关于品质DPPM的计算知识

1、内容DPPM是什么PPM就不用我说了吧！看一下中文意思就明白，至于DPPM的计算方法我在网上找到了（下面的那个个网址上有详细的计算方法）。劣质成本（COPQ）直通率（FPY,RTY,TPY）每百万次缺陷数（PPM）单件产品缺陷率（DPU）单件机会缺陷率（DPO）每百万次机会缺陷率（DPMO）能力指数（Cp,Cpk,Ppk,水平）DPPM的计算方法请看下面的文章，这是我剪贴下来的，也可看下面这个网页：http:/www.a-1998年5月1日品质学会召开出版委员会，主任委员卢瑞？T壬为车钠焚|奖个人奖得奖人，忆华电机总经理）提到一个令人疑惑的问题。多年前他曾经访问美国矽谷旭电公司（Solectr

2、on）（1991年曾获美国国家品质奖），当问到该公司目前的品质水准时，该公司？董事长答道说：经多年的整体改善活动，目前已达到500个ppm的品质水准。但是卢总经理自己经营的忆华电机，目前制程品质水准也可以达到200个ppm,是否以忆华的品质水准也应可以申请美国国家品质奖？可是目前忆华还不曾申请台湾的品质奖，这是否意味著台湾的品质奖较美国国家品质奖的门槛还高。本人曾经替忆华电机设计即时制程管制系统，系统中要求以dppm为单位计算制程的品质水准，所以熟知忆华电机品质水准的计算方式，当时就以下例？硝f明两者ppm的计算方法不同，产品别检点数/台生产台数不良台数合计缺点数10点而造成品质指标不一致的结

3、果。假设某制程；例如SMT,AI或HI,某天的生产日报如A200点/台1000台B100点/台1000台C50点/台2000台15台30点假如以台为计算基础P=(5+10+15)/(1,000+1,000+2,000)=30/4,000=7,500Ppm即表示每100万台平均有7,500台是不良。c=(10+20+30)/(1,000+1,000+2,000)=60/4,000=0.015dpu即表示每台平均有0.015个缺点。l假如以检点为计算基础林=(10+20+30)/(2001,000+100X1,000+50X2,000)=60/400,000=150dppm即表示每100万个检点平

4、均有150个缺点。以上的解释以100万台为单位及100万个检点为单位，当然要两个ppm的品质指标互相比较就有所出入。近年?盛歇荣Y?电子业在国际分工的设计及制造？子信e足轻重的地位，客户对制造商的品质合约常包括规格承认书、品质管制计？及制程统计资料，其中引起最多争议就是品质水准的计算方式，其间的影响造成订单签不下？种虺船清澧怀鎏彳黄饭览篇T首当其冲被老板骂得莫名其妙。早在1993年笔者曾撰文？释6。的意义(注1),而今品质学会出版委员会决定出版一份资？电子业通用品质指标的标准一小册，提供国内业界参考的依据。本文就此项需求先行提出一些通用的品质指标及符号术语，供资？电子业先进讨论空间，再逐步订出

5、符合大家可以使用的品质指标标准。2、主要品质指标的沿革产品品质特性的记录一般分成计数值或计量值，计数值又以计件或计点为记录，计量值以？际测量之特性值为记录。自？馁Y?电子业导入MIL-STD-105D表为抽样检验的标准后，品质指标一直延用MIL-STD-105D表之AQL;目前使用版本为MIL-STD-105E,多年？礴恢薨以徐顿Y?电子业界。AQL在10以下时，可表计件的不良率或计点的缺点数，AQL在10以上时，则表计点的缺点数或每百件缺点。计量值则以制程能力指数Cp、k（Ca）、Cpk为代表。这些品质指标的大小，理论上是可以解释其品质意义，譬如AQL=0.3%（以计件不良率表示）其意义为当

6、检验批的品质水准不良率p达到0.3%时，该批以MIL-STD-105E表验收时，被允收的机率很高约90%以上，但检验批的？际不良率p太大时；如1%、2%,则检验批被允收的机率很小。因此，AQL常被用？懋敌裳u程的品质指标，以保证交货（交易）时的允收率。制程能力指数也被拿？碎饬慨a品试作及量产时品质稽核的指标。有些客户要求供应商在试作阶段及量产阶段提报产品或制程的管制特性，其Cp或Cpk值在多少以上，才能保证不良率p在多少以下。3、各种品质指标的定义及计算例近年？恚Y?电子业受到所谓“介Sigma”的品质国际标竿（Benchmarking）的影响，大家纷纷采用“ppm或几个Sigma”为品质水准

7、的计量单位，但是对这一些新的名词及术语的定义及计算方法不同行业有不同的说法，造成业界随客户的要求而无所适？摹R韵陆榻B目前流行於业界的一些品质指标名词及术语。l计数值计件的品质指标制程良率（Yield）:一般以一制程之投入产品件数与该制程输出良品的件数之比率。如（图1）说明。输入1000件输出900件INPUT1000件950件920件不良品50件30件20件（图1）A制程良率=输出良品件数/输入产品件数=950/1000=95.0%B制程良率=输出良品件数/输入产品件数=920/950=96.8%C制程良率=输出良品件数/输入产品件数=900/920=97.8%全制程良率=输出良品件数/输入

