材料研究方法7-电子探针

1、1 一一 电子探针显微分析电子探针显微分析 电子探针的功能主要是进行电子探针的功能主要是进行微区成分分析微区成分分析。它是在电子光学和它是在电子光学和X X射线光谱学原理的基射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。其础上发展起来的一种高效率分析仪器。其原理是用原理是用细聚焦电子束入射样品表面，激细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征发出样品元素的特征X X射线，分析特征射线，分析特征X X射线的波长（或特征能量）射线的波长（或特征能量）即可知道样品即可知道样品中所含元素的种类（中所含元素的种类（定性分析定性分析），），分析分析X X射线的强度，则可知道样品中对应元素含射线的

2、强度，则可知道样品中对应元素含量的多少量的多少（定量分析定量分析）。）。2 电子探针仪镜筒部分的构造电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电大体上和扫描电子显微镜相同子显微镜相同，只是在检测器部分使用的是，只是在检测器部分使用的是X X射线谱仪射线谱仪，专门用来检测，专门用来检测X X射线的特征波射线的特征波长或特征能量，以此来对微区的化学成分进长或特征能量，以此来对微区的化学成分进行分析。行分析。 因此，除专门的电子探针仪外，因此，除专门的电子探针仪外，有相当一部有相当一部分电子探针仪是作为附件安装在扫描电镜或分电子探针仪是作为附件安装在扫描电镜或透射电镜镜筒上，以满足微区组织形貌、晶透射电镜

3、镜筒上，以满足微区组织形貌、晶体结构及化学成分体结构及化学成分三位一体同位分析的需要三位一体同位分析的需要。3图图7-7-1 1电子探针仪的结构4 电子探针的信号检测系统是电子探针的信号检测系统是X X射线谱仪射线谱仪，用来测定特征波长的谱仪叫做用来测定特征波长的谱仪叫做波长分散波长分散谱仪（谱仪（WDSWDS）或或波谱仪波谱仪。用来测定。用来测定X X射射线特征能量的谱仪叫做线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪能量分散谱仪（EDSEDS）或或能谱仪能谱仪。5波谱仪 在电子探针中在电子探针中X X射线是由样品表面以下射线是由样品表面以下一个微米至纳米数量级的作用体积内激一个微米至纳米数量级的作用体

4、积内激发出来的，发出来的，如果这个体积中含有多种元如果这个体积中含有多种元素，则可以激发出各个相应元素的特征素，则可以激发出各个相应元素的特征波长波长X X射线。射线。 若在样品上方水平放置一块具有适当若在样品上方水平放置一块具有适当晶晶面间距面间距d d的晶体的晶体，入射入射X X射线的波长、入射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程射角和晶面间距三者符合布拉格方程2 2dsindsin = 时，这个特征波长的时，这个特征波长的X X射线就射线就会会发生强烈衍射发生强烈衍射。6图图7-27-2分光晶体7 因为在作用体积中发出的因为在作用体积中发出的X X射线具射线具有多种特征波长有多种

5、特征波长，且它们都以，且它们都以点光点光源的形式向四周发射源的形式向四周发射，因此对一个，因此对一个特征波长的特征波长的X X射线来说只有从某些射线来说只有从某些特定的入射方向进入晶体时，才能特定的入射方向进入晶体时，才能得到较强的衍射束。得到较强的衍射束。 左图示出左图示出不同波长的不同波长的X X射线以不同射线以不同的入射方向入射时产生各自衍射束的入射方向入射时产生各自衍射束的情况的情况。若面向衍射束安置一个接。若面向衍射束安置一个接收器，便可记录下不同波长的收器，便可记录下不同波长的X X射射线。图中右方的平面晶体称为分光线。图中右方的平面晶体称为分光晶体，它晶体，它可以使样品作用体积内

6、不可以使样品作用体积内不同波长的同波长的X X射线分散并展示出来射线分散并展示出来。8 虽然平面单晶体可以把各种不同波长的虽然平面单晶体可以把各种不同波长的X X射线分光展开，但就射线分光展开，但就收集单波长收集单波长X X射线射线的效率的效率来看是来看是非常低非常低的。因此这种检测的。因此这种检测X X射线的方法必须改进。射线的方法必须改进。 如果我们把分光晶体作适当地如果我们把分光晶体作适当地弹性弯曲弹性弯曲，并使并使射线源、弯曲晶体表面和检测器窗射线源、弯曲晶体表面和检测器窗口位于同一个圆周上口位于同一个圆周上，这样就可以达到，这样就可以达到把把衍射束聚焦衍射束聚焦的目的。的目的。 此时

