SEM和EDS的现代分析测试方法

1、一背散射电子二二次电子三吸收电子四透射电子五特征射线六俄歇电子七阴极荧光八电子束感生电效应电子束感生电导信号电子束感生电压信号组成: 电子枪, 电磁聚光镜, 光阑, 样品室等.作用: 用来获得扫描电子束, 作为 使样品产生各种物理信号的 激发源.1. 电子枪2. 聚光镜(电磁透镜)3. 光阑4. 样品室热电子发射型: 普通热阴极三极电子枪 六硼化镧阴极电子枪 场发射电子枪: 冷场发射型电子枪 热场发射型电子枪组成: 扫描信号发生器、放大控制器等 电子学线路和相应的扫描线圈。作用: 提供入射电子束在样品表面上以 及阴极射线管电子束在荧光屏上 的同步扫描信号; 改变入射电子 束在样品表面扫描振幅，

2、以获得 所需放大倍数的扫描像。作用：检测样品在入射电子束作 用下产生的物理信号，然 后经视频放大，作为显象 系统的调制信号。1. 电子检测器：由闪烁体、光导管和光电倍增器组成。2. 阴极荧光检测器：由光导管、光电倍增器组成。3. X射线检测系统：由谱仪和检测器两部分组成。组成：显示器、照相机、打印机 等。作用：把信号检测系统输出的调 制信号转换为在阴极射线 管荧光屏上显示的样品表 面某种特征的扫描图象， 供观察或照相记录。组成：稳压、稳流及相应的安全 保护电路等。作用：提供扫描电子显微镜各部 分所需要的电源。组成：机械泵、扩散泵、电磁阀 及相应的真空管路等。作用：建立能确保电子光学系统 正常工

3、作、防止样品污染 所必须的真空度。分辨率的主要决定因素:1. 电子束斑直径2. 入射电子束在样品中的扩展效应3. 信噪比漫散射的深度与原子序数有关显微镜的放大倍数: 象与物大小之比TEM和OM: M总=MM式中： M各个透镜的放大倍数n 透镜数目l缩小电子束交叉斑l总的缩小倍数： M 缩小=(1/ M)(1/ M2) (1/ Mn)SEM图象放大倍数: 显象管荧光屏边长 . 电子束在试样上(相同方向)扫描宽度 lSEM对样品的最重要的要求是样品要导电.一. 导电材料试样制备二. 非金属材料试样制备三. 生物医学材料试样制备1. 试样尺寸尽可能小些，以减轻仪器污染和保持良好真空。2. 切取试样时

4、，要避免因受热引起试样塑性变形，或在观察面生成氧化层；要防止机械损伤或引进水、油污及尘埃等污物。 观察表面，特别是各种断口间 隙处存在污物时，要用无水乙 醇、丙酮或超声波清洗法清理 干净。 4. 故障构件断口或电器触点处存 在的氧化层及腐蚀产物，不要 轻易清除。 1. 在试样表面上蒸涂或沉积一层导电膜。碳、金、银、铬、铂和金钯合金等均可做导电膜材料。2. 导电膜应均匀、连续，厚度为200300。l清洗、固定l脱水、干燥l导电处理等一. 在金属材料方面的应用二. 在高分子材料方面的应用三. 在石油、地质、矿物方面的应用四. 在半导体器件及集成电路方面的应用五. 在生物医学上的应用l断口分析：解理

5、断口、准解理断口、韧性断裂、沿晶断裂等.l铸铁研究：铸铁中的石墨形态、铸铁中化学成分的微区分析.l事故、故障分析一. 波谱法(WDS) 1. 原理布拉格方程: 2dsin=n式中: 特征X射线波长； 布拉格角 d 分光晶体晶面间距 n 衍射级数莫塞莱定律：zkhc式中：k、h、 常数 c 光速 z 原子序数 波长 波谱仪组成 检测系统 放大系统 信号处理系统 显象系统等1. 原理EchchE式中：E X光子能量 特征X射线波长 c 光速 h 普朗克常数2. 能谱仪组成 检测系统 信号放大系统 数据处理系统 显示系统l与波谱仪相比，能谱仪的优点： 1. 分析速度快. 2. 分析灵敏度高. 3.