P-型核磁测井质量控制

1、P-型核磁测井质量控制 质量控制对于获得精确的测井数据和高质量的地层信息是非常重要的。P-型核磁测井系统通过一些有效的质量控制指示参数来实时表明仪器的工作状态的好坏,以保证数据采集质量。P-型核磁的质量控制过程包括：主刻度、仪器校验（测前刻度、 测后刻度）、现场测井、测井记录、测井质量控制参数回放和最终质量检查。本文从以下几个方面来分析说明测井质量控制过程：解释和质量控制有关的重要概念和定义；仪器刻度和测量校验；实时测井质量控制；仪器质量指示参数；测后数据质量检查。概念和定义Gain and Q levelP-型核磁测井，系统的Gain值和Q值是两个非常重要的参数。Gain值代表了测井时井眼流

2、体和地层对测井仪器特别是仪器发射电路所形成的负载的大小，通俗地说，Gain值越高，仪器负载就越小，仪器工作就比较轻松。反之，Gain值越低，仪器负载就越大，仪器工作就比较吃力；在仪器工作过程中，Gain值是实时测量计算的，Gain值的大小变化在核磁测井主窗口中实时显示。Gain值的测量是通过安装在核磁探头主磁体上的B1测试线圈来实现的。首先，在测井软件的控制下，B1线圈发射一个标准的RF发射信号，核磁探头的RF天线接收这个信号，送到核磁电子线路进行处理，Gain值就是B1线圈的发射信号幅度和此信号在RF天线感生信号幅度的比值。Gain值的测量是每一个核磁脉冲串系列的一部分。Gain值取绝于仪器

3、工作的中心频率，所以，在每次工作前都要做扫频以确定Gain值最大时仪器的中心频率。测井时，Gain值的大小受到所谓的外部环境和内部发射电路自身的影响。外部主要受井眼流体的电阻率大小影响，与此相比，地层电阻率影响较小。低电阻率泥浆或地层对RF发射信号衰减较大，仪器负载就大，Gain值就低。反之，Gain值就高。在实际测井时，泥浆电阻率的大小是不会急剧变化的，因此，Gain值的变化主要受地层电阻率变化和井眼变化的影响。Gain值永远不能为零，CLASS测井软件在Gain值小于100时就停止仪器发射，中断测井。Gain值的急剧变化或跳变说明仪器存在故障，需要检查维修。Q level和 Gain值对应

4、，如表一所示。根据Gain值 来定义Q level。根据不同的Q值来设计核磁测井测量观测模式（Activations）。Q level分为：高-Q、中-Q和 低-Q。 表一：MRIL Gain值 和Q level表B1 and B1mod核磁测井仪器，工作时有两个磁场。即由核磁探头内的永久磁体所产生的磁场，称为B0磁场；另外一个是由天线发射的大功率的RF脉冲所产生的磁场称为B1磁场。B0磁场的作用是在纵向既仪器的轴线方向对地层内的氢原子进行极化,形成纵向磁化矢M0;B1磁场将M0扳到在横向平面或使进动的质子进行重聚(rephrasing)。B1值代表了RF脉冲所形成的B1磁场的强度。B1测量也

5、是每一个CPMG脉冲测量的一部分。B1的测量是通过安装在仪器主磁体的一个B1测量线圈来实现的。B1值的大小在核磁测井主窗口实时显示。和Gain值测量所不同的是，只有在天线发射RF脉冲时，才能测量到B1值，否则，B1值为零。在实际测井过程中，B1值应相对保持稳定。在外部环境稳定，例如，仪器放在刻度箱刻度，或做常温下的Tank Check 时，B1值应基本保持不变。但在实际测井过程中，因为环境因素的影响，诸如，井眼流体电阻率，地层电阻率，尤其是井眼温度都会影响B1值的大小。在遇到井眼垮塌或导电性能较高的地层时，B1值会降低；但B1值会随着井眼温度的升高而增大。为了保证测井质量，B1值必须做温度校正

