元器件检验通用标准0001

1、来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-001受控状态：碳膜电阻修 改 页：第 1 页 共 53页抽样检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ： AQL= 1.0 ；CR：AQL=0.65MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级 是否一一致 . 用毛刷沾洗板水轻擦色环， 不能出 现脱色现象。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用 LCR 电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内

2、, 电阻值小于 10K 的用串联方式，频率选用 100Hz. 电阻值大于等于 10K 的用并联方式，频 率选用 100Hz 。2. 分别在高温 85 、低温-20 、温度 93% ±3% 、 100CM 高度自由跌落 3 次，对应 R 值均符合标 称值以及偏差允许范围。3. 碳膜电阻误差值：± 5%MALCR 电桥4可焊性用 40W 烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚 放在 230 ±5锡炉中一次上锡面积大于 85% 。表 面色环的 颜色不发生变化。MA烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。3. 外壳用刀片刮取，

3、壳体坚韧度需符合。MA目测、对比样品刀片6包装标识1、包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、（内包装、外箱）标识单内容正确。MA目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-002受控状态：金属膜电阻类修 改 页：第 2 页 共53 页抽样检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 1.0 ；CR：AQL=0.65MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻

4、有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺1 室温下用LCR 电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于 10K 的用串联方式，频率选用 100Hz ；电阻值 大于等于 10K 的 用并联方 式，频率选 用3100Hz 。MA电性2 分别在 75、-5 以下、湿度 93 ±3 、 100CMLCR电桥高度自由跌落 3 次，对应 R 值均符合标称值及偏差允许范围。43.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。4. 金属膜电阻误差值± 1CR5可焊性用 40W 烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230 ±5锡炉中，一次上

5、锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉6材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品1、 包装材料用料正确。7包装标识2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。MI目测4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。拟制：审核：批准：日期 日期 日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-003受控状态：氧化膜电阻修 改 页：第 3 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.0 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序

6、号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸外形尺寸是否符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用 LCR 电桥测量电阻值是否在偏差允许范围 内，电阻值小于 10K 的用串联方式， 频率选用 100Hz ；2. 分别在 75 、-5 、湿度 93±3、100CM 高度自由跌落 3 次，对应 R 值均符合标称值及 偏差允许范围CRLCR电桥4材料所用材料与样品相符MA目测、对比样品5包装标识1. 包装材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、

7、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验通用标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-004受控状态：AI 机用的电阻、二极管引脚标准要求修 改 页：第 4 页 共53 页抽样检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 1.0 ；CR： AQL=0.65MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷碳膜电阻、金膜电阻、二极管 1N4148 、二极管 1N4007 引脚直径序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1阻脚 电引11/4W 碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达 0.43-0.5mm2.1/4W 电阻要求带编

8、带（ 26mm ），编带中间电阻引脚的两 端尺寸为 26mm ，也有 52mm 。3电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。CR数字卡尺目测2二极管1N4148 引脚1、二极管 1N4148 引脚直径为 0.45-0.5mm 。2二极管 1N4148 要求带编带（ 26mm ），编带中间二极管 1N4148 引脚的两端尺寸为 26mm 。3二极管 1N4148 引脚与编带不允许有歪斜、 弯曲、变形等 现象CR数字卡尺目测3二极管1N40071二极管 1N4007 引脚直径为 0.68-0.73mm 。2二极管 1N4007 要求带编带（ 58mm ），编带中间二极管1N4007 引脚的两

9、端尺寸为 58mm 。3二极管 1N4007 引脚与编带不允许有歪斜、 弯曲、变形等CR数字卡尺目测来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-005受控状态：瓷片电容修 改 页：第 5 页 共 53页抽样检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ； MA ：AQL= 1.0 ；CR：AQL=0.65MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷电容： 104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%（ 直径5脚距 5mm）序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩， 标识是否与来料 相符。MI目测元件体引脚是

10、否氧化， 元件体是否有毛刺和破损、 划伤、裂痕等。MI目测2尺寸符合产品工程图。 脚距 5mm ，6mm ，符合实际装配。MA钢尺或游标卡 尺3电性1使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围 内，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。2常温下用数字电容测试仪检测电容值为 0.1UF+80%-20% (0.001mF+80%-20% )，损耗 角0.05 。3常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻 10000M 4常温下，用耐压测试仪测端子间耐压值 75V ；端子 与外壳间耐压值为 100V ，应元击穿或飞弧现象 (高 温区 95 -105 检测方法相同)。5将其放于 95 105 及低温 -

11、18 以下，使用数 字电容测试仪检测测其电容值为 0.1UF+80%-20% (0.001mF+80%-20% ).6. 手工浸水湿度 93% ±3%用数字电容测试仪测其电 容 0.1UF+80%-20% ( 0.001mF+80%-20% ).CR数字电容测试 仪漏电流测试仪 耐压测试仪绝缘电阻测试 仪4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放 在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MI烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1.包装材料用料正确。2.小包装方式、数量无误。3.

