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文档简介

1、JC-5600测试系统运算放大器测试介绍2015.11.2集成运算放大器电路集成运算放大器电路n 集成运算放大器(简称运放)是模拟集成电路中较大的一个系列,也是各种电子系统中不可缺少的基本功能电路,它广泛的应用于各种电子整机和组合电路之中。 n运算放大器的分类运算放大器的分类n从不同的角度,运算放大器可以分为多类: 1从单片集成规模上可分为:单运放(如:OP07)、双运放(LM358)、四运放(LM124)。 2. 从输出幅度及功率上可分为:普通运放、大功率运放(LM12)、高压运放(OPA445、MC1536)。 3从输入形式上可分为:普通运放、高输入阻抗运放(AD515、LF356)n现以

2、OP07C为例,介绍一下运放类器件在JC5600如何测试的 。JC-5600 运放放大器适配器测试原理图 OP07C管脚定义开短路测试开短路测试OS(Open Sort)n测试方法 向被测管脚施加-0.1MA电流,测试管脚上的电压值。n如图所示: 源程序nSET_VIS_P(3,FVMI,0,V,20,MA);nCONDITIONS_VIS_P(4,FIMV,-0.1,MA,2,V);/CONDITIONSnMEASURE_VIS_P(4,3);nfor(i=0;iiNum;i+)nnV1i = GET_DATA(i);nnif(!SHOW_RESULT(os_pin4,V1,V,_osmax

3、,_osmin,3)nreturn; 电源电流电源电流(Supply Current )n定义输入端无信号且输出端无负载时,器件所消耗的电源功率。 n测试方法n如图所示:n(1) 在规定的环境温度下,n将被测器件接入测试系统中; n(2) 电源端施加规定的电压; n(3) 闭合开关K4、K9,设置n电压源使输出为0。(或规n定的参考电压); n(4) 在电源端V+及V-分别测n得ICC+及ICC-。 源程序nSET_VIS_P(3,FVMI,0,V,20,MA);nSET_VIS_P(4,FVMI,15,V,20,MA);nSET_VIS_P(3,FVMI,-15,V,20,MA);nSET_

4、LVIS_P(4,FVMI,0,V,20,MA);nSET_RELAY_P(4,9);nVIS_MEASURE_P(4,10);nif(!SHOW_RESULT(IDD,MA,5,No_LoLimit,4)nreturn;nVIS_MEASURE_P(3,10);nif(!SHOW_RESULT(ISS,MA,No_UpLimit,-5,4)nreturn;输入失调电压 Vos (Input Offset Voltage)n定义n使输出电压为零(或规定值)时,两输入端间所加的直流补偿n电压。 n测试方法(1) 在规定的环境温度下,n将被测器件接入测试系统中; n(2) 电源端施加规定的电压;

5、n(3) 闭合开关K4、K9,设置n电压源使输出为0。(或规n定的参考电压); n(4)在辅助放大器A的输出端n测得电压Vlo n(5) 计算公式: nVos=(Ri/(Ri+Rf)*VLo 。 源程序nSET_RELAY_P(4,9,29);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,50);nfor(i=0;iiNum;i+)n Vosi =(GET_DATA(i)/401)*1e6;nif(!SHOW_RESULT(Vos_400,Vos,uV,150,-150,7)nreturn;输入偏置电流 Ib (Input Bias Current)n 定义 使输出电压为零(或规定值)时,流入

6、两输入端电流的平均值。 n测试IB的方法有两种:电容测试法和电阻测试法n(一)电容测试法:(10nA以下)n(1)在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中,测量-1nA电流所对应的积分电压caldata;n(2) 电源端施加规定的电压; n(3) 先闭合开关4,7,9,13,30,设置电压源使输出为0 (或规定的参考电压) ,再闭合开关21,将反相输入端接入电容积分电路,测量反相输入端对应的积分电压IB2n(4) IB-= IB2/ caldata (单位:nA) 。n(5)重新设置开关4,9,13,30,设置电压源使输出为0 (或规定的参考电压) ,再闭合开关21,将同相输入端接入电容积