7、，整个此时，整个分光晶体只收集一种波长的分光晶体只收集一种波长的X X射线，使这种单色射线，使这种单色X X射线的衍射强度大大射线的衍射强度大大提高提高。9 在实际检测在实际检测X X射线时，点光源发射的射线时，点光源发射的X X射射线在垂直于聚焦圆平面的方向上仍有发线在垂直于聚焦圆平面的方向上仍有发散性。分光晶体表面不可能处处精确符散性。分光晶体表面不可能处处精确符合布拉格条件，加之有些分光晶体虽可合布拉格条件，加之有些分光晶体虽可以进行弯曲，但不能磨制，因此以进行弯曲，但不能磨制，因此不大可不大可能达到理想的聚焦条件能达到理想的聚焦条件. . 如果检测器上的接收狭缝有足够的宽度，如果检测器

8、上的接收狭缝有足够的宽度，即使采用不大精确的约翰型聚焦法，也即使采用不大精确的约翰型聚焦法，也是能够满足聚焦条件的。是能够满足聚焦条件的。10 电子束轰击样品后，电子束轰击样品后，被轰击的微区就是被轰击的微区就是X X射线源射线源。要使。要使X X射线分光、聚焦，并被射线分光、聚焦，并被检测器接收，两种常见的谱仪布置形式检测器接收，两种常见的谱仪布置形式分别是分别是直进式波谱仪和回转式波谱仪直进式波谱仪和回转式波谱仪。 直进式波谱仪的直进式波谱仪的优点是优点是X X射线照射分光晶射线照射分光晶体的方向是固定的体的方向是固定的，即，即出射角保持不变出射角保持不变，这样可以使这样可以使X X射线穿

9、出样品表面过程中射线穿出样品表面过程中所走的路线相同，也就是所走的路线相同，也就是吸收条件相等吸收条件相等。分光晶体直线运动时，检测器能在几个分光晶体直线运动时，检测器能在几个位置上接收到衍射束，表面试样被激发位置上接收到衍射束，表面试样被激发的体积内存在着相应的几种元素。的体积内存在着相应的几种元素。衍射衍射束的强度大小和元素含量成正比束的强度大小和元素含量成正比。11 回转式波谱仪回转式波谱仪的聚焦圆圆心不能移动，的聚焦圆圆心不能移动，分光晶体和检测器在聚焦圆的圆周上以分光晶体和检测器在聚焦圆的圆周上以1 1：2 2的角速度运动，以保证满足布拉格方程。的角速度运动，以保证满足布拉格方程。它

10、比直进式波谱仪结构简单它比直进式波谱仪结构简单. . 由于出射方向改变很大，在表面不平度由于出射方向改变很大，在表面不平度较大的情况下，由于较大的情况下，由于X X射线在样品内行进射线在样品内行进路线不同，往往会因吸收条件变化而造路线不同，往往会因吸收条件变化而造成分析上的误差。成分析上的误差。12分析方法 上图为一张用波谱仪分析一个测量点的上图为一张用波谱仪分析一个测量点的谱线图，横坐标代表波长，纵坐标代表谱线图，横坐标代表波长，纵坐标代表强度。谱线上有许多强度峰，强度。谱线上有许多强度峰，每个峰在每个峰在坐标上的位置代表相应元素特征坐标上的位置代表相应元素特征X X射线的射线的波长，峰的高

11、度代表这种元素的含量波长，峰的高度代表这种元素的含量13 应用波谱仪进行元素分析时，应注意下面几个问题：应用波谱仪进行元素分析时，应注意下面几个问题： （1）分析点位置的确定。在波谱仪上总带有一台放）分析点位置的确定。在波谱仪上总带有一台放大大100500倍的光学显微镜。显微镜的物镜是特制的，倍的光学显微镜。显微镜的物镜是特制的，即镜片中心开有圆孔，以使电子束通过。通过目镜即镜片中心开有圆孔，以使电子束通过。通过目镜可以观察到电子束照射到样品上的位置，可以观察到电子束照射到样品上的位置，在进行分在进行分析时，必须是目的物和电子束重合，其位置正好位析时，必须是目的物和电子束重合，其位置正好位于光

