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2、，共24页。11第10页/共24页第十一页，共24页。12第11页/共24页第十二页，共24页。13Example of angled beam generated by flat probe by means of variable delayExample of focused linear scan beam第12页/共24页第十三页，共24页。14Electronic linear scan (B-scan) image showing relative hole position and depth across the length of a linear array第13页/共24页第十四页，共24页。15第14页/共24页第十五页，共24页。16第15页/共24页第十六页，共24页。17Conventional C-scan image showing hole position第16页/共24页第十七页，共24页。18第17页/共24页第十八页，共24页。19第18页/共24页第十九页，共24页。20第19页/共24页第二十页，共24页。21第20页/共24页第二十一页，共24页。22第21页/共24页第二十二页，共24页。2

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