6、。经过温度校正的B1值称为B1mod。B1mod和B1之间的关系可以用下式来表示：B1=B11+0.0033(T磁体温度 T主刻度温度) 式1上式中：T磁体温度 是仪器处于井眼环境时主磁体的温度。T主刻度温度 是仪器在做车间主刻度时所记录的主磁体温度。两个温度均用摄氏度来表示。在测井过程中，为了获得最大幅度的回波脉冲信号，必须有效控制B1值的大小。操作工程师通过输入不同的AM 值来有效控制B1值的大小。主窗口所显示的B1mod值应保持在车间主刻度所得到的B1peak值5%变化范围内。如果B1值超出范围，则会发生如下情况，影响测量数据的精确性。相对于横向平面而言，进动的质子所形成的M0欠扳到或过

7、扳到。会直接影响测量孔隙度的大小。仪器信躁比降低，测量孔隙度的精确性降低。B1mod 突变或数值跳跃都说明仪器故障，需要检查维修。CHI我们知道，对于每一个回波脉冲测量系列，所测量到的回波脉冲幅度都呈指数形式衰减。CHI是测量软件理论计算的指数衰减曲线和实际测量记录的指数衰减曲线拟合程度的好坏。CHI测量指示回波数据和软件计算出的指数衰减曲线的标准偏移量。在实际测井过程中，CHI 是测井工程师特别需要注意的质量指示参数。通常情况下，在目的层，CHI值应小于2，但CHI值在2和3之间也是可以接受的。在井眼垮塌或是泥岩段，CHI值偏大也是正常的。回波串受到高频干扰时，CHI值增大。如图一所示： 图

8、一：回波串受到高频干扰CHI值大于2Noise Indicators（噪声参数）: OFFSET NOISE RINGING and IENoise每一个CPMG测量的噪声都包括以下四种噪声测量：补偿电平(Offset Level)，噪声(Noise)，振铃噪声(Ringing)，和回波内部噪声(IENOISE)。如图2所示：在每一个CPMG脉冲测量之前，OFFSET和NOISE是通过对环境信号的分析得到的。OFFSET是这个信号的平均值，NOISE是这个信号的标准偏移量。应用相位交替对（PAP）技术来决定RINGING和IENoise。上述四种噪声的测量用来做质量控制的指示值（Quality

9、 Indictors）。它们和回波脉冲一样的方式进行刻度和环境校正，因此，也用孔隙度单位来标定。Noise和 IENoise都和 Gain值成反比，并随B1值的变化而变化。 RINGING受回波间隔选择的影响，若 TE=1.2ms, RINGING40，当TE=0.6ms时, RINGING最大允许值可以达到60，当大于89时，必须终止测量，检修仪器。必须正确选择仪器的工作频率，使RINGING 噪声尽量保持在最小状态。图2：单一CPMG系列噪声特性（CPMG脉冲为示意图，没有标定）表二：噪声参数指示值允许范围如表二所示：各种噪声指示值必须保持在允许范围内。NOISE和IENOISE都不应该有

10、急剧变化。在仪器工作在多频测量模式时，各种噪声指标是对每一个特定频段标定的。Low Voltage Sensors(低压电压检测指示值)：仪器工作时，MRIL测量主窗口显示仪器内部低压电压的指示值，以表明仪器是否工作正常。如表三所示：每一个电压值均应在表三所示的范围内。表三：低压供电电压值范围Hi-Voltage Sensors (高压直流电压值)MRIL核磁测井仪器串，包括一个电容短接，用来储存仪器发射大功率的RF脉冲时所需要的能量。其电容值为3.2MF（下接头Pin22 Pin34）。在仪器不发射时，电容两端的电压应保持在600VDC。因为每一次发射，所需的电流很大，DCCP直流电源控制面

11、板试图使此储能电容两端的电压保持在600VDC，但在通常情况下，因为受测井电缆传输的影响，DCCP面板所提供的电流在一个回波脉冲测量期间，不足以使储能电容完全充电。结果在一个回波脉冲测量期间，储能电容的输出到600VDC总线的电压降低，小于600伏。MRIL测井系统可以补偿直流电流的变化。在每一个CPMG脉冲测量周期的开始和结束时，测量直流电压的大小，传送到地面系统，在核磁测井主窗口显示。在每一次测量开始时的高压值定义为HVMAX,结束时定义为HVMIN。在HI-Q测量环境，回波个数为50，等待时间TW1500MS时，屏幕显示的HVMAX应该基本和DCCP控制面板表头显示的一致。对于标准T2测