8、产品件数=900/1000=90.0%以上适用於电子零件、半导体等制程，其不良品无法修理而报？U者。装配？S的制程,其不良品大致上都可以修理，修理好的产品，再回线测试，继续装配，如此要定义其良率应以各制程的初检通过率(FirstTimeYield;FTY)较为合理。初检通过率(FirstTimeYield;FTY):一制程投入产品件数与第一次检验就通过之件数之比率。如(图2)说明。输入1000件输出900件INPUT1000件950件920件不良品50件30件20件(图2)A制程FTY=输出良品数/输入件数=950/1000B制程FTY=输出良品数/输入件数=970/1000=97%C制程FT

9、Y=输出良品数/输入件数=980/1000=98%全制程FTY=A制程FTYXB制程FTYKC制程FTY=0.95X0.97X0.98=0.903=90.3%如此可知，全制程FTY较(图1)略高，因此以直通率(RolledYield)定义较准确；其定义为输入件数比上全制程中没有被修理过的件数。直通率=全制程中没有被修理的件数/输入件数=900/1000=90%全制程之直通率(RolledThroughoutYield):定义为全制程的投入产品件数与通过全制程无缺点产品件数之比率，不过在制程上要准确计算比较困难，一般以各制程的良率相乘。l计数值计点的品质一般资？电子产品只要有一个缺点就应视为不良

10、品，但是一个不良品可能有一个以上的缺点，因此以平均每件几个缺点较能完全表示品质；以dpu(DefectsPerUnit)为单位。如(图3)的流程图。输入1000件输出1000件INPUT1000件1000件1000件不良品50件30件20件缺点数80点45点25点(图3)A制程的dpu=缺点数/检查件数=80点/1000件=0.08dpuB制程的dpu=缺点数/检查件数=45点/1000件=0.045dpuC制程的dpu=缺点数/检查件数=25点/1000件=0.025dpu全制程的dpu=缺点总数/检查件数=(80+45+25)点/4000件=0.0375dpu一般不同产品的每件检点数不同，

11、检点数愈多，dpu就可能愈大，以dpu的大小？聿容人产品品质的好坏似乎不太合理，因此用总检点数与总缺点数之比？聿容人品质会客观一点；以dppm(DefectPartsPerMillion)为单位，如(图4)的流程图。输入1000件输出1000件检点数50点50点400点INPUT1000件1000件1000件不良品50件30件20件缺点数80点45点25点(图4)A制程每百万检点平均缺点数=(总缺点数/总检点数)X106=(80/(1000X50)M06=1600dppmB制程每百万检点平均缺点数=(总缺点数/总检点数)X106=(45/(1000X50)X106=900dppmC制程每百万检

12、点平均缺点数=(总缺点数/总检点数)X106=(25/(1000X400)X106=62.5dppm全制程每百万检点平均缺点数=(总缺点数/总检点数)X106=(80+45+25)/(1000X50+1000X50+1000X400)M06=300dppmdpu是代表每件产品平均有几个缺点，而dppm是每检查一百万的检点平均有几个缺点。一个检点代表一产品或制程可能会出现缺点的机会，它可能是一个零件、特性、作业等等，有些地方以ppm/part（注2）,dpmo（DefectsPerMillionOpportunities）（注3）为品质指标，其？与dppm是同样的意义。时下许多资？电子装配？S,

13、其制程上记录是以dppm为单位，不同检点数的产品或制程就可依下式换算为dpu。dpu=产品或制程检点数Mppmx106良率是最容易了解的品质指标；投入制程的产品，经制造过程后，就可以？际交给下工程或可以直接出货的比率，良率愈高代表效率愈高，报？U愈少，修理愈少，对品质、成本、交期都有直接的关系，这是人人皆知的道理，因此，良率应为最终的品质指标。假若可以事先估算出产品或制程的dpu,就可以预估产品在该制程的良率，以卜氏分配的性质可计算其良率。假设X为某件产品经某制程后之观测缺点数，当X=0时，即表示该件产品没有缺点，因此，PX=0即表示该产品无缺点的机率；就是良率。以下式表示PX=0=e-dpu

14、dpu与制程良率的关系如（表1）。dpu5.04.03.02.01.00.50.050.01Yield%0.67%1.83%4.98%13.5%36.8%60.7%95.1%99.0%（表1）以上之品质指标皆以计数值之计件或计点？斫仞尸涌c良率之关系，而计量值之品质指标Cp或Cpk也可以定义一产品或制程特性的良率；此处可以计数值之一检点为同样的意义，一检点可以为一产品或制程特性。l计量值的品质指标制程能力指标Cp或Cpk之值在一产品或制程特性分配为常态且在管制状态下时，经由常态分配之机率计算，可以换算为该产品或制程特性的良率或不良率，同时亦可以几个Sigma?靛巾侧F?以产品或制程特性中心没偏

