智能手机E1系列U201和U116不良分析与建议改善方案_第1页
智能手机E1系列U201和U116不良分析与建议改善方案_第2页
智能手机E1系列U201和U116不良分析与建议改善方案_第3页
智能手机E1系列U201和U116不良分析与建议改善方案_第4页
智能手机E1系列U201和U116不良分析与建议改善方案_第5页
已阅读5页,还剩1页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、1.不良现象:造在此现象的原因主要为PCB或元件本身在过炉过程中,受到高温变形。从而引起元件枕头效应。MTK厂商建议用有铅制程生产:降低回流最高温度,使零件和PCB材料变形跨度缩小。3.联络钢网厂商,讨论改善方案:由厚度0.1mm改成0.08mm,解决0.4PITCH BGA零件下锡不良4.拜访周边其他加工厂,结合其他加工厂经验,改善U116中频连焊,变更钢网开孔方式5.通过以上各因素的排除,仍有不良,经点检PCB发现各机型均有PCB PAD尺寸与IPC标准和MTK的设计要求不符现象。关于YW E1XXX系列U201和U116不良分析与建议改善方案因MTK6573和MTK6575 0.4PIT

2、CH的BGA和0.475PITCH的中频PITCH较小,安全距离只有0.15mm和0.2mm,业界中易产生连焊和虚焊不良。主 要表现为生产时良率不稳定,时好时不好,主要为在维修工站用焊枪重新加焊后又OK。2.据从锡膏厂商和MTK厂商了解到,MTK6573虚假焊问题在华东与华南手机生产企业中,这个问题非常普遍。针对此不良芯片有进行切片 实验时发现主要芯片边缘有“枕头效应”。具体见下图:L T 7.综上所述,故需要PCB厂商帮忙配合改善:a.必须符合MTK设计要求:焊盘绿油开窗,周围增加螺槽预留锡膏,统一PAD直径,焊盘表不铺铜,将焊盘走线设计成蝌蚪型; b.PCB制造工艺也需要重点管控,如丝印和油墨印刷精度的管控;c.强烈建议将U116由O

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论