GB∕T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减

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ICS31.220.10

L23

中华人民共和国国家标准

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment一

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-3:Test25c：Risetimedegradation

(IEC60512-25-3:2001，Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements——Part25-3:Test25c：Risetimedegradation,IDT)

2021-03-09发布

2021-10-01实施

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GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

前 m

1总、则 1

l.i范围和目的 1

1.2术语和定义 1

2试验设施 1

2.1设备 1

2.2 2

3试验样品 2

3.1翻 2

4试验程序 3

4.1插人法 3

4.2标准装置法 3

4.3上升时间衰减计算 3

5相关标准应规定的细则 3

6试验记录文件 3

附录A（规范性附录）装置和设备示意图 5

附录B（资料性附录）实用指南 8

I

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GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

GB/T5095((电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下：

一第25-1部分:试验25a:串扰比；

第25-2部分:试验25b:衰减(插人损耗)；

——第25-3部分:试验25c:上升时间衰减；

——第25-4部分:试验25d:传输时延；

一第25-5部分:试验25e:回波损耗；

一第25-6部分:试验25f:眼图和抖动；

——第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)；

一第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰。

本部分为GB/T5095的第25-3部分。

本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-3:2001((电子设备用连接器试验和测量第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》。

本部分做了下列编辑性修改：

一标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》修改为《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。

本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。

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GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-3部分：试验25c:上升时间衰减

1总则

1.1范围和目的

GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。

本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。

1.2术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

1.2.1

上升时间衰减risetimedegradation

样品插人传输通道时，达到理论上理想的（零上升时间）电压阶跃的上升时间增量（见图1）。采用的高斯信号从10%〜90%的上升时间衰减的计算式见式（1）:

Tr,d=V（Tr）2-（Tr,m）2 （1）

式中：

Tr.d 上升时间衰减；

Tr—测量的上升时间；

Tr,m——测量系统上升时间。

1.2.2

测量系统上升时间measurementsystemrisetime

安装就位无样品，并具有滤波（或归一化）作用的装置测量的上升时间。通常，测量的是从10%~90%电平的上升时间（见图1）。

1.2.3

样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance

由装置在样品信号导线上引起的阻抗。该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器和信号源以及装置的寄生效应产生的。

1.2.4

上升时间risetime

发生电压阶跃所需的时间，通常测量的是从10%〜90%电平上升时间的初始值和最终值。

2试验设施

2.1设备

脉冲发生器和示波器、时域反射计（TDR）或具有测量系统上升吋间小于或等于测量的上升时间70%的其他合适设备。

2.2装置

除非参考文件中另有规定，样品环境阻抗应与试验设备的阻抗相匹配。通常，对于单端测量，该阻抗为50£1，差分测量为100n。装置和设备的示意图见附录A。

2.2.1方法A，单端

装置应能一次激励一条信号线路。激励线路应按图A.2中的一种方法，与样品环境阻抗端接。除非另有规定，具有全部共用接地的各端应采用1:1的信号-接地比。与激励线路相邻的每条线路在近端和远端也应与样品环境阻抗端接。

插入法

装置应设计成在有样品和无样品时都能进行上升时间的测量［见图A.la)］。

标准装置法

两个装置应设计成具有相同的装置电气长度和环境传输线路的特性。“样品装置”包括样品/‘标准装置”不包括样品。装置电气长度不包括样品长度［见图A.lb)］。

2.2.2方法B，差分激励

装置应能一次激励一信号线对。激励线路应按图A.3中的一种方法与样品环境阻抗端接。除非另有规定，应采用2:1的信号-接地比。与激励线路相邻的每条线路在近端和远端也应与样品环境阻抗端接。

插入法

装置应设计成在有样品和无样品时都能进行上升时间测量［见图A.la)］。

标准装置法

两个装置应设计成具有相同的装置电气长度和环境传输线路的特性。“样品装置”包括样品/‘标准装置”不包括样品。装置的电气长度不包括样品长度［见图A.lb)］。

3试验样品

3.1说明

用于本试验规程的试验样品应为下列类型：

3.1.1可分离连接器

连接器插合对。

3.1.2电缆组件

组装好的连接器和电缆，及其插配连接器。

3.1.3插座

插座与试验器件，或插座和插头转接器。

2

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4试验程序

除另行规定外，测量系统的上升时间应小于或等于有样品测量的上升时间的70%（见图1），建议使用该设备的最快输出信号。下述两种方法既适用于单端测量也适用于差分测量。对于差分测量，必须确定各通道之间存在的任何相位和/或幅度误差，并对这些误差提供必要的补偿。样品应放置在距任何可能会影响测量结果的物体至少5cm处。试验的实用指南参见附录B。

