吴凤技术学院工程学群与安全学群贵重仪器中心附件十三

1、吳鳳技術學院工程學群與安全學群貴重儀器中心附件十三服務項目及收費標準總表項次12345678儀器名稱CNC 電腦車床綜合中心切削機軟體Master CAM導熱係數量測系統精密快速成型機三次元量床光學式雷射帶狀掃描儀半導體晶圓研磨熱特性量測儀儀器功能 /服務內容CNC 車床加工1.電腦輔助製造2.CNC 銑床加工、搪孔、鑽孔及攻牙加工電腦輔助製造材料導熱係數量測組裝測試及模具翻製 D 掃瞄儀器系統被廣泛應用在品管之檢測 、醫學之立體定位 、廣告與動畫、到美容與服裝設計等旋轉測頭減少死角。多角度掃描與結合。尋面掃描可變焦距。自動分層掃描。雙鏡頭自動判斷。自動校正。區域選擇掃描。不受物體材質影響。掃

2、描精度高、速度快、遠超過傳統式掃描。安裝容易，操作簡便。可安裝於 CNC 加工機。工業安全設備維修預知保養非破壞性檢測 ：研究開發放置地點花明樓TB-003花明樓TB-003花明樓TB-004花明樓TB-101花明樓TB-102花明樓TB-107花明樓TB-107花明樓TB-108收費標準1.教育訓練課程（依產學合作計畫收費）2.軟體使用費（每小時 1000 元）1.教育訓練課程（依產學合作計畫收費）2.硬體使用費（每小時 1,000 元）1.教育訓練課程（依產學合作計畫收費）2.軟體使用費（每小時 600 元）徐旭華900 元 /小時1.教育訓練課程（依產學合作計畫收費）2.硬體使用費（每小

3、時 800 元）1.教育訓練課程（依產學合作計畫收費）2.硬體使用費（每小時 800 元）各式試片及環境溫度量測與監控，收費依照量測條件與操作環境狀況議價。759 電腦叢集計算系統10 磁控電漿鍍膜系統系統操作盤面須提供系統操作資訊檢視功能 ，包括各節點之 CPU 溫度、風扇轉速、記憶體使用率、 CPU 使用率等。導電薄膜 ZnO 之濺鍍沉積壓電薄膜 AlN 之濺鍍沉積薄膜塊體波諧振器(Thin Film Bulk Acoustic Wave Resonator , FBAR), 表 面 聲 波 元 件 (Surface Acoustic Wave Device , SAW)製作花明樓TB-1

4、08花明樓TB-1005附件十三1.教育訓練課程（依產學合作計畫收費）2.硬體使用費（每小時 1,000 元）沉積薄膜500 元 /小時11D.3D 微細形狀測定器對微機電，光電，半導體， LCD ， OLED 等領域作膜厚段差 /粗度 /平坦度波紋度測定。花明樓TB-607表面膜厚量測500 元 /小時12 光罩對準曝光機13 向量網路分析儀多功能掃瞄探針顯14微鏡半導體元件圖形對準及轉移製程射頻 /微波元件測試，含被動元件量測 ，搭配功率計和衰減計可量測主動元件。射頻 /微波電路量測。支援輸入校正係數和參數，搭配探針台，可量測晶圓電路特性。多功能掃瞄探針顯微鏡，標準裝備了原子力、磁力顯微鏡

5、。同時豐富多彩的表面電位、微粘彈性、隧道顯微鏡等多功能掃瞄探針顯微鏡功能可供選擇。花明樓TB-605花明樓TB-603花明樓TB-607500 元 /小時高頻量測：校內教師、研究生使用免費高頻量測：校外人員， 500 元/小時AFM 量測1000 元/小時15真空熱蒸鍍機使用在半導體製程用蒸花明樓500元 /小時度方式來達到鍍上金屬TB-60516電漿輔助化學氣相沈積半導體薄膜花明樓半導體製程實驗室沉積系統TB-605500 元 /小時76Anritsu MS2687B 頻譜分析儀的應用包括：位置監看：驗證發射器的訊號頻率是精確的。干擾監看：系統在安裝之 前 可 使 用 AnritsuMS26

6、87B 頻譜分析儀確認頻率沒有被佔據 ，或確17頻譜分析儀認沒有強烈的訊號干擾你的裝備。干擾可由不同的狀況產生，利用 AnritsuMS2687B 頻譜分析儀的功能，包括天線隔離、同通道干擾、相鄰通道功率、佔據頻寬、互調、微波或衛星天線調整和元件特性。18螢光光譜儀 (PL)有機物、無機物之螢光分析。廣泛應用於無機陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建築材料、塗層材料、耐火材料、複合材料19動態熱膨脹係數量等領域。測儀 (DIL)研究材料特性如下 ：線膨脹與體積膨脹 、玻璃化溫度、軟化點檢測、相轉變過程、熱處理及燒結、反應動力學研究。可用來測量的顆粒材質包括：陶瓷及水泥、醫藥、金屬、礦物、火藥、20雷