7、分电路,测量同相输入端对应的积分电压IB1n(6) IB+= IB1/ caldata (单位:nA) n(一)电阻测试法:(10nA以上)n(1)在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;n(2) 电源端施加规定的电压; n(3) 闭合开关4,7,9,13,30,设置电压源使输出为0 (或规定的参考电压) ,将反相输入端接入辅助运放测试电路,测量反相输入端对应的电压IB2n(4) IB-= IB2/ R8 。 (单位:A) n(5)重新设置开关4,9,13,30,设置电压源使输出为0 (或规定的参考电压) ,将同相输入端接入辅助运放测试电路,测量同相输入端对应的电压IB1n(6) IB+

8、= IB1/R8 (单位:A) 源程序电容法nSET_RELAY_P(4,7,9,13,30);nDelay(20);nCLOSE_RELAY_P(21);nDelay(100);nDVM_DIFF_MEASURE_P(1,15,V,100);nIB2i =-(GET_DATA(i)/caldatai);nif(!SHOW_RESULT(IB(-),IB2,nA,7,-7,5)nreturn;nSET_RELAY_P(4,9,13,30);nDelay(20);nCLOSE_RELAY_P(21);nDelay(100);nDVM_DIFF_MEASURE_P(1,15,V,100);nIB1

9、i= -(GET_DATA(i)/caldatai);nif(!SHOW_RESULT(IB(+),IB1,nA,7,-7,5)nreturn;源程序电阻法nSET_RELAY_P(4,7,9,13,30);nDelay(20);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,10);nfor(i=0;iiNum;i+)nIB2i =GET_DATA(i)*1e3;nif(!SHOW_RESULT(IB(-),IB2,nA,7,-7,5)nreturn;nSET_RELAY_P(4,9,13,30);nDelay(20);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,10);nfor(i=0;i

10、iNum;i+)nIB1i =GET_DATA(i)*1e3;nif(!SHOW_RESULT(IB(+),IB1,nA,7,-7,5)nreturn;输入失调电流 Ios (Input Offset Current)n 定义使输出电压为零(或规定值)时,流入两输入端的电流之差。n测试方法:IOS = IB+ - IB-n源程序:nfor(i=0;iiNum;i+)nI1i =IB1i-IB2i;nif(!SHOW_RESULT(Ios,I1,nA,6,-6,6)nreturn;电源电压抑制比PSRR (Power Supply Rejection Ratio)n定义电源的单位电压变化所引起的

11、输入失调电压的变化率。 n测试方法如图所示:n(1) 在规定的环境温度下,将被测n器件接入测试系统中;n(2) 电源端施加规定的电压; n(3) 闭合开关K4、K9,设置电压n源使输出为0。(或规定的参考电压); n(4)正电源电压变化-V,负电源电压n变化V,在辅助放大器A的输出端测n得电压VL9;n(5)负电源电压变化V,负电源电压n变化-V,在辅助放大器A的输出端测n得电压 VL10; n(6)计算公式: nPSRR=20lg(VL10-V9)/ V)*(Ri/(Ri+Rf)(dB) 源程序nSET_RELAY_P(4,9,29);nSET_VIS_P(4,FVMI,3,V,20,MA)

12、;nSET_VIS_P(3,FVMI,-3,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,50);nfor(i=0;iiNum;i+)q V1i =GET_DATA(i)/401;nSET_VIS_P(4,FVMI,18,V,20,MA);nSET_VIS_P(3,FVMI,-18,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,50);nfor(i=0;iiNum;i+)nnV2i =GET_DATA(i)/401;nM_Vi = fabs(V2i-V1i);nM_Vi = 30/M_Vi;nM_Vi = 20*log10(M_Vi);nnif(!SHOW_

13、RESULT(PSRR,M_V,dB,No_UpLimit,90,8)nreturn;输出电压摆幅Vo (Output Voltage Swing)n定义器件在规定电源电压和负载下,所能输出的最大电压。n测试方法如图所示:n(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中; n(2) 电源端施加规定的电压; n(3) 开关K4置“1”,在DUT的输n出端测得VO-; n(4) 开关K4置“2”,在辅助放大n器A的输出端测得电压VO+; 源程序nSET_VIS_P(4,FVMI,15,V,20,MA);nSET_VIS_P(3,FVMI,-15,V,20,MA);nSET_VIS_P(1,F

