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文档简介

1、北京工业大学自动化专业一、实验目的1、了解典型环节系和统的频率特性曲线的测量方法2、根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数二实验设备1、THBDC-1型控制理论计算机控制技术实验平台2、PC机一台（含“ THBDC-1”软件）、USB数据37针通信线1根、16芯数据 采集卡、排线、USB接口线三实验内容1）惯性环节的频率特性测试R1二R2二100K C=luF R0=200K 闭环传递函数瓏覽）Ts!买验记录Bode图开始采集手动单采折钱生成I201050-1030-35-40-45-50-55-6010100Frequency (rad/sec)步-20-251000理论计算数据2）二阶系统

2、山 0P3,反相，（-1）；0P1,惯性环节，。丄；0P2,积分环节，,可以得 到：53 n=2. 236匚二L 118啜100K :G(S)2oS 2 5S 52Rx 10K : G(S) “50Wn=7. 071 OUw20g =0. 3536跆说录浦特冬OK|通谥1 幅值：I2起始频宰(Hz)：I02 U络止頻率(虫)：I5 増量；Zj|0.2扫频输出停止揄出通道号；记录波特冬仿真结果：校正后串联一个惯性装置波特图校正前后对 比00.52.5200-20-40-60-90思考题：1、根据上位机测得的Bode图的幅频特性，就能确定系统（或环节）的相 频特性，试问这在什么系统时才能实现？必须

3、在开环二阶系统中，而且只能确定最小相位系统。2、实验时所获得的性能指标为何与设计时确定的性能指标有偏差？因为在 设计时，很多计算采用的近似计算，同时实验时用的电阻元件参数与设计 不完全一致。3、什么是超前校正装置和滞后校正装置，他们各利用矫正装置的什么特性对 系统进行校正？答：超前校正装置用于改善系统的动态性能，实现在系统静态性能不受损的 前提下，提高系统的动态性能。通过加入超前校正环节，利用其相位超前 特性来增大系统的相位裕度，改变系统的开环频率特性。一般使校正环节 的最大相位超前角出现在系统新的穿越频率点。而滞后校正装置则通过加 入滞后校正环节，使系统的开环增益有较大幅度增加，同时又使校正后的 系统动态指标保持原系统的良好状态。它利用滞后校正环节的低通滤波特 性，在不影响校正后系统低

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