12、量模式，例如双TW和双TE模式，HVMIN应保持在400VDC以上。如果小于400VDC，则说明测量系统不能补偿高压直流电压的降低。B1值就会降低，导致测量孔隙度偏低。这种情况特别是在长T2观测模式测井时更为明显。总孔隙度测量观测模式，两个观测模式组先后进行测量。标准T2观测模式测量有效孔隙度；部分极化观测模式测量粘土束缚水。在这种情况下，因为测量紧随在标准T2测量之后，所以，显示的HVMIN 不仅是有效孔隙度测量CPMG脉冲结束时的高压值，也是部分空隙度粘土束缚水测量CPMG脉冲系列的开始值。在这种情况下，HVMIN应始终保持在450VDC以上。Phase Correction(相位校正指示

13、值)：PHER, PHNO, and PHCORF天线接受到的NMR回波信号，输入电子线路的一个相敏检波器电路，其输出通道有两个。两个输出通道信号的相位移为90度。每一个输出输出数据为回波时间的函数。如三和图四所示：图三：单次测量回波信号图三为相敏检波器输出的单次测量的相位移为90度的输出信号（分别用红线和绿线表示）。输出数据标定为孔隙度单位，是回波时间的函数。回波时间单位为毫秒。图三为单次测量结果，看上去噪声干扰较大；图四是两个输出通道的输出信号8次测量结果的叠加。从图四可以看出，经过8次叠加后的结果，信噪比有明显的改善。因为测量到的回波信号为钠伏级，幅度非常小。回波串的指数衰减曲线有比较大

14、的噪声干扰。为了提高信噪比，多次测量的回波信号进行叠加，以消除高频干扰。所叠加的回波测量的个数称为测量平均（Running Average）.测量叠加RA值越大，则回波信号的信噪比越高。但增加RA会导致测量分辩率降低，测井速度变慢。所以，必须根据要求来选择合适的RA值。如果RA选择合适，还是不能去除干扰，则说名仪器有故障，需要检修仪器。 图四：经过8次叠加后的回波信号可以通过公式2和公式3来计算经过叠加后的回波串的幅度值。 式 2上式中：Eamp(i)代表第I次回波的计算幅度值E(i)和 EY(i)分别代表通道1和通道2第I次回波的幅度值。但这种计算方法和幅度校正有关。所有噪声信号的贡献为正信

15、号。因此，回波幅度的指数衰减曲线永远不会衰减为零。而是停留在一个小幅度值。这样就会形成一个长T2分量。可以通过一个和式2不同的近似计算公式来去除由噪声所引起的问题。这个近似公式3可以产生两个通道的数据：一个通道数据为基本的NMR回波信号，此信号做进一步的处理。另一个通道是基本的噪声信号，其平均值为零。两个输出通道输出数据的相位移用来表示： 式 3式中：i代表回波串中的第i次回波。 k代表用于相位角计算的回波的个数一般情况下，2K9。这种计算方法只有在应用测量平均（Runing Average）后才起作用。用公式3计算出相位校正角，然后应用于两个通道数据的相位移校正。这种校正方式相当以将通道1和

16、通道2的信号分别旋转一个角度。旋转以后，一个通道为基本的NMR信号，其信号幅度为回波串的实部；另一个通道为噪声信号，其信号幅度为回波串的虚部。如图五和图六所示。回波串的实部最终转换成T2分布形式。 图五：旋转后通道1和通道2信号幅度交绘图图六：旋转后通道1的数据天线接受到的通道1和通道2回波数据经过旋转后可以有效的去除噪声信号。经过旋转后，通道1和通道2的交绘图如图五所示，通道1的信号幅度为响应于通道2信号幅度，通道2信号幅度在幅度为零的一条水平线上。旋转后，用于拟合回波衰减曲线；通道1的信号幅度为回波串的实部。PHER为回波串虚部的平均值，理想状态下PHER值为零。但实际上，PHER值不可能

