BESIII电子学系统方案

1、MDC Electro nicsPreamplifier chip developed for BESIII MDCSome of preamplifier cardsA prototype system with 512 cha nn elsHistogram of t measured with512 channels. The typical valueBESIII电子学系统经过几年的努力，BESIII MDC 电子学系统的各个部件已全面进入 大批量投产阶段。 近1000块前置 放大器板已分批完成长期稳定性测 试，每批5-7天，性能达到设计要 求。MDC电子学系统的主体一260块 MQT

2、f件已全部完成焊装和单板测 试，小系统测试正在紧进行中。为 确保检测质量和加快工程进展速 度，建立了四个测试系统。其中两 个测试系统分别用于前放及MQ单个 插件的功能及指标测试，另两个则为 512通道的测试系统。512通道测试 系统将测试完的各单个部M牛按实际 需求组合在一起，进行长期稳定性的 测试，人性化的界面可适时观察到 512个通道的运行情况，8月份将全 部完成测试工作。与此同时，数个机 箱2000多路的MDCfe子学系统目前 正与在线系统进行联调。Histogram of q measured with 512 cha nn els. The typical value is 6.7f

3、c.MDCfe子学系统需要近千根多芯电缆、千余根双芯 LEMOI缆以及一些其它类型的电缆。为 了保证如此众多的电缆的可靠连接及稳定运行。MDC电子学组的工程人员群策群力，刻苦钻研，设计研制成功了一种智能的电缆测试仪，实现了一次测量可显示一条电缆中所有芯线 以及任意两条芯线间的通/断电阻值及连接状况；经进一步改进后，在配以不同类型插座的 情况下，还可实现测量不同类型电缆的附加功能。目前，这种智能电缆测试仪已投入使用,正计划作进一步改进，使其功能更加完善。BESIII EMC电子学系统介绍ETngrBESIII EMC读出电子学框图TwstDAC SCLK, DINLlLI RwfBofFn fi

4、iilIIhv detecJor!X2X1ERIAWPKWCE-VDCu1 u：il Glabnl Biiffn£L«e41Eiiffh|iCLKLlL1R?回v Biif仙何Ttit Cunlu-oDv于2006年6月前完成了全部6500个前置放大器 生产、焊接、老化和测试工作。测试结果全部达到 或超过了预期的设计指标。前放测试结果达到：等效输入端噪声700电子电荷，增益：0.98V/pc， 最大线性输出幅度不小于1.8V，输出衰减时间常数 40卩s,校准端输入电压电荷转换率0.98pc/V,功耗 230mw.主放大器BESIII EMC电子学的主要功能是测量 光敏二极管输出的电荷量，从而确定粒 子在CsI晶体中的能量损失，同时给出 粗略的粒子击中晶体的时间信息。读出电子学对电荷信号进行积分、 信 号经过放大、CR-(RC)2成形。通过对峰 值电压的测量得到待测的电荷量，根据 峰位的时刻，得到粒子击中晶体时间。电荷测量插件于2006年6月之前完成