12、学显微镜目镜标尺的中心交叉点上。于光学显微镜目镜标尺的中心交叉点上。 （2）分光晶体固定后，衍射晶面的面间距不变。）分光晶体固定后，衍射晶面的面间距不变。一一个分光晶体能够覆盖的波长范围是有限的，因此它个分光晶体能够覆盖的波长范围是有限的，因此它只能测定某一原子序数范围的元素。只能测定某一原子序数范围的元素。如果要分析如果要分析Z=492范围的元素，则必须使用几块晶面间距不同范围的元素，则必须使用几块晶面间距不同的晶体，因此一个谱仪中经常装有两块晶体可以互的晶体，因此一个谱仪中经常装有两块晶体可以互换，而一台电子探针仪上往往装有换，而一台电子探针仪上往往装有26个谱仪，有时个谱仪，有时几个谱仪

13、一起工作，可以同时测定几个元素。几个谱仪一起工作，可以同时测定几个元素。14能谱仪EDS 各种元素具有自己的各种元素具有自己的X X射线特征波长，射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量中释放出的特征能量 E E。能谱仪就是能谱仪就是利利用不同元素用不同元素X X射线光子特征能量不同这一射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。特点来进行成分分析的。 最终得到一张特征最终得到一张特征X X射线按能量大小分布射线按能量大小分布的图谱。的图谱。15图7-4 锂漂移硅能谱仪方框图16图图7-57-5能能谱谱仪仪和和波波谱谱仪仪的的谱谱线

14、线比比较较能谱仪能谱仪波谱仪波谱仪17能谱仪的优点 （1 1）能谱仪探测能谱仪探测X X射线的效率高射线的效率高。因为。因为SiSi(Li)(Li)探头可以安放在比较接近样品的探头可以安放在比较接近样品的位置，位置，X X射线信号直接由探头收集，不射线信号直接由探头收集，不必通过分光晶体衍射。必通过分光晶体衍射。 SiSi(Li)(Li)晶体对晶体对X X射线的检测率极高，因此射线的检测率极高，因此能谱仪的灵敏能谱仪的灵敏度比波谱仪高一个数量级度比波谱仪高一个数量级。18 （2 2）能谱仪可在同一时间内对分析点内能谱仪可在同一时间内对分析点内所有元素所有元素X X射线光子的能量进行测定和计射线

15、光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到数，在几分钟内可得到定性分析定性分析结果，结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素的特征而波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。波长。 （3 3）能谱仪的结构比波谱仪简单，没有能谱仪的结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性都机械传动部分，因此稳定性和重复性都很好。很好。 （4 4）能谱仪不必聚焦，因此对样品表面能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适合于粗糙表面的分析没有特殊要求，适合于粗糙表面的分析工作。工作。19能谱仪的缺点 （1 1）能谱仪的分辨率比波谱仪低，能谱仪给能谱仪的分辨率比波谱仪低，能谱仪给出的波峰比较宽，容易重叠。出的

16、波峰比较宽，容易重叠。在一般情况下，在一般情况下， SiSi(Li)(Li)检测器的能量分辨率约为检测器的能量分辨率约为160160eVeV，而而波谱仪的能量分辨率可达波谱仪的能量分辨率可达510510eVeV。 （2 2）能谱仪中因能谱仪中因Si(Li)检测器的铍窗口限制了检测器的铍窗口限制了超轻元素超轻元素X射线的测量，因此它只能分析原子射线的测量，因此它只能分析原子序数大于序数大于11的元素，而波谱仪可测定原子序数的元素，而波谱仪可测定原子序数从从4到到92之间的所有元素之间的所有元素。 （3 3）能谱仪的能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温状态，探头必须保持在低温状态，因此必须使用液

17、氮冷却因此必须使用液氮冷却。20二二 电子探针仪的分析方法及应用电子探针仪的分析方法及应用 定性分析： 1.定点分析：将电子束固定在需要分析的定点分析：将电子束固定在需要分析的微区上，用波谱仪分析时可改变分光晶微区上，用波谱仪分析时可改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；若用能谱仪分析时，几分钟射线谱线；若用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。到微区内全部元素的谱线。21ZrOZrO2 2(Y(Y2 2OO3 3) )陶瓷析出相与基体的定点分陶瓷析出相与基体的定点分析