17、为零，好的回波数据PHER值应小于1。PHNO为回波串虚部部分的标准偏移量，其大小变化应和其他噪声指示值保持一致。另外，计算出的相位校正角PHCO也可以用来做质量指示值。如果测量到的信号幅度非常小，则PHCO值随深度的变化而随机变化。如果测量到的回波信号幅度足够大的话，则PHCO值随深度的变化而保持稳定。对于双TE和双TW测井来说，我们定义PHCOA为长TW或短TE的PHCO值，PHCOB为短TW或长TE的PHCO值，则PHCOA和PHCOB值应保持一致。Temperature（温度）核磁测井时实时显示三个温度数据，以指示仪器和测量环境的温度变化。这三个温度分别为Temp1仪器电子线路的温度，

18、温度传感器安装在RECEIVER模块电路板上，在仪器工作时，其最大值不能超过摄氏175度； temp2为仪器发射器模块的的温度，其温度传感器安装在发射器模块B的外壳上，在仪器工作时，其最大值不能超过摄氏175度；Temp3为核磁仪器主磁体的温度，其温度传感器安装在主磁体上，在实际测井时，因为磁体温度上升较慢，操作工程师要耐心等磁体温度接近测量段井眼温度时再开始测量，否则会影响数据采集质量。Pre-logging Calibration and Verification （车间刻度和电子线路核查）为了保持核磁测井数据的质量，核磁仪器必须在一定时间间隔内做主刻度。不一定每次上井前都做主刻度，但起码

19、每个月都要做一次。仪器主刻度是将核磁探头（天线部分）放置在刻度箱来完成的。核磁刻度箱内部结构为一个封闭的环形的玻璃钢套，玻璃钢套内充满加有硫酸铜晶体的刻度水样。加硫酸铜是为了有效地减小刻度水样的T1驰豫时间。玻璃钢水套外面为一金属屏蔽箱，用来屏蔽核磁天线的RF发射信号，和外界电磁波本底信号。核磁主刻度过程必须包括测井所用到的每一个观测模式。一般情况下做如下刻度：1.2MS KAL12DFH、 0.6MS 06SFHQD、 6MS TANK60。核磁电子线路和探头之间接一个模拟负载（DUMMY LOAD）来模拟井眼负载的变化。井眼负载有三个开关位置，分别为：300，150，和100。但在做核磁主

20、刻度时，必须放在300挡，否则损坏仪器。图七：核磁仪器刻度箱如图七所示：为C-型仪器刻度箱。现在P型仪器刻度箱，屏蔽箱内部仅有一层玻璃钢水套，没有模拟地层和模拟井眼层。而用模拟负载来模拟地层和井眼负载的变化。核磁主刻度主要得到以下参数：1 产生最大幅度的A0值所需要的B1 脉冲的强度A0为回波串在零时刻的幅度值。90°和180°的B1脉冲具有相同的幅度，但持续时间不同，180°脉冲的持续时间大约是90°脉冲的两倍。2 确定B1和A0之间的关系，以做功率校正（POWER CORRECTION）。3 确定回波1和回波2校正因子，以做受激回波校正（STIMUL

21、ATED CORRECTION）。4 确定A0幅度和孔隙度之间的关系，在刻度箱中，最大幅度的A0对应于100%的孔隙度单位。刻度过程（Calibration Procedure）车间主刻度过程包括：扫频（Frequency Sweep）, 主刻度（Master Calibration）, 和水箱统计检查测量(Tank Statistics)。其中水箱统计检查在每次测井前都必须做一遍。扫频（Frequency Sweep）：扫频是为了确定仪器工作时的中心频率。仪器工作在中心频率时增益最大。在扫频过程中，软件在一定范围内改变仪器的发射频率，同时通过安装在主磁体上的B1线圈测量RF天线的增益。仪器工