12、装箱方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号： WI/HV-12-006受控状态：高压瓷片电容修 改 页：第 6 页 共 53 页抽样检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ： AQL= 1.0 ； CR：AQL=0.65MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷电容： 101P/1KV（ 直径 5 脚距 5mm） 102P/1KV（ 直径 6.5 脚距 5mm）103P/1KV（ 直径8.5 脚距 5mm）序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰

13、可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范 围内，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电 流的大小。2 常温 下 用数 字电 容 测 试仪 检 测电 容 值 为0.1UF+80%-20% (0.001mF+80%-20% )， 损耗角0.05 。3 常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻10000M 4 常温下，用耐压测试仪测试端子间耐压值1.6Ur(5s) ；端子与外壳间耐压值为 1250V ， 应元击穿或飞弧现象 (高温区 95 -105 检CR数字电容测试

14、 仪漏电流测试仪 耐压测试仪绝缘电阻测试来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-007受控状态：高压金属膜电容修 改 页：第 7 页 共53 页抽样来料检验标准： 依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 1.0 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷高压电容( CBB 金属膜电容) CBB21-473J400V( 脚距 10mm)序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，有明确认证标志，是否标明3C 、UL、TüV 或 VDE 等认证标志。MI目测元件体引脚是否氧化，元件

15、体是否有毛刺和破损、划伤，封胶是否有气孔等。MI目测2尺寸符合产品工程图MA游标卡尺3电性1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标 准容量， 根据电容正负偏差设置上下偏差， 然后依据 电容的标称电压值， 设定其损耗角正切值， 最后夹上 待测电容，“PASS”灯亮表示合格。2.用电容测试仪测其电容 0.047 F±5% ，损耗角 1.0%(20 1KHZ).3.用绝缘电阻测试仪测其R30000M (20 1min )4.常温下 100CM 高度自由跌落 3 次，再测其电容值 应为 0.047 F±5%.CR耐压测试仪电容测试仪漏电流测试仪绝缘电阻测试仪来料检验标准版 本

16、：第三版文件编号：WI/HV-12-008受控状态：聚酯膜（绦纶）电容修 改 页：第 8 页 共53 页抽样来料检验标准： 依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷聚脂膜电容（绦纶） ： 2J103J （630V ）（脚距 4mm）2J152J （630V ）（脚距 4mm）序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩， 负极标志、 丝印标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测2尺寸符合产品工程图MA钢尺游

17、标卡尺3电性1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正负偏差设置上下偏差，然后根据电容的标称耐压来设定损耗角，最后 夹上待测电容，“PASS”灯亮表示为合格。2.用电容测试仪或 LCR电桥测其电容 0.0001 F±5（0.00152 F±5） ，损耗角正切值 0.01 （20 1KHZ ）。3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度 2Ur（Ur=630VDC ）时间5S4.用绝缘电阻测试仪测其 R30000M （20 1min ）。5.工作温度范围 - 40 85 CR电容测试仪 万用表 稳压电 源漏电流 测试仪 绝缘电 阻测试 仪来料检验标准版 本：第三版

18、文件编号： WI/HV-12-009受控状态：二极管 IN4007修 改 页：第 9 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷二极管： D1-D5 IN4007序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡 尺3电性1. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降： 0.6 1.1V 和反向耐压： IN

19、4007 >1000V 、2. IN4007 在最大反向电压下其最大反向电流值为 5.0 A（+25 ），平均输出电流值为 1A （ +75 ）3. 工作温度范围为 -65 to+125 CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用 40W 烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满，引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。4.（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准

20、：日期日期日期来料检验标准极管 IN4007抽样来料检验标准：版 本：第三版文件编号WI/HV-12-009A受控状态：修 改 页：第 9A 页 共 53依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷稳压二极管参数 :型号稳压值及精度测试电流正向电压( VF)IN47233.3V ±5%76mA当 IF=200mA 时 ,VF1.2VIN47324.3V ±5%53mA当 IF=200mA 时 ,VF1.2VIN47335.1V ±5%49mA当 I

21、F=200mA 时 ,VF1.2VIN47345.6V ±5%45mA当 IF=200mA 时 ,VF1.2VIN472312V ±5%21mA当 IF=200mA 时 ,VF1.2VIN472327V ±5%9.5mA当 IF=200mA 时 ,VF1.2V型号最大反向电压 (VR)正向电压 (VF)正向电流( IF)最大正向输出电流 IAFIN400150V0.7V5.0 A1AIN4002100V0.7V5.0 A1AIN40071000V0.7V5.0 A1AIN4148100V0.7V5.0 A150mABAV9975V0.7V1.0 A215mA二极管