18、析（图中数字为（图中数字为Y Y2 2OO3 3mol% mol% ）22 2.2.线分析：将谱仪（波谱仪或能谱仪）线分析：将谱仪（波谱仪或能谱仪）固定在所要测量的某一元素特征固定在所要测量的某一元素特征X X射线射线信号（波长或能量）的位置上，使电子信号（波长或能量）的位置上，使电子束沿着指定的路径作直线轨迹扫描，便束沿着指定的路径作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿该直线的浓度分布曲可得到这一元素沿该直线的浓度分布曲线线。改变谱仪的位置，便可得到另一元。改变谱仪的位置，便可得到另一元素的浓度分布曲线。素的浓度分布曲线。23图7-7 BaF2晶界的线扫描分析a 形貌像及扫描线位置形貌像及扫描线

19、位置 b O及及Ba元素在扫描线位置上的分布元素在扫描线位置上的分布24 3.3.面分析：电子束在样品表面作光栅扫面分析：电子束在样品表面作光栅扫描时，把描时，把X X射线谱仪（波谱仪和能谱仪）射线谱仪（波谱仪和能谱仪）固定在接收某一元素特征固定在接收某一元素特征X X射线信号的射线信号的位置上，此时在荧光屏上便可得到该元位置上，此时在荧光屏上便可得到该元素的面分布图像。素的面分布图像。实际上这也是扫描电实际上这也是扫描电子显微镜内用特征子显微镜内用特征X X射线调制图像的一种射线调制图像的一种方法方法。图像中的。图像中的亮区表示这种元素的含亮区表示这种元素的含量较高量较高。若把谱仪的位置固定

20、在另一位。若把谱仪的位置固定在另一位置上，则可获得另一种元素的浓度分布置上，则可获得另一种元素的浓度分布图像。图像。25图图7-8 7-8 Zn-BiZn-Bi2 2OO3 3陶瓷烧结表面的面分陶瓷烧结表面的面分布成分分析布成分分析 a 形貌像形貌像 b Bi元素的元素的X射线面分布像射线面分布像26 定量分析定量分析 定量分析时先测出试样中定量分析时先测出试样中Y Y元素的元素的X X射线射线强度，再在同样条件下测定纯强度，再在同样条件下测定纯Y Y元素的元素的X X射线强度，然后二者分别扣除背底和计射线强度，然后二者分别扣除背底和计数器死时间对所测值的影响，得到相应数器死时间对所测值的影响

21、，得到相应的强度值，把二者相比得到强度比。在的强度值，把二者相比得到强度比。在理想情况下，理想情况下，此强度比就是试样中此强度比就是试样中Y Y元素元素的的质量浓度质量浓度。 电子探针作微区分析时所激发的作用体电子探针作微区分析时所激发的作用体积大小不过积大小不过1010 mm3 3左右。如果分析物质左右。如果分析物质的密度为的密度为1010g/cmg/cm3 3，则分析区的重量仅则分析区的重量仅为为1010-10-10g g。若探针仪的灵敏度为万分之若探针仪的灵敏度为万分之一的话，则分析绝对重量可达一的话，则分析绝对重量可达1010-14-14g g，因此电子探针是一种因此电子探针是一种微区

22、分析仪器。微区分析仪器。27 三三 表面成分分析表面成分分析 离子探针分析仪（离子探针分析仪（IMAIMA）或二次离子质谱仪或二次离子质谱仪（SIMSSIMS） 低能电子衍射（低能电子衍射（LEEDLEED） 俄歇电子能谱仪（俄歇电子能谱仪（AESAES） 场离子显微镜（场离子显微镜（FIMFIM）和原子探针（和原子探针（Atom Atom ProbeProbe） X X射线光电子能谱仪（射线光电子能谱仪（XPSXPS） 扫描隧道显微镜（扫描隧道显微镜（STMSTM）与原子力显微镜与原子力显微镜（AFMAFM）281 1、离子探针与二次离子质谱、离子探针与二次离子质谱仪 离子探针与二次离子质谱

23、分析是近年发展起离子探针与二次离子质谱分析是近年发展起来的一门微区分析技术。应用这种技术，人来的一门微区分析技术。应用这种技术，人们能以很高的灵敏度（们能以很高的灵敏度（ppmppm至至ppbppb级）对固级）对固体材料的表面和块体进行成分分析、深度分体材料的表面和块体进行成分分析、深度分布分析和图象分析，分析范围包括从布分析和图象分析，分析范围包括从氢到铀氢到铀的所有核元素和它们的同位素。这种技术既的所有核元素和它们的同位素。这种技术既弥补了电子探针分析元素范围有限、灵敏度弥补了电子探针分析元素范围有限、灵敏度低的许多不足，又具有低的许多不足，又具有同位素分析、深度分同位素分析、深度分析、表