注：试验人员宜了解通过仪器进行的任何数学运算的局限性（如归一化或软件滤波）。

4.1插入法

4.1.1测量通过无样品并具有滤波或归一化作用装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此即是测量系统的上升时间。

4.1.2测量通过有样品并具有滤波或归一化作用装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此即为测量的上升时间。

4.2标准装置法

4.2.1测量通过无样品并具有滤波或归一化作用标准装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此即是测量系统的上升时间。

4.2.2测量通过有样品并具有滤波或归一化作用标准装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此即为测量的上升时间。

4.3上升时间衰减计算

若为高斯信号并测量从10%〜90%电平的上升时间，则上升时间衰减按式（2）计算：

Tr,d=y（Tr）2-（Tr,m）2 （2）

式中：

Tr.d 上升时间衰减；

Tr—测量的上升时间；

Tr,m 测量系统上升时间。

若不是高斯信号并且测量的上升时间不是从10%〜90%电平，则不能采用以上式（2）。在此情况下，报告测量的上升时间和波形图。

5相关标准应规定的细则

相关标准中应规定下列细则。

5.1测量系统上升时间（如可得到）。

5.2单端不同于50£1或差分不同于100£1的样品环境阻抗。

5.3信号/接地型式，包括用于本试验信号和接地连接导线的数目和位置。

5.4装置要求（如有）。

5.5不同于10%~90%的上升时间电平。

5.6方法A（单端），方法B（差分激励），或两者。

6试验记录文件

记录文件应包括第5章中规定的细则和例外，以及下列细节。

3

6.1试验名称。

6.2试验设备及其上次和下次校准的日期。

6.3试验程序和方法。

6.4装置说明。

6.5测量系统上升时间，见第4章（如适用）。

6.6测量的有样品上升时间。

6.7波形图（若要求的信号不是高斯信号或测量的上升时间不是10%〜90%电平）。

6.8计算值和观测值。

6.9操作员姓名和试验日期。

说明：

Vin 输人电压；

V„ul 输出电压。

注：计算（）％和100%电平时，上冲峰突和下冲峰突可忽略不计。

图1波形

#

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附录A

（规范性附录）

装置和设备示意图

装置和设备的示意图见图A.1〜图A.3。

a）插入法

b）标准装置法

图A.1装置方法示意图

7

50Q接收器

b)

50fi

说明：

——电阻1;

R2 电阻2;

Z。 特性阻抗；

V。 源电压。

最低损耗匹配器计算式为：

=50[l—(Z„/50)]l<5 R}=Z()[l-(50/Z())]ri-n

z()<5()n时： z()>5()n时：

R,=Zo/：1-(zn/50)]IV_ R2=50/[l—(50/Z。)]"-5

图A.2单端终端

o-

试验样品

-o

500接收器

b)

50fi

接收器

说明：

Ri 电阻1;

R2 电阻2;

Zq 特性阻抗；

V0 源电压。

最低损耗匹配器计算式为：

i?1=100：l-(Z0/100)]°-5/2 K1=Zo：l-(lOO/Zo)l°-5/2

zo<ioon时： zo>iooq时：

}?2=Zo/：l-(Zo/lOO)]0-5 _R2=100/[l—(lOO/Zo)]0.5

图A.3差分（平衡）终端

附录B

（资料性附录）

实用指南

由于信号和接地导线所造成的寄生电抗，所以在高频条件下信号线路要具有近乎理想的阻性终端是不可能的。这些电抗将会对测量的结果产生影响。在此情况下，最好是使得试验装置与实际应用场合的几何条件（寄生性的）完全相同。除图A.1和图A.2中的构件外，还可能包括采用的传输线路。这些测量采用的大多数仪器都在信号源和检测器端口内部端接了50n负载。

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