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文档简介

1、电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术培训讲师介绍:费老师 男，原信息产业部电子五所高级工程师 ,理学硕士 , “电子产品可靠 性与环境试验 ”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可 靠性技术研究。分别于 1989 年、 1992 1993 年、2001 年由联合国、原国 家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、 加拿大和美国作访问学 者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度 国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可 靠性评价技术 ”课题组荣获 2006 年度“国防科技二等奖 ”。 2

2、001 年起多次应邀 外出讲学 ,获得广大学员的一致好评。【培训对象】 系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠 性管理和从事电子元器件（包括集成电路）失效分析工程师【主办单位】中 国 电 子 标 准 协 会 培 训 中 心【协办单位】深 圳 市 威 硕 企 业 管 理 咨 询 有 限 公 司为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求， 我司决定 在全国组织召开“电子元器件可靠性试验、 失效分析、故障复现及筛选技术”高 级研修班。 研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲， 通过讲解大量 实例, 帮助学员了解各种主要电子元器件的可靠性试验方法和试验结果的分析

3、方 法课程提纲： 第一部分 电子元器件的可靠性试验1 可靠性试验的基本概念1 1 概率论基础1 2 可靠性特征量1 3 寿命分布函数1 4 可靠性试验的目的和分类1 5 可靠性试验设计的关键问题2 寿命试验技术2 1 加速寿命试验2 2 定性寿命保证试验2 3 截尾寿命试验2 4 抽样寿命试验3 试验结果的分析方法：威布尔分布的图估法4 可靠性测定试验4 1 点估计法4 2 置信区间5 可靠性验证试验5 1 失效率等级和置信度5 2 试验程序和抽样表5 3 标准和应用6 电子元器件可靠性培训试验案例 案例 1 已知置信度和 MTBF 时的实验测定 案例 2 已知置信度和可靠度时的实验测定案例

4、3 案例加速寿命实验测定法 第二部分 电子元器件的失效分析、 故障复现 和筛选技术1 失效的概念和种类2 失效物理模型和应用2.1 应力 -强度模型 2.2 应力- 时间模型3 失效模式 , 失效机理 , 失效分析和故障复现的概念和作用4 各种失效模式与失效机理的关系5 各种环境应力与失效机理的关系6 各种失效机理及其失效分析和故障复现技术6.1 变形 6.2 变质 6.3 外来异物6.4 质量迁移7 基于失效机理的筛选技术7.1 电子元器件筛选原理7.2 传统筛选试验的种类、方法、作用和存在的问题7.3 基于失效机理的筛选技术7.4 筛选应力和筛选时间的确定7.5 筛选效果的评估8 失效分析技术

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