22、作的中心频率从两方面影响仪器发射和接受电路能否正常工作。首先，如果发射电路和接受电路没有调谐在一致的频率，并且仪器的发射功率不能有效地输出，发射电路就会出现过热现象，导致仪器故障。其次，仪器接受电路的工作效率在工作频率偏移正常工作频率非常小的范围内下降十分明显。所以，如果工作的中心频率选择不正确，回波幅度就回因人为因素的影响而下降，同时，信躁比也会随之下降。在做主刻度时，如果工作频率不正确，就会影响主刻度结果，最终导致测井数据不正常。仪器主刻度（Master Calibration）仪器主刻度确定CPMG回波脉冲的幅度，并且确定功率校正和受激回波校正因子。主刻度过程分别记录回波1和回波2的幅度

23、E1和E2。从回波串的回波3（ECHO3）开始到最后一个回波拟合一条指数衰减曲线，再用外推法得到回波串在零时刻的回波幅度A0。从而计算出三个主要参数：A0mul E1mul 和E2mul。如图八所示。图八：主刻度图形显示图中显示了CPMG脉冲幅度A0，最大幅度的A0决定了产生90°到脉冲和180°度重聚（re-phase）脉冲的幅度。红色线表示A0mul，绿色线表示E1mul，黑色星号表示E2mul。A0mul校正因子的作用是规范回波串的指数衰减曲线，以在刻度水箱中得到正确100%的孔隙度响应。E1mul和E2mul为受激回波校正因子，以去除激励效应对回波1和回波2幅度的影

24、响，使回波1和回波2比较精确地落在指数衰减曲线上。功率校正关系是通过B1和A0mul（红线）建立的；ECHO1回波校正关系是由B1和E1mul（绿线）建立的；ECHO2回波校正关系是由B1和E2mul（黑色星号）建立的。三个校正因子可以用下式表示。 式4式中：E1fit和E2fit为通过回波串指数衰减曲线利用数学外推法计算出的回波1和回波2的幅度。对应于A0和E1的B1校正可以用下面的一个二阶多项式来表示，以决定下式中的 式5A0-A，A0-B，A0-C，B1-A，B1-B，和B1-C。由此，就可以计算出B1的校正范围。所以MRIL孔隙度的刻度值可以用下式来表达。 式6：所有主刻度所得到的校正

25、因子和相互之间的关系都在主刻度报告中显示出来，如表四所示： 表四：主刻度报告因为刻度箱中充满刻度水样，所以表中的T2R值是通过由回波串拟合而成的单指数衰减曲线计算得到的。表中最左边一为GLOBAL AMPLITUDE，简称为GA值。B1值的大小变化调节是测量软件通过改变GA值来实现的。在做主刻度时，不同的核磁探头GA值的范围也不同。对于4-5/8英寸的小探头来说，GA值的范围为：4090；对于6英寸的大探头来说，GA值的范围为：75125；但有时选择100125，具体情况根据操作工程师的经验而定。一般情况下，A0值在190200范围内，B1则永远不能超过1100，否则损坏仪器。刻度结果如图八红

26、线和绿线弧度应平滑，两条曲线的最高点和最低点应上下对称。下面的黑色星号应该尽量保持一条直线，大小变化越小越好。在刻度过程中还应主要T2R2值，对于6英寸的大探头来说，T2R2应在180到220范围内。水箱统计检查（Tank Statistical Check）水箱统计检查是为了检查经过刻度的核磁仪器，利用同一支仪器的刻度结果在刻度箱中，对100%孔隙度单位刻度水样的测量孔隙度的响应。每一次测井前都要求做水箱统计检查，以保证仪器工作正常和主刻度没有超期。仪器观测模式不同，既不同的回波间隔TE，等待时间TW，回波数等参数不同时，孔隙度响应该一致。一般情况下做1.2MS TANK4B1G,0.6MS

27、 06SFHOD,和6.0MS TANK60水箱统计检查。水箱统计检查所需输入的参数,例如B1peak和AM等是由最近一次主刻度结果决定的.工作频率是由当前一次的扫频经过决定的。如表五所示的为一次水箱统计检查结果测量数据表，其孔隙度响应范围应在100±2%范围内。表五：水箱统计检查结果测量数据表在每次测井完毕，返回仪修车间保养完毕都应做一次水箱检查，以检查仪器使用前后的一致性。但仪器长时间的性能一致性，则应通过主刻度来检查。现场测井出图时都附主刻度和水箱统计检查结果以做参考。表六，表七，分别为两个不同测量模式的水箱检查结果数据范围，此范围为美国哈里伯顿公司的出厂检测标准，希望核磁操作

