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文档简介

1、液晶光電特性實驗測系統一、 前言 光電測系統的自動化可以方控制所需的電壓以及擷取訊號，使原本需要很長時間的實驗可以縮短，用已知的TN 型液晶與Homogeneous型液晶檢測系統是否完整與正確，並且瞭解到光在液晶中的光學特性。二、 量測原理(1) 液晶分子具有改變光偏振的特性，因此將液晶薄膜置於片線性偏振片之間，用偏振光的透出與阻擋，而能製作出光開關的元件。(2) 而液晶分子亦可接受電場驅動而改變排方向，進而影響改變光偏振的能。(3) 所以可以用外加電壓控制光的開關，此即液晶薄膜的電光特性之一。TN型(a) 電壓OFF，光透過（） (b) 電壓ON，光遮蔽（暗）Homogeneous型三、 系

2、統設置(1) 光學板，He-Ne 射，線偏振片×2，光衰減片，樣本架，光偵測器，示波器(或電錶)，波形產生器。(2) 光學元件支撐器、棒與座(干個) ，射架，偏振片旋轉座×2。(3) BNC線(干條) ，BNC轉雙鱷魚夾線、BNC1對2轉接頭四、 量測結果(1) 液晶薄膜為扭曲配向，而前後偏振片相互垂直，此稱做正常白(NormallyWhite, NW)模式。(2) 慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓慢慢低，表示光被阻擋住而形成暗態。(3) 液晶薄膜為扭曲配向，而前後偏振片相互平，此稱做正常黑(Normally Black,NB)模式。(4) 慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓慢慢增加，表示光穿透而出形成態。(5) 液晶薄膜為平配向，而前後偏振片相互平，且前偏振片之偏振軸與液晶配向方向夾角為45°。(6) 慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到

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