24、面分析等的优点。析、表面分析等的优点。 29 到目前为止，电子探针仪仍然是微区成到目前为止，电子探针仪仍然是微区成分分析最常用的主要工具，总的来说其分分析最常用的主要工具，总的来说其定量分析的精度是比较高的定量分析的精度是比较高的；但是，由；但是，由于高能电子束对样品的穿透深度和测向于高能电子束对样品的穿透深度和测向扩展，它扩展，它难以满足薄层表面分析的要求难以满足薄层表面分析的要求。同时，同时，电子探针对电子探针对Z11的轻元素的分析的轻元素的分析还很困难还很困难，因为荧光产额低，特征，因为荧光产额低，特征X X射射线光子能量小，使轻元素检测灵敏度和线光子能量小，使轻元素检测灵敏度和定量精度

25、都较差。定量精度都较差。30 离子探针仪离子探针仪利用电子光学方法把惰性气利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能体等初级离子加速并聚焦成细小的高能粒子束轰击样品表面，使之激发和溅射粒子束轰击样品表面，使之激发和溅射二次离子，经过加速和质谱分析，分析二次离子，经过加速和质谱分析，分析区域可降低到区域可降低到1212 mm直径和直径和5050 的深的深度，度，大大改善了表面成分分析的功能大大改善了表面成分分析的功能。 离子探针在分析深度、采样质量、检测离子探针在分析深度、采样质量、检测灵敏度、可分析元素范围和分析时间等灵敏度、可分析元素范围和分析时间等方面，均优于电子探针，但初

26、级离子束方面，均优于电子探针，但初级离子束聚焦困难使束斑较大，影响了空间分辨聚焦困难使束斑较大，影响了空间分辨率。率。31表表8-1 8-1 几种表面微区成分分析技术的性能对比几种表面微区成分分析技术的性能对比分析性能分析性能电子探针电子探针离子探针离子探针俄歇谱仪俄歇谱仪空间分辨率（空间分辨率（ mm ）0.510.5112120.10.1分析深度（分析深度（ mm ）0.520.52 0.0050.0050.00510%C10%） 15%15%真空度要求（真空度要求（PaPa）1.33 1.33 1010-3-31.33 1.33 1010-6-61.33 1.33 1010- -8 8对

27、样品的损伤对样品的损伤对非导体损伤对非导体损伤大，一般情况大，一般情况下无损伤下无损伤损伤严重，属消耗性损伤严重，属消耗性分析，但可进行剥层分析，但可进行剥层损伤少损伤少定点分析时间（定点分析时间（s s）1001000.050.051000100032主要应用主要应用 作为微分析技术发展中新的一员，作为微分析技术发展中新的一员，离子探针和离子探针和二次离子质谱（二次离子质谱（SIMSSIMS）分析除具备微分析技术分析除具备微分析技术的共同特点外，还拥有许多独到的性能的共同特点外，还拥有许多独到的性能。大致。大致看来，目前较能发挥离子探针二次离子质谱分看来，目前较能发挥离子探针二次离子质谱分析

28、特点的，析特点的，依次是深度分析、表面分析、痕量依次是深度分析、表面分析、痕量微量和微区微粒的全元素（氢）除外分析、显微量和微区微粒的全元素（氢）除外分析、显微离子图象分析微离子图象分析。从应用的学科领域来看，除。从应用的学科领域来看，除生物医学及同位素科学尚较薄弱外，生物医学及同位素科学尚较薄弱外，在金属科在金属科学、半导体科学、微电子学、表面科学、材料学、半导体科学、微电子学、表面科学、材料科学、地球及空间科学、环境科学等都已得到科学、地球及空间科学、环境科学等都已得到了广泛的应用。了广泛的应用。 33二次离子质谱分析的基本过程二次离子质谱分析的基本过程 利用具有几利用具有几KeVKeV能

29、量并经过聚焦的一次离能量并经过聚焦的一次离子束，在样品上稳定地进行轰击，收集子束，在样品上稳定地进行轰击，收集从被轰击表面微区（直径为从被轰击表面微区（直径为11001100mm）溅射出来的二次离子，用质谱计进行分溅射出来的二次离子，用质谱计进行分析。在分析过程中，质谱计不但析。在分析过程中，质谱计不但可以提可以提供对应于每一时刻的新鲜表面的多元素供对应于每一时刻的新鲜表面的多元素分析数据，而且还可以提供表面某一元分析数据，而且还可以提供表面某一元素分布的二次离子图象。素分布的二次离子图象。 34二次离子质谱仪二次离子质谱仪的功能和特点的功能和特点 可进行表面（可进行表面（5 5nmnm内）及