14、VMI,0,V,20,MA);nCLOSE_RELAY_P(24,31);nSET_LVIS_P(4,FVMI,-15,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(2,15,V,10);nif(!SHOW_RESULT(+VO(RL=10K),V,No_UpLimit,12,9)nreturn;nnSET_LVIS_P(4,FVMI,15,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(2,15,V,10);nif(!SHOW_RESULT(-VO(RL=10K),V,-12,No_LoLimit,9)nreturn;开环电压增益Avo (Large Signal Voltage Gain

15、)n 定义:器件开环时,输出电压变化与差模输入电压变化之比.n测试方法如图:n(1) 在规定的环境温度下,将被n测器件接入测试系统中; n(2) 电源端施加规定的电压; n(3) 开关K4置“1”,在辅助放大n器A的输出端测得电压VL4; n(4) 开关K4置“2”,在辅助放大n器A的输出端测得电压VL5; n(5) 计算公式: nAvo=20lg(Vref+-Vref-)/|(VL4-Vl5)|)*(Ri+Rf)/Ri)(dB) 。 源程序nSET_RELAY_P(“4,9,24,29);nSET_LVIS_P(4,FVMI,-10,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(1,0.1

16、,V,10);nfor(i=0;iiNum;i+)nV1i =GET_DATA(i)/401;nnSET_LVIS_P(4,FVMI,10,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,10);nfor(i=0;iiNum;i+)nnV2i =GET_DATA(i)/401;nM_Vi = fabs(V1i-V2i);nM_Vi = 20/(M_Vi);nM_Vi = 20*log10(M_Vi);nnif(!SHOW_RESULT(Avo,M_V,dB,No_UpLimit,101,10)nreturn;共模抑制比CMRR (Common-Mode Rejection Ra

17、tio)n定义:差模电压增益与共模电压增益之比n测试方法如图:变电源法变电源法:n(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;n(2) 电源端施加规定的电压;n(3) 电源端施加规定的 V+ VIC 和V-+ VIC ,开关K4处施加规定的参考电压VIC 。 在辅助放大器A的输出端测得电压VL6; (4) 电源端施加规定的 V+- VIC 和V- VIC ,开关K4处施加规定的参考电压-VIC 。 在辅助放大器A的输出端测得电压VL7n(5) 计算公式: CMRR=20lg(Vic+(-Vic-))/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri)(dB) 。 源程序nSET_VIS_P(

18、4,FVMI,2,V,20,MA);nSET_VIS_P(3,FVMI,-28,V,20,MA);nSET_LVIS_P(4,FVMI,13,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,50);nfor(i=0;iiNum;i+)nV1i =GET_DATA(i)/401;nSET_LVIS_P(4,FVMI,0,V,20,MA);nSET_VIS_P(3,FVMI,-2,V,20,MA);nSET_VIS_P(4,FVMI,28,V,20,MA);nSET_LVIS_P(4,FVMI,-13,V,20,MA);nDVM_MEASURE_P(1,0.1,V,50);nSET

19、_LVIS_P(4,FVMI,0,V,20,MA);nfor(i=0;iiNum;i+)nnV2i =GET_DATA(i)/401;nM_Vi = fabs(V1i-V2i);nM_Vi = 26/M_Vi;nM_Vi = 20*log10(M_Vi);nnif(!SHOW_RESULT(CMRR,M_V,dB,No_UpLimit,100,11)nreturn;增益带宽积GBP (Closed-loop Bandwidth Product)。 n定义n在一定的频率范围内,电压增益与对应频率的乘积。 n测试方法如图n(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中; n(2) 电源端施加

20、规定的电压;n(3) 输入端施加规定的信号电压,频率为Fm, n(4) 在输出端测得电压Vo; n(5) 计算公式: nGBP=(Vo/Vi)*Fm 。 源程序nSET_VIS_P(4,FVMI,15,V,200,MA);nSET_VIS_P(3,FVMI,-15,V,200,MA);nSET_VIS_P(1,FVMI,0,V,20,MA);nSET_RELAY_P(4,9,14);nSET_AS_P(1,1,V,100000);/设置音频源100KnSET_AVM_PATH_P(1,LPPASS,BPPASS);nCLOSE_RELAY_P(22);nAVM_MEASURE_P(1,1,V,100);nfor(i=0;iiNum;i+)nV2i = GET_DATA(i

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