7、射粒徑分析儀固體燃料、食物、藥妝乳(LA)液、微胞、高分子、塗料和黏著劑、顏料和染料，橡膠、塑膠和紙業用的碳黑和礦物添加劑。花明樓TB-603花明樓TB1003花明樓TB1003花明樓TB1003附件十三高頻量測：校內教師、研究生使用免費高頻量測：校外人員， 500 元 /小時校內收費： 30 元/件校外收費： 40 元/件校內收費： 1500 元/件校外收費： 3000 元 件(超過 5 小時每小時加收500 元)校內:300 元/件校外:800 元/件高效能液相層析花明樓校內收費： 30元/小時有機酸分析系統TB100321校外收費： 50元/小時(HPLC)7722原子吸收光譜儀(AA)

8、金屬元素的定性及定量檢測水溶液中或經過某些樣品處理程序後可溶解金屬含量之分析醫學、環境、食品及化學工業等領域中重金屬之分析可直接或間接用於水質、海域、煙道、大氣、金屬工業、地質化學研究、石油化學工業、陶瓷及臨床醫學等金屬之測定花明樓TB1003附件十三校內 :40 元/成份校外 :50 元/成份僅作檢測不作前理傅立葉紅外線光譜23有機物之成份鑑別無機物之結構鑑別 Polymer 分析多層膜組成分析花明樓校內收費： 100 元/件242526儀 (FT-IR)掃瞄式電子顯微鏡(SEM)X-光繞射分析儀(XRD)示差掃瞄熱分析儀(DSC)薄膜膜厚測定蛋白質二次結構分析其他能觀看樣品表面結構 ，形狀

9、及顆粒大小。可分析其元素成分組成。提供一般科學、材料科學及醫藥科學 等全方位的分析應用。能測量晶體結構 ，及計算晶體晶格大小以計算其理論密度。從X 光繞射圖樣決定其化學式 。提供一般科學、材料科學、生物科學及醫藥科學等全方位的分析應用。在 -150 到 350溫度測定範圍， DSC 能測定並計算各種熱流轉移數據。熱流轉移測定包括熔解、分解、玻離溫度轉移、熱容量、熟成動力等現象測定。適合各種高分子材料的測定。TB1003花明樓TB001花明樓TB904花明樓TB909校外收費： 200 元/件校內收費： 200 元/時 (自行操作 )500 元/時(委託操作 )校外收費： 400 元/時 (自行

10、操作 )800 元/時(委託操作 )校內收費： 50 元 /件校外收費： 100 元/件校內 :1000 元/件校外 :1500 元件7827氣相層析質譜儀(GC-MS)可揮發性化合物之分析。可用於藥物、毒物、環境污染、空氣污染等分析。花明樓TB1003附件十三校內 :1000 元/件校外 :1500 元件熱重量 -熱示差掃瞄28分析儀29 X 光繞射儀反應性射頻磁控濺30鍍機作為一種鋁矽酸鹽材料，蒙托石常存在于天然的粘土中。 DSC 曲線顯示了在868 與 923（峰溫）的額外吸放熱相轉變。 484（外推起始點）的放熱效應是由於雜質的存在所引起的。霰石是碳酸鈣的某種變體。這裏測試的樣品是一種

11、表面帶滑石雜質 （在461 與 490 出現放熱峰）的霰石晶體。由於雜質的存在，碳酸鹽分解過程中的失重比（43.71%）稍低於計算得到的化學計量比（43.97%）。穿透導電氧化物薄膜(ex. ZnO) 優選結晶方位分析薄膜太陽電池微結構與相分析壓電光電材料組成分析（43.71%）稍低於計算得到的化學計量比（43.97%）。 Ti/Au 等單一金屬 AlN ，TiW 或 SiN 等合金或化合物 ITO 或 SiO2，TiO2 等氧化物花明樓TB-609花明樓TB-609花明樓TB-611每件實驗基本測試費 (氮氣、坩堝等耗材費 )300 元。委託操作每件 200 元 /小時(含資料及樣品處理時間

12、；不足一小時以一小時計)。每件實驗基本測試費 (相關耗材費 ) 300 元。委託操作每件 200 元 /小時(含資料及樣品處理時間；不足一小時以一小時計)。委託操作每件 1,000 元/小時(含資料及樣品處理時間；不足一小時以一小時計)。79二極体、雙極性電晶体及場效電晶体、 CMOS元件電流-電壓特性分析。31光電及半導體特性發光二極体 I-V 特性量測儀器分析。半導体雷射起始電壓分析。光伏太陽能電池及光電感測元件分析。 III-V 族半導体磊晶材料品質分析。 III-N 氮化物螢光特性32光激光譜儀及雜質分析。有機發光二極体材料發光機制分析。光電感測元件光嚮應特性分折導線熔痕檢查導線熔痕金相分析33金相顯微鏡染色體之檢測分子生物之應用生物醫學之應用可應用於大部分有機化合物之分析與結構鑑定，例如環境污染物的分34氣相層析分析儀析、食品、香料、