28、工程师认真参考。Curve（曲线）Mean（平均值）S/N（信躁比）MPHI96 - 104³ 50MFFI96 - 104³ 50B1650 - 950³ 200GAIN400-600³ 200ECHO 196 -105³ 30ECHO 295 -104³ 38ECHO 394-103³ 38T2RS150-225³ 40AV OFFSET 10N/AA1 RING 40N/AAL RING 40N/A 表八：1.2MSTANK4B1G水箱统计检查数据范围(常温)Curve（曲线）Mean（平均值）S/N（信躁比

29、）MPHI96 - 104³ 50MFFI96 - 104³ 50B1650 - 950³ 200GAIN650 - 950³ 200ECHO 196 -105³ 40ECHO 295 -104³ 48ECHO 394-103³ 48T2RS150-225³ 40AV OFFSET 10N/AA1 RING 60N/AAL RING 60N/A 表九：0.6MS 06SFHQD水箱统计检查数据范围(常温)电子线路核查(Electric Verification)主刻度完成以后，需要对仪器做一基本检查，以证实电子线路

30、各项参数是否和刻度前一致。用电子线路核查器（Electronic Verifier）和电子线路连接，检查电子线路内部几个参数的响应。如表十所示为检查结果和它们的允许范围。这中核查方法仅仅检查电子线路工作是否正常。一个合格的检查结果不能保证整个测井响应正常。但如果检查结果不正常则说明电子线路存在问题，不能用于测井。在现场测井时，还要用电子线路核查器做测前和测后检查。以获得测前和测后的检查数据。这两组数据相互比较以检查电子线路测前和测后的工作状态是否一致，测前数据还应和车间检查数据比较。表十：MRIL现场核查数据范围和其允许范围对于一次检查结果来说，A1RING和A1OFFSET，是仪器在多频工作

31、方式时相对于频率1的振铃RINGING和噪声补偿OFFSET值。前后对比应大致相等，前后对比若超过5个单位时，则说明电子线路有问题或测试盒存在故障。A1NOISE和A1IENOISE，是仪器在多频工作方式时相对于频率1的NOISE和IENOISE。取决于仪器工作时GAIN的变化，而且不同的测井系统数值也会不同。但是不同的系统之间，测前刻度和测后刻度或测前刻度之间的数值差异不能超过2个单位，否则说明仪器有故障。表十一中显示了几个主要的测量数据值，GAIN，NOISE，IENOISE，RINGING，OFFSET，Hvmin ,Hvmax和温度等。表中给出了它们的期望范围和允许范围。 表十一：MR

32、IL车间核查数据范围和其允许范围Quality Control During Logging(现场测井质量控制)工作频率（Operation Frequency）核磁仪器的工作频率也就是B1磁场的中心频率。测井前和仪器做主刻度前一样也需要确定仪器的工作频率。在井下对仪器做扫频，软件自动记录扫频结果。为了保证扫频质量，测井时应选择电阻率比较稳定和井眼状态比较好的地层来进行。发射器电路以当前扫频确定的中心频率发射RF脉冲，也就是说，仪器工作在中心频率时，仪器获得最大增益。P-型核磁有9个中心频率，例如：760KHZ，686KHZ，674KHZ，656KHZ，644KHZ，626KHZ，614KHZ

33、，596KHZ和584KHZ。如果需要改变仪器的中心频率，则必须改变仪器电路硬件，必须在组装车间来完成。测井速度和测量平均（Logging Speed and Running Average）核磁测井速度受很多因素的影响。用测井速度交绘图来决定测速。下面因素在测井测速交绘图上影响决定测井速度。Gain增益Activation测井Polarization Time极化时间Tool Size仪器尺寸Desired Vertical Resolution垂直分辨率Operation Frequency工作频率如图九所示为一测速交绘图的实例。利用此交绘图在以上各种参数不同时，根据实际情况选择合适的测井