30、近表面层的成分分内）及近表面层的成分分析。析。 可获得元素的浓度可获得元素的浓度- -深度剖图，深度分辨为深度剖图，深度分辨为5 51010nmnm。 灵敏度很高，可分析灵敏度很高，可分析1010-9-91010-6-6浓度范围的痕浓度范围的痕量元素。量元素。 可区分不同同位素的浓度。可区分不同同位素的浓度。 可分析最轻的元素可分析最轻的元素- -氢。氢。 可获得元素的空间分布。可获得元素的空间分布。 35局限性局限性 是破坏性分析。是破坏性分析。 由于其探测灵敏度随所分析的元素以由于其探测灵敏度随所分析的元素以及元素所处的基体不同而变化很大，定及元素所处的基体不同而变化很大，定量分析十分复杂

31、，且需要用其他方法标量分析十分复杂，且需要用其他方法标定的标样。定的标样。 分析的精度、准确性及灵敏度因仪器分析的精度、准确性及灵敏度因仪器设计及每次分析的操作参数而变。设计及每次分析的操作参数而变。 362 2、低能电子衍射、低能电子衍射 低能电子衍射是利用低能电子衍射是利用1050010500eVeV能量的电子能量的电子入射，通过入射，通过弹性背散射电子波弹性背散射电子波的相互干涉产生的相互干涉产生花样。由于样品物质与电子的强烈相互作用，花样。由于样品物质与电子的强烈相互作用，常常是参与衍射的样品体积只是常常是参与衍射的样品体积只是表面一个原子表面一个原子层层；即使是稍高能量（；即使是稍高

32、能量（ 100100eVeV）的电子，也的电子，也限于大约限于大约2323层原子，分别以层原子，分别以二维的方式二维的方式参与参与衍射，仍不足以构成真正的三维衍射，只是使衍射，仍不足以构成真正的三维衍射，只是使花样复杂一些而已。花样复杂一些而已。 低能电子衍射的这个重要特点，使它成为固体低能电子衍射的这个重要特点，使它成为固体表面结构分析表面结构分析的极为有效的工具。的极为有效的工具。37 显然，保持样品表面的清洁是十分重要的。据显然，保持样品表面的清洁是十分重要的。据估计，在估计，在1.33 1.33 1010-4-4PaPa真空条件下，只需一真空条件下，只需一秒钟表面吸附层即可达到一个原子

33、单层；真空秒钟表面吸附层即可达到一个原子单层；真空度为度为1.33 1.33 1010-7-7PaPa时，以原子单层覆盖表面时，以原子单层覆盖表面约需约需10001000秒钟左右。为此，秒钟左右。为此，低能电子衍射装低能电子衍射装置必须采用无油真空系统置必须采用无油真空系统，以离子泵、升华泵，以离子泵、升华泵等抽气并辅以等抽气并辅以250250C C左右烘烤，把真空度提左右烘烤，把真空度提高到高到1.33 1.33 1010-8-8PaPa数量级。样品表面用离子数量级。样品表面用离子轰击净化，并以液氦冷却以防止污染。为保证轰击净化，并以液氦冷却以防止污染。为保证吸附杂质不产生额外的衍射效应，分

34、析过程中吸附杂质不产生额外的衍射效应，分析过程中表面污染度应始终低于表面污染度应始终低于每平方厘米每平方厘米10101212个杂质个杂质原子原子。38低能电子衍射装置示意图39衍射花样的观察和记录 如上图所示，从电子枪钨丝发射如上图所示，从电子枪钨丝发射的热电子，经三级聚焦杯加速、的热电子，经三级聚焦杯加速、聚焦并准直，照射到样品（靶极）聚焦并准直，照射到样品（靶极）表面，束斑直径约表面，束斑直径约0.410.41mmmm，发散度约发散度约1 1 。样品处于半球形。样品处于半球形接收极的中心，两者之间还有三接收极的中心，两者之间还有三到四个半球形的网状栅极。半球到四个半球形的网状栅极。半球形接

