集成移位寄存器测试(15分钟)

1、 数字电路分析与应用 1 1集成移位寄存器的测试 数字电路分析与应用 2 2 2 2数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 2 21 移位寄存器的定义及分类2 74LS194移位寄存器的逻辑功能测试集成移位寄存器的测试 数字电路分析与应用 3 3 3 3数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 3 31 移位寄存器的定义及分类集成移位寄存器的测试(1)移位寄存器的定义 移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。 移位寄存器不仅可以组成串行

2、并行数码转换器，还可以方便地组成移位寄存器型计数器、脉冲分配器等电路。常用的移位寄存器有环行计数器和扭环型计数器。 数字电路分析与应用 4 4 4 4数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 4 4集成移位寄存器的测试（2）移位寄存器的分类 移位寄存器不但可以寄存数码，而且在移位脉冲作用下，寄存器中的数码可根据需要向左或向右移动1位。移位寄存器分为单向移位寄存器和双向移位寄存器。 数字电路分析与应用 5 5 5 5数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 5 5集成移位寄存器的测试单向移位寄存器1）右移寄存器（D触发器组成的4位右移寄存器） 右移寄存器的结构特点：左边触发器的输出端

3、接右邻触发器的输入端。QRC11D1DC1RQ1DC1RQ1DQRC1Q0Q1Q2Q3CPCRID串行输入串行输出D0D1D20FF1FF2FF3FF并 行 输 出D3 数字电路分析与应用 6 6 6 6数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 6 6集成移位寄存器的测试设移位寄存器的初始状态为0000，串行输入数码DI=1101，从高位到低位依次输入。其状态表如下： 数字电路分析与应用 7 7 7 7数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 7 7集成移位寄存器的测试右移寄存器的时序图：CPQ0Q1Q21234567893QID1110 数字电路分析与应用 8 8 8 8数字电路

4、分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 8 8集成移位寄存器的测试2）左移寄存器1DC1RQ1DQRC1Q1D1DC1C1RQRCPCRD01DFF0FF1FF23FF20并 行 输 出3QQ1QQID串行输入串行输出2D3D左移寄存器的结构特点：右边触发器的输出端接左邻触发器的输入端。 数字电路分析与应用 9 9 9 9数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 9 9集成移位寄存器的测试RFF1DC13Q&1R1DC12FFQ&1R1DC11FFQ&1FF&C1R01DQ1111QQQQ1302CPCR串行输入SLD（左移）串行输入DSR（右移）串行输出DOR（右移）串行输出DOL（左

5、移）移位控制SS=1：右移S=0：左移并 行 输 出双向移位寄存器 数字电路分析与应用 1010 1010数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 1010集成移位寄存器的测试 将右移寄存器和左移寄存器组合起来，并引入一控制端S便构成既可左移又可右移的双向移位寄存器。 其中，DSR为右移串行输入端，DSL为左移串行输入端。 当S=1时，D0=DSR、D1=Q0、D2=Q1、D3=Q2，实现右移操作； 当S=0时，D0=Q1、D1=Q2、D2=Q3、D3=DSL，实现左移操作。 数字电路分析与应用 1111 1111数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 11112 74LS194

6、移位寄存器的逻辑功能测试集成移位寄存器的测试（1 1）逻辑符号）逻辑符号0Q1QS3D2D1D0D2Q3Q7419441235671516D0D1D2GNDQ3Q2Q1Vcc74194891011121413RD3D0SQ0SRDCPSLSR01SRSLS1CPDDDD 数字电路分析与应用 1212 1212数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 1212集成移位寄存器的测试（2）其逻辑功能测试 计数脉冲由单次脉冲源提供，清零端为 、工作状态控制端M1 M2、并行数据输入端D0D3、DSL为左移串行数据输入端、DSR右移串行数据输入端分别接逻辑电平开关，输出端Q0Q3均接逻辑电平显示。

7、 数字电路分析与应用 1313 1313数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 1313按如下逐项测试并判断该集成块的功能是否正常：按如下逐项测试并判断该集成块的功能是否正常：集成移位寄存器的测试1）异步清零功能：当 =0时，这时Q3Q2Q1Q0=0000，双向移位寄存器清零。其它输入信号都不起作用，与CP无关，故称为异步清零。2）保持功能：当 =1，且CP=0或M1=M2=0时，双向移位寄存器保持状态不变。 数字电路分析与应用 1414 1414数字电路分析与应用 数字电 数字电路分析与应用 14141 1标题标题2828号号集成移位寄存器的测试3）同步并行送数功能：当 =1，M1=M2=1时，在CP上升沿操作下，并行输入数据d3 d2 d1 d0送入寄存器。4）右移串行送数功能：当 =1，M1=0、M2=1时，在CP上升沿操作下，可依次