 操作指引"和"数字万用表操作指引"。插件用电解电容.1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范 围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0； 主要缺点（MA）:； 次要缺点（MI）:.5.参考文 件LCR数字电桥操作指引、数字电容表操作指引。检验项 目缺陷 属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有

7、误，均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不 可接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受； b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；c.本体变形，破损等不可接受；生锈氧化，均不可接受。目检可焊性检 验MA上锡不良，或完全不上锡不可接受。（将PIN沾上现使 用 之合格的松香水，再插入小锡炉 5秒钟左右后拿起观看 PIN 是否100娘好上锡；如果不是则拒收 ）实际操作每LOT取 510PCSft 小锡炉上验 证上锡性尺寸规格 检验MAa.外形尺寸不符合规格要求不可

8、接受。卡尺若用于新 的Model,需 在PCB上对应 的位置进行试插电性检验MAa.电容值超出规格要求则不可接受。用数字电 容表或LCR数字 电桥测试仪量 测（四）晶体类检验规范1.目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用晶体之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）:;次要缺点（MI）:.5.参考文件数字频率计操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方 式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任

9、何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可 接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.字体模糊不清，难以辨认不可接受；b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；d. Pin生锈氧化、上锡不良，或断 Pin,均不可接受。目检每LOT取 510PCS小 锡炉上验证上锡性电性检 验MAa.晶体不能起振不可接受；b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工 位和数字 频率计电性检测方法晶体检测 方 法在好的样板的相应位置插上待测晶体，再接通电源开机；在正常开机后，

10、用调试好的数字频率计测量晶 体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在 规格范围内，则该晶体不合格。（五）三极管检验规范1.目的作为IQC人员检验三极管类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有三极管之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收 水准（AQL严重缺点（CR）: 0;主要缺点（

11、MA）:;次要缺点（MI）:.5.参考文件无检验项目缺陷 属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不 可接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm,且未

12、露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10倍以上 的放大镜检验时， 必须佩带静电带。电性检验无（六）排针助雷槽（座）类检验规范1.目的作为IQC人员检验排针&由槽（座）类物料之依据。2. 适用范围适用于本公司所有排针&由槽（座）之检验。3.抽 样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准 （AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）:； 次要缺点（MI）:.5. 参考文件无检验 项目缺陷 属性缺陷描述检验方式备注包装检 验MA根据来料送检单核对外包装或 LABEL&

13、#177;的P/N及实物是否都 正确，任何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可 接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检 验MAa. Marking错或模糊不能辩认；b.塑料与针脚不能紧固连接；c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮 ；e.针脚拧结，弯曲，偏位，缺损，断针或缺少； f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈 ；g.针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性 检验MAa. PIN上锡不良，或完全不上锡，均不可接受；（将零件脚 插入现使用之合格松香水内，全

14、部浸润，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看 PIN是否100%lL好上锡；如果不是则拒 收）实际操作每LOT取 510PCS小 锡炉上验证上锡性安装检验MAa.针脚不能与标准PCB顺利安装；b.针脚露出机板长度小于 0.5mm或大于2.0mm;卡尺针脚露出 机板长度的标 准为2.0mm 范围内。（七）CABLED检验规范1. 目的作为C人员检验CABLED物料之依据。2. 适用范围适用于本公司所有cable检验。3. 抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4. 允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0; 主要缺点（MA）:；次要缺点（M

15、I）:.5参考文件无检验项 目缺陷属性缺陷描述检验方 式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受；b.料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不 良；b.塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良；c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均 不可接受；d.排线与支架等组装不牢，易松脱；e.标识CABL曝插方向的颜色不能明确分辩；c.排线接头的颜色不符合规格要求 ；g.排线表面的丝印错.1 .目检2 .按前后 左右上下各轻 摇3次排线接 头处，看有无 松脱现象参考MechanicalDrawing ofCable尺寸检验MAa.长度不符合规格要求不可接受.卷尺尺寸参考MechanicalDrawing ofCable电性测试检验MAa.排线的接线方式错不可接受；b.排线接触不良或不能运行不可接受；c. IDE排线的传输速率不符合要求不可接受.每批取10pcs 送 QA,请QA的同事帮助测 试拉力测试检验MAa.与公端对插，插拔力不符合规格要求的不可接 受.（拉力测试：用标准Box Header与排线对插