35、收极上涂有荧光粉，并接形接收极上涂有荧光粉，并接5 5kVkV正电位，对穿过栅极的衍射正电位，对穿过栅极的衍射束（由弹性散射电子组成）起加束（由弹性散射电子组成）起加速作用，增加其能量，使之在接速作用，增加其能量，使之在接收极的荧光面上产生肉眼可见的收极的荧光面上产生肉眼可见的低能电子衍射花样，可从靶极后低能电子衍射花样，可从靶极后面直接观察或拍照记录。面直接观察或拍照记录。40低能电子衍射的应用 低能电子衍射对于低能电子衍射对于表面二维结构分析表面二维结构分析的重要性，的重要性，和和X X射线衍射三维晶体结构分析一样，是不容射线衍射三维晶体结构分析一样，是不容置疑的。目前，它已在材料研究的许

36、多领域中置疑的。目前，它已在材料研究的许多领域中得到了广泛的应用，借此还发现了一些新的表得到了广泛的应用，借此还发现了一些新的表面现象。面现象。 （1 1）晶体的表面原子排列。）晶体的表面原子排列。 （2 2）汽相沉积表面膜的生长。）汽相沉积表面膜的生长。 （3 3）氧化膜的形成。）氧化膜的形成。 （4 4）气体吸附和催化。）气体吸附和催化。41-W的（001）表面低能电子衍射花样a 清洁的表面清洁的表面 b吸附氧原子以后产生的超结构花样吸附氧原子以后产生的超结构花样423 3、俄歇电子能谱、俄歇电子能谱仪 当原子内壳层电子因电离激发而留下一个空位当原子内壳层电子因电离激发而留下一个空位时，由

37、较外层电子向这一能级跃迁使原子释放时，由较外层电子向这一能级跃迁使原子释放能量的过程中，可以能量的过程中，可以发射一个具有特征能量的发射一个具有特征能量的X X射线光子射线光子，也可以，也可以将这部分能量交给另外一将这部分能量交给另外一个外层电子引起进一步的电离，从而发射一个个外层电子引起进一步的电离，从而发射一个具有特征能量的俄歇电子具有特征能量的俄歇电子。检测俄歇电子的能。检测俄歇电子的能量和强度，可以获得有关量和强度，可以获得有关表层化学成分的定性表层化学成分的定性或定量信息或定量信息，这就是俄歇电子能谱仪的基本分，这就是俄歇电子能谱仪的基本分析原理。析原理。 43俄歇跃迁及其几率 俄歇

38、跃迁涉及三个核外电子。普遍的情况应该俄歇跃迁涉及三个核外电子。普遍的情况应该是由于是由于A A壳层电子电离，壳层电子电离，B B壳层电子向壳层电子向A A壳层壳层的空位跃迁，导致的空位跃迁，导致C C壳层电子的发射。壳层电子的发射。 事实上，最常见的俄歇电子能量，总是相应于事实上，最常见的俄歇电子能量，总是相应于最有可能发生的跃迁过程，也即那些给出最强最有可能发生的跃迁过程，也即那些给出最强X X射线谱线的电子跃迁过程。射线谱线的电子跃迁过程。 显然，选用强度最高的俄歇电子进行检测，有显然，选用强度最高的俄歇电子进行检测，有助于提高分析的灵敏度。助于提高分析的灵敏度。44主要应用领域主要应用领

39、域 俄歇电子谱仪主要是研究俄歇电子谱仪主要是研究固体表面及界固体表面及界面的各种化学的变化面的各种化学的变化，通过成分分布的通过成分分布的规律来研究和解释许多与表面吸附及偏规律来研究和解释许多与表面吸附及偏聚的物理现象聚的物理现象，从而来改变和控制元素从而来改变和控制元素在表面的分布在表面的分布，达到改善材料性能的目达到改善材料性能的目的的。454 4、场离子显微镜、场离子显微镜- -原子探针原子探针 所有所有显微成像或分析技术的共同要求是显微成像或分析技术的共同要求是尽量减少同时被检测的样品质量，避免尽量减少同时被检测的样品质量，避免过多的信息被激发和记录，以提高它的过多的信息被激发和记录，

40、以提高它的分辨率。分辨率。 由由E.W.ME.W.M llerller在在5050年代开创的场离子年代开创的场离子显微镜及其有关技术，则是别具一格的显微镜及其有关技术，则是别具一格的原子直接成像方法，它能清晰地显示样原子直接成像方法，它能清晰地显示样品表层的原子排列和缺陷，并在此基础品表层的原子排列和缺陷，并在此基础上进一步发展到利用原子探针鉴定上进一步发展到利用原子探针鉴定其中其中单个原子的元素类别。单个原子的元素类别。46图图8-3 8-3 场离子显微镜的结构场离子显微镜的结构47 场离子显微镜由一个玻璃真场离子显微镜由一个玻璃真空容器组成，平坦的底部内空容器组成，平坦的底部内侧涂有荧光粉