15、移目标值，中心偏移目标值1.5（T及中心偏移目标值T/8分别说明之，品管先进？文化先生认为对於Sigma水准较小时，偏移的幅度应相对的小，才较合理，因此提出偏移目标值T/8的考量。先定义以下几个符号lX:个别产品或制程特性值lUSL:规格上限lLSL:规格下限lm:目标值或规格中心，一般为（USL+LSL）/2lT=USL-LSL:规格界限宽度l:产品或制程特性中心或平均数l:产品或制程特性标准差（1）产品或制程特性中心没偏移目标值；即=m=（USL+LSL）/2Sigma水准=；即T=USL-LSL=不良率=标准常态分配右尾机率>2良率=（1-不良率）Sigma水准CpCpkppm1

16、<y0.3368.27%317,4002 (T0.6795.45%45,6003 <y1.0099.73%2,7004 a1.3399.9937%635 a1.6799.999943%0.576 62.0099.9999998%0.002(表2)中心没偏移目标值(2)产品或制程特性中心偏移目标值1.50；即=(USL+LSL)/2Sigma水准=；即T=USL-LSL=l产品或制程特性中心大於目标值1.5bCPU=(USL-)/3G=(k(T-1.5b)/3(r-=(5<)/3CPL=(LSL)/3(r=(k(r+1.5(T)/3(r=(k+1.5)/3Cpk=MINCPU,

17、CPL=(k-1.5)/3不良率=PX>USL+PX<LSL=PZ>3xCPU+PZ>3xCPL=良率=l产品或制程特性中心小於目标值1.5bCPU=(USL-)/=()/=(k+1.5)/3CPL=(-LSL)/=()/=(k-1.5)/3=MINCPU,CPL=(k-1.5)/3不良率=良率=Sigma水准CpCpkppm1 <y0.33-0.1730.23%697,6722 (T0.670.1769.13%308,7703 <y1.000.5093.32%66,8114 a1.330.8399.379%6,2105 a1.671.1799.99767%

18、2336 62.001.5099.99966%3.4(表3)中心偏移目标值1.5(T产品或制程特性中心偏移目标值T/8;即=(USL+LSL)/2Sigma水准=；即T=USL-LSL=l产品或制程特性中心大於目标值T/8=/8=CPU=(USL)/=()/=3k/12CPL=(-LSL)/=()/=5k/12=MINCPU,CPL=3k/12不良率=良率=l产品或制程特性中心小於目标值T/8=/8=CPU=(USL)/=()/=5k/12CPL=(-LSL)/=()/=3k/12=MINCPU,CPL=3k/12不良率=良率=Sigma水准CpCpkppm1 <y0.330.2573.

19、33%266,6862 (T0.670.5092.698%73,0173 <y1.000.7598.7687%12,3134 a1.331.0099.8650%1,3501.671.2599.99116%88.46 62.001.5099.99966%7 .4（表4）中心偏移目标值T/8不管是计数值或计量值，产品或制程的良率均可依制程记录计算或预估出？恚西巴？表2）、（表3）、（表4）可以比对其品质水准达到几个Sigma。但是产品或制程有些检点多有些少，有些容易有些困难，有的是零件、KD件、CKD件或最终产品，如何以一致的品质指标？聿研心W焚|水准，以下？硝f明。4、品质指标的解读以6S

20、igma国际品质标竿3.4ppm是资？电子的终极目标，几乎有定出品质目标的公司都以6Sigma或3.4ppm为最终追求的品质水准。3.4ppm是以以一个检点而言，不是每一产品或制程都要达到这个水准，要看产品或制程的检点数。以（表5）、（表6）?硝f明检点数在不同品质水准时其相对应的良率。检点数n8 <y9 a10 a11 <y112 .73%99.9937%99.999943%99.9999998%99.4699.9999.999999.99999598.6699.9799.999799.999991097.3399.9499.999499.999995087.3699.6999.

21、99799.9999910076.3199.3799.99499.9999850025.8896.9099.9799.9999010006.7093.8999.9499.999820000.4588.1699.8799.9996（表5）检点数与良率的关系（中心不偏移目标值）检点数n3 <y4 a5 a6 <y193.32%99.379%99.9767%99.99966%287.0998.7699.9599.99932570.7796.9399.8899.99831050.0993.9699.7799.9966503.1573.2498.8499.981000.1053.6497.7

22、099.9665000.004.4489.0299.8310000.000.2079.2499.6620000.000.0062.7599.32（表6）检点数与良率的关系（中心偏移目标值1.5b）当你的产品或制程检点为10个，良率为93.96%时，以（表6）对照品质水准约在4（t,产品或制程检点为100个，良率为97.70%时，品质水准约在5照一般可依下式转将良率转换为kSigma水准，设良率为Yield,检点数为n,则当中心不偏移时，k=当中心偏移1.5（T时，k=+1.5为标准常态分配累积百分点因此，产品或制程的品质指标不管是以Yield%、ppm、dpu、dppm或计量值？磺猊浑西鼻灰榔金麦z点数n,将这些品质指标都转换为良率即可依上式转换为几个Sigma。（例1）产品或制程的品质水准为500ppm,检点数为30。则Yield=0.9995