34、速度，以得到所要求的垂直分辨率和高质量的测量数据。CHI值应比较稳定在井眼较好和增益比较稳定时，CHI值应小于2。在测井现场应用测速选择软件Speed Calculator来决定测速。图十：测井速度交绘图实例实时数据采集质量监视（Quality Monitoring During Data Acquisition）在CPMG回波串采集过程中，核磁测井软件主窗口实时显示大部分的质量指示参数值。测井主窗口包括三行参数值，一个原始回波串波形图。第一行顶部数据给出了数据采集的基本参数。例如仪器系列号，测量观测模式名（Activation Name），工作频率，AM值即RF脉冲强度。等待时间TW，回波脉

35、冲数，和测量平均（Running Average）。如图十一所示：图中所显示的数值是仪器在100%孔隙度单位的刻度箱中一个回波串的数据。 图十一：核磁测井主窗口第二行数据的上端显示了测量孔隙度（MPHI），计算出的BVI，和基于T2cutoff的自由流体孔隙度，例如砂岩的T2cutoff为33MS，碳酸岩T2cutoff为92MS。第二行的下端数据为一些基本的质量控制指示值。例如：CHI，GAIN，B1，B1MOD和一些躁声参数，OFFSET，RINGING，NOISE，和IENOISE。第三行数据所显示的是一些传感器参数值。例如，温度传感器显示的三个温度值（TEMP1，TEMP2和TEMP3

36、），分别显示了以华氏度表示的电子线路，反射器模块和主磁体的温度。所有电子线路供电电压传感器数据。当某一个指示值超出允许范围时，此值就回变红并闪亮，以警示提醒操作工程师注意。测井质量显示（在测井图上显示）Log-Quality Display所有的质量指示参数和原始测量数据在测井过程中被实时记录在当前测井文件上。在需要的时候可以随时回放。核磁质量控制可以以不同的方式和格式显示。如图十二为一种显示格式。图中：Track1：自然伽玛（GR），电缆速度（CS），和张力（TENS）曲线。Track2：两组回波串波形图，GAINA和GAINB曲线，CPMG回波脉冲的响应幅度B1A和B1B，经过温度校正的C

37、PMG脉冲幅度指示值B1MODA 和B1MODB。Track3：所有的仪器电压传感器数据。Track4：发射器模块的温度TXTA，电子线路的温度ECTA，主磁体温度ANTA，相位校正参数（PHCOA和PHCOB），回波串虚部的平均值（PHERA和PHERB），回波串虚部的标准偏移（PHNOA和PHNOB）。Track5：NOISE和IENOISE，GROUPA和GROUPB对于频率1和频率2的NOISE和IENOISE。（N1A，N2B，N2A，N2B，IEN1A，IEN1B，IEN2A和IEN2B）例如，N1A为GROUPA FREQUENCY1的噪声。Track6：GROUPA，GROUP

38、B 频率1和频率2的OFFSET和RINGING值。Track7：GROUPA和GROUPB的CHI，MPHI和GROUPA的BVI值。 图十二：测井质量控制参数出图格式图中所显示的出图格式可以用于不同的测量模式。例如C/TP，双TW和双TE等模式。当用C/TP测量模式时，GROUPA所代表的回波串是经过全部极化TW和1.2MS回波间隔所得到的回波串。同时GROUPB所得到的回波串是由部分极化时间TW和0.6MS回波间隔所得到的回波串。当应用双TE测量模式时，GROUPA包含短TE回波串而GROUPB代表长TE回波串。中所显示的所有的质量指示值应和前面章节中所讨论的原理和标准相符合。例如某一电压传感器指示值，或NOISE，CHI值超出允许范围，在屏幕上就回变成影影以提醒操作工程师注意。另外，各组数据例如GROUPA和GROUPB之间，上述质量指示值之间应保持非常接近。如图十三所示是一双TW的测井图。最左边一条为张力曲线。第一道和第二道为GROUPA和GROUPB的BIN数据。第三道和第