41、，用于显示图侧涂有荧光粉，用于显示图像。样品一般采用像。样品一般采用单晶细丝，单晶细丝，通过电解抛光得到曲率半径通过电解抛光得到曲率半径约为约为10001000埃的尖端埃的尖端，以液氮、，以液氮、液氢或液氦冷却至深低温，液氢或液氦冷却至深低温，减小原子的热振动，使原子减小原子的热振动，使原子的图像稳定可辨。样品接的图像稳定可辨。样品接+ +（10401040）kVkV高压作为阳高压作为阳极，而容器内壁（包括观察极，而容器内壁（包括观察荧光屏）通过导电镀层接地，荧光屏）通过导电镀层接地，一般用氧化锡，以保持透明。一般用氧化锡，以保持透明。48 仪器工作时，首先将容器抽真空，然后仪器工作时，首先将

42、容器抽真空，然后通入成像气体，例如惰性气体氦。在样通入成像气体，例如惰性气体氦。在样品加上足够高的电压时，气体原子发生品加上足够高的电压时，气体原子发生极化和电离，荧光屏上即可显示尖端表极化和电离，荧光屏上即可显示尖端表层原子的清晰图像，如下图所示，其中层原子的清晰图像，如下图所示，其中每一亮点都是单个原子的像。每一亮点都是单个原子的像。49图图8-8-4 4 钨钨单单晶晶尖尖端端的的场场离离子子显显微微镜镜图图像像50原子探针分析 原子探针可以用来鉴别场离子像中原子探针可以用来鉴别场离子像中单个单个原子的种类。原子的种类。 常用的常用的原子探针原子探针分析方法有三种：分析方法有三种：单原单原

43、子种类识别、选区分析和随机区域分析，子种类识别、选区分析和随机区域分析，即沿深度方向的成分剖析。可以根据研即沿深度方向的成分剖析。可以根据研究问题的性质，选用相应的究问题的性质，选用相应的原子探针原子探针分分析方法。析方法。 51场离子显微镜的应用场离子显微镜的应用 场离子显微镜技术的主要优点在于表面场离子显微镜技术的主要优点在于表面原子的直接成像，原子的直接成像，通常只有其中约通常只有其中约10%10%左右的台阶边缘原子给出像亮点；在某左右的台阶边缘原子给出像亮点；在某些理想情况下，台阶平面的原子也能成些理想情况下，台阶平面的原子也能成像，但衬度较差。对于单晶样品，图像像，但衬度较差。对于单

44、晶样品，图像的晶体学位向特征是十分明显的。的晶体学位向特征是十分明显的。 由于参与成像的原子数量有限，实际分由于参与成像的原子数量有限，实际分析体积仅约析体积仅约1010-21-21mm3 3，因而场离子显微因而场离子显微镜只能研究在大块样品内分布均匀的密镜只能研究在大块样品内分布均匀的密度较高的结构细节度较高的结构细节，否则观察到某一现，否则观察到某一现象的几率有限。象的几率有限。525 5、扫描隧道显微镜、扫描隧道显微镜 2020世纪世纪8080年代初期，年代初期，IBMIBM公司苏黎世公司苏黎世实验室的两位科学家实验室的两位科学家GGBinnigBinnig和和HHRoherRoher发

45、明了扫描隧道显微镜。这发明了扫描隧道显微镜。这种新型显微仪器的诞生，使人类种新型显微仪器的诞生，使人类能够实能够实时地观测到原子在物质表面的排列状态时地观测到原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物理化学性质，和与表面电子行为有关的物理化学性质，对表面科学、材料科学、生命科学以及对表面科学、材料科学、生命科学以及微电子技术的研究有着重大意义和重要微电子技术的研究有着重大意义和重要应用价值。应用价值。53扫描隧道显微镜（扫描隧道显微镜（STMSTM）的特）的特点点 与与SEMSEM、TEMTEM相比，相比，STMSTM具有结构简单、具有结构简单、分辨本领高等特点，可在真空、大气或液体环分辨本领高等特点，可在真空、大气或液体环境下，进行境下，进行原位动态观察样品表面的原子组态原位动态观察样品表面的原子组态