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文档简介

实验五触发器逻辑功能测试 三、实验仪器及器件:数字电路实验箱74LS00、74LS74、74LS76芯片各一片四、实验内容:1、用与非门构成SR锁存器,并测试其功能,画出实验电路图并记录测试结果。SR锁存器功能测试结果记录 2、测试74LS74双D触发器的逻辑功能(1 测试直接置位端(S D、直接复位端(R D的作用任取74LS74中的一只D触发器,S D、R D、D端接逻辑开关输出插口,CP端接单次脉冲源,Q和Q端接到逻辑电平显示输入插口。改变S D和R D (CP、D处于任意状态,并在S D=0(R D=1或R D=0 (S D=1作用期间任意改变D及CP的状态,观察Q和Q端的状态,记录结果于下表中。 (2 测试D触发器的逻辑功能当R D = S D = 1时,用CP脉冲控制D触发器,将测试结果记录在表2中。CP端接单次脉冲或逻辑开关输出插口。 (3 将D触发器的Q端与D端相连,构成翻转功能的T 触发器,CP接1Hz信号,观察Q端状态。3、测试74LS76双JK触发器的逻辑功能(1 (2 测试内容与过程(1 (2同74LS74的测试内容类似,仿照进行。(3 将JK触发器的J、K端连在一起,构成T触发器。在CP端输入1Hz连续脉冲,观察Q端的变化。五、思考题:1.实验中,测试触发器的逻辑功能时S D和R D应处于什么状态?2.对74

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