22、参数 :拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-010受控状态：二极管 IN4148修 改 页：第 10 页 共53 页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷二极管： D6-D7 IN4148序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1 、用晶体管测试仪

23、先后测试二极管正向压降： 0.6 1.0V 和反向耐压： IN4148 >100V 、2 、最大反向电流（ +25 ）值为 0.025 A，平均 输出电流（ +75 ）值为 150mA3 、工作温度范围为 -65 to+125 CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用 40W 烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满， 引脚放 在 230 ±5 锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料1 、所用材料与样品相符。2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2 、小包装方式、数量无误。3 、装箱方式、数量无误。4、 （内包

24、装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号： WI/HV-12-011受控状态：二极管 （6A10）修 改 页：第 11 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷二极管： 6A10序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性4. 用

25、晶体管测试仪先后测试二极管正向压降： 0.95V （MAX ）和反向耐压： 6A10 >1000V5. 6A10 在最大反向电压下其最大反向电流值为 10 A （+25 ），平均输出电流值为 1.0mA （+100 ）6. 工作温度范围为 -55 to+150 CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用 40W 烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满，引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品1、 包装材料用料正确。包装2、小包装方式、数量无误。6MI目测标识3

26、. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。拟制：审核： 批准：日期日期 日期版本：第三版文件编号：来料检验标准WI/HV-12-012受控状态：修改 页：快速恢复二极管 FR107第12 页 共53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷二极管：FR107 DO-41序检验检验标准及要求AQL 检验方法号项目丝印 负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI 目测1外观元件体 元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI 目测2尺寸符合产品工程

27、图。MA钢尺游标卡尺3电性1.用晶体管测试仪 （10mADC ）测试二极管正向压降 VF0.7V ， 反向耐压：FR107 1000V（工作温度范围 -65 +150 ）.2.用万用表先后测量二极管最大反向电流 IRM =5.0 A（25 ）与 平均输出电流 IO=1A （75）CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在 230 ±5锡炉 中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料所用材料与样品相符。与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识包装材料用料正确。小包装方式、数量无误。装箱方式、数量无误。（内包装、

28、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版 文件编号： WI/HV-12-013 受控状态：快速恢复二极管 HER303修 改 页：第 13 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷二极管： HER303 DO-27序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电

29、性1. 用晶体管测试仪（ 10mADC ）测试二极管正向压降 VF 0.7V ，反向耐压：FR200V（工作温度范围 -65 +150 ） .2. 用万用表先后测量二极管最大反向电流IRM =5.0 A（25 ）与平均输出电流 IO=1A （75 ）CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满，引脚放在 230 ±5 锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料所用材料与样品相符。与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识包装材料用料正确。小包装方式、数量无误。装箱方式、数量无误。（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目

30、测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-014受控状态：12V 稳压二极管类修 改 页：第 14 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性按下图将稳压管电流调整在 5mA 时，其 12V 的 稳压管的允许稳压范围

31、值在 11.4V-12.7V 为 正常（1 分钟内无损坏）稳压电源VCR晶体管测试仪 稳压电源 万用表 示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满， 引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料1 、所用材料与样品相符。2 、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品1、 包装材料用料正确。包装2、 小包装方式、数量无误。6MI目测标识3 、装箱方式、数量无误。4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-015受控状态：18V 稳压二极管修 改 页：第

32、 15 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ： AQL=1.5 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性按下图将稳压管电流调整在 5mA 时，其 18V 的 稳压管的允许稳压范围值在 16.8.V-19.1V 为 正常（1 分钟内无损坏）稳压电源VCR晶体管测试仪稳压电源万用表示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡，

33、 要求焊点饱满， 引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品1来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-016受控状态：27V 稳压二极管修 改 页：第 16 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元

34、件体元件体引脚是否氧化， 是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性按下图将稳压管电流调整在 5mA 时，其 27V 的 稳压管的允许稳压范围值在 25.1V-28.9V 为 正常（1 分钟内无损坏）稳压电源VCR晶体管测试仪 稳压电源 万用表 示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满，引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MA烙铁小锡炉5材料1、所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、 （内

35、包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-016A受控状态：1/2W 稳压管修 改 页：第 16 A 页 共53 页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷1/2W 参数稳压值 (V)稳压值范围(精度± 5 )稳压值 (V)稳压值范围32.85 3.154340.85 45.153.33.13 3.474744.65 49.353.63.42 3.785148.4

36、5 53.553.93.7 4.15653.2 58.84.34.08 4.526258.9 65.14.74.46 4.946864.6 71.45.14.84 5.367571.25 78.755.65.32 5.888277.9 86.16.25.89 6.519186.45 95.556.86.46 7.1410095 1057.57.12 7.888.27.79 8.619.18.64 9.56109.5 10.51110.45 11.551211.4 12.61312.35 13.651514.25 15.751615.2 16.81817.1 18.92019 212220.9

37、23.12422.8 25.22725.65 28.35拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版 文件编号： WI/HV-12-017 受控状态：三端精密稳压器（ 431BCZ ）修 改 页：第 17 页 共 53页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.0 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷精密稳压器： IC2 LM431BCZ TO-92序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体检查三极管的引脚是否氧化，元件

38、体是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图，符合实际装配。MA游标卡尺3电性1 稳压值检测，偏差±2、阴极电压 VKA 31% 。 2K6V。V 12VMA晶体管测试仪万用表稳压电源示波器2.5V±1%3、IKA 100mA4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在 230±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MI烙铁小锡炉5材料1 所用材料与样品相符。MA目测来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-018受控状态：三端稳压器修 改 页：第 18 页 共53 页抽样来料检验标准： 依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=

39、1.0 ；MA ：AQL= 0.65 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩， 标识是否与来料相符。MI目测元件体检查三极管的引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 将三端稳压器接在调压稳压电源上，调稳压电源至 7-20V 电压，为三端稳压器输入电压，并测出 其输出为 5.0± 0. 2 V 。（精度为±4）2. 稳压管满负载连续工作 2 小时，温升测试应小于 503. 分别于 100CM 高度自由跌落三次

40、，湿度达 93% ±3% ，其输出电压为 5.0± 0. 2 V 。4、 将其接在调压稳压电源上，调稳压电源测出三端5、 稳压器的输入电压稳压范围，并测出其稳压值。6 、 带负载能力，在电路里串入负载和电流表， 调到电流为 1A 左右，测出其输出电压。MA晶体管测试仪 万用表 稳压电源 示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满， 引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MI烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1. 材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3.

41、 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-018A受控状态：修 改 页： 三端稳压器 第 18 页 共53 页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.0 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷三端稳压块参数测试条件7805/ （78L05 ）78127924最小、典型、最大最小、典型、最大最小、典型、最大V1101933V0（空载）4.9 5.0 5.111.75 12 12.252

42、3.5 2424.5V0（负载）4.8 5V 5.211.5 12 12.523 24 25拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号： WI/HV-12-019受控状态：接收头修 改 页：第 19 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.0 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩， 标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化， 元件体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测2尺寸符合产品工程

43、图MA钢尺或游标卡尺3电性1. 把其接在测试板上，用遥控器从各个方位遥控， 看它的接受性能，接收角度为 60 °。2. 将测试板放在日光灯下 （距离很近），再用遥控器 遥控，看其的抗干扰能力，接收距离 3M 。CR遥控器测试夹具4可焊性用烙铁快速一次上锡， 要求焊点饱满， 引脚放在 230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。MI烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1. 材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审

44、核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-019A受控状态：接收头修 改 页：第 19A 页 共53 页抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.0 ；MA ： AQL= 0.65 ； CR： AQL=0.4MI ：次要缺陷 MA ：主要缺陷CR：致命缺陷接收头参数参数名称最小值典型值最大值条件静态电流 IS1.1mA2.8mA无信号工作电压 VS4.7V5.0V5.3V无信号接收距离 L110m12m=0 °接收距离 L28m9m>30接收距离 L34m6m>45载波频率 f038KHZ接收波长p940

45、nm高电平输出电压 VH4.5V低电平输出电压 VL0.5V拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-020受控状态：轻触按键 /防水按键修 改 页：A第253 页0 页 共抽样来料检验标准：依据 MIL-STD-105D- ； MI ：AQL=1.5 ；MA ： AQL= 1.0 ；CR：AQL=0.4MI ：次要缺陷MA ：主要缺陷CR：致命缺陷序检验检验标准及要求AQL检验方法号项目标识标识是否与来料相符。MI目测1外观引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破元件体MI目测损、划伤。2尺寸符合产品工程图MA钢尺或游标卡尺从五个方向按下按键 （垂直方向按

46、下， 左、右、前、后 45 度按下按键），用毫欧表测试其接触电阻，毫欧表3电性应小于 150m 。CRLCR 1 2 3 4 5 机械1. 用数字天平秤测试，满足标称按键力参数值。4CR数字天平性能2. 元件体侧面受力大于 3Kg 无损伤。用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在烙铁5可焊性MI230 ±5锡炉中，一次上锡面积大于 85% 。小锡炉1. 所用材料与样品相符。6材料MA目测、对比样品2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。8包装标识1. 材